專利名稱：光學(xué)相干斷層攝像裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光學(xué)相干斷層攝像裝置(斷層攝影裝置，
tomograph)。更具體地說，本發(fā)明涉及一種具有干涉光學(xué)系統(tǒng)并且 用于例如眼科檢查和治療的光學(xué)相干斷層攝像裝置。
背景技術(shù)：
存在多種使用光學(xué)儀器的眼科設(shè)備。例如，存在各種用于觀察眼 睛的光學(xué)儀器，例如前眼部攝影裝置、視網(wǎng)膜照相機(jī)、共焦激光掃描 檢眼鏡(掃描激光檢眼鏡SLO)等等。
特別地，光學(xué)相干斷層攝像裝置(光學(xué)相干斷層成像OCT )(下 文被稱為"OCT裝置")是一種設(shè)計(jì)成以高分辨率獲取樣本的斷層圖 的裝置。當(dāng)前，這種裝置是視網(wǎng)膜專科門診病人治療所必不可少的眼 科設(shè)備。
OCT裝置按以下原理操作。首先，從光源發(fā)射的低相干光被分 離成基準(zhǔn)光和測量光?；鶞?zhǔn)光被基準(zhǔn)反射鏡反射。測量光投射到樣本 上，并且被該樣本反射。使得由基準(zhǔn)反射鏡反射的光和由樣本反射的 光相互干涉?；谶@樣產(chǎn)生的干涉光，OCT裝置以高分辨率獲取樣本 的斷層圖。
應(yīng)指出，通過在樣本被掃描的同時(shí)將測量光投射到樣本上，使用 OCT裝置獲得樣本的斷層圖。
由于要被檢查的眼底處的視網(wǎng)膜的斷層圖可被此OCT裝置以高 分辨率拍攝，所以該OCT裝置廣泛地用于視網(wǎng)膜眼科診斷。
順便提及，人類的眼球具有被稱為眨眼的不自主的眼睛運(yùn)動(dòng)。因 此，當(dāng)OCT裝置用于視網(wǎng)膜眼科診斷時(shí)，如果獲取視網(wǎng)膜斷層圖所 要花費(fèi)的時(shí)間長，則將會(huì)由于在測量期間的眼球運(yùn)動(dòng)而對(duì)圖像之間的位置偏離造成很大影響。這可能會(huì)造成被稱為"運(yùn)動(dòng)偽像"的視網(wǎng)膜 斷層圖中的圖像的擾動(dòng)。
常規(guī)地，專利文獻(xiàn)l公開了一種用于眼底觀察的OCT裝置，其 使用Mach-Zehnder干涉系統(tǒng)以避免上述運(yùn)動(dòng)偽像。此OCT裝置設(shè)置 成使得在視網(wǎng)膜被掃描的同時(shí)測量光入射到該視網(wǎng)膜上，該視網(wǎng)膜是 要被檢查的眼球的一部分。另一方面，在作為眼球的一部分的角膜表 面就好像作為光學(xué)系統(tǒng)的組件的反射鏡一樣起作用時(shí)，限定基準(zhǔn)光。
即，該裝置設(shè)置成使得通過如上所述在角膜就好像反射鏡一樣起 作用的同時(shí)限定基準(zhǔn)光路，減小由于在測量期間的眼球的運(yùn)動(dòng)而導(dǎo)致 的視網(wǎng)膜斷層圖的運(yùn)動(dòng)偽像。
[專利文獻(xiàn)l
日本/>開專利申請(qǐng)No. JP 2002-515593A,圖2
盡管專利文件1試圖減小上述運(yùn)動(dòng)偽像，但是在如上文所述的 OCT裝置中，仍希望進(jìn)一步改進(jìn)以一方面減小運(yùn)動(dòng)偽像而另一方面實(shí) 現(xiàn)分辨率的提高。
鑒于此，本發(fā)明提供了 一種光學(xué)相干斷層攝像裝置(OCT裝置)， 其尤其在拍攝要被檢查的眼睛的眼底處的視網(wǎng)膜的斷層圖時(shí)，可減小 運(yùn)動(dòng)偽像。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種光學(xué)相干斷層攝像裝置，其 中來自光源的光被分離成測量光和基準(zhǔn)光，其中所述測量光通過測量 光路被投射到要被檢查的對(duì)象上，其中從所述要被檢查的對(duì)象返回的 所述測量光的返回光被朝檢測位置引導(dǎo)，其中所述基準(zhǔn)光被通過基準(zhǔn) 光路朝所述檢測位置引導(dǎo)，以便所述基準(zhǔn)光與被引導(dǎo)到所述檢測位置 的所述返回光光學(xué)千涉，并且其中使用基于光學(xué)干涉的信號(hào)獲得所述 要被檢查的對(duì)象的斷層圖像，其特征在于
所述基準(zhǔn)光路至少包括第一基準(zhǔn)光路和第二基準(zhǔn)光路，所述第二 基準(zhǔn)光路的光路長度短于所述第一基準(zhǔn)光路的光路長度；所述裝置配置成使用所述第一基準(zhǔn)光路基于光學(xué)干涉獲取在第一檢查位置處的所 述對(duì)象的第一斷層信息，并且使用所述第二基準(zhǔn)光路基于光學(xué)干涉獲 取在第二檢查位置處的所述對(duì)象的第二斷層信息，所述第二檢查位置
關(guān)于所述對(duì)象的深度方向比所述第一檢查位置淺；并且所述裝置配置 成^^用所述第二斷層信息，校正基于所述第一斷層信息獲得的在所述 第一檢查位置處的斷層圖像的位置偏離。
該光學(xué)相干斷層攝像裝置可進(jìn)一步包括基準(zhǔn)光路長度控制部件， 其配置成獨(dú)立地控制所述第一基準(zhǔn)光路和所述第二基準(zhǔn)光路的基準(zhǔn)光 路長度。
該基準(zhǔn)光路長度控制部件可調(diào)整所述第一基準(zhǔn)光路和第二基準(zhǔn) 光路的基準(zhǔn)光路長度，以便所述第一斷層信息和第二斷層信息關(guān)于時(shí) 間相互分離。
所述基準(zhǔn)光路長度控制部件進(jìn)行的調(diào)整可被自動(dòng)執(zhí)行。 該光學(xué)相千斷層攝像裝置可進(jìn)一步包括檢測部件和圖像形成部 件，該檢測部件配置成檢測在檢測位置處的光強(qiáng)度，并將其轉(zhuǎn)換成電 信號(hào)，以便檢測基于光學(xué)千涉的信號(hào)，該圖像形成部件配置成對(duì)所述 電信號(hào)執(zhí)行算術(shù)運(yùn)算以獲得圖像。
第一基準(zhǔn)光路和笫二基準(zhǔn)光路中的至少一個(gè)可具有色散補(bǔ)償部件。
在該光學(xué)相干斷層攝像裝置中，用于獲取要被檢查的眼睛的視網(wǎng) 膜斷層圖像作為第 一 斷層信息的第 一基準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)可包括所述第 一基 準(zhǔn)光路，并且用于獲取要被檢查的眼睛的角膜斷層圖像作為第二斷層 信息的第二基準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)可包括所述第二基準(zhǔn)光路，其中當(dāng)產(chǎn)生所述 視網(wǎng)膜斷層圖像時(shí)，可基于包括有關(guān)角膜的位置的信息的第二斷層信 息校正視網(wǎng)膜斷層圖像的位置偏離，從而減小運(yùn)動(dòng)偽像。
