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      用于發(fā)射斷層造影掃描儀的探測器模塊的制作方法

      文檔序號:854859閱讀:178來源:國知局
      專利名稱:用于發(fā)射斷層造影掃描儀的探測器模塊的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種用于發(fā)射斷層造影掃描儀(emission tomography scanner)的探 測器模塊。
      背景技術(shù)
      核醫(yī)學(xué)是醫(yī)學(xué)???,其中利用放射性衰減獲取顯示身體的器官、骨骼或組織的功 能和解剖結(jié)構(gòu)的圖像。放射性藥物或者通過注射或者通過攝食被引入身體,并且在感興趣 的特定器官、骨骼或組織中積聚。這樣的放射性藥物產(chǎn)生伽馬光子發(fā)射,其從身體發(fā)出并且 被閃爍晶體捕捉,光子與該閃爍晶體相互作用以產(chǎn)生閃光或“事件”。事件由諸如光電倍增 管或光電二極管的光電探測器的陣列探測,并且其空間定位或位置被計算和存儲。以這種 方式,從對身體中的放射性同位元素的分布的探測中,產(chǎn)生所研究的器官或組織的圖像。
      一種特殊的核醫(yī)學(xué)成像技術(shù)公知為發(fā)射斷層造影。發(fā)射斷層造影被用來產(chǎn)生用 于診斷特定器官、腫瘤或其它新陳代謝上活動的位置的生化或生理的圖像。兩種公知的發(fā) 射斷層造影是正電子發(fā)射斷層造影(PET)和單光子發(fā)射計算機斷層造影(SPECT)。例如, 在PET中,對正電子發(fā)射放射性核的組織積聚的測量基于對從正電子湮滅產(chǎn)生的兩個伽馬 光子的相合探測。當(dāng)正電子被電子湮滅時,同時產(chǎn)生兩個511keV伽馬光子并且在近似相反 方向上行進。由湮滅事件產(chǎn)生的伽馬光子可以通過一對相對設(shè)置的能夠響應(yīng)于伽馬光子與 閃爍晶體的相互作用產(chǎn)生信號的輻射探測器來探測。湮滅事件典型地通過在兩個相對設(shè)置 的探測器中在對兩個511keV伽馬光子的探測之間的時間相合來識別,即,伽馬光子發(fā)射被 虛擬地同時由每個探測器探測。當(dāng)兩個相對排列的伽馬光子的每個擊中一個相對設(shè)置的探 測器以產(chǎn)生時間相合事件時,它們還確定一個相合線或響應(yīng)線(LOR),湮滅事件沿著該線發(fā) 生。在被存儲到并行投影中之后,由相合事件定義的LOR被用來重建在患者內(nèi)部的正電子 發(fā)射放射性核的三維分布。
      發(fā)射斷層造影在獲取揭示生物過程(例如身體器官諸如心臟、腦、肺等和身體組 織和結(jié)構(gòu)諸如循環(huán)系統(tǒng)的功能)的圖像中特別有用。
      另一方面,磁共振成像(MRI)主要被用來獲得身體的高質(zhì)量高分辨率的解剖和結(jié) 構(gòu)圖像。MRI基于主要由身體的原子的氫核在射頻范圍中的能量的吸收和發(fā)射。MRI成像 器的主要組件包括通常為圓柱形的磁體、磁體內(nèi)的梯度線圈、在梯度線圈內(nèi)的RF線圈、以 及防止高功率RF脈沖放射到MR成像器外部并且保持外來的RF信號不會由成像器探測到 的RF屏蔽器?;颊弑恢糜谠诖朋w內(nèi)的患者臥榻或檢查臺并且被梯度線圈和RF線圈包圍。
      磁體產(chǎn)生用于成像過程的Btl磁場。梯度線圈在X、Y和Z方向上產(chǎn)生Btl場中的梯 度。RF線圈產(chǎn)生使核自旋旋轉(zhuǎn)90°或180°所需的B1磁場。RF線圈還探測來自身體內(nèi)部 的自旋的核磁共振信號。射頻源產(chǎn)生期望頻率的正弦波。
