技術(shù)編號(hào)：8606429
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。 本實(shí)用新型屬于離子束點(diǎn)掃描照射技術(shù)中一種快速獲得放射顯影免沖洗驗(yàn)證膠 片劑量響應(yīng)曲線的裝置。背景技術(shù) 在離子束應(yīng)用（如輻射生物學(xué)實(shí)驗(yàn)、材料物理、放射治療等）中，常常涉及到對(duì)離 子束輻射場(chǎng)特性的測(cè)量，如輻射場(chǎng)劑量均勻性或劑量分布測(cè)量。利用電離室矩陣可以對(duì)這 些特性進(jìn)行直接測(cè)量，但是電離室矩陣空間分辨率低，難以滿足測(cè)量離子束束斑或劑量梯 度較大的照射野劑量分布的要求。放射顯影膠片測(cè)量照射野的劑量分布具有空間分辨率高 的優(yōu)點(diǎn)，特別是免沖洗驗(yàn)證膠片的出現(xiàn)，使得利...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。