技術(shù)編號：6191286
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了，通過獲取測試向量信息，根據(jù)該信息對待測芯片進(jìn)行配置，并獲取測試向量對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)，根據(jù)測試數(shù)據(jù)與參考結(jié)果進(jìn)行比較，得到比較結(jié)果，根據(jù)比較結(jié)果判斷實時待測芯片是否正常。本方案通過自動讀取測試向量，自動配置芯片，自動比較測試結(jié)果，實現(xiàn)了電能計量芯片驗證的自動化，提高了芯片驗證的速度及準(zhǔn)確性，避免了人工比較的過程，減輕了技術(shù)人員的勞動量，提高了工作效率，進(jìn)一步加快了電能計量芯片上市的速度。專利說明[0001]本發(fā)明涉及芯片驗證領(lǐng)域，尤其涉及。背景技...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。