一種電能計量芯片的驗證方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種電能計量芯片的驗證方法，通過獲取測試向量信息，根據(jù)該信息對待測芯片進行配置，并獲取測試向量對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)，根據(jù)測試數(shù)據(jù)與參考結(jié)果進行比較，得到比較結(jié)果，根據(jù)比較結(jié)果判斷實時待測芯片是否正常。本方案通過自動讀取測試向量，自動配置芯片，自動比較測試結(jié)果，實現(xiàn)了電能計量芯片驗證的自動化，提高了芯片驗證的速度及準確性，避免了人工比較的過程，減輕了技術(shù)人員的勞動量，提高了工作效率，進一步加快了電能計量芯片上市的速度。
【專利說明】一種電能計量芯片的驗證方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及芯片驗證領(lǐng)域，尤其涉及一種電能計量芯片的驗證方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著芯片的復(fù)雜度越來越高，電能計量芯片的驗證工作也越來越重要。
[0003]目前，技術(shù)人員普遍使用的驗證方法是人工驗證，通過人工配置相關(guān)的計量寄存器，人工讀取計量數(shù)據(jù)，將計量值和理論值由人工通過表格進行對比和判斷。
[0004]人工驗證明顯降低了驗證的速度，對于一個復(fù)雜的邏輯門電路而言，研發(fā)過程中60?70%的時間用于驗證，這大大降低了芯片上市的速度。
[0005]因此，如何快速、準確的完成電能計量芯片的驗證工作，已成為亟待解決的問題。
【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]有鑒于此，本發(fā)明提供一種電能計量芯片的驗證方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中人工驗證電能計量芯片速度慢，降低了芯片上市的速度的問題，其具體方案如下:
[0007]一種電能計量芯片的驗證方法，包括:
[0008]獲取測試向量；
[0009]根據(jù)所述測試向量對待測芯片進行配置，并獲取測試向量對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)；
[0010]將所述測試數(shù)據(jù)與預(yù)先設(shè)置的參考結(jié)果進行比較，根據(jù)比較結(jié)果判斷所述待測芯片數(shù)字功能是否正常。
[0011]進一步的，所述獲取測試向量具體包括:
[0012]獲取測試值，并進行遍歷和組合，根據(jù)所述遍歷和組合后的測試值生成測試向量;
[0013]將所述測試向量保存至測試向量庫中，所述測試向量庫中包括若干用于測試芯片的數(shù)字功能的測試向量；
[0014]從所述測試向量庫中讀取需要測試的測試向量。
[0015]進一步的，判斷所述待測芯片數(shù)字功能是否正常之前，還包括:
[0016]從所述測試向量庫中選擇已完成測試的測試向量的下一個測試向量，進行配置，得到測試數(shù)據(jù)，并根據(jù)測試數(shù)據(jù)得到比較結(jié)果，直至需要測試的測試向量測試完成，根據(jù)各比較結(jié)果綜合判斷所述待測芯片數(shù)字功能是否正常。
[0017]進一步的，根據(jù)所述測試向量對待測芯片進行配置，并獲取測試向量對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)，具體為:
[0018]根據(jù)所述測試向量對待測芯片進行配置，間隔預(yù)定時間后，獲取測試向量對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)。
[0019]進一步的，根據(jù)所述測試向量對待測芯片進行配置，具體包括:
[0020]每個測試向量對待測芯片進行預(yù)定次數(shù)的配置。
[0021]進一步的，將所述測試數(shù)據(jù)與預(yù)先設(shè)置的參考結(jié)果進行比較，根據(jù)比較結(jié)果判斷所述待測芯片數(shù)字功能是否正常，具體包括:
[0022]根據(jù)多組測試數(shù)據(jù)計算多組測試數(shù)據(jù)的跳差、平均值，以及平均值與參考結(jié)果之間的誤差；
[0023]根據(jù)各項數(shù)值的通過閾值，判斷多組測試數(shù)據(jù)的各項數(shù)值是否通過測試；
[0024]判斷所述待測芯片數(shù)字功能是否正常。
[0025]進一步的，將所述測試數(shù)據(jù)與預(yù)先設(shè)置的參考結(jié)果進行比較，得到比較結(jié)果之后，還包括:
[0026]對測試數(shù)據(jù)及參考結(jié)果進行存儲。
[0027]進一步的，還包括:根據(jù)不同的測試目的，選擇不同的測試向量。
[0028]進一步的，還包括:根據(jù)不同的測試目的，選擇不同的配置次數(shù)，得到不同組數(shù)的測試數(shù)據(jù)。
[0029]進一步的，對待測芯片進行配置具體包括:通過串口通信對待測芯片進行配置。
[0030]從上述技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明公開的電能計量芯片的驗證方法，通過獲取測試向量信息，根據(jù)該信息對待測芯片進行配置，并獲取測試向量對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)，根據(jù)測試數(shù)據(jù)與參考結(jié)果進行比較，得到比較結(jié)果，根據(jù)比較結(jié)果判斷實時待測芯片是否正常。本方案通過自動讀取測試向量，自動配置芯片，自動比較測試結(jié)果，實現(xiàn)了電能計量芯片驗證的自動化，提高了芯片驗證的速度及準確性，避免了人工比較的過程，減輕了技術(shù)人員的勞動量，提高了工作效率，進一步加快了電能計量芯片上市的速度。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0031]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0032]圖1為本發(fā)明實施例公開的一種電能計量芯片驗證方法的流程圖；
[0033]圖2為本發(fā)明實施例公開的一種獲取測試向量的方法的流程圖；
[0034]圖3為本發(fā)明實施例公開的一種判斷芯片是否正常的流程圖。
【具體實施方式】