第一基準(zhǔn)光路和第二基準(zhǔn)光路可具有不小于30mm且不大于 60mm的光路長度差。
構(gòu)成第一基準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)的第一基準(zhǔn)光路可具有色散(dispersion)
補(bǔ)償部件，其配置成補(bǔ)償要被檢查的眼睛的眼睛色散。該光學(xué)相干斷層攝像裝置可進(jìn)一步包括配置成朝檢查位置引導(dǎo) 來自要被檢查的對(duì)象的返回光的檢查光學(xué)系統(tǒng)，配置成通過測量光路 朝要被檢查的對(duì)象引導(dǎo)測量光的檢測光學(xué)系統(tǒng)，和配置成朝檢測位置 引導(dǎo)基準(zhǔn)光的基準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)，其中所述檢查光學(xué)系統(tǒng)、所述檢測光學(xué) 系統(tǒng)和所述基準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)中的至少一個(gè)的光路可包括光纖。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種光學(xué)相干斷層攝像裝置，其 中來自光源的光被分離成測量光和基準(zhǔn)光，其中所述測量光通過測量 光路被投射到要被檢查的對(duì)象上，其中從所述要被檢查的對(duì)象返回的 所述測量光的返回光被朝檢測位置引導(dǎo)，其中所述基準(zhǔn)光被通過基準(zhǔn) 光路朝所述檢測位置引導(dǎo)，以便所述基準(zhǔn)光與被引導(dǎo)到所述檢測位置 的所述返回光光學(xué)干涉，并且其中使用基于光學(xué)干涉的信號(hào)獲得所述
要被檢查的對(duì)象的斷層圖像，其特征在于
所述基準(zhǔn)光路至少包括第一基準(zhǔn)光路和第二基準(zhǔn)光路，所述第二
基準(zhǔn)光路的光路長度短于所述第一基準(zhǔn)光路的光路長度；所述裝置配 置成使用所述第一基準(zhǔn)光路基于光學(xué)干涉獲取在第一檢查位置處的所 述對(duì)象的第 一斷層信息，并且使用所述第二基準(zhǔn)光路基于光學(xué)干涉獲 取在第二檢查位置處的所述對(duì)象的第二斷層信息，所述第二檢查位置 關(guān)于所述對(duì)象的深度方向比所述第一檢查位置淺；并且所述第一斷層 信息和第二斷層信息關(guān)于在深度方向上的位置關(guān)系彼此相關(guān)。
所述第一斷層信息和第二斷層信息之間的在深度方向上的位置 關(guān)系可對(duì)應(yīng)于第 一檢查位置和第二檢查位置之間的關(guān)于深度方向的位 置關(guān)系。
對(duì)于在深度方向上的位置關(guān)系，包含第一斷層信息和第二斷層信 息的要被檢查的對(duì)象的斷層圖或三維圖像中出現(xiàn)的位置偏離可基于第 二斷層信息被校正。
在該光學(xué)相干斷層攝像裝置中，可基于有關(guān)所述第二檢查位置的 信息產(chǎn)生在深度方向上的要被檢查的對(duì)象的斷層圖或三維圖像，其中 在深度方向上的第二斷層信息的位置偏離被補(bǔ)償。
根據(jù)本發(fā)明的又一方面，提供了一種光學(xué)相干斷層攝像裝置，其中來自光源的光被分離成測量光和基準(zhǔn)光，其中所述測量光通過測量 光路被投射到要被檢查的對(duì)象上，其中從所迷要被檢查的對(duì)象返回的 所述測量光的返回光被朝檢測位置引導(dǎo)，其中所述基準(zhǔn)光被通過基準(zhǔn) 光路朝所述檢測位置引導(dǎo)，以便所述基準(zhǔn)光與被引導(dǎo)到所述檢測位置 的所述返回光光學(xué)干涉，并且其中使用基于光學(xué)干涉的信號(hào)獲得所述
要被檢查的對(duì)象的斷層圖像，其特征在于
所述基準(zhǔn)光路至少包括第一基準(zhǔn)光路和第二基準(zhǔn)光路，所述第二 基準(zhǔn)光路的光路長度短于所述第一基準(zhǔn)光路；基準(zhǔn)光路長度控制部件 配置成獨(dú)立地控制所述第一基準(zhǔn)光路和所述第二基準(zhǔn)光路的基準(zhǔn)光路 長度；檢測部件配置成檢測在檢測位置處的光強(qiáng)度并將其轉(zhuǎn)換成電信 號(hào)，以便檢測基于光學(xué)干涉的信號(hào)；圖像形成部件配置成對(duì)所述電信 號(hào)執(zhí)行算術(shù)運(yùn)算以獲得圖像；所述裝置配置成使用所述第一基準(zhǔn)光路
基于光學(xué)干涉獲取在第一檢查位置處的所述對(duì)象的第一斷層信息，并 且使用所述第二基準(zhǔn)光路基于光學(xué)干涉獲取在第二檢查位置處的所述 對(duì)象的第二斷層信息，所述第二檢查位置關(guān)于所述對(duì)象的深度方向比 所述第一檢查位置淺；所述裝置配置成使用第二斷層信息校正基于第 一斷層信息獲得的在第一檢查位置處的斷層圖像的位置偏離；所述基 準(zhǔn)光路長度控制部件自動(dòng)調(diào)整所述第一基準(zhǔn)光路和所述第二基準(zhǔn)光路 的基準(zhǔn)光路長度，以便第一斷層信息和第二斷層信息關(guān)于時(shí)間相互分 離；并且所述第 一基準(zhǔn)光路和第二基準(zhǔn)光路具有不小于30mm且不大 于60mm的光路長度差。
簡而言之，根據(jù)本發(fā)明，實(shí)現(xiàn)一種光學(xué)相干斷層攝像裝置(OCT 裝置)，通過該裝置，當(dāng)獲得在要被檢查的眼睛的眼底處的視網(wǎng)膜斷 層圖時(shí)，大大減小運(yùn)動(dòng)偽像并提高分辨率。
本發(fā)明的這些和其它目標(biāo)、特征和優(yōu)點(diǎn)在考慮下文結(jié)合附圖對(duì)本 發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例的描述時(shí)將變得更加清楚。


圖1是用于說明根據(jù)本發(fā)明的第一工作示例的OCT裝置的光學(xué)系統(tǒng)的示意圖。
圖2A-2C是用于說明本發(fā)明的第一工作示例中的如何獲取斷層 圖的方式的示意圖。
