記錄缺齒的個人的咬合的系統(tǒng)和方法
【專利摘要】本申請公開了一種用于確定缺齒的個人的咬合的方法和系統(tǒng)。個人的上頜牙弓和下頜牙弓被掃描以提供用于制備牙弓的模型的第一數(shù)據(jù)。將一對托盤夾持在個人的嘴中使得牙弓被容納于托盤中以限定與咬合位置對應(yīng)的上下頜關(guān)系，其中咬合建立組件位于托盤中的每一個上。托盤包括用于暴露牙弓中的每一個牙弓的開口，以在牙弓之間提供連續(xù)的掃描通道。在托盤被夾持在個人的嘴中時，牙弓以及牙弓之間的連續(xù)通道各自被掃描，以提供用于制備處于咬合位置的牙弓的相對位置的模型的第二數(shù)據(jù)。第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)可組合來用咬合位置的經(jīng)驗數(shù)據(jù)制備牙弓的模型。
【專利說明】記錄缺齒的個人的咬合的系統(tǒng)和方法
[0001]相關(guān)申請的交叉引用
[0002]本申請要求2013年12月19日遞交的美國臨時專利申請N0.61/917,987的優(yōu)先權(quán)的權(quán)益，該專利申請通過引用合并于此。
技術(shù)領(lǐng)域
[0003]本公開總體涉及記錄缺齒的個人的咬合。
【背景技術(shù)】
[0004]個人的上頌骨(上)和下頌骨(下)牙弓的相對位置是上下頌關(guān)系。上下頌關(guān)系包括個人牙齒的一些或全部之間的牙合(牙間交錯)，通常稱為“咬合”、中心牙合的位置或中心關(guān)系的位置。各種方法被用來記錄完全或部分有齒的個人的咬合。牙齒、種植牙或二者的靜態(tài)位置需要可靠且可重復(fù)地彼此接觸。
[0005]可使用登記(registrat1n)材料或者光學(xué)掃描儀來記錄咬合。可使用光學(xué)掃描儀來單獨掃描牙弓，以及掃描牙齒或種植牙彼此接觸的一個或多個位置中的牙齒或種植牙。使用建模軟件將牙弓彼此對準(zhǔn)，該建模軟件生成個人的上下頌關(guān)系的模型，并用于診斷和/或牙齒修復(fù)和/或假體的設(shè)計的目的。掃描儀可以是例如三體口內(nèi)掃描儀(3Shape Tr1sintraoral scanner)。
[0006]美國公開N0.2013/0218530公開一種方法，其中二維口外圖像疊加到三維口內(nèi)模型上，用于分析現(xiàn)有齒列并可視化所建議的修復(fù)和假體設(shè)計。本公開涉及捕獲自然齒列并創(chuàng)建可能的修復(fù)和修正的可視化。
[0007]美國公開N0.2013/0209962公開一種使用個人現(xiàn)有的義齒來創(chuàng)建美觀導(dǎo)向的復(fù)制品以及記錄上下頌關(guān)系的方法。牙弓信息從牙齦的印模中得到，或者在義齒中，或者在印模托盤中分立取得。通過采用被放置在處于咬合位置的牙齒上的咬合登記材料將兩幅義齒固定在一起來記錄上下頌關(guān)系。義齒從口中移除并被掃描，由咬合登記材料作為一個單元保持?？商鎿Q地，上義齒、下義齒和咬合登記材料可以分立掃描，并且得到的數(shù)字模型與軟件一 Sc ο
[0008]美國公開N0.2013/0209962描述了一種在個人現(xiàn)有的義齒內(nèi)部使用印模材料來穩(wěn)固義齒并恢復(fù)牙齦上的合適負(fù)荷分布的技術(shù)。遵循于此，與美國公開N0.2012/0322031中描述的方法很像，牙弓印模與上下頌登記相結(jié)合。與銷示蹤方法相比，上下頌關(guān)系的基于印模的記錄更隨意，因為材料被注入到現(xiàn)有義齒的頂部，然后個人咬下，直至材料硬化。然后，這種咬合登記材料從義齒去除，并由桌面掃描儀分立掃描。上義齒和下義齒獨立地去除和掃描。在渲染軟件中，將上義齒和下義齒網(wǎng)格化以掃描咬合登記材料，并且創(chuàng)建復(fù)合模型。
[0009]口內(nèi)和口外哥特式銷示蹤在很多發(fā)行的專利、公開的專利申請、科學(xué)公開、商業(yè)雜志和教科書中描述。最早的示例回溯到100多年前?？趦?nèi)示蹤，也稱為口內(nèi)哥特式牙弓登記設(shè)備，在美國專利如.1，764，115、美國專利如.2，447，287、美國專利如.2，582，104、美國專利5 ,186,624和美國專利6,152,730中公開。較近的示例示于美國公開N0.2013/0280672和美國公開N0.2012/0322031中?？谕馐聚欁裱愃频脑聿⑶以诿绹鴮＠鸑0.5,722,828中描述。
[0010]銷示蹤將包括位于上牙弓和下牙弓上的定制基座，包括位于牙齒、種植牙或牙齦的任意組合上。銷固定到一個牙弓并且記錄板固定到對面的牙弓。個人的運動通過記錄板上的銷做出的標(biāo)記來說明。標(biāo)記可以用于識別和記錄某些上下頌關(guān)系。得到的蹤跡用于確定個人處于中心關(guān)系的上下頌位置。然后將中心關(guān)系位置鎖定在對的位置并去除設(shè)備。傳統(tǒng)地，使用銷示蹤來物理地夾持牙模，然后將牙模固定到牙合架的位置。
[0011 ]中心位置在Na I Iaswamy，Deepak ( 20 11)假牙修復(fù)學(xué)教科書(Textbook ofProsthodontics)(ISBN 81-8061-199-X)第844頁中定義如下:“上下頌關(guān)系，其中髁用它們的各自盤的最薄的無血管部分表達(dá)，在前上位置對關(guān)節(jié)隆起的形狀方面具有復(fù)雜度。該位置與牙齒接觸無關(guān)。當(dāng)下頌骨指向上前方時，該位置在臨床上是可辨明的。其被限制為完全關(guān)于橫向水平軸旋轉(zhuǎn)移動?！?br>[0012]哥特式示蹤傳達(dá)位置信息(例如，如何開或合下巴等)以及期望的上下頌關(guān)系。這種信息助于診斷、分析、或修復(fù)和假體的設(shè)計。本質(zhì)上，銷示蹤在牙弓間保持分立，并允許部分或完全缺齒的個人咬合并進(jìn)行有極小接觸的下巴運動且對識別期望的上下頌位置沒有干擾。
[0013]由于銷示蹤設(shè)備所處的個人軟組織的不同的形狀和大小，使用中介材料來改進(jìn)銷示蹤設(shè)備的組織配合部分的配合和穩(wěn)定性?？梢允褂糜∧２牧匣蚩趦?nèi)膩子?？蓪︿N示蹤設(shè)備的組織配合側(cè)打齒孔，以允許這些中介材料的機(jī)械停留。在采用印模和材料硬化期間，其流過齒孔并與銷示蹤設(shè)備接合。結(jié)果，必須撕破材料將其去除，這為從銷示蹤附加去除材料提供阻力。
[0014]使用銷示蹤包括上下調(diào)節(jié)銷來得到中心關(guān)系中的上下頌關(guān)系。從該位置，下巴運動由接觸記錄板的銷來示蹤。除開病理不說，該過程常常導(dǎo)致三角形的箭頭形狀。前述箭頭的尖用于識別中心關(guān)系位置。在此位置處，設(shè)備的上部和下部應(yīng)當(dāng)彼此連接以將期望的上下頌關(guān)系傳遞給牙合架。例如，通過將其中有孔的記錄板固定到設(shè)備的記錄板部分，來將銷固定到處于中心關(guān)系位置的記錄板。附著的記錄板中的孔與銷大小相同，并僅允許處于中心關(guān)系的上下頌位置中的咬合的完全閉合。也可通過將咬合登記材料注入到設(shè)備的上部和下部之間的空缺中，將銷固定到記錄板。當(dāng)材料硬化時，個人保持中心關(guān)系位置不變。這允許去除設(shè)備的兩部分，要么是在一片中一起去除，要么是分立地去除，然后重新組裝并重新調(diào)整后面的去除。也可通過將銷示蹤的上部和下部用機(jī)械連接彼此搭橋來將銷固定到記錄板。
