技術(shù)編號：6190390
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及涉及。該方法是使用X射線熒光光譜儀測定有機(jī)硅粉末樣品中Cu、Fe、Al、Ca、Zn、Ni、Sn、Pb、Mn、Ti、P、V、Mg、Cr、Zr、S16種元素的含量。XRF法與ICP-AES法所測各元素的含量相差不大，且兩種分析方法的分析誤差滿足工業(yè)硅微量元素的分析誤差要求，而ICP-AES法檢測時間達(dá)到3.5h，XRF法僅需0.5h。專利說明一種有機(jī)娃粉末樣品中16種元素的含量分析方法[0001]本發(fā)明涉及一種含量分析方法，尤其涉及。背景技術(shù)[000...
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