圖3A和3B是用于說明本發(fā)明的第一工作示例中的如何校正運(yùn) 動(dòng)偽像的方式的示意圖。
圖4是用于說明根據(jù)本發(fā)明的第二工作示例的OCT裝置的結(jié)構(gòu) 的示意圖。
具體實(shí)施例方式
下文將參照附圖描述本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例。
首先將參照?qǐng)Dl說明根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例的光學(xué)相干斷 層攝像裝置(OCT裝置)。圖1是用于說明根據(jù)本發(fā)明的此實(shí)施例的 OCT裝置的示意圖。這里應(yīng)指出，本發(fā)明的OCT裝置并不局限于此 實(shí)施例中公開的OCT裝置。
在根據(jù)本實(shí)施例的OCT裝置中，來自光源101的光被分離成測 量光106和基準(zhǔn)光105。測量光106通過測量光路(測量光106沿其 前進(jìn)的光路)投射到要被檢查的對(duì)象107上。另外，從要被檢查的對(duì) 象107返回的測量光106的返回光被朝檢測位置引導(dǎo)。這里，例如， 返回光是包含有關(guān)在光投射到要被檢查的對(duì)象107上的方向上的界面 的信息的反射光和/或散射光。
這里，類似于普通OCT裝置，基準(zhǔn)光105通過基準(zhǔn)光路(基準(zhǔn) 光105沿其前進(jìn)的光路)被朝檢測位置引導(dǎo)，從而其與被引導(dǎo)到該檢 測位置的返回光光學(xué)干涉。因此，使用基于該光學(xué)干涉的信號(hào)拍攝要 被檢查的對(duì)象107的斷層圖像。
本發(fā)明的一個(gè)重要特征是基準(zhǔn)光路至少包括第一基準(zhǔn)光路(基準(zhǔn) 光105-2沿其前進(jìn)的光路)和第二基準(zhǔn)光路(基準(zhǔn)光105-1沿其前進(jìn) 的光路)，第二基準(zhǔn)光路的光路長度比第一基準(zhǔn)光路的光路長度短。
使用第一基準(zhǔn)光路，獲取在要被檢查的對(duì)象的第一檢查位置(例 如視網(wǎng)膜127)處的第一斷層信息(例如，圖3A中的邊界128-1),該信息將基于光學(xué)干涉被獲取。
此外，使用第二基準(zhǔn)光路，基于光學(xué)干涉獲取在第二檢查位置(例
如，角膜126)處的第二斷層信息(例如，圖3A中的邊界129-1)。 第二檢查位置關(guān)于要被檢查的對(duì)象107的深度方向比第一檢查位置 淺。
通過在改變測量光106在要被檢查的對(duì)象107上的入射位置的同 時(shí)獲取多個(gè)第一斷層信息，.獲取就好像要被檢查的對(duì)象被沿預(yù)定平面 切片一樣的斷層圖像。
在已經(jīng)獲取多個(gè)第一斷層信息之后，將從該多個(gè)斷層信息提供的 斷層圖或三維圖像結(jié)合在一起，從而獲得斷層圖像。
這里，如果在測量期間要被檢查的對(duì)象移位，則將產(chǎn)生受這種移 動(dòng)影響的斷層圖像(例如，圖3A中的330處)。
在本實(shí)施例的OCT裝置中，考慮到這種情況，基于第二斷層信 息校正基于第一斷層信息獲得的在笫一檢查位置處的斷層圖像的位置 偏離。
此外，本實(shí)施例的OCT裝置可具有這樣的結(jié)構(gòu)第一斷層信息 和第二斷層信息關(guān)于在要被檢查的對(duì)象107的深度方向上的位置關(guān)系 彼此相關(guān)。
這里，位置偏離是指與在要,皮檢查的對(duì)象107在測量期間保持靜 止的情況下獲取的在第一檢查位置處的斷層圖像的位置偏離。
上文提及的校正基于以下情況即使要被檢查的對(duì)象107位移， 第一檢查位置(例如，視網(wǎng)膜127)和第二檢查位置(例如，角膜126) 之間的相對(duì)位置關(guān)系仍基本不變。
根據(jù)本實(shí)施例的OCT裝置可具有用于分別獲取在第一檢查位置 和笫二檢查位置處的斷層信息的延遲光路(基準(zhǔn)光路)。在此情況下， 在這兩個(gè)位置處的斷層信息可被依次獲取。由于要被檢查的對(duì)象的移 動(dòng)，實(shí)際檢查位置將偏離。
在根據(jù)本實(shí)施例的OCT裝置中，例如，在使用第二斷層信息作 為基準(zhǔn)校正由第一斷層信息形成的斷層圖像的同時(shí)，重構(gòu)第一和第二斷層信息。由此，獲得其中消除了要被檢查的對(duì)象的位移的斷層圖像
(例如，圖3B中的331處)。
這里，第一基準(zhǔn)光路和第二基準(zhǔn)光路可優(yōu)選地具有基準(zhǔn)光路長度 控制部件，其對(duì)這兩條基準(zhǔn)光路的基準(zhǔn)光路長度進(jìn)行相互獨(dú)立的控制。 在此情況下，如果在第一檢查位置和第二檢查位置處的干涉信號(hào)關(guān)于 時(shí)基重疊，則可通過改變基準(zhǔn)光路長度分離這些干涉信號(hào)。
應(yīng)指出，只要第一和第二基準(zhǔn)光路可被獨(dú)立地控制，則并不必須 總是使得這兩條基準(zhǔn)光路可變。可僅使一條基準(zhǔn)光路可變。
此外，通過使用基準(zhǔn)光路長度控制部件，可對(duì)第一基準(zhǔn)光路和第 二基準(zhǔn)光路的基準(zhǔn)光路長度進(jìn)行期望的調(diào)整，以便第一斷層信息和第 二斷層信息關(guān)于時(shí)間相互分離。通過如上所述地關(guān)于時(shí)間分離第一斷 層信息和第二斷層信息，將使得運(yùn)動(dòng)偽像的減小更容易。
此外，這種調(diào)整可優(yōu)選地被自動(dòng)執(zhí)行。這樣使得能夠確保第一斷 層信息與第二斷層信息分離。
在OCT裝置中或者在與其連接的外部單元中，可提供檢測部件 以及圖像形成部件，該檢測部件用于檢測在檢測位置處的光強(qiáng)度并將 其轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，以便檢測基于測量光與基準(zhǔn)光之間的光學(xué)干涉的信 號(hào)，該圖像形成部件用于對(duì)該電信號(hào)執(zhí)行算術(shù)運(yùn)算以獲得圖像。
此外，第一基準(zhǔn)光路和第二基準(zhǔn)光路中的至少一個(gè)可優(yōu)選地具有 色散補(bǔ)償部件。
用于獲取要被檢查的眼睛的視網(wǎng)膜斷層圖像作為第一斷層信息 的第一基準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)可包含第一基準(zhǔn)光路。另一方面，用于獲取要被