      將發(fā)射斷層造影和MR成像模態(tài)融合為一個單個設(shè)備的概念在現(xiàn)有技術(shù)中普遍公 知。然而,光電二極管要么是體積大的要么對光子的探測具有局限性。發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明的實施方式要解決的技術(shù)問題是,提供一種具有緊湊設(shè)計和對光子的探測 具有提高的精度的發(fā)射斷層造影探測器模塊。
      上述技術(shù)問題是通過按照本發(fā)明的發(fā)射斷層造影探測器模塊實現(xiàn)的。
      具有不同的探測特性的第一種固態(tài)光電探測器和第二種固態(tài)光電探測器能夠具 有緊湊設(shè)計并且提供對光子的探測的提高的精度。
      按照一種實施方式,第一種固態(tài)光電探測器和第二種固態(tài)光電探測器具有不同的 頻率響應(yīng)特性。例如,一種固態(tài)光電探測器可能具有高的頻率響應(yīng)特性,而另一種可能具 有低的頻率響應(yīng)特性。這使得能夠提高探測器模塊的能量分辨率和計時分辨率(timing resolution)0
      按照另一種實施方式,第一種固態(tài)光電探測器是雪崩光電二極管。雪崩光電二極 管具有低的頻率響應(yīng)特性并且由此提高了探測器模塊的能量分辨率。
      按照再一種實施方式,第二種固態(tài)光電探測器是硅光電倍增管。硅光電倍增管具 有高的頻率響應(yīng)特性并且由此提高了探測器模塊的計時分辨率。
      這兩種光電探測器的組合提供具有高能量分辨率和計時分辨率的探測器模塊,因 為雪崩光電二極管具有高的能量分辨率,而硅光電倍增管具有高的計時分辨率。
      按照再一種實施方式,將第一種固態(tài)光電探測器和第二種固態(tài)光電探測器04) 使用光導(dǎo)光學(xué)地耦合到閃爍器。光電探測器或者可以被使用光導(dǎo)直接地耦合到閃爍器。光 電探測器甚至可以在遠離閃爍器塊的位置上被間接地光學(xué)耦合到閃爍器。
      按照再一種實施方式,探測器模塊可以進一步包括信號處理單元,該信號處理單 元被操作來將第一種固態(tài)光電探測器的輸出信號和第二種固態(tài)光電探測器的輸出信號組 合為一個組合的輸出信號,該組合的輸出信號指示由閃爍器捕捉的光子。該信號處理單元 提供指示由閃爍器捕捉的光子的組合的輸出。產(chǎn)生組合的輸出信號允許產(chǎn)生反應(yīng)兩種探測 器的優(yōu)點的信號,便利了對光子的正確探測。
      按照再一種實施方式,第一種固態(tài)光電探測器的輸出信號可以被用來基于光子的 能量區(qū)分光子。
      按照再一種實施方式,第二種固態(tài)光電探測器的輸出信號被用來確定光子的發(fā)生 時間。
      按照再一種實施方式,探測器模塊可以進一步包括圍繞第二種固態(tài)光電探測器布 置的多個第一種固態(tài)光電探測器。這使得可以提供在探測器模塊內(nèi)的Anger模式邊定位。 閃爍器塊17的Anger模式提供了高的空間分辨率并提高了閃爍器塊17的整體靈敏度。
      另一種實施方式包括一個包含了一對發(fā)射斷層造影探測器模塊的發(fā)射斷層造影 掃描儀,其中,每個發(fā)射斷層造影探測器模塊包括用于捕捉光子的閃爍器,該閃爍器根據(jù) 對光子的捕捉發(fā)射閃爍光;用于探測閃爍光的第一種固態(tài)光電探測器;以及用于探測閃爍 光的第二種固態(tài)光電探測器;其中第一種固態(tài)光電探測器和第二種固態(tài)光電探測器關(guān)于探 測特性是不同的。這對探測器模塊使得能夠探測光子對。
      按照一種實施方式,發(fā)射斷層造影掃描儀可以進一步包括用于分析來自這對探測 器模塊的信號的分析單元,該分析單元適合于探測一對光子的相合事件。相合事件確定一 條相合線,因為光子相對布置。該相合線是連接兩個探測器模塊的線。
      按照另一種實施方式,分析單元可以適合于確定連接兩個探測器模塊的相合線上 的片段,其中,使用一個光子對在兩個探測器模塊上的發(fā)生的時間差來確定所述片段。該片 段使得能夠?qū)⑾嗪鲜录ㄎ辉谙嗪暇€的片段上。使用的探測器允許更好地執(zhí)行這點,因為 其由于第一種固態(tài)光電探測器的特性而可以基于光子的能量以好的質(zhì)量來區(qū)別光子,并且 因為其由于第二種固態(tài)光電探測器的特性而可以精確確定光子事件的時間。