[0015]一旦銷和記錄板彼此固定，則將銷示蹤從口中去除，并使用銷示蹤將上下頌信息傳送至牙合架(物理地或虛擬地)。為了在虛擬環(huán)境中放置鑄型，該過程涉及使用三維掃描儀掃描銷示蹤，或者通過在上部和下部鎖定在一起時掃描上部和下部，或者通過分別掃描上部和下部兩者，然后在軟件中將兩個半部對準(zhǔn)。設(shè)備的組織配合側(cè)用于對齊上牙齦和下牙齦的現(xiàn)有虛擬模型?？商鎿Q地，單步驟方法涉及掃描設(shè)備的上部和下部內(nèi)的印模材料，來創(chuàng)建上模型和下模型。然后，如先前所描述的，這些模型在虛擬環(huán)境中對齊。
[0016]牙模和銷示蹤設(shè)備可使用桌面三維掃描儀(例如，DentalWings掃描儀，三體桌面掃描儀等)來掃描。三維渲染模型被輸入到用于建模和牙齒修復(fù)、假體和義齒的設(shè)計的軟件中，如申請美國公開N0.2013/0218532和國際公開N0.WO 2012/041329所描述的那樣。這些技術(shù)使用傳統(tǒng)的上牙弓和下牙弓的印模，隨后對印模進(jìn)行掃描，或通過將牙石/石膏澆到印模上，可以創(chuàng)建模型并且得到的鑄型也可被掃描。美國公開N0.2012/0322031中描述的方法將牙弓印模與銷示蹤設(shè)備結(jié)合起來。美國公開N0.2013/0280672描述的方法是用兩個分立的過程來記錄上下頌信息:用于記錄牙弓印模的傳統(tǒng)印模以及分立的銷示蹤設(shè)備。這兩種數(shù)據(jù)源被掃描且得到的模型在軟件中被渲染、被組合或網(wǎng)格化，并用于診斷和/或義齒和/或其它牙齒修復(fù)的設(shè)計。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0017]通過先前方法建立與缺齒的個人中的咬合位置對應(yīng)的上下頌關(guān)系常常包括獲得個人的牙弓的咬合登記鑄型和對登記材料進(jìn)行三維掃描。這種方法包括咬合登記的固有的不準(zhǔn)確性并且因此期望減輕這些不準(zhǔn)確性。
[0018]本文公開的是用于記錄與缺齒的個人的咬合位置對應(yīng)的上下頌關(guān)系的數(shù)據(jù)的方法和系統(tǒng)。數(shù)據(jù)便于制備包括個人在咬合位置處的上下頌關(guān)系的經(jīng)驗數(shù)據(jù)的模型。該方法包括并且系統(tǒng)便于掃描個人的牙弓以提供用于對牙弓進(jìn)行建模的第一數(shù)據(jù)，以及掃描處于咬合位置的牙弓以提供用于基于經(jīng)驗數(shù)據(jù)對處于咬合位置的牙弓的相對位置進(jìn)行建模的第二數(shù)據(jù)。咬合位置通過在獲取第二數(shù)據(jù)期間將一對托盤包括在個人的嘴中來建立。當(dāng)應(yīng)用本文公開的方法和系統(tǒng)時，從咬合登記材料制備鑄型是不必要的。
[0019]托盤被成形為接納牙弓，并且包括補(bǔ)充咬合建立組件，例如齒列，或銷和記錄板，以提供銷示蹤功能，從而限定咬合位置。托盤可例如是個人的義齒的復(fù)制品，或者銷示蹤或可包括一些齒列的其它咬合記錄設(shè)備，義齒中的一些或全部被包括在個人的現(xiàn)有義齒齒列上。托盤包括開口來暴露牙弓中的每一個，在托盤被夾持在個人的嘴中時提供牙弓之間的連續(xù)掃描通道。牙弓的可視部分、以及牙弓之間的連續(xù)通道被掃描以提供第二數(shù)據(jù)。第二數(shù)據(jù)與第一數(shù)據(jù)組合以用咬合位置的經(jīng)驗數(shù)據(jù)創(chuàng)建兩個牙弓的單個復(fù)合模型。
[0020]本文公開的方法和系統(tǒng)便于義齒的設(shè)計或修改，并且便于獲得上下頌關(guān)系，而不使用印模或咬合登記材料?？傻玫降膬?yōu)點包括:減小印模材料的固有的不準(zhǔn)確性，降低成本，縮短所需要的時間或降低建立咬合位置所需要的經(jīng)驗。
[0021]在第一方面，本公開提供用于確定缺齒的個人的咬合的方法和系統(tǒng)。個人的上頌牙弓和下頌牙弓被掃描以提供用于制備牙弓的模型的第一數(shù)據(jù)。將一對托盤夾持在個人的嘴中使得牙弓被容納于托盤中以限定與咬合位置對應(yīng)的上下頌關(guān)系，其中咬合建立組件位于托盤中的每一個上。托盤包括用于暴露牙弓中的每一個牙弓的開口，以在牙弓之間提供連續(xù)的掃描通道。在托盤被夾持在個人的嘴中時，牙弓以及牙弓之間的連續(xù)通道各自被掃描，以提供用于制備處于咬合位置的牙弓的相對位置的模型的第二數(shù)據(jù)。第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)可組合來用咬合位置的經(jīng)驗數(shù)據(jù)制備牙弓的模型。
[0022]在另一方面，本公開提供一種獲取用于制備缺齒的個人的模型的數(shù)據(jù)的方法，該方法包括:獲取個人的上頌牙弓的第一數(shù)據(jù)和個人的下頌牙弓的第一數(shù)據(jù)，用于對上頌牙弓和下頌牙弓進(jìn)行建模;提供一對組件，用于接納處于限定咬合位置的上下頌關(guān)系中的上頌牙弓和下頌牙弓，該一對組件在該組件中的每一個組件上限定開口，用于暴露上頌牙弓和下頌牙弓之間的連續(xù)通道；以及沿處于咬合位置的上頌牙弓和下頌牙弓的連續(xù)通道獲取第二數(shù)據(jù)，用于對處于咬合位置的上頌牙弓和下頌牙弓的相對位置進(jìn)行建模。
[0023]在一實施例中，開口對準(zhǔn)在組件中的每一個組件的相應(yīng)表面上。
[0024]在一實施例中，該方法包括:將第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)組合來制備模型，該模型包括咬合位置的經(jīng)驗數(shù)據(jù)。
[0025]在一實施例中，該方法包括:提供一對義齒的牙具數(shù)據(jù)并組合第一數(shù)據(jù)、第二數(shù)據(jù)和牙具數(shù)據(jù)來制備模型，該模型包括咬合位置的經(jīng)驗數(shù)據(jù)。在一實施例中，提供牙具數(shù)據(jù)包括掃描適于個人的一對義齒。
[0026]在一實施例中，該方法包括提供一對義齒的牙具數(shù)據(jù)并組合第一數(shù)據(jù)、第二數(shù)據(jù)和牙具數(shù)據(jù)來制備模型，該模型包括咬合位置的經(jīng)驗數(shù)據(jù)。在一實施例中，提供牙具數(shù)據(jù)包括訪問牙具數(shù)據(jù)的庫。
[0027]在一實施例中，該方法包括獲取一對組件的第三數(shù)據(jù)，用于對一對組件進(jìn)行建模。在一實施例中，該方法包括將第一數(shù)據(jù)、第二數(shù)據(jù)和第三數(shù)據(jù)組合來制備模型，該模型包括咬合位置的經(jīng)驗數(shù)據(jù)和一對組件的經(jīng)驗數(shù)據(jù)。
[0028]在一實施例中，該方法包括獲取個人的外部特征的第四數(shù)據(jù)，用于對外部特征進(jìn)行建模。在一實施例中，該方法包括將第一數(shù)據(jù)、第二數(shù)據(jù)和第四數(shù)據(jù)組合來制備模型，該模型包括咬合位置的經(jīng)驗數(shù)據(jù)和處于咬合位置處的外部特征的經(jīng)驗數(shù)據(jù)。
[0029]在一實施例中，該方法包括獲取個人的外部特征的第四數(shù)據(jù)，用于對外部特征進(jìn)行建模。在一實施例中，獲取第四數(shù)據(jù)進(jìn)一步包括:在個人保持所選面部表情時獲取第四數(shù)據(jù)，以用所選面部表情處的外部特征的經(jīng)驗數(shù)據(jù)制備模型。
[0030]在一實施例中，第二數(shù)據(jù)進(jìn)一步包括個人的外部特征的數(shù)據(jù)，用于對上頌牙弓和外部特征的相對位置進(jìn)行建模。
[0031 ]在一實施例中，獲取第二數(shù)據(jù)包括用頰牽引器暴露開口。