檢查的眼睛的角膜斷層圖像作為第二斷層信息的第二基準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)可 包含第二基準(zhǔn)光路。通過此排列，當(dāng)形成視網(wǎng)膜斷層圖像時(shí)，可基于
包含有關(guān)角膜的位置的信息的第二斷層信息校正視網(wǎng)膜斷層圖像的位 置偏離，從而減小運(yùn)動(dòng)偽像。
第一基準(zhǔn)光路和第二基準(zhǔn)光路可優(yōu)選地具有不小于30mm且不 大于60mm的光路長度差。
構(gòu)成第 一基準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)的第 一基準(zhǔn)光路可優(yōu)選地具有色散補(bǔ)償部件，該色散補(bǔ)償部件配置成補(bǔ)償要被檢查的眼睛的眼睛色散。
根據(jù)此實(shí)施例的光學(xué)相干斷層攝像裝置可包括配置成朝檢測位 置引導(dǎo)來自要被檢查的對(duì)象的返回光的檢查光學(xué)系統(tǒng)，配置成通過測 量光路朝要被檢查的對(duì)象引導(dǎo)測量光的檢測光學(xué)系統(tǒng)，和配置成朝檢 測位置引導(dǎo)基準(zhǔn)光的基準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)。檢查光學(xué)系統(tǒng)、檢測光學(xué)系統(tǒng)和 基準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)中的至少一個(gè)的光路可由光纖組成。這樣使得能夠?qū)崿F(xiàn)
小尺寸且便宜的OCT裝置。
接下來，將說明本發(fā)明的一些工作示例。 [第一工作示例J
下文將參照?qǐng)Dl說明根據(jù)第一工作示例的OCT裝置。 圖1是用于說明此工作示例的OCT裝置中的光學(xué)系統(tǒng)的示意圖。 在圖1中，100指示OCT裝置，并且103和113指示光束分離 器。105指示基準(zhǔn)光，106指示測量光。107指示要被檢查的眼睛，110 指示單模光纖。111和120指示透鏡，114指示反射鏡。
115指示色散補(bǔ)償鏡，而119指示XY掃描儀。122指示平衡檢 測器，123指示放大器。124指示濾波器，125指示個(gè)人計(jì)算機(jī)(PC)。 126指示要被檢查的眼睛的角膜，而127指示要被檢查的眼睛的視網(wǎng) 膜。 在此工作示例中，OCT裝置100被用作用于獲取要被檢查的眼 睛107的視網(wǎng)膜127的斷層圖的設(shè)備。
下文將說明此工作示例的OCT裝置中的光學(xué)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。 首先將概述OCT裝置100的結(jié)構(gòu)。
圖1示出OCT裝置100的概念圖，并且這里整體上構(gòu)成 Mach-Zehnder干涉系統(tǒng)。
在此圖中，從光源101發(fā)射的光被光束分離器103-1分離成基準(zhǔn) 光105和測量光106。測量光被要被觀察的眼睛107反射或散射，并 且作為返回光從眼睛返回。此后，其通過光束分離器103-2與基準(zhǔn)光 105耦合。
在耦合之后，基準(zhǔn)光105和測量光106被光束分離器103-2分離，并且入射到平衡檢測器122上。平衡檢測器122將光強(qiáng)度轉(zhuǎn)換成電壓。 通過使用此信號(hào)產(chǎn)生眼睛107的斷層圖。 接下來，將說明光源101的組件。
光源101包括SLD (超輻射發(fā)光二極管)，其是代表性的低相干 光源。其提供830nm的波長和50nm的帶寬。這里，由于帶寬影響要 獲得的在光軸方向上的斷層圖的分辨能力，所以帶寬是一個(gè)重要參數(shù)。
對(duì)于光源類型，盡管這里選擇SLD用于光源，但是任何可提供 低相干光的光源都可被使用。例如，可使用ASE (放大的自發(fā)輻射) 設(shè)備。
此外，對(duì)于波長，由于將要測量眼睛，所以使用近紅外線可能是 合適的。此外，由于波長影響要獲得的斷層圖的交叉分辯能力，所以 理想地使用最短的波長。這里使用830nm的波長。當(dāng)然，可根據(jù)觀察 對(duì)象的測量部分選擇任何其它的波長。
從光源101發(fā)射的光被通過單模光纖110-1朝透鏡1H-1引導(dǎo)， 并且其被調(diào)整成具有4mm的光束直徑的平行光。
接下來，將說明作為本發(fā)明的重要特征的基準(zhǔn)光105的光路。
由光束分離器103-1分離出的基準(zhǔn)光105入射到光束分離器 113-1上，并且被分離成基準(zhǔn)光105-1和基準(zhǔn)光105-2。此后，它們通 過光束分離器113-2相互耦合。
這里，114-1至114-5指示反射鏡，而115-1和115-2指示色散補(bǔ) 償鏡。色散補(bǔ)償鏡115-1的長度為Ll，其期望地被形成為等于普通眼 睛長度的兩倍。色散補(bǔ)償鏡115-1用于補(bǔ)償當(dāng)測量光106在眼睛107 中往復(fù)運(yùn)動(dòng)時(shí)關(guān)于基準(zhǔn)光105的色散(dispersion)。
在此示例中，Ll-46mm，其是對(duì)應(yīng)于日本人的平均眼球直徑的 23mm的兩倍。此外，光束分離器113-1和反射鏡114-1之間的距離 L2必須被形成為稍大于或小于眼睛107的深度。在此示例中，L2 = 24mm。但是，其在測量時(shí)可被重新調(diào)整。
作為此示例的一個(gè)重要特征，作為結(jié)果存在兩條基準(zhǔn)光路，其中 基準(zhǔn)光105-1和105-2的光路長度差為2L2 = 48mm，其稍大于普通眼球深度的兩倍。
117-1和117-2指示電動(dòng)鏡臺(tái)，其被形成為可在所示的方向上移 動(dòng)以獨(dú)立地控制基準(zhǔn)光105-1和105-2的光路長度。
接下來，將說明如何調(diào)制基準(zhǔn)光105的方式。
這里，116-1和116-2指示聲光調(diào)制設(shè)備，并且116-3指示用于該 聲光調(diào)制設(shè)備的控制器。這里，這兩個(gè)聲光調(diào)制設(shè)備116-1和116-2 用作光的頻率的移頻器。
聲光調(diào)制設(shè)備116-1和116-2的移頻分別是+41MHz和-40MHz。 結(jié)果，基準(zhǔn)光105的頻率可被移動(dòng)lMHz。此外，色散補(bǔ)償鏡115-2 用于為用于眼睛107的掃描的透鏡120-1和120-2提供色散補(bǔ)償。