      另一種實施方式包括組合的發(fā)射斷層造影和磁共振成像(MRI)設(shè)備,該組合的設(shè) 備包括具有用于產(chǎn)生磁場的磁體系統(tǒng)的MRI掃描儀,該磁場用于在MRI掃描儀的視野內(nèi)感 應(yīng)來自待成像的對象的核的核磁共振信號,該組合的設(shè)備還包括發(fā)射斷層造影探測器模 塊,該發(fā)射斷層造影探測器模塊包括用于捕捉光子的閃爍器,該閃爍器根據(jù)對光子的捕捉 發(fā)射閃爍光;用于探測閃爍光的第一種固態(tài)光電探測器;以及用于探測閃爍光的第二種固 態(tài)光電探測器,其中第一種固態(tài)光電探測器和第二種固態(tài)光電探測器關(guān)于探測特性是不同 的。


      以下借助在附圖中示出的實施例進一步描述本發(fā)明的實施方式。附圖中,
      圖1示出了按照此處的實施例的發(fā)射斷層造影掃描儀的環(huán),
      圖2示出了按照此處的實施例的用于發(fā)射斷層造影掃描儀的探測器模塊,
      圖3示出了按照第二實施方式的探測器模塊,
      圖4示出了按照此處的實施例的示例性發(fā)射斷層造影掃描儀,
      圖5示出了按照此處的實施例的包括發(fā)射斷層造影掃描儀和MRI掃描儀的設(shè)備, 并且
      圖6示出了用于實施此處的實施例的代表性硬件環(huán)境。
      參考附圖描述了不同的實施例,其中,相同的參考標(biāo)記被始終用來表示相同的元 件。在以下的描述中,為解釋的目的,描述了大量的特別細節(jié)以提供對一個或多個實施例的 整體理解。明顯的是,可以沒有這些特別細節(jié)來實施這些實施例。
      具體實施方式
      參考圖1,按照本發(fā)明的一種實施方式的發(fā)射斷層造影掃描儀10的環(huán)5包括多個 探測器模塊15。在圖1中所示的例子中,優(yōu)選地將多個探測器模塊15布置在環(huán)5上,因為 環(huán)5的半徑是恒定的。然而,探測器模塊15可以按照其它期望的幾何結(jié)構(gòu)來布置。
      現(xiàn)在參考圖2,每個探測器模塊15包括閃爍器塊17,該閃爍器塊17包括閃爍器 18,后者通過光導(dǎo)19光學(xué)地耦合到第一種固態(tài)光電探測器21和第二種固態(tài)光電探測器M。 在本例中,可以看出,第一種固態(tài)光電探測器21和第二種固態(tài)光電探測器M被布置在閃爍 器塊17上。然而,第一種固態(tài)光電探測器21和第二種固態(tài)光電探測器M可以不是直接布 置在閃爍器塊17。如果第一種固態(tài)光電探測器21和第二種固態(tài)光電探測器M不是直接布 置在閃爍器塊17上,則它們可以通過光導(dǎo)纖維電纜或其它光學(xué)耦合裝置光學(xué)地耦合到閃 爍器18。
      按照此處的一種實施方式,第一和第二種光電探測器21J4在探測特性上是不同 的。例如,第一和第二種光電探測器21、M可以在頻率響應(yīng)特性上是不同的。
      第一和第二種光電探測器21J4在頻率響應(yīng)特性上不同,這使得能夠獲得探測器 模塊的提高的能量分辨率和計時分辨率。例如,第一種光電探測器21可以具有低的頻率響 應(yīng)特性而第二種光電探測器M可以具有高的頻率響應(yīng)特性。可替換地,第一種光電探測 器21可以具有低的頻率響應(yīng)特性而第二種光電探測器M可以具有高的頻率響應(yīng)特性。因 此,具有低的頻率響應(yīng)特性的第一種光電探測器21提供探測器模塊15的提高的能量分辨 率,而具有高的頻率響應(yīng)特性的第二種光電探測器M提供探測器模塊15的提高的計時分 辨率。