[0032]在一實施例中，提供一對組件包括制備為個人制備的義齒的復(fù)制品，并且開口被限定在復(fù)制品上。
[0033]在一實施例中，該方法包括將一對組件鎖定在咬合位置中。
[0034]在一實施例中，該一對組件包括記錄器和記錄表面。在一實施例中，該方法包括參照由記錄器在記錄表面上作出的標(biāo)記來限定咬合位置。
[0035]在一實施例中，該方法包括在一對組件之間靠近開口提供橋，用于沿位于一對組件之間的連續(xù)通道的一部分提供參照系。在一實施例中，在一對組件中之間靠近開口提供橋包括:將一對組件與不可變形的材料連接。
[0036]在一實施例中，該方法包括在一對組件之間靠近開口提供橋，用于沿位于一對組件之間的連續(xù)通道的一部分提供參照系。在一實施例中，在一對組件之間靠近開口提供橋包括:將連接至一對組件的橋接組件從閉合位置移動到橋接位置。
[0037]在一實施例中，獲取第一數(shù)據(jù)包括用口內(nèi)掃描儀掃描牙弓。
[0038]在一實施例中，獲取第一數(shù)據(jù)包括用口外掃描儀掃描牙弓。
[0039]在一實施例中，獲取第一數(shù)據(jù)包括用光學(xué)掃描儀掃描牙弓。
[0040]在一實施例中，獲取第一數(shù)據(jù)包括用超聲掃描牙弓。
[0041 ]在一實施例中，獲取第二數(shù)據(jù)包括用口內(nèi)掃描儀沿連續(xù)通道掃描牙弓。
[0042]在一實施例中，獲取第二數(shù)據(jù)包括用口外掃描儀沿連續(xù)通道掃描牙弓。
[0043]在一實施例中，獲取第一數(shù)據(jù)包括用光學(xué)掃描儀沿連續(xù)通道掃描牙弓。
[0044]在一實施例中，獲取第一數(shù)據(jù)包括用超聲沿連續(xù)通道掃描牙弓。
[0045]在另一方面，本文提供一種咬合登記裝置，包括:成形為接納上頌牙弓的上頌組件;成形為接納下頌牙弓的下頌組件;咬合建立組件，位于上頌組件和下頌組件的相對部分上，用于限定上頌組件與下頌組件之間的咬合；以及在上頌組件上限定的上頌開口和在下頌組件上限定的下頌開口，用于暴露以掃描被接納于上頌組件內(nèi)的上頌牙弓和被接納于下頌組件內(nèi)的下頌牙弓之間的連續(xù)通道。
[0046]在一實施例中，上頌開口和下頌開口被限定在上頌組件的相應(yīng)表面和下頌組件的相應(yīng)表面上。在一實施例中，相應(yīng)表面位于上頌組件的面部壁和下頌組件的面部壁上。
[0047]在一實施例中，上頌開口和下頌開口被限定在上頌組件的相應(yīng)表面和下頌組件的相應(yīng)表面上。在一實施例中，相應(yīng)表面位于上頌組件的頰壁和下頌組件的頰壁上。
[0048]在一實施例中，上頌開口和下頌開口被限定在上頌組件的相應(yīng)表面和下頌組件的相應(yīng)表面上。在一實施例中，相應(yīng)表面位于上頌組件的舌壁和下頌組件的舌壁上。
[0049]在一實施例中，上頌開口和下頌開口被限定在上頌組件的相應(yīng)表面和下頌組件的相應(yīng)表面上。在一實施例中，相應(yīng)表面位于上頌組件的舌壁和下頌組件的舌壁上。
[0050]在一實施例中，該裝置包括在靠近上頌開口的上頌組件與靠近下頌開口的下頌組件之間延伸的橋，用于提供沿上頌組件和下頌組件之間的連續(xù)通道的參照系。在一實施例中，橋包括在閉合位置和橋接位置之間可移動的橋組件。在一實施例中，橋組件是鉸接地、樞接地或可滑動地連接至咬合登記裝置。
[0051]在一實施例中，該裝置包括在靠近上頌開口的上頌組件與靠近下頌開口的下頌組件之間延伸的橋，用于提供沿上頌組件和下頌組件之間的連續(xù)通道的參照系。在一實施例中，橋包括在閉合位置和橋接位置之間可移動的橋組件。在一實施例中，橋包括連接至上頌組件或連接至下頌組件的單個橋組件。
[0052]在一實施例中，該裝置包括在靠近上頌開口的上頌組件與靠近下頌開口的下頌組件之間延伸的橋，用于提供沿上頌組件和下頌組件之間的連續(xù)通道的參照系。在一實施例中，橋包括在閉合位置和橋接位置之間可移動的橋組件。在一實施例中，橋包括從上頌組件延伸的第一橋組件以及從下頌組件延伸的第二橋組件。
[0053]在一實施例中，該裝置包括在靠近上頌開口的上頌組件與靠近下頌開口的下頌組件之間延伸的橋，用于提供沿上頌組件和下頌組件之間的連續(xù)通道的參照系。在一實施例中，橋包括在閉合位置和橋接位置之間可移動的橋組件。在一實施例中，橋組件可逆地覆蓋開口中的至少一個。
[0054]在一實施例中，補(bǔ)充咬合建立組件包括從上頌組件延伸以及從下頌組件延伸的齒列。
[0055]在一實施例中，補(bǔ)充咬合建立組件包括記錄表面和用于標(biāo)記記錄表面的相對的記錄器。在一實施例中，記錄器從下頌組件延伸，并且記錄表面位于上頌組件上。
[0056]在一實施例中，補(bǔ)充咬合建立組件包括齒列。
[0057]在另一方面，本公開提供一種獲取用于制備缺齒的個人的模型的數(shù)據(jù)的方法，該方法包括:獲取個人的上頌牙弓的第一數(shù)據(jù)和個人的下頌牙弓的第一數(shù)據(jù)，用于對上頌牙弓和下頌牙弓進(jìn)行建模;提供一對組件，用于接納處于限定咬合位置的上下頌關(guān)系中的上頌牙弓和下頌牙弓，該一對組件在組件中的每一個組件上限定開口，用于暴露上頌牙弓和下頌牙弓之間的連續(xù)通道；以及沿處于咬合位置的上頌牙弓和下頌牙弓的連續(xù)通道獲取第二數(shù)據(jù)，用于對處于咬合位置中的上頌牙弓和下頌牙弓的相對位置進(jìn)行建模。該一對組件包括咬合登記裝置，包括:成形為接納上頌牙弓的上頌組件;成形為接納下頌牙弓的下頌組件;咬合建立組件，位于上頌組件和下頌組件的相對部分上，用于限定上頌組件與下頌組件之間的咬合；以及在上頌組件上限定的上頌開口和在下頌組件上限定的下頌開口，用于暴露以掃描被接納于上頌組件內(nèi)的上頌牙弓和被接納于下頌組件內(nèi)的下頌牙弓之間的連續(xù)通道。
[0058]在另一方面，本公開提供一種獲取用于制備缺齒的個人的模型的數(shù)據(jù)的方法，該方法包括:獲取個人的上頌牙弓的第一數(shù)據(jù)和個人的下頌牙弓的第一數(shù)據(jù)，用于對上頌牙弓和下頌牙弓進(jìn)行建模;提供一對組件，用于接納處于限定咬合位置的上下頌關(guān)系中的上頌牙弓和下頌牙弓，該一對組件在組件中的每一個組件上限定開口，用于暴露上頌牙弓和下頌牙弓之間的連續(xù)通道；以及沿處于咬合位置中的上頌牙弓和下頌牙弓的連續(xù)通道獲取第二數(shù)據(jù)，用于對處于咬合位置中的上頌牙弓和下頌牙弓的相對位置進(jìn)行建模，該一對組件包括記錄器和記錄表面。該一對組件包括咬合登記裝置，包括:成形為接納上頌牙弓的上頌組件;成形為接納下頌牙弓的下頌組件;咬合建立組件，位于上頌組件和下頌組件的相對部分上，用于限定上頌組件與下頌組件之間的咬合;在上頌組件上限定的上頌開口和在下頌組件上限定的下頌開口，用于暴露以掃描被接納于上頌組件內(nèi)的上頌牙弓和被接納于下頌組件內(nèi)的下頌牙弓之間的連續(xù)通道；以及記錄表面和用于標(biāo)記記錄表面的相對的記錄器。
[0059]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在結(jié)合附圖看特定實施例的以下描述時，本公開的其它方面和特征將變得明顯。
【附圖說明】
[0060]現(xiàn)在將僅通過示例方式，參照附圖描述本公開的實施例，附圖中，被分配具有共同的最后兩個數(shù)字的參考編號的特征對應(yīng)于多幅圖的類似特征(例如，上頌竇開口 42、142、242、342、442、542、642、742、842、942和1042等)。
[0061 ]圖1是缺齒的個人；
[0062 ]圖2是圖1的在他們的嘴中具有一對托盤來限定咬合的個人；
[0063]圖3是用于獲取數(shù)據(jù)的掃描方法的流程圖；