接下來，將說明測量光106的光路。
由光束分離器103-1分離出的測量光106被光束分離器103-3反 射，并且入射到X-Y掃描儀119的反射鏡上。
這里，為了簡單起見，X-Y掃描儀119被示出為是單反射鏡。但 是，實(shí)際上，包括用于X掃描的反射鏡和用于Y掃描的反射鏡的兩塊 反射鏡被并列設(shè)置，以在垂直于光軸的方向上對(duì)視網(wǎng)膜127提供光柵 掃描。此外，測量光106的中心被調(diào)整為與X-Y掃描儀119的反射鏡 的旋轉(zhuǎn)中心對(duì)齊。透鏡120-1和120-2是用于掃描4見網(wǎng)膜l27的光學(xué) 系統(tǒng)，并且它們具有將測量光106變換成具有適合于眼睛107的測量
的光束直徑的功能。
這里，光束直徑被形成為等于6mm。另外，透鏡120-1和120-2
的焦距分別等于30mm和45mm。
當(dāng)測量光106入射在眼睛107上時(shí)，由于在角膜126的表面和視 網(wǎng)膜127處的反射，測量光106被光束分離器103-2分離出，并被引 導(dǎo)到平衡檢測器122。
接下來，將說明此工作示例的OCT裝置中的測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。
OCT裝置100可獲取包括由Mach-Zehnder干涉系統(tǒng)提供的干 涉信號(hào)的強(qiáng)度的斷層圖(OCT圖像)。
下文將詳細(xì)說明此測量系統(tǒng)。由視網(wǎng)膜127反射的測量光106然后被X-Y掃描儀119反射，并且被光束分離器103-2分離。另一方面， 基準(zhǔn)光105也被光束分離器103-2分離。這里，基準(zhǔn)光105和測量光 106被調(diào)整以使得它們?cè)诠馐蛛x器103-2之后耦合在一起。
然后，通過光纖110-2和110-3,耦合的光被引導(dǎo)到平衡檢測器 122，從而耦合的基準(zhǔn)光105和測量光106的光強(qiáng)度被轉(zhuǎn)換成電壓。這 樣獲得的電壓信號(hào)被放大器123放大，并且必要的頻率分量被濾波器 124取出。然后，通過PC 125執(zhí)行解碼和數(shù)據(jù)處理，從而獲得斷層圖。
這里，基準(zhǔn)光105已如前文所述地被頻移lMHz。因此，如上文 所迷獲得的電壓信號(hào)提供了 lMHz的拍頻信號(hào)。盡管測量光106通常 非常弱，但是由于基準(zhǔn)光105大，所以可增大檢測靈敏度。
對(duì)于濾波器124，這里使用lMHz的帶通濾波器。通過截去不必 要的頻率分量，實(shí)現(xiàn)對(duì)拍頻信號(hào)的高靈敏度檢測。
接下來，將說明如何使用此工作示例的OCT裝置獲得斷層圖的方式。
在OCT裝置100中，通過控制兩個(gè)電動(dòng)鏡臺(tái)117-1和117-2以 及X-Y掃描儀119,可獲取視網(wǎng)膜127的期望部分的斷層圖。這里， 將說明獲取視網(wǎng)膜127的(沿平行于光軸的平面的)斷層圖的方式。
當(dāng)測量光106入射到眼睛107上時(shí)，由于在各個(gè)位置的反射，測 量光106帶有與這些位置對(duì)應(yīng)的延時(shí)到達(dá)平衡檢測器122。
這里，由于光源101的帶寬寬并且相干長度短，所以只有當(dāng)基準(zhǔn) 光105和測量光106的光路長度彼此相等時(shí)，在平衡檢測器122處才 可檢測到干涉信號(hào)。
由于基準(zhǔn)光105的頻率已如上所述地被頻移lMHz，所以干涉信 號(hào)將提供lMHz的拍頻信號(hào)。
此外，由于基準(zhǔn)光105包括被分離成基準(zhǔn)光105-1和基準(zhǔn)光105-2 的部分，所以存在這樣的特征，即基于測量光106的從這兩個(gè)位置的 反射獲得干涉信號(hào)。
這里，包括基準(zhǔn)光105-1的基準(zhǔn)光路的整體用DL1指示，而包括 基準(zhǔn)光105-2的基準(zhǔn)光路的整體用于DL2指示。如上所述,基準(zhǔn)光105-1和基準(zhǔn)光105-2之間的光路長度差為2L2 =48mm，并且其稍大于普通眼球深度的兩倍。即，DL1和DL2之間 的光路長度差2L2已被調(diào)整為對(duì)應(yīng)于眼睛107的深度的往返長度。因 此，如果DL1被調(diào)整以檢測來自視網(wǎng)膜127的反射，而DL2被調(diào)整 以檢測來自角膜126的反射，則角膜126的千涉信號(hào)和視網(wǎng)膜127的 干涉信號(hào)這兩者可被同時(shí)獲取。應(yīng)指出，這里提到的詞語"同時(shí)"并 不意味著關(guān)于時(shí)基時(shí)間嚴(yán)格相同，而是指在測量期間，來自角膜的反 射信號(hào)和來自視網(wǎng)膜的反射信號(hào)被在與被檢查的眼睛的運(yùn)動(dòng)相比足夠 短的時(shí)間內(nèi)獲取。
接下來，將更詳細(xì)地解釋調(diào)整基準(zhǔn)光路DL1和DL2的方式。圖 2A-2C是用于說明在此工作示例中如何調(diào)整基準(zhǔn)光路的方式的圖。圖 2A示出測量光106入射在眼睛107上并且被角膜表面126和視網(wǎng)膜 127的每一層反射(反射光121)，該測量光106是平行光。
首先，通過使用電動(dòng)鏡臺(tái)117-1和117-2，調(diào)整基準(zhǔn)光路DL1和 DL2的光路長度，以使得沿DL1前進(jìn)的基準(zhǔn)光105-1和來自角膜126 的反射光121相互干涉，并且沿DL2前進(jìn)的基準(zhǔn)光105-2和來自視網(wǎng) 膜127的反射光121也相互干涉。通過在包括電動(dòng)鏡臺(tái)117-1和117-2 的調(diào)整后的位置的同時(shí)移動(dòng)電動(dòng)鏡臺(tái)117-1和117-2，在平衡檢測器 122處檢測到如圖2B所示的信號(hào)。縱軸代表光強(qiáng)度，而橫軸描繪了時(shí) 間。如果電動(dòng)鏡臺(tái)117-1和117-2以恒定速度移動(dòng)，則橫軸代表電動(dòng) 鏡臺(tái)117-1和117-2的位置，并且其可被看作基準(zhǔn)光路或測量光路的 光路長度。在此示例中，圖2B示出這樣的情況，其中來自角膜126 和視網(wǎng)膜127的反射光沒有關(guān)于時(shí)間相互重疊。但是，來自角膜l26 和視網(wǎng)膜127的反射光可關(guān)于時(shí)間相互重疊。鑒于此，電動(dòng)鏡臺(tái)117-1 和117-2中任一個(gè)的移動(dòng)范圍必須被改變，以使得來自角膜U6和視 網(wǎng)膜127的反射光被關(guān)于時(shí)間相互獨(dú)立地檢測。