      在一種實施方式中,第一種光電探測器可以是雪崩光電二極管。雪崩光電二極管 具有低的頻率響應(yīng)特性。第二種光電探測器可以是基于硅的光電探測器,諸如硅光電倍增 管等。硅倍增管具有高的頻率響應(yīng)特性。
      仍然參考圖2,第一種固態(tài)光電探測器21的輸出信號可以被用來基于光子的能量 區(qū)分光子,因為第一種固態(tài)光電探測器具有低的頻率響應(yīng)特性。第二種固態(tài)光電探測器M 的輸出信號可以被用來確定光子的發(fā)生時間,因為第二種固態(tài)光電探測器具有高的頻率響 應(yīng)特性。第一種光電探測器的輸出信號被用來基于光子的能量區(qū)分光子。
      在此處的一種實施方式中,第一種固態(tài)光電探測器21的輸出和第二種固態(tài)光電 探測器M的輸出可以被提供給信號處理單元27。信號處理單元27可以組合第一種固態(tài)光 電探測器21的輸出和第二種固態(tài)光電探測器M的輸出以產(chǎn)生組合的輸出信號。組合的輸 出信號是對由閃爍器18捕捉到的光子的指示。來自閃爍器塊17的組合的輸出信號使得能 夠降低為獲得探測器模塊15的輸出所需的連接的數(shù)量。而且,產(chǎn)生組合的輸出信號便利了 以現(xiàn)存的發(fā)射斷層造影掃描儀的方式使用探測器模塊。附加地,信號處理單元27可以適合 于放大并整理(condition)組合的輸出信號。
      現(xiàn)在參考圖3,在一種實施方式中,多個第一種固態(tài)光電探測器21可以被布置在 閃爍器塊17的角落35、37、39、41處。例如第一種固態(tài)光電探測器21可以這樣被布置在閃 爍器塊17上,使得第一種固態(tài)光電探測器21基本上圍繞第二種固態(tài)光電探測器24。然而, 不一定需要第一種固態(tài)光電探測器21基本上圍繞第二種固態(tài)光電探測器。在角落35、37、 39,41處提供多個第一種固態(tài)光電探測器21使得能夠獲得在閃爍器塊17內(nèi)部的anger模 式邊定位。閃爍器塊17的Anger模式提供高的空間分辨率和閃爍器塊17的整個靈敏度上 的提高。
      現(xiàn)在參考圖4,示出了按照此處的實施例的示例性發(fā)射斷層造影掃描儀10。定位 于環(huán)5上的探測器模塊15'、15"的圖2的閃爍器塊17,探測在相對方向上移動的一對光 子。探測器模塊15'、15"的輸出經(jīng)由各個信號處理單元27被提供到分析單元43以分析 探測器模塊15'和15"的輸出。分析單元43適合于探測這對光子的相合事件。相合事件 可以用于確定在兩個相對定位的探測器模塊15'、15"之間的相合線。相合線是連接兩個 探測器模塊15'、15〃的線。
      優(yōu)選地,分析單元43可以確定在相合線上的一個片段,該片段指示這對光子的原 點。該片段可以通過光子對在兩個探測器模塊15'、15"上的發(fā)生的時間差來確定。如按 照此處描述的實施例,探測器模塊15'、15"的提高的計時分辨率使得能夠確定光子對的 發(fā)生的時間差。這使得能夠確定光子對的各個光子的飛行時間,并且因此,可以確定在相合 線上的該片段。這使得能夠?qū)⑾嗪鲜录ㄎ辉谙嗪暇€的該片段上。7
      分析單元43可以采樣完全硬件實施、完全軟件實施或包括硬件和軟件元件二者 的實施的形式。以軟件實施的實施方式包括,但不限于固件、駐留軟件、微代碼,等等。
      此外,分析單元43在此可以采取計算機程序產(chǎn)品的形式,該計算機程序產(chǎn)品是可 從提供用于由或結(jié)合計算機或任何指令執(zhí)行系統(tǒng)使用的程序代碼的計算機可用或計算機 可讀介質(zhì)獲得的。為了該描述的目的,計算機可用或計算機可讀介質(zhì)可以是能夠包含、存 儲、通信、傳播或傳輸用于由或結(jié)合指令執(zhí)行系統(tǒng)、設(shè)備或裝置使用的程序的任何設(shè)備。
