技術(shù)編號(hào)：6147759
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種測(cè)試座，特別是一種用于ic燒錄或測(cè)試的測(cè)試座。背景技術(shù)目前，IC的燒錄或測(cè)試一般是探針接點(diǎn)，探針有單頭探針與雙頭探針，應(yīng)用比較廣泛，然而探針包括探針頭、探針管、彈簧，其本身的內(nèi)阻較大，大約為150m0HM,導(dǎo)致誤差較大，而且探針內(nèi)部的彈 簧將探針頭頂出，在與IC的腳位、球點(diǎn)或者PCB板上的銅箔面接觸 吋，很容易損傷IC的腳位、球點(diǎn)或者PCB板上的銅箔面。發(fā)明內(nèi)容為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供一種測(cè)試精確，不易損傷 IC的腳位、球點(diǎn)或者PC...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。