技術(shù)編號(hào):8771812
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。在原子光譜試驗(yàn)中,原子的激光電離率和選擇性對(duì)試驗(yàn)具有重要影響,理想的電離率和選擇性參數(shù)可以大幅提高試驗(yàn)效率。原子的激光電離率和選擇性主要受激光的波長(zhǎng)、功率密度、光斑均勻性、同步延遲等參數(shù)的影響。由于原子光譜試驗(yàn)過(guò)程中激光參數(shù)是不斷變化的,且以往未能實(shí)現(xiàn)對(duì)激光電離率和選擇性直接或間接的在線檢測(cè),因此無(wú)法通過(guò)實(shí)時(shí)調(diào)整激光參數(shù)來(lái)獲得理想的原子電離率和選擇性數(shù)值,這對(duì)試驗(yàn)的可控性和試驗(yàn)效率的提尚極為不利。試驗(yàn)證明通過(guò)檢測(cè)原子與激光作用后的離子(簡(jiǎn)稱光離子)成分、數(shù)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。