      介質(zhì)可以是電子、磁、光、電磁、紅外或半導(dǎo)體系統(tǒng)(或裝置或設(shè)備)或傳播介質(zhì)。 計算機可讀介質(zhì)的例子包括半導(dǎo)體或固態(tài)存儲器、磁帶、可移動計算機盤、隨機存取存儲器 (RAM)、只讀存儲器(ROM)、剛性磁盤和光盤。光盤的當(dāng)前的例子包括壓縮盤-只讀存儲器 (CD-ROM)、壓縮盤-讀 / 寫(CD-R/W)和 DVD。
      圖5示出了按照此處的實施例的包括了發(fā)射斷層造影掃描儀10和MRI掃描儀45 的設(shè)備。發(fā)射斷層造影掃描儀10的環(huán)5被置于MRI掃描儀45的磁體系統(tǒng)48內(nèi)。例如,可 以這樣確定環(huán)5的大小,使得環(huán)5被容納于MRI掃描儀45的幾何內(nèi)部。待成像的對象被置 于由MRI掃描儀45和發(fā)射斷層造影掃描儀10定義的空間內(nèi)。可以對對象執(zhí)行發(fā)射斷層造 影和MR數(shù)據(jù)采集,或者同時地以交織的或交叉的方式執(zhí)行,或者順序地執(zhí)行。如在本例中 所示,按照此處描述的實施例的發(fā)射斷層造影掃描儀10的探測器模塊15,可以被布置在磁 體系統(tǒng)48的磁場內(nèi)。圖2的第一種固態(tài)光電探測器21和圖2的第二種固態(tài)光電探測器M 作為固態(tài)光電探測器對磁體系統(tǒng)48的磁場是不敏感的。
      圖6示出了用于實現(xiàn)此處描述的實施例的代表性硬件環(huán)境。該示意圖示出了按照 此處的實施例的信息處理/計算機系統(tǒng)50的硬件配置。系統(tǒng)50包括至少一個處理器或中 央處理單元(CPU) 52。CPU 52經(jīng)由總線M與各種設(shè)備諸如存儲器56、輸入/輸出(I/O)控 制器58和用戶接口控制器60相互連接。根據(jù)系統(tǒng)50的型號和配置,存儲器56可以是易 失性(諸如隨機存取存儲器(RAM)等)、非易失性(只讀存儲器(ROM)、閃存設(shè)備等等)或 二者的組合。存儲器56被用來存儲指令和數(shù)據(jù)以用于CPU 52的使用。I/O控制器58可 以連接到外圍設(shè)備,諸如CD驅(qū)動器62和硬盤驅(qū)動器64,或可以由系統(tǒng)讀取的其它程序存 儲設(shè)備。典型地,用于計算機系統(tǒng)50的操作系統(tǒng)以及應(yīng)用程序被存儲在硬盤驅(qū)動器64上。 操作系統(tǒng)在CPU 52上運行并且被用來協(xié)調(diào)和提供對系統(tǒng)50內(nèi)部的各種組件的控制。系統(tǒng) 50可以讀取在硬盤驅(qū)動器64上的發(fā)明指令并且將它們加載到存儲器56以用于由CPU 52 執(zhí)行。用戶接口控制器60可以將鍵盤66、鼠標(biāo)68、揚聲器70、麥克風(fēng)72、顯示設(shè)備74和/ 或其它用戶接口設(shè)備諸如觸摸屏設(shè)備(未示出)連接到總線54,以便收集用戶輸入并且還 將系統(tǒng)輸出提供到用戶。
      此處描述的實施例提供具有緊湊設(shè)計和提高的能量和計時分辨率的發(fā)射斷層造 影探測器模塊。提高的能量分辨率使得能夠基于光子的能量精確地區(qū)分光子。提高的 計時分辨率使得能夠?qū)⑾嗪鲜录ㄎ坏较嗪暇€的片段,允許執(zhí)行所謂的飛行時間(time offlight)重建模式發(fā)射斷層造影。將相合事件定位到片段便利了從獲取的數(shù)據(jù)中對圖像 的更好的圖像重建。附加地,組合第一種固態(tài)光電探測器和第二種固態(tài)光電探測器的輸出 以產(chǎn)生作為由閃爍器捕捉的光子的指示的組合的輸出信號,這使得能夠降低為獲得探測器 模塊的輸出所需的連接數(shù)量。
      雖然參考一些優(yōu)選實施方式詳細描述了本發(fā)明,但是可以理解的是,本發(fā)明不限于這些精確的實施例。而是在不脫離本發(fā)明的范圍和精神的條件下,對于本領(lǐng)域技術(shù)人員 來說,在描述了用于實現(xiàn)本發(fā)明的當(dāng)前最佳模式的本發(fā)明公開的范圍內(nèi),可以有許多修改 和變形。因此,本發(fā)明的范圍由所附權(quán)利要求限定,而不是由前面的描述限定。在權(quán)利要求 的含義和等價范圍內(nèi)的所有的改變、修改和變形都旨在被包括在本發(fā)明范圍內(nèi)。