[0035]下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0036]本實施例公開了一種電能計量芯片的驗證方法，其流程圖如圖1所示，包括:
[0037]步驟SI 1、獲取測試向量；
[0038]測試向量用于測試電能計量芯片的數(shù)字功能是否正常，實現(xiàn)對電能計量芯片的FPGA (Field Programmable Gate Array,現(xiàn)場可編程門陣列)驗證。芯片的數(shù)字功能可以具體為邏輯和功能等數(shù)字上的實現(xiàn)。
[0039]步驟S12、根據(jù)測試向量對待測芯片進行配置，并獲取測試向量對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)；[0040]讀取測試向量，將測試向量的信息轉(zhuǎn)換成待測芯片的寄存器數(shù)據(jù)，將這些數(shù)據(jù)寫入相應(yīng)的寄存器，通過串口通信方式完成對芯片的配置，通過串口通信方式完成對芯片的讀操作，即獲取測試向量對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)。
[0041]步驟S13、將測試數(shù)據(jù)與預(yù)先設(shè)置的參考結(jié)果進行比較，根據(jù)比較結(jié)果判斷待測芯片數(shù)字功能是否正常。
[0042]FPGA板上有信號發(fā)生源，提供多路信號源，并可以通過配置分別調(diào)整信號幅度、相位、頻率等。電能計量芯片可以根據(jù)輸入激勵信號的變化以及校正值大小電壓直流值、電壓有效值、電流直流值、電流有效值、功率值等寄存器數(shù)據(jù)，并且可以通過某種通訊方式取得這些寄存器數(shù)據(jù)，具體的通訊方式與電能計量芯片的通信接口相關(guān)，可以具體為SPI (Serial Peripheral Interface,串行外設(shè)接口)、UART (Universal AsynchronousReceiver/Transmitter，通過異步收發(fā)傳輸器)等，但是，PC機一般有UART 口，沒有SPI 口，對于UART可以直接通過上位機軟件實現(xiàn)PC機遇被測芯片的通訊；對于沒有串口芯片，需要通過其它硬件實現(xiàn)通訊轉(zhuǎn)換，如STM32驗證底板，基于PC機的上位機軟件通過UART 口發(fā)送命令給STM32驗證底板的UART，告知需要配置的寄存器以及讀取的寄存器，STM32驗證底板與被測芯片通過SPI通訊往某些寄存器配置數(shù)據(jù)以及取得某些寄存器數(shù)據(jù)，再通過UART 口發(fā)送給PC機。。
[0043]輸入各通道的激勵信號的表現(xiàn)形式為:
[0044]
【權(quán)利要求】
1.一種電能計量芯片的驗證方法，其特征在于，包括: 獲取測試向量； 根據(jù)所述測試向量對待測芯片進行配置，并獲取測試向量對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)； 將所述測試數(shù)據(jù)與預(yù)先設(shè)置的參考結(jié)果進行比較，根據(jù)比較結(jié)果判斷所述待測芯片的數(shù)字功能是否正常。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取測試向量具體包括: 獲取測試值，并進行遍歷和組合，根據(jù)所述遍歷和組合后的測試值生成測試向量； 將所述測試向量保存至測試向量庫中，所述測試向量庫中包括若干用于測試芯片的數(shù)字功能的測試向量； 從所述測試向量庫中讀取需要測試的測試向量。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，判斷所述待測芯片數(shù)字功能是否正常之前，還包括: 從所述測試向量庫中選擇已完成測試的測試向量的下一個測試向量，進行配置，得到測試數(shù)據(jù)，并根據(jù)測試數(shù)據(jù)得到比較結(jié)果，直至需要測試的測試向量測試完成，根據(jù)各比較結(jié)果綜合判斷所述待測芯片數(shù)字功能是否正常。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述測試向量對待測芯片進行配置，并獲取測試向量對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)，具體為: 根據(jù)所述測試向量對待測芯片進行配置，間隔預(yù)定時間后，獲取測試向量對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述測試向量對待測芯片進行配置，具體包括: 每個測試向量對待測芯片進行預(yù)定次數(shù)的配置。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，將所述測試數(shù)據(jù)與預(yù)先設(shè)置的參考結(jié)果進行比較，根據(jù)比較結(jié)果判斷所述待測芯片數(shù)字功能是否正常，具體包括: 根據(jù)多組測試數(shù)據(jù)計算多組測試數(shù)據(jù)的跳差、平均值，以及平均值與參考結(jié)果之間的誤差; 根據(jù)各項數(shù)值的通過閾值，判斷多組測試數(shù)據(jù)的各項數(shù)值是否通過測試； 判斷所述待測芯片數(shù)字功能是否正常。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，將所述測試數(shù)據(jù)與預(yù)先設(shè)置的參考結(jié)果進行比較，得到比較結(jié)果之后，還包括: 對測試數(shù)據(jù)及參考結(jié)果進行存儲。
8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，還包括:根據(jù)不同的測試目的，選擇不同的測試向量。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，還包括:根據(jù)不同的測試目的，選擇不同的配置次數(shù)，得到不同組數(shù)的測試數(shù)據(jù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，對待測芯片進行配置具體包括:通過串口通信對待測芯片進行配置。
【文檔編號】G01R35/04GK103728553SQ201310754937
【公開日】2014年4月16日 申請日期:2013年12月31日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月31日
【發(fā)明者】黃蘇芳, 楊昆, 孔泉 申請人:萬高(杭州)科技有限公司