[0064]圖4是通過圖3的方法獲取數(shù)據(jù)的示意；
[0065]圖5是用于將應(yīng)用圖3的方法獲取的數(shù)據(jù)組裝進(jìn)三維模型中的處理方法的流程圖；
[0066]圖6是圖5的三維模型的組件的示意；
[0067]圖7是義齒的復(fù)制品；
[0068 ]圖8是處于圖1的個人的嘴中的圖7的復(fù)制品；
[0069]圖9是用于獲取數(shù)據(jù)的掃描方法的流程圖；
[0070]圖10是通過圖9的方法獲取數(shù)據(jù)的示意；
[0071]圖11是用于將應(yīng)用圖9的方法獲取的數(shù)據(jù)組裝進(jìn)三維模型中的處理方法的流程圖；
[0072]圖12是圖11的三維模型的組件的示意；
[0073]圖13是具有頰面部開口的銷示蹤；
[0074]圖14是在銷示蹤的上頌與下頌組件之間有橋的銷示蹤；
[0075]圖15是具有下頌橋組件的銷示蹤；
[0076]圖16是在橋接位置中具有上頌和下頌橋組件的圖15的銷示蹤；
[0077]圖17是去除了下頌橋組件的圖16的銷示蹤；
[0078]圖18是具有上頌和下頌橋組件的銷示蹤；
[0079]圖19是在橋接位置中具有下頌橋組件的圖18的銷示蹤；
[0080]圖20是去除了下頌橋組件的圖18的銷示蹤；
[0081]圖21是在橋接位置中有上頌和下頌橋組件的銷示蹤；
[0082]圖22是具有上頌和下頌橋組件的銷示蹤；
[0083]圖23是在橋接位置中具有下頌橋組件的圖22的銷示蹤；
[0084]圖24是去除了下頌橋組件的圖22的銷示蹤；
[0085]圖25是在上頌和下頌組件之間有材料的圖13的銷示蹤；
[0086]圖26是包括定制齒列的定制銷示蹤；
[0087]圖27是用于獲取數(shù)據(jù)的掃描方法的流程圖；
[0088]圖28是通過圖27的方法獲取數(shù)據(jù)的示意；
[0089]圖29是用于將應(yīng)用圖27的方法獲取的數(shù)據(jù)組裝進(jìn)三維模型中的處理方法的流程圖；
[0090]圖30是圖29的三維模型的組件的示意；
[0091]圖31是義齒的復(fù)制品；
[0092]圖32是具有頰面部開口的銷示蹤；
[0093]圖33是具有頰舌部開口的銷示蹤；
[0094]圖34是具有唇面部開口的銷示蹤；以及
[0095]圖35是具有唇舌部開口的銷示蹤。
【具體實施方式】
[0096]建立上下頌關(guān)系常常包括獲得咬合登記和對登記材料進(jìn)行三維掃描，或者在上頌牙和下頌牙在給定的牙合或接觸時對它們的部分進(jìn)行口內(nèi)掃描。任何靜態(tài)口內(nèi)結(jié)構(gòu)均可用作這些登記的地標(biāo)(例如，自然牙齒、修復(fù)牙列、支持種植牙的修復(fù)等)。沒有這些結(jié)構(gòu)，獲得有意義的咬合登記是復(fù)雜的。這在齒列完全缺失或后牙齒列缺失的個人中特別明顯，其中該個人缺少前白齒和/或磨牙。僅基于前牙接觸建立上下頌位置可能會導(dǎo)致對于分析和設(shè)計來說不期望的上下頌關(guān)系。對于完全缺齒的個人(沒有牙的個人;該牙或者是天然的，修復(fù)的或者是支持種植的)，不存在靜態(tài)參考點來將上頌骨結(jié)構(gòu)與下頌骨結(jié)構(gòu)對齊。在一些情況下，使用銷示蹤和印模材料，或者在牙齦上放置中介結(jié)構(gòu)，來記錄上下頌關(guān)系。
[0097]需要一種方法來記錄沒有牙或種植牙，或者基本沒有牙或種植牙的缺齒個人的上下頌關(guān)系，因為這種個人沒有穩(wěn)定或靜態(tài)參考點來將上頌牙弓和下頌牙弓彼此對齊。該方法應(yīng)當(dāng)便于將個人的下頌定位為諸如咬合位置之類的所選上下頌關(guān)系。然后，例如通過光學(xué)掃描儀或超聲掃描儀來記錄上頌牙弓和下頌牙弓的相對位置的數(shù)據(jù)。
[0098]本文提供用于獲取定義咬合位置的上下頌關(guān)系中的數(shù)據(jù)的方法和系統(tǒng)，該數(shù)據(jù)便于對缺齒的個人的建模。掃描個人的上頌牙弓和下頌牙弓，提供第一數(shù)據(jù)，第一數(shù)據(jù)可用于對每個牙弓進(jìn)行建模。
[0099]可使用一對托盤來建立咬合位置，一對托盤具有位于每一個托盤的相對部分上的咬合建立組件，用于建立咬合位置。通過托盤，意味著任何成型或者成形的組件來接納或者上頌牙弓或者下頌牙弓。咬合建立組件可包括基于現(xiàn)有義齒的齒列、一起提供銷示蹤的銷和記錄板組合、與記錄表面組合的其它記錄器、或在咬合位置中彼此接觸的任何合適的特征。當(dāng)托盤被接納到個人的嘴中時，托盤的相對部分彼此相對，例如，上頌頰舌表面可面對下頌頰舌表面。托盤包括用于暴露被接納于托盤中的上頌牙弓和下頌牙弓的開口。開口在接納于托盤內(nèi)的牙弓之間提供連續(xù)的通道，便于在從牙弓中之一沿連續(xù)通道掃視到另一牙弓而不中斷數(shù)據(jù)獲取的單次連續(xù)數(shù)據(jù)獲取中獲取兩個牙弓的數(shù)據(jù)。開口可包括窗，如果使用的掃描技術(shù)將保持有效通過透明蓋的話也可包括其它透明蓋。然而，當(dāng)給上頌牙弓和下頌牙弓自由視野時，很多掃描系統(tǒng)可能給出更好的性能。結(jié)果，除了簡化托盤的架構(gòu)之外，使開口沒有任何透明蓋將改善托盤使用的掃描儀的性能。
[0100]例如，用口內(nèi)掃描儀(例如，光學(xué)掃描儀、超聲掃描儀等)獲取上頌牙弓和下頌牙弓中的每一個的第一數(shù)據(jù)。第一數(shù)據(jù)可用于對每個牙弓進(jìn)行建模。三體掃描儀是可應(yīng)用于這些方法中的口內(nèi)掃描儀的示例。
[0101]當(dāng)上下頌關(guān)系處于咬合位置時，沿上頌牙弓與下頌牙弓之間的連續(xù)通道獲得上頌牙弓和下頌牙弓的第二數(shù)據(jù)，用于對上頌牙弓和下頌牙弓在咬合位置處的相對位置進(jìn)行建模。可使用口內(nèi)掃描儀或者口外掃描儀(例如，光學(xué)掃描儀、超聲掃描儀等)來完成掃描。三維MDynamic 4D系統(tǒng)口外掃描儀也可應(yīng)用于這些方法和系統(tǒng)中。
[0102]掃描可提供在準(zhǔn)確度和時效方面優(yōu)于使用印模材料的益處?？趦?nèi)掃描儀常常記錄很多數(shù)據(jù)捕獲，其可用于創(chuàng)建三維模型。然后去除掃描儀，創(chuàng)建先前創(chuàng)建的三維模型的重疊。新的數(shù)據(jù)捕獲被記錄，并且第一三維模型和新的三維模型二者彼此相配，以創(chuàng)建單個復(fù)合模型。第一數(shù)據(jù)包括上頌牙弓和下頌牙弓的足夠數(shù)據(jù)捕獲，以對義齒或其它托盤被個人使用時將坐落的牙弓的表面進(jìn)行建模。第二數(shù)據(jù)包括上頌牙弓和下頌牙弓的通過開口的足夠數(shù)據(jù)捕獲，以及上頌牙弓和下頌牙弓之間的連續(xù)通道的足夠數(shù)據(jù)捕獲，來提供咬合位置的經(jīng)驗數(shù)據(jù)?？深愃频厥褂每谕鈷呙鑳x，可能結(jié)合頰牽引器或其它儀器來提供上頌牙弓和下頌牙弓的清楚的景深，并且可附加地用于掃描個人的外部特征，個人的外部特征可反應(yīng)微笑和可伴隨咬合位置或其它上下頌關(guān)系的其它面部表情。
[0103]現(xiàn)有義齒的復(fù)制品可用作托盤。通過掃描現(xiàn)有義齒并以合適的材料三維打印復(fù)制品來制備復(fù)制品。在復(fù)制品中將包括開口。咬合建立組件將包括義齒中的一些或全部齒列，并且上頌牙弓和下頌牙弓的暴露部分可沿連續(xù)通道掃描，以建立上頌牙弓和下頌牙弓在咬合位置處的關(guān)系。
[0104]托盤可包括記錄器和記錄表面(例如，銷示蹤中使用的銷記錄板、數(shù)字記錄器和記錄表面等)，有效地允許托盤充當(dāng)銷示蹤，來定義咬合位置或其它上下頌關(guān)系位置。咬合建立組件將包括銷和記錄板。