如果使用電動(dòng)鏡臺(tái)117-1和117-2調(diào)整光路長度，則該調(diào)整可被 進(jìn)行，以使得如圖2B所示來自角膜126的反射光在時(shí)基上出現(xiàn)在左 手側(cè)，而來自視網(wǎng)膜127的反射光出現(xiàn)在右手側(cè)。此關(guān)系可被顛倒，從而來自角膜126的反射光出現(xiàn)在右手側(cè)，而來自視網(wǎng)膜127的反射 光出現(xiàn)在左手側(cè)。
接下來，將更詳細(xì)地說明獲取斷層圖的方式。 圖2A-2C是示出此工作示例中如何獲取斷層圖的方式的圖。 首先，X-Y掃描儀119被保持固定，并且使用上述調(diào)整方法調(diào)整 電動(dòng)鏡臺(tái)117-1和117-2，以便DL1檢測來自視網(wǎng)膜127附近的反射， 而DL2檢測來自角膜126的表面附近的反射，這兩個(gè)反射作為干涉信 號(hào)被相互獨(dú)立地檢測。更具體地說，如前文所述，提供關(guān)系L2 = 24mm。 如圖2A所示，測量光106入射在眼睛107上并且,皮角膜表面126 和視網(wǎng)膜127的每一層反射(反射光121)，該測量光106是平行光。 此外，如果電動(dòng)鏡臺(tái)117-1和117-2被同時(shí)移動(dòng)，則在平衡檢測 器122處檢測到如圖2B所示信號(hào)之類的信號(hào)。因此，通過輕微地移 動(dòng)電動(dòng)鏡臺(tái)117-1和117-2,可獲得與角膜126和視網(wǎng)膜127有關(guān)的信 息。
此信號(hào)是前文提及的拍頻信號(hào)。通過求其幅值的平方并進(jìn)行解 碼，提供在光軸方向上的反射率分布。
此外，如圖2C所示，如果通過4吏用X-Y掃描4義119關(guān)于視網(wǎng)膜 127上的任意點(diǎn)重復(fù)類似的操作，則提供反射率的二維分布，從而通 過單次測量獲得角膜126和視網(wǎng)膜127的斷層圖。
例如，可在光軸方向(Z方向)上掃描DL1，并且可通過使用 X-Y掃描儀119關(guān)于在X軸方向上的任意點(diǎn)執(zhí)行此操作。在此情況下， 可提供如圖3A所示的斷層圖。
斷層圖130本質(zhì)上是排列成陣列的樣本反射率的組合。反射率被 顯示，同時(shí)在灰度等級(jí)方面被轉(zhuǎn)換。這里，僅示出它們的邊界。
接下來，將說明使用此工作示例的OCT裝置校正運(yùn)動(dòng)偽像的方法。
圖3A和3B是用于說明此工作示例中的校正運(yùn)動(dòng)偽像的方法的圖。
在圖3A所示的斷層圖330中，存在邊界128-1和邊界1M-1，該邊界128-1是角膜126的表面，而邊界129-1是視網(wǎng)膜127的內(nèi)部結(jié) 構(gòu)。最初，如果在測量期間眼球107不運(yùn)動(dòng)，則測量光106應(yīng)入射在 角膜126的相似位置上。即，邊界128-1指示眼球107在光軸方向上 的運(yùn)動(dòng)。
這里，如果進(jìn)行與眼球在光軸方向上的位移相對(duì)應(yīng)的量的校正， 以使得邊界129-2關(guān)于斷層圖330被變成直線，則提供如圖3B所示的 斷層圖331，從而獲得其中運(yùn)動(dòng)偽像被減小的視網(wǎng)膜127的斷層圖。
因此，在此示例中，獲得被校正成直線的邊界128-2和示出視網(wǎng) 膜的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的邊界129-2。
[第二工作示例
下文將參照一個(gè)結(jié)構(gòu)示例描述第二工作示例，其中前文所述的檢 查光學(xué)系統(tǒng)、檢測光學(xué)系統(tǒng)和基準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)中的至少一個(gè)的光路由光 纖組成。
圖4是用于說明本發(fā)明的第二工作示例中的OCT裝置的結(jié)構(gòu)的 示意圖。
在圖4中，與圖1中所示的第一工作示例的那些組件相似或相對(duì) 應(yīng)的組件,皮分配相同的標(biāo)號(hào)。因此，將省去對(duì)重復(fù)結(jié)構(gòu)的描述。
在圖4中，200指示OCT裝置，并且130指示單模光纖。指 示光耦合器，而134指示光循環(huán)器。
在此工作示例中，OCT裝置200用作用于獲取要被檢查的眼睛 107的視網(wǎng)膜127的斷層圖的設(shè)備。此外，在此工作示例中，通過使 用光纖構(gòu)成光學(xué)系統(tǒng)的一部分，實(shí)現(xiàn)了裝置尺寸的減小。除了使用光 纖這一點(diǎn)之外，此工作示例的基本結(jié)構(gòu)與第一工作示例的相同。
接下來，將說明此工作示例的OCT裝置中的光學(xué)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。
首先，將概述OCT裝置200的結(jié)構(gòu)。
圖4示出OCT裝置200的概念圖，并且這里整體上構(gòu)成 Mach-Zehnder干涉系統(tǒng)。
在圖4中，從光源101發(fā)射的光通過單模光纖130-1利用光耦合 器131-1被分離成測量光106 (90)和基準(zhǔn)光105 (10)。測量光106被作為觀察對(duì)象的眼睛107反射，并且此后，其通過 光耦合器131-2與基準(zhǔn)光105耦合。此后，該光被分離并且入射到平 衡檢測器122上。
通過使用由平衡檢測器122獲得的光強(qiáng)度，產(chǎn)生眼睛107的斷層
接下來，將說明光源IOI周圍的組件。光源101本身類似于第一 工作示例的光源。從光源101發(fā)射的光被通過單模光纖130-1引導(dǎo)到 光耦合器131-1，在該處光被以卯:IO的強(qiáng)度比率分離。這樣分離的光 分別提供了測量光106和基準(zhǔn)光105。