      權(quán)利要求
      1.一種發(fā)射斷層造影探測器模塊(15),包括-用于捕捉光子的閃爍器(18),該閃爍器根據(jù)對光子的捕捉發(fā)射閃爍光;-用于探測閃爍光的第一種固態(tài)光電探測器;以及-用于探測閃爍光的第二種固態(tài)光電探測器04);其中,所述第一種固態(tài)光電探測器和第二種固態(tài)光電探測器04)關(guān)于探測特性 是不同的。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)射斷層造影探測器模塊,其中,所述探測特性是頻率響應(yīng) 特性。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)射斷層造影探測器模塊,其中,所述第一種固態(tài)光電探測 器是雪崩光電二極管。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)射斷層造影探測器模塊,其中,所述第二種固態(tài)光電探測 器04)是硅光電倍增管。
      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)射斷層造影探測器模塊,其中,所述第一種固態(tài)光電探測 器和第二種固態(tài)光電探測器04)光學(xué)地耦合到所述閃爍器(18)。
      6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)射斷層造影探測器模塊,其中,進一步包括信號處理單元 07),以便將所述第一種固態(tài)光電探測器的輸出信號和所述第二種固態(tài)光電探測器 (24)的輸出信號組合為一個組合的輸出信號,該組合的輸出信號指示由所述閃爍器(18) 捕捉的光子。
      7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的發(fā)射斷層造影探測器模塊,其中,所述第一種固態(tài)光電探測 器的輸出信號被用來基于光子的能量區(qū)分光子。
      8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的發(fā)射斷層造影探測器模塊,其中,所述第二種固態(tài)光電探測 器04)的輸出信號被用來確定光子的發(fā)生時間。
      9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)射斷層造影探測器模塊,其中,進一步包括圍繞所述第二 種固態(tài)光電探測器04)布置的多個第一種固態(tài)光電探測器01)。
      10.一種發(fā)射斷層造影掃描儀(10),包括一對發(fā)射斷層造影探測器模塊(15',15"),其中,每個發(fā)射斷層造影探測器模塊 (15',15〃 )包括-用于捕捉光子的閃爍器(18),該閃爍器根據(jù)對光子的捕捉發(fā)射閃爍光;-用于探測所述閃爍光的第一種固態(tài)光電探測器;以及-用于探測所述閃爍光的第二種固態(tài)光電探測器04);其中,所述第一種固態(tài)光電探測器和所述第二種固態(tài)光電探測器04)關(guān)于探測 特性是不同的。
      11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的發(fā)射斷層造影掃描儀,其中,所述探測特性是頻率響應(yīng)特性。
      12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的發(fā)射斷層造影掃描儀,其中,進一步包括用于分析來自這 對探測器模塊(15',15")的信號的分析單元(43),該分析單元適合于探測一對光 子的相合事件。