[0105]掃描牙弓提供優(yōu)于使用傳統(tǒng)印模材料的優(yōu)點。基于印模材料的技術(shù)具有已知的缺陷，包括組織壓迫、由印模托盤的不適當(dāng)?shù)拇笮?形狀導(dǎo)致的誤差、在印模過程期間的移動導(dǎo)致的印模材料的變形、在設(shè)立或硬化過程期間材料的變形，以及材料中的氣泡導(dǎo)致數(shù)據(jù)的區(qū)域性丟失。如果通過向印模中澆注牙石/石膏制備鑄型，則基于鑄型的模型將經(jīng)受相同的變形，并且石膏牙模型的維度比例將進(jìn)一步受到濕氣含量的影響。牙弓的維度保真度受到由印模材料、印模制成技術(shù)、石/石膏材料特性以及桌面掃描過程的固有不準(zhǔn)確性等導(dǎo)致的這些復(fù)合誤差的影響。因此，包括掃描而非印模材料的技術(shù)將會對現(xiàn)有產(chǎn)業(yè)實踐有改進(jìn)。
[0106]確定缺齒個人的咬合
[0107]圖1是缺齒的個人10，在他們的嘴16中有上面的上頌牙弓12和下面的下頌牙弓14。無論是上頌牙弓12還是下頌牙弓14都沒有任何齒列，盡管本文公開的方法和系統(tǒng)可應(yīng)用于部分有齒的個人。個人10的外面部特征為尤其是嘴16周圍的面部的特征，其反應(yīng)個人的面部表情中的變化(例如，當(dāng)個人10微笑、不愉快、吹口哨等)，并可包括嘴、鼻子、眼睛或其它外部特征。
[0108]圖2示出缺齒的個人10，在他們的嘴16中有上面的上頌托盤組件17和下面的下頌托盤組件19。上頌托盤17接納上頌牙弓12，并且下頌托盤19接納下頌牙弓14。上頌托盤17和下頌托盤19 一起是一對托盤。在上頌托盤17中限定上頌開口 09來暴露上頌牙弓12，并且在下頌托盤19中限定下頌開口 11來暴露下頌牙弓14。
[0109]上頌咬合建立組件13從上頌托盤17延伸，并且下頌咬合建立組件15位于下頌托盤19上。在托盤17、19中，上頌咬合建立組件13是銷，并且下頌咬合建立組件15是記錄板，提供銷示蹤的功能。也可使用其它適當(dāng)?shù)纳享炓Ш辖⒔M件13和下頌咬合建立組件15(例如，部分有齒等)。上頌咬合建立組件13和下頌咬合建立組件15—起允許缺齒的個人10來限定咬合。上頌托盤17和下頌托盤19可以鎖定在一個位置，來在托盤17、19被置于嘴16中并且從嘴16去除時維持咬合位置。
[0110]圖3是用于掃描個人10來對上頌牙弓12和下頌牙弓14進(jìn)行建模的掃描方法05的流程圖。
[0111]圖4是對個人10執(zhí)行的掃描方法05的示意。在方法05的部分01處，通過用口內(nèi)掃描儀57對上頌牙弓12和下頌牙弓14進(jìn)行掃描獲得第一數(shù)據(jù)85。第一數(shù)據(jù)85便于制備上頌牙弓12和下頌牙弓14的三維模型。第一數(shù)據(jù)85包括上頌牙弓12和下頌牙弓14的足夠的覆蓋，來對義齒或其它牙具可坐落的表面進(jìn)行建模(例如，第一數(shù)據(jù)85可包括上頌牙弓12和下頌牙弓14中每一個的基本全部的數(shù)據(jù)，兩個牙弓12、14之一的全部但另一個的較少的數(shù)據(jù)，等等)。在圖4中，第一數(shù)據(jù)85示為由口內(nèi)光學(xué)掃描儀27在部分01處收集。也可使用其它合適的掃描儀(例如，外部光學(xué)掃描儀、具有臉頰牽引器的口外光學(xué)掃描儀、超聲等)。
[0112]在方法05的部分02處，向個人10提供上頌托盤17和下頌托盤19。當(dāng)上頌托盤17和下頌托盤19被置于個人10的嘴中時，個人10處于限定咬合位置的上下頌關(guān)系。上頌托盤17和下頌托盤19可被鎖定在限定咬合位置的位置中，以便上頌托盤17和下頌托盤19在被從嘴16去除時保持該位置。
[0113]在方法05的部分03處，通過掃描牙弓12、牙弓14以及上頌牙弓12和下頌牙弓14之間的連續(xù)通道56，來獲取第二數(shù)據(jù)86。當(dāng)上頌托盤17和下頌托盤19在嘴16中，并且上下頌關(guān)系處于咬合位置時，獲取第二數(shù)據(jù)86。第二數(shù)據(jù)86包括在咬合位置處的上下頌關(guān)系的經(jīng)驗數(shù)據(jù)。由于咬合由上頌托盤17和下頌托盤19限定，并且第二數(shù)據(jù)86在咬合位置處獲取，因此部分02在部分03之前。部分01可在部分02和03之前或者之后執(zhí)行。
[0114]連續(xù)通道56在上頌牙弓12和下頌牙弓14之間提供不斷開的通道。通過下頌開口 11看時，連續(xù)通道56可在下頌牙弓14處開始(如由圖4的連續(xù)通道56的起點所示)。從下頌開口11處的下頌牙弓14開始，連續(xù)通道連續(xù)穿過用于連接上頌托盤17和下頌托盤19的材料50(例如，印模材料、咬合登記材料、口腔膩子等)。通過上頌開口 09看時，從材料50開始，連續(xù)通道56到達(dá)上頌牙弓12。在該點處，連續(xù)通道56已經(jīng)穿過上頌牙弓12和下頌牙弓14 二者，并且第二數(shù)據(jù)86可被制備。然而，第二數(shù)據(jù)86可從沿連續(xù)通道的增大的數(shù)據(jù)量獲得益處。為了提供更大量的第二數(shù)據(jù)86，連續(xù)通道56接著穿過上頌托盤17，到達(dá)另一上頌開口 11，其中上頌牙弓14的另一部分是可視的，并且從此處向下穿過材料50的更多部分到達(dá)下頌托盤19，在此處下頌牙弓14可通過下頌開口 11的另一開口看到。
[0115]連續(xù)通道56包括與上頌牙弓12和下頌牙弓14中的每一個相接觸的兩個點。然而，連續(xù)通道可跟隨包括上頌牙弓12和下頌牙弓14中的每一個的任何路徑。提供材料50是為了允許連續(xù)通道56包括上頌牙弓12和下頌牙弓14中的每一個，而不丟失上頌托盤17和下頌托盤19之間的空間中的參照系。當(dāng)前掃描儀的景深常常典型地對于穿過上頌托盤17和下頌托盤19之間的間隙獲取可靠的第二數(shù)據(jù)86來說太淺，因此，沒有材料50時，上頌托盤17和下頌托盤19不能提供沿上頌托盤17和下頌托盤19之間的連續(xù)通道56的部分的參照系。期望未來改進(jìn)光學(xué)掃描儀的景深，來便于沿不包括材料50或者致力于提供淺的景深內(nèi)的參照系的任何其它特征(例如，橋148和以下所示的橋的其它示例，等)的連續(xù)通道獲取第二數(shù)據(jù)86。然而，用最新的光學(xué)掃描儀(口內(nèi)或口外)，材料50或橋接上頌托盤17和下頌托盤19的其它特征便于沿連續(xù)通道56獲取第二數(shù)據(jù)86。
[0116]不褪色的墨水或其它暫時性的標(biāo)記技術(shù)可應(yīng)用于上頌牙弓12和下頌牙弓14來在上頌牙弓12和下頌牙弓14上做出可視標(biāo)記(未示出)，標(biāo)記可在制備第一模型21時用作將第一數(shù)據(jù)85與第二數(shù)據(jù)86網(wǎng)格化和對齊中的輔助。暫時性標(biāo)記在第一數(shù)據(jù)85與第二數(shù)據(jù)86 二者中都存在。利用暫時性標(biāo)記，可減小提供第二數(shù)據(jù)86的所選量或質(zhì)量的連續(xù)通道56的大小。
[0117]圖5是用于將第一數(shù)據(jù)85和第二數(shù)據(jù)86組裝到個人10的第一模型21中、用于設(shè)計或優(yōu)化義齒或其它牙具的處理方法90的流程圖。
