技術(shù)編號(hào)：6850979
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體器件測(cè)試設(shè)備，更具體地涉及一種用于系統(tǒng)級(jí)測(cè)試的測(cè)試板，其中在計(jì)算機(jī)的主板上測(cè)試半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件。背景技術(shù) 一般地，在制造半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件(比如，同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(SDRAM)、存儲(chǔ)器總線(xiàn)(Rambus，DRAM)和靜態(tài)RAM(SRAM))之后，將組裝的半導(dǎo)體器件插入插座，使用特殊的測(cè)試設(shè)備測(cè)試該器件。由于半導(dǎo)體器件測(cè)試設(shè)備非常昂貴，所以用于測(cè)試半導(dǎo)體器件的費(fèi)用是高昂的。因此，半導(dǎo)體器件的價(jià)格考慮了該器件的測(cè)試費(fèi)用。另外，由于半導(dǎo)體測(cè)試...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。