      13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的發(fā)射斷層造影掃描儀,其中,所述分析單元03)適合于確 定連接所述兩個探測器模塊(15',15")的相合線上的片段,其中,使用一個光子對在所述兩個探測器模塊(15',15")上的發(fā)生的時間差來確定所述片段。
      14.根據(jù)權(quán)利要求10所述的發(fā)射斷層造影掃描儀,其中,所述第一種固態(tài)光電探測器 (21)是雪崩光電二極管,而所述第二種固態(tài)光電探測器是硅光電倍增管04)。
      15.一種組合的發(fā)射斷層造影和磁共振成像(MRI)設(shè)備,包括-具有用于產(chǎn)生磁場的磁體系統(tǒng)G8)的MRI掃描儀(45),該磁場用于在MRI掃描儀的 視野內(nèi)感應(yīng)來自待成像的對象的核的核磁共振信號;和-發(fā)射斷層造影探測器模塊(1 ,具有-用于捕捉光子的閃爍器(18),該閃爍器(18)根據(jù)對光子的捕捉發(fā)射閃爍光;-用于探測閃爍光的第一種固態(tài)光電探測器;以及-用于探測閃爍光的第二種固態(tài)光電探測器04);其中,所述第一種固態(tài)光電探測器和所述第二種固態(tài)光電探測器04)關(guān)于探測 特性是不同的。
      16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的組合的發(fā)射斷層造影和MRI設(shè)備,其中,所述發(fā)射斷層造影 探測器模塊(1 被定位在MRI掃描儀0 的磁場內(nèi)部。
      17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的組合的發(fā)射斷層造影和MRI設(shè)備,其中,所述探測特性是頻 率響應(yīng)特性。
      18.根據(jù)權(quán)利要求15所述的組合的發(fā)射斷層造影和MRI設(shè)備,其中,所述第一種固態(tài)光 電探測器是雪崩光電二極管,而所述第二種固態(tài)光電探測器04)是硅光電倍增管。
      19.根據(jù)權(quán)利要求15所述的組合的發(fā)射斷層造影和MRI設(shè)備,其中,進一步包括用于分 析來自一對探測器模塊(15',15")的信號的分析單元(43),該分析單元適合于探 測一對光子的相合事件。
      20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的組合的發(fā)射斷層造影和MRI設(shè)備,其中,所述分析單元 G3)適合于確定連接所述兩個探測器模塊(15',15")的相合線上的片段,其中,使用一 個光子對在所述兩個探測器模塊(15',15")上的發(fā)生的時間差來確定所述片段。
      全文摘要
      本發(fā)明涉及一種發(fā)射斷層造影探測器模塊(15)和一種發(fā)射斷層造影掃描儀,其中所述發(fā)射斷層造影探測器模塊包括用于捕捉光子的閃爍器(18),該閃爍器根據(jù)對光子的捕捉發(fā)射閃爍光;用于探測閃爍光的第一種固態(tài)光電探測器(21);以及用于探測閃爍光的第二種固態(tài)光電探測器(24);其中,所述第一種固態(tài)光電探測器(21)和第二種固態(tài)光電探測器(24)關(guān)于探測特性是不同的。
      文檔編號A61B5/055GK102028484SQ201010290359
      公開日2011年4月27日 申請日期2010年9月20日 優(yōu)先權(quán)日2009年9月28日
      發(fā)明者張楠, 馬塞厄斯·J·施曼德, 馬庫斯·維斯特 申請人:美國西門子醫(yī)療解決公司, 西門子公司
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