[0118]圖6是方法90中使用的數(shù)據(jù)的示意。在方法90的部分91處，第一數(shù)據(jù)85和第二數(shù)據(jù)86被組合起來，以制備第一模型21。第一模型21包括基于第一數(shù)據(jù)85的上頌牙弓12和下頌牙弓14的模型，并且包括基于第二數(shù)據(jù)86的咬合位置處的上下頌關(guān)系的經(jīng)驗數(shù)據(jù)。結(jié)果，第一模型21中的上下頌關(guān)系反映個人10在由上頌托盤17和下頌托盤19限定的咬合位置中的實際上下頌關(guān)系。
[0119]在方法90的部分92處，義齒29或其它牙具或特征的牙具數(shù)據(jù)89可被加入到第一模型21，以提供第二模型23。牙具數(shù)據(jù)89示為便于對義齒29建模。義齒29可以是個人的先前的義齒，在此情形下，牙具數(shù)據(jù)89可通過掃描個人先前的義齒獲得。可替換地，義齒29可從庫中選擇，在此情形下，牙具數(shù)據(jù)89可以源自庫。義齒29也可通過建模軟件調(diào)整或改變(例如，以從第二數(shù)據(jù)86中選擇將保持咬合的齒列的特定特征，以便對義齒29的改變導(dǎo)致個人10的咬合的改變，等)。
[0120]在方法90的部分93處，義齒29限定的上下頌關(guān)系響應(yīng)于義齒29的引入或?qū)αx齒29的改變而更新，如關(guān)于部分92所描述的。
[0121]在義齒29是個人10的現(xiàn)有義齒的情況下，牙具數(shù)據(jù)89可通過掃描個人10的現(xiàn)有義齒而獲得。在一些情況下，夾板材料可應(yīng)用于上頌義齒、下頌義齒或兩副義齒，來在繼續(xù)方法05之前恢復(fù)更適當(dāng)?shù)囊Ш衔恢?。例如，蠟、修?fù)丙烯酸或咬合登記材料可置于上頌托盤17和下頌托盤19上的牙上，以恢復(fù)個人10的咬合的垂直。在義齒牙齒壞掉時，個人10的咬合可移往不適當(dāng)?shù)奈恢靡詢?yōu)化功能，其可用夾板材料移動。在過度骨損失或牙齒磨損的情況下，下頌骨可向前伸出，以便底牙很好地突出超過頂牙。如果在此情形下先前的義齒用于設(shè)計目的，可使用夾板來矯正義齒的位置，以設(shè)計新的義齒。
[0122]在一些實施例中，暫時性材料可應(yīng)用于頂義齒、底義齒或頂義齒和底義齒二者，以在繼續(xù)方法05之前恢復(fù)更適當(dāng)?shù)淖齑街С?。例如，可將蠟添加到義齒的外表面，來提供定制的面部支持，并且得到的具有暫時性材料的義齒可被掃描并且合并入新的假體中。
[0123]較早的義齒常常不能適當(dāng)?shù)匮b載牙齦，因為義齒所坐落的牙齦的形狀會不斷收縮和改變。附加地，隨著義齒牙齒壞掉，個人的咬合可移到不適當(dāng)?shù)奈恢靡詢?yōu)化功能。美國公開N0.2013/0209962詳述了一種方法，其中，通過在義齒組織配合側(cè)采用印模，并且使用咬合登記材料記錄咬合，然后掃描得到的義齒、印模材料和咬合登記，來解決義齒配合缺點。方法05不依靠登記材料來獲得第一數(shù)據(jù)85和第二數(shù)據(jù)86。在使用現(xiàn)有義齒不合適的情況下，可使用銷示蹤來記錄咬合。
[0124]義齒復(fù)制品
[0125]圖7示出個人10的義齒的復(fù)制品20。
[0126]圖8示出個人1的嘴16中的復(fù)制品20。與個人的義齒不同，復(fù)制品20在復(fù)制品20的每個頰面?zhèn)壬习ㄩ_口 22，來暴露上頌牙弓12和下頌牙弓14的一部分。當(dāng)置于嘴16中時，復(fù)制品20在上頌牙弓12與下頌牙弓14之間提供連續(xù)通道，以登記上下頌關(guān)系。前齒列24和靠近開口 22的后齒列26為通常使用的掃描儀提供景深內(nèi)的參照系，該掃描儀在上頌牙弓12和下頌牙弓14之間穿過。
[0127]復(fù)制品20可在若干位置處包括與開口22類似的其它開口，以便于準(zhǔn)確掃描(未示出)。添加更多的開口或增大開口的尺寸會通過暴露更多的上頌牙弓12、下頌牙弓14或二者來掃描，而增大獲取的第二數(shù)據(jù)86的量。使用的掃描儀的分辨率和景深越大，開口 22可以越小。開口 22可在上頌牙弓12和下頌牙弓14中的每一個上暴露例如約一平方厘米。然而，如果太大尺寸的太多開口置于復(fù)制品20的錯誤部分處，則個人10可能不能有效地在復(fù)制品20上咬下，而不使復(fù)制品20由于不均勻裝載從上頌牙弓12和下頌牙弓14之間滑出。
[0128]當(dāng)選擇復(fù)制品上的開口的尺寸、數(shù)目和位置時，上頌牙弓12和下頌牙弓14沿連續(xù)通道的足夠暴露的有競爭力的考慮必須與當(dāng)個人10在復(fù)制品20上咬下時復(fù)制品20在嘴16中的穩(wěn)定性相平衡。為了便于在復(fù)制品20上穩(wěn)定咬合，開口 22被置于上頌牙弓上的上頌結(jié)節(jié)與上頌尖牙隆起之間。類似地，在下頌牙弓上，開口 22被置于下頌尖牙隆起與下頌?zāi)パ篮髩|之間。
[0129]掃描儀的操作受到視野深度的可用容差限制。例如，一些當(dāng)前的口內(nèi)光學(xué)掃描儀不能記錄多于約4mm的深度，有約16mm是當(dāng)前口內(nèi)光學(xué)掃描儀的深度容差。例如，一些當(dāng)前的口外光學(xué)掃描儀不能準(zhǔn)確地記錄多于約1500mm的深度。
[0130]復(fù)制品20可以通過任何適當(dāng)?shù)姆椒ㄖ苽?例如，使用先前鑄型方法，三維打印等)。掃描個人10的義齒來提供牙具數(shù)據(jù)29允許快速形成復(fù)制品20的雛形，并在部分92處對個人10的義齒進(jìn)行建模以在部分92處進(jìn)行修改。另外，模制的義齒托盤可從第二模型23中去除，以分析、診斷和/或在咬合位置處在模型21上設(shè)計新的假體。
[0131]圖9示出方法105，方法15包括掃描上頌托盤17和下頌托盤19以在方法1 5的部分104處提供第三數(shù)據(jù)187。使用口外掃描儀59來掃描上頌托盤17和下頌托盤19。
[0132]圖10是通過方法105獲取數(shù)據(jù)的示意。第三數(shù)據(jù)187可包括每個托盤17、19的所有側(cè)的數(shù)據(jù)，以便于制備用于第二模型125(見下面)的托盤17、19的準(zhǔn)確模型?？商鎿Q地，第三數(shù)據(jù)187可包括個人的義齒(未示出)的數(shù)據(jù)，以制備復(fù)制品20，類似于牙具數(shù)據(jù)89是基于來自個人的義齒的數(shù)據(jù)。在此情形下，第二數(shù)據(jù)186會在復(fù)制品20在個人的嘴中時被獲得(未示出；在圖9和圖10中，上頌托盤17和下頌托盤19被掃描用于第三數(shù)據(jù)187，因此第二數(shù)據(jù)186基于用上頌托盤17和下頌托盤19建立的咬合，其也可用于制備復(fù)制品20)。由于咬合由上頌托盤17和下頌托盤19限定，并且第二數(shù)據(jù)186在咬合位置處獲取，因此部分102在部分103之前。部分101和部分104可各自在部分102和部分103之前或之后執(zhí)行，或彼此之前或之后執(zhí)行。
[0133]圖11示出制備第一模型121和第二模型125的方法190。
[0134]圖12是方法190中使用的數(shù)據(jù)的示意。在步驟194處，第三數(shù)據(jù)187與第一模型121相結(jié)合，以提供在咬合位置處且戴有上頌托盤17和下頌托盤19的個人的第二模型125。上頌托盤17和下頌托盤19可以是用于在部分194和193處設(shè)計新牙具的有用的開始點。上頌托盤17和下頌托盤19可以從第二模型125中去除，以分析、診斷和/或在咬合位置處在模型121上設(shè)計新的假體。
[0135]在個人10的咬合不可能改變的情況下，復(fù)制品20或個人10的義齒可用作第三數(shù)據(jù)187的開始點或者用作牙具數(shù)據(jù)89。這可能是個人10的義齒被美容更新的情況。在個人10的咬合可能從現(xiàn)有義齒提供的咬合明顯改變的情況下，可使用銷示蹤來建立新的咬合。
