技術(shù)編號(hào)：8561695
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。隨著磁盤存儲(chǔ)技術(shù)的飛速發(fā)展，作為磁盤的核心部件之一的磁頭支架，其生產(chǎn)質(zhì)量的檢測(cè)也愈加重要。磁頭支架的物理尺寸的檢測(cè)，是提供產(chǎn)品品質(zhì)的可靠保證，也可以給生產(chǎn)提供更多的改善空間，促進(jìn)生產(chǎn)效率的不斷提升。目前，應(yīng)用于磁頭支架的測(cè)量方法，主要是采用接觸式測(cè)量設(shè)備，其精確程度相對(duì)較低，且生產(chǎn)效率不高。尤其是對(duì)于ESG (企業(yè)級(jí)服務(wù)器)這類產(chǎn)品，由于其本身的物理尺寸較小，精度要求相對(duì)較高，因此接觸式測(cè)量較難滿足該類產(chǎn)品的測(cè)量需求。實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型在于提供一種用于...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。