接下來，將說明作為此工作示例的一個(gè)特征的基準(zhǔn)光105的光路。 在基準(zhǔn)光105被光耦合器131-1分離后，其被通過單模光纖130-2 朝透鏡135-1引導(dǎo)，通過該透鏡將光調(diào)整為具有4mm的光束直徑的平 行光。電動(dòng)鏡臺(tái)117-1和117-2、附加到其上的反射鏡114-1和114-2、 光束分離器113-1和113-2、色散補(bǔ)償鏡115-1均類似于第一工作示例 中的那些組件，因此將省略對(duì)這些組件的描述。這樣耦合的基準(zhǔn)光105 通過色散補(bǔ)償鏡115-2，并且此后通過透鏡135-2被引導(dǎo)到單模光纖 130-6。
此后，光通過聲光調(diào)制設(shè)備133-1和單;f莫光纖130-7,并且入射 到光耦合器131-2上。
聲光調(diào)制設(shè)備133-1是用于光纖的，并且其用于在使用控制器 133-2的同時(shí)提供lMHz的頻移。因此，這里提供的基準(zhǔn)光105與第 一工作示例中的基準(zhǔn)光相似。
接下來，將說明測量光106的光路。由光耦合器131-1分離出的 測量光106通過單模光纖130-3，并且入射到光循環(huán)器134上。
此后，測量光通過單模光纖130-4，然后被引導(dǎo)到透鏡135-3，通 過該透鏡將該測量光調(diào)整為具有4mm的光束直徑的平行光。此外， 在通過色散補(bǔ)償鏡115-3之后，光入射到X-Y掃描儀119的反射鏡上。
由于在從X-Y掃描儀119到眼睛107之間的光學(xué)系統(tǒng)類似于第一 工作示例的光學(xué)系統(tǒng)，所以將省略對(duì)其的描述。這里，色散補(bǔ)償鏡115-3用于補(bǔ)償聲光調(diào)制設(shè)備133-1的色散。 在此示例中，由于測量光106往復(fù)通過色散補(bǔ)償鏡115-2，所以
使得色散補(bǔ)償鏡115-2的厚度等于聲光調(diào)制設(shè)備133-1的玻璃厚度的一半。
當(dāng)測量光106入射到眼睛107上時(shí)，由于在角膜126的表面和4見 網(wǎng)膜127處的反射以及內(nèi)部反射，測量光106通過光循環(huán)器134， 并 且被引導(dǎo)到光耦合器131-2。
接下來，將說明此工作示例的OCT裝置中的測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。
OCT裝置200可獲取包含Mach-Zehnder干涉系統(tǒng)提供的干涉 信號(hào)的強(qiáng)度的斷層圖(OCT圖像)。將詳細(xì)說明此測量系統(tǒng)。視網(wǎng)膜 127反射的測量光106然后被X-Y掃描儀119反射。然后，其通過光 耦合器131-2與基準(zhǔn)光105耦合，隨后其按50:50的比率被分離。此 后，光通過單模光纖130-8和130-9，并被引導(dǎo)到平衡檢測器122。
耦合的基準(zhǔn)光105和測量光106的光強(qiáng)度被轉(zhuǎn)換成電壓。這樣獲 得的電壓信號(hào)被放大器123放大，并且必要的頻率分量被濾波器124 取出。然后，通過PC 125執(zhí)行解碼和數(shù)據(jù)處理，從而獲得斷層圖。
接下來，將說明如何使用此工作示例的OCT裝置獲得斷層圖的 方式。在OCT裝置200中，通過控制兩個(gè)電動(dòng)鏡臺(tái)117-1和117-2以 及X-Y掃描儀119，可獲取視網(wǎng)膜127的期望部分的斷層圖。由于獲 取斷層圖的方式的細(xì)節(jié)與第一工作示例相似，所以這里省略了對(duì)其的 描述。
接下來，將說明如何使用此工作示例的OCT裝置校正運(yùn)動(dòng)偽像 的方式。作為一個(gè)特征，OCT裝置200具有用于校正運(yùn)動(dòng)偽像的功能。 由于校正運(yùn)動(dòng)偽像的細(xì)節(jié)也與第一工作示例相似，所以這里省略了對(duì) 其的描述。
盡管已經(jīng)參照文中公開的結(jié)構(gòu)描述了本發(fā)明，但是本發(fā)明并不局 限于文中所述的細(xì)節(jié)，并且此申請(qǐng)意圖覆蓋為了改進(jìn)的目的而做出的 這種修改或改變或者以下權(quán)利要求的范圍。
權(quán)利要求
1. 一種光學(xué)相干斷層攝像裝置，其中來自光源的光被分離成測量光和基準(zhǔn)光，其中所述測量光通過測量光路被投射到要被檢查的對(duì)象上，其中從所述要被檢查的對(duì)象返回的所述測量光的返回光被朝檢測位置引導(dǎo)，其中所述基準(zhǔn)光被通過基準(zhǔn)光路朝所述檢測位置引導(dǎo)，以便所述基準(zhǔn)光與被引導(dǎo)到所述檢測位置的所述返回光光學(xué)干涉，并且其中使用基于光學(xué)干涉的信號(hào)獲得所述要被檢查的對(duì)象的斷層圖像，其特征在于所述基準(zhǔn)光路至少包括第一基準(zhǔn)光路和第二基準(zhǔn)光路，所述第二基準(zhǔn)光路的光路長度短于所述第一基準(zhǔn)光路的光路長度；所述裝置配置成使用所述第一基準(zhǔn)光路基于光學(xué)干涉獲取在第一檢查位置處的所述對(duì)象的第一斷層信息，并且使用所述第二基準(zhǔn)光路基于光學(xué)干涉獲取在第二檢查位置處的所述對(duì)象的第二斷層信息，所述第二檢查位置關(guān)于所述對(duì)象的深度方向比所述第一檢查位置淺；并且所述裝置配置成使用所述第二斷層信息，校正基于所述第一斷層信息獲得的在所述第一檢查位置處的斷層圖像的位置偏離。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)相干斷層攝像裝置，進(jìn)一步包括 基準(zhǔn)光路長度控制部件，其配置成獨(dú)立地控制所述第一基準(zhǔn)光路和所 述第二基準(zhǔn)光路的基準(zhǔn)光路長度。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的光學(xué)相干斷層攝像裝置，其中所述基 準(zhǔn)光路長度控制部件調(diào)整所述第一基準(zhǔn)光路和第二基準(zhǔn)光路的基準(zhǔn)光 路長度，以便所述第一斷層信息和第二斷層信息關(guān)于時(shí)間相互分離。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的光學(xué)相干斷層攝像裝置，其中所述基 準(zhǔn)光路長度控制部件進(jìn)行的調(diào)整被自動(dòng)執(zhí)行。