[0136]銷示蹤
[0137]圖13是在方法05的一些實施例中用于確定中心牙合上下頌關(guān)系咬合位置的銷示蹤30。上頌組件32被成形為接納上頌牙弓，并且下頌組件34被成形為接納下頌牙弓。銷36從上頌組件32延伸，并且記錄板38被固定到下頌組件34(可替代地，銷可被置于下頌組件上，并且記錄板可置于上頌組件上)。當(dāng)上頌組件32相對于下頌組件34移動時，銷36在記錄板38上做標(biāo)記。銷36在記錄板38上做的標(biāo)記允許識別咬合位置。上頌組件32和下頌組件34可在咬合位置處(或任何其它位置)相對于彼此在位置上鎖定。銷示蹤30然后可被置于個人的嘴中，并且個人的牙弓和銷示蹤30被一起掃描(這將應(yīng)用于例如掃描方法105的部分103)。
[0138]上頌組件32的上頌頰壁40包括上頌開口 42。下頌組件34的下頌頰壁44包括下頌開口 46 ο除頰壁40、44外或代替頰壁40、44，在上頌唇壁52和下頌唇壁54上可包括與上頌開口42和下頌開口46類似的開口。以下參照圖32至圖35描述開口的其它可能的位置。
[0139]上頌開口 42和下頌開口 46提供牙弓的清楚的視線，暴露上頌牙弓12和下頌牙弓14二者的一部分。在上頌牙弓12和下頌牙弓14的一部分可在單個連續(xù)通道(例如，連續(xù)通道56等)中捕獲的情況下，便于使用口內(nèi)掃描儀來記錄上下頌關(guān)系。依據(jù)使用的掃描儀類型，有可能在單個視場中捕獲上頌牙弓12和下頌牙弓14兩者。先前的銷示蹤和義齒幾乎覆蓋所有的上頌牙弓12和下頌牙弓14，并且不提供有用的開口用于在掃描銷示蹤時同時掃描上頌牙弓12和下頌牙弓14，因此不能便于基于咬合位置的經(jīng)驗掃描數(shù)據(jù)來建模。相比而言，本文公開的方法和系統(tǒng)便于基于咬合位置處的牙弓的經(jīng)驗掃描數(shù)據(jù)來建模。
[0140]為了便于在銷示蹤30上穩(wěn)定咬合，上頌開口42被置于上頌牙弓上的上頌結(jié)節(jié)與上頌尖牙隆起之間。類似地，在下頌牙弓14上，下頌開口 46被置于下頌尖牙隆起與下頌?zāi)パ篮髩|之間。
[0141]大多數(shù)義齒或銷示蹤設(shè)備在上頌牙弓組件和下頌牙弓組件之間具有間隙，僅允許在銷和記錄板之間的接觸(例如，見美國公開N0.2013/0280672或美國公開N0.2012/0322031)，以防止在示蹤期間在上頌牙弓組件和下頌牙弓組件的部分之間而非銷和記錄板之間接觸。這樣的間隙常常出現(xiàn)在銷示蹤的后部處。這些間隙阻止大多數(shù)口內(nèi)掃描儀(具有相對較小的景深)以相同的景深記錄銷示蹤的上頌組件和下頌組件，使得上下頌關(guān)系的記錄變復(fù)雜。銷示蹤30缺少提供連續(xù)掃描通道(例如，連續(xù)通道56等)的連續(xù)參照系的結(jié)構(gòu)。如圖4、圖10、圖25和圖31所示，材料50可用于提供用于上頌組件32和下頌組件34之間的連續(xù)通道的部分的參照系?？商鎿Q地，可與銷示蹤一起包括結(jié)構(gòu)來提供參照系。
[0142]透
[0143]圖14示出具有連接銷示蹤130的上頌組件132和下頌組件134的橋148(例如，短金屬或其它剛性材料等)的銷示蹤130。橋148為開口 142、146提供的上頌牙弓12和下頌牙弓14之間的連續(xù)掃描通道提供參照系。
[0144]如上所述，一些掃描儀在比上頌頰壁40的左側(cè)和右側(cè)部分與下頌頰壁44的左側(cè)和右側(cè)部分之間的距離淺的深度掃描容差方面存在限制(例如，在一些商用口內(nèi)掃描儀中，從掃描儀不能完成多于4mm的掃描)。為了解決這個問題，銷示蹤設(shè)備的上頌部分和下頌部分之間的空間被用諸如橋148之類的機(jī)械設(shè)備橋接，或者用材料(例如，圖4和圖25中的材料50)填充。組件132、134之間的深于掃描儀的容差的任何間隙或空隙被橋接或填充，這在暴露的上頌牙弓和下頌牙弓(特別是上頌牙齦和下頌牙齦)之間提供連續(xù)通道。橋148允許掃描儀在上頌牙弓和下頌牙弓之間沿連續(xù)通道用恒定參照系形成通路，以登記上下頌關(guān)系。如上，可在多處位置處包括開口，并且可在每個位置處包括橋，以增大數(shù)據(jù)獲取的準(zhǔn)確度。橋148提供沿開口 142、146之間的連續(xù)通道的恒定參照系，其可在大多數(shù)光學(xué)掃描儀的景深內(nèi)容易地掃描，并且可被超聲掃描儀或其它基于觸摸的掃描儀接觸。
[0145]圖15至圖17示出具有鉸接的橋260的銷示蹤230，鉸接的橋260包括上頌鉸接橋組件262和下頌鉸接橋組件264。在閉合的位置中，例如圖15的橋組件264，橋組件不穿過上頌組件232和下頌組件234之間的間隙。當(dāng)橋組件262、264各自在打開的橋接位置(圖16)時，橋組件262、264彼此接觸，這提供在上頌組件232和下頌組件234之間的橋、和用于連續(xù)通道的恒定參照系?？商鎿Q地，可應(yīng)用單個橋組件，其可將上頌組件232和下頌組件234橋接，并可置于上頌組件232或下頌組件234中的任一個上(未示出)。鉸接的橋組件262、264通過鉸鏈266連接至上頌組件232和下頌組件234。鉸鏈266是可去除的(圖17)。
[0146]圖18至圖20示出具有樞接橋370的銷示蹤330，樞接橋370包括上頌樞接橋組件372和下頌樞接橋組件374。當(dāng)橋組件372、374中之一處于開放的橋接位置時(圖19)，橋組件372、374彼此接觸，這為上頌組件332和下頌組件334之間的連續(xù)通道提供恒定的參照系。鉸接的橋組件372、374通過樞軸376連接至上頌組件332和下頌組件334。
[0147]圖21示出具有樞接橋471的銷示蹤430，樞接橋471包括比橋組件372、374小的橋組件473、475。兩個橋組件473、475都處于開放的位置(如所示)，以便在上頌組件432和下頌組件434之間提供連接。
[0148]圖22至圖24示出具有滑接橋580的銷示蹤530，滑接橋580包括上頌滑接橋組件582和下頌滑接橋組件584。當(dāng)橋組件582、584中的每一個處于開放的橋接位置時(圖23)，橋組件582、584彼此接觸，這在上頌組件532和下頌組件534之間提供連接。滑接橋組件582、584可滑動地連接至上頌組件532和下頌組件534。
[0149]本文所示的橋組件的示例在閉合位置(圖15、圖18、圖22)中各自位于開口242、246、342、346以及542、546上。通過將橋組件靠近開口放置，便利了掃描。然而，橋組件可遠(yuǎn)離開口放置，并且在關(guān)閉合位置中時不需要覆蓋開口。
[0150]如果給定復(fù)制品20中使用的齒列24、26不將復(fù)制品20的上頌部分和下頌部分橋接，則橋組件的示例可由復(fù)制品20使用。否則，齒列24、26可在復(fù)制品20的上頌部分和下頌部分之間提供橋。
[0151]本文所示的銷示蹤的所有示例可包括緊固和鎖定特征，來將上頌組件32和下頌組件34固定和鎖定在給定的上下頌關(guān)系中。
[0152]除了所示示例以外，橋組件可進(jìn)一步包括棘齒特征、活塞和氣缸組件，或其它。
[0153]圖25示出用于連接銷示蹤30的上頌組件32和下頌組件34的材料50(例如，印模材料、咬合登記材料、口腔膩子等)。橋148或材料50被放置得離頰壁40、44足夠近，以至少在常用的掃描儀的景深內(nèi)提供連續(xù)通道。在除了頰壁40、44外或代替頰壁40、44，與開口 42、46類似的開口被放置在上頌唇壁52和下頌唇壁54的情況下，可將橋148或材料50放置得離唇壁52、54足夠近，以提供常用的掃描儀的景深內(nèi)的連續(xù)通道(見圖34至圖35)。
