技術編號:6238681
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。,涉及光電測量領域,填補了空白的問題。該方法包括以下步驟主光柵與滑架定位后,在主光柵上與滑架的五個軸承對應的位置鍍上鉻層,鉻層厚度滿足導電即可;在鉻層上引出導線,兩個導線之間連接萬用表;將導電的滑架放置在主光柵上,利用萬用表測量鉻層引出的導線之間是否導通,導通則說明導線之間對應的滑架的軸承與主光柵接觸良好,不導通則說明對應的滑架的軸承與主光柵之間出現(xiàn)離位。本發(fā)明的檢測方法操作簡單,可靠性高,易于實現(xiàn),成本低。專利說明 [0001] 本發(fā)明涉及光電測量...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。