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)相干斷層攝像裝置，進(jìn)一步包括 檢測部件和圖像形成部件，所述檢測部件配置成檢測在檢測位置處的 光強(qiáng)度，并將其轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，以便檢測基于光學(xué)干涉的信號(hào)，所述圖像形成部件配置成對(duì)所述電信號(hào)執(zhí)行算術(shù)運(yùn)算以獲得圖像。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)相干斷層攝像裝置，其中所述第 一基準(zhǔn)光路和第二基準(zhǔn)光路中的至少 一個(gè)具有色散補(bǔ)償部件。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述的光學(xué)相干斷層攝像裝置，其 中用于獲取要被檢查的眼睛的視網(wǎng)膜斷層圖像作為第一斷層信息的第 一基準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)包含所述第一基準(zhǔn)光路，其中用于獲取要被檢查的眼 睛的角膜斷層圖像作為第二斷層信息的第二基準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)包含所述第 二基準(zhǔn)光路，并且其中當(dāng)產(chǎn)生所述視網(wǎng)膜斷層圖像時(shí)，基于包括有關(guān) 角膜的位置的信息的第二斷層信息校正視網(wǎng)膜斷層圖像的位置偏離， 從而減小運(yùn)動(dòng)偽4象。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的光學(xué)相干斷層攝像裝置，其中所述第 一基準(zhǔn)光路和所述第二基準(zhǔn)光路具有不小于30mm且不大于60mm的 光路長度差。
9. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的光學(xué)相干斷層攝像裝置，其中構(gòu)成所 述第 一基準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)的第一基準(zhǔn)光路具有色散補(bǔ)償部件，所述色散補(bǔ) 償部件配置成補(bǔ)償要被檢查的眼睛的眼睛色散。
10. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的光學(xué)相干斷層攝像裝置，進(jìn)一步包括 配置成朝檢查位置引導(dǎo)來自要被檢查的對(duì)象的返回光的檢查光學(xué)系 統(tǒng)，配置成通過測量光路朝要被檢查的對(duì)象引導(dǎo)測量光的檢測光學(xué)系 統(tǒng)，和配置成朝檢測位置引導(dǎo)基準(zhǔn)光的基準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)，其中所述檢查 光學(xué)系統(tǒng)、所述檢測光學(xué)系統(tǒng)和所述基準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)中的至少一個(gè)的光 路由光纖組成。
11. 一種光學(xué)相干斷層攝像裝置，其中來自光源的光被分離成測 量光和基準(zhǔn)光，其中所述測量光通過測量光路被投射到要被檢查的對(duì) 象上，其中從所述要被檢查的對(duì)象返回的所述測量光的返回光被朝檢 測位置引導(dǎo)，其中所述基準(zhǔn)光被通過基準(zhǔn)光路朝所述檢測位置引導(dǎo)， 以便所述基準(zhǔn)光與被引導(dǎo)到所迷檢測位置的所述返回光光學(xué)干涉，并 且其中使用基于光學(xué)千涉的信號(hào)獲得所述要被檢查的對(duì)象的斷層圖 像，其特征在于所述基準(zhǔn)光路至少包括第一基準(zhǔn)光路和第二基準(zhǔn)光路，所述第二基準(zhǔn)光路的光路長度短于所述第一基準(zhǔn)光路的光路長度；所述裝置配置成使用所述第一基準(zhǔn)光路基于光學(xué)干涉獲取在第 一檢查位置處的所述對(duì)象的第一斷層信息，并且使用所述第二基準(zhǔn)光 路基于光學(xué)干涉獲取在第二檢查位置處的所述對(duì)象的第二斷層信息， 所述第二檢查位置關(guān)于所述對(duì)象的深度方向比所述第一檢查位置淺；并且所述第一斷層信息和第二斷層信息關(guān)于在深度方向上的位置關(guān) 系彼此相關(guān)。
12. 根據(jù)權(quán)利要求11所述的光學(xué)相千斷層攝像裝置，其中所述 第一斷層信息和第二斷層信息之間的在深度方向上的位置關(guān)系對(duì)應(yīng)于 所述第一檢查位置和第二檢查位置之間的關(guān)于深度方向的位置關(guān)系。
13. 根據(jù)權(quán)利要求11所述的光學(xué)相干斷層攝像裝置，其中對(duì)于 在深度方向上的位置關(guān)系，在包含笫一斷層信息和第二斷層信息的要 被檢查的對(duì)象的斷層圖或三維圖像中出現(xiàn)的位置偏離被基于第二斷層 信息校正。
14. 根據(jù)權(quán)利要求11所述的光學(xué)相干斷層攝像裝置，其中，基于有關(guān)所述第二檢查位置的信息產(chǎn)生在深度方向上的要被檢查的對(duì)象 的斷層圖或三維圖像，其中在深度方向上的所述第二斷層信息的位置 偏離被補(bǔ)償。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種光學(xué)相干斷層攝像裝置，其中基準(zhǔn)光路至少包括第一基準(zhǔn)光路和第二基準(zhǔn)光路，所述第二基準(zhǔn)光路的光路長度短于所述第一基準(zhǔn)光路的光路長度，其中使用所述第一基準(zhǔn)光路基于光學(xué)干涉獲取在第一檢查位置處的所述對(duì)象的第一斷層信息，并且使用所述第二基準(zhǔn)光路基于光學(xué)干涉獲取在第二檢查位置處的所述對(duì)象的第二斷層信息，所述第二檢查位置關(guān)于所述對(duì)象的深度方向比所述第一檢查位置淺；并且使用所述第二斷層信息，校正基于所述第一斷層信息獲得的在所述第一檢查位置處的斷層圖像的位置偏離。
文檔編號(hào)A61B3/14GK101411608SQ20081016808
公開日2009年4月22日 申請(qǐng)日期2008年9月27日 優(yōu)先權(quán)日2007年10月4日
發(fā)明者廣瀨太 申請(qǐng)人:佳能株式會(huì)社