[0154]圖26是定制的銷示蹤6 3 O。除了銷示蹤3 O的特征以外，定制的銷示蹤包括前齒列624。前齒列624可用于引導(dǎo)中心牙合的上下頌關(guān)系或者幫助個人10選擇齒列624的適當(dāng)?shù)拿廊菪Ч?。定制的銷示蹤630示出前六顆牙。然而，前齒列624或后齒列的其它變化也可包括在定制的銷示蹤630中(例如，僅上頌牙，臼齒等)ο前齒列624為上頌開口之間的連續(xù)通道提供參照系。定制的銷示蹤630可包括圖15至圖24中所示的任何橋和橋組件，并且材料50可用于定制的銷示蹤630，如圖25。
[0155]在一些實施例中，定制的銷示蹤630可被傳統(tǒng)地制造或者使用快速雛形技術(shù)(三維打印)來制造。定制的銷示蹤630可例如結(jié)合以下特征的一些或全部:(a)通過使用口內(nèi)掃描模型來制造理想的組織配合表面的定制配合，(b)容納個人的現(xiàn)有義齒的部分，(C)容納自然牙齒、種植牙或其它修復(fù)體，(d)提供假想的牙齒排列。這些是會可能也包括在復(fù)制品20中的特征。
[0156]當(dāng)咬合不太可能隨著模制或處理的結(jié)果而改變時，可使用復(fù)制品20。在要限定新的咬合的情況下，可使用銷示蹤30或其變體中之一。在要限定新的咬合并且個人10選擇保持一致的牙外觀的情況下，定制的銷示蹤設(shè)備730便于確定中心牙合上下頌關(guān)系并提供相關(guān)的美容地標(biāo)。
[0157]面部信息的外部掃描
[0158]第二模型23包括個人10的義齒或其它牙具的牙具數(shù)據(jù)89，或者來自庫的義齒或牙具的牙具數(shù)據(jù)。第二模型123包括個人10的義齒的第三數(shù)據(jù)187，或者上頌托盤17和下頌托盤19的第三數(shù)據(jù)187?？稍诓挥猛獠刻卣?8的數(shù)據(jù)的情況下觀看這些第二模型23、123中的每一個。然而，在一些情況下，外部特征18的數(shù)據(jù)可提供用于建模、診斷和設(shè)計的附加面部信息。通過記錄普通面部表情(例如，嘴在放松狀態(tài)下閉合，嘴在放松狀態(tài)下張開，高位微笑等)，這可提供審美信息，審美信息可被記錄并可用于輔助修復(fù)或假體的所建議設(shè)計的可視化?？梢暬稍谀Ｐ蜕贤耆珨?shù)字化地完成，或者使用夸張的現(xiàn)實來直接在個人上實時數(shù)字地可視化所建議設(shè)計。
[0159]圖27示出方法205，方法205包括在部分206處掃描外部特征18以提供第四數(shù)據(jù)288。第四數(shù)據(jù)通過用口外掃描儀59掃描外部特征18而獲取。
[0160]圖28是通過方法205獲取數(shù)據(jù)的示意。第四數(shù)據(jù)288通過口外掃描個人10的外部特征18，例如嘴16周圍的區(qū)域，來獲取。第四數(shù)據(jù)288可包括咬合位置處的外部特征的數(shù)據(jù)，例如當(dāng)個人10在微笑或不愉快時。然而，牙弓12、14將通常在第四數(shù)據(jù)288中不是可見的。
[0161]在個人10處于所選面部表情時，捕獲外部特征18的經(jīng)驗數(shù)據(jù)便于基于經(jīng)驗數(shù)據(jù)對處于那個面部表情的個人10進(jìn)行建模。另外，獲取其它外部特征的數(shù)據(jù)，例如外耳道的位置、其它地標(biāo)，便于更準(zhǔn)確地對下巴運動建模。面部信息可被捕獲在第四數(shù)據(jù)288中，并且如果第二數(shù)據(jù)286用口外掃描儀捕獲，也可捕獲在第二數(shù)據(jù)286中，用口外掃描儀捕獲第二數(shù)據(jù)286可涉及使用面頰牽引器。附加地，通過(例如通過牙具數(shù)據(jù)89)掃描個人義齒的部分獲得的信息、修正的復(fù)制品(例如復(fù)制品20)、或上頌托盤17和下頌托盤19(例如第三數(shù)據(jù)187)可提供審美信息，審美信息可用于義齒或其它牙具的輔助設(shè)計，尤其在與外部特征18的數(shù)據(jù)組合使用時。
[0162]圖29是處理方法290的流程圖，處理方法290用于將第一數(shù)據(jù)285、第二數(shù)據(jù)286和第四數(shù)據(jù)288組裝到包括外部特征18的數(shù)據(jù)的第四模型227中。
[0163]圖30是第四模型227的組件的示意。當(dāng)上下頌關(guān)系或第四模型227的模制的托盤被更新時，外部特征也相應(yīng)地在296處被更新。面部信息用個人的頭部的口外三維掃描來記錄。牙齒修復(fù)的美學(xué)設(shè)計和假體設(shè)計的有用信息包括但不限于:嘴張開的靜止的嘴唇位置，下巴不動且嘴閉合的靜止嘴唇位置、嘴閉合咬合中的靜止的嘴唇位置、高位微笑的嘴唇線。由于義齒合并覆蓋上頌牙齦的支持凸緣，并提供嘴唇支持，因此，義齒比自然齒列對嘴唇位置有更明顯的影響。失去前牙以及它們的骨和組織的支持結(jié)構(gòu)，嘴唇支持不足并且常常有完全塌陷的外觀。對沒有義齒的個人進(jìn)行口外掃描，可能導(dǎo)致未來設(shè)計的欠佳形象，因為與軟件可視化的設(shè)計相比較，缺乏嘴唇支持會導(dǎo)致新假體的不相似的外觀。
[0164]面部信息可包括但不限于以下地標(biāo):
[0165]A、矢面或正中面一一一種假想的平面，縱向通過頭的中間并將頭劃分成右半邊和左半邊
[0166]B、耳道的位置，也作為外耳道為人所知
[0167]C、鼻翼的邊界
[0168]D、耳朵的耳屏的邊界
[0169]E、眼睛的眼眶
[0170]F、用皮膚上的可視標(biāo)記標(biāo)識的軌道
[0171]G、用皮膚上的可視標(biāo)記標(biāo)識的頦下點
[0172]H、用皮膚上的可視標(biāo)記標(biāo)識的闕中
[0173]1、用皮膚上的可視標(biāo)記標(biāo)識的鼻根
[0174]J、用皮膚上的可視標(biāo)記標(biāo)識的頦前點
[0175]K、用皮膚上的可視標(biāo)記標(biāo)識的下頌角點
[0176]L、用皮膚上的可視標(biāo)記標(biāo)識的頌下點
[0177]M、放松狀態(tài)下的嘴唇的位置，作為“唇線”為人所知
[0178]N、微笑期間的嘴唇的位置，作為“笑線”為人所知
[0179]0、咬合的嘴唇的位置
[0180]P、側(cè)輪廓:直、凹或凸
[0181]Q、面部輪廓:方、圓、錐
[0182]在從以上標(biāo)識相關(guān)地標(biāo)之后，可建立以下的點:
[0183]Beyron點一一在從耳屏的中心延伸到眼角的線上，在耳朵的耳屏的后邊緣前面約13mm
[0184]BergstromA--在外耳道球形插入中心的前面約I Omm，且在Frankf or t水平平面下約7mm
[0185]Gysi點一一在通向眼睛的外眼眶的線上，在外耳道的最上部前面約13mm
[0186]Frankfort水平平面一一穿過眼眶下緣(稱為眼眶的點)以及每個耳道或外耳道的上邊緣的平面
[0187]Campers平面一一從鼻翼的內(nèi)邊界到耳朵的耳屏上的一些限定點(通常是耳屏的中點或上邊界)的線。其經(jīng)常出于建立鼻翼耳屏平面的目的而被使用。理論上，鼻翼耳屏平面被視作與牙合平面平行。當(dāng)在中矢狀平面中看時，牙合平面相對于Frankfort水平平面成大約10度的角度。
[0188]具有橋接齒列的復(fù)制品
[0189]圖31是義齒的復(fù)制品120。前齒列124和后齒列126延伸跨過開口122，這為連續(xù)通道提供靠近開口 122的參照系。
[0190]開口位置
[0191 ]提供牙弓的視圖的開口可放置在銷示蹤上的或用于建立咬合和掃描牙弓的其它托盤上的各種位置處。以下跟著一些示例。
[0192]圖32是具有單個上頌頰面部開口742和單個下頌頰面部開口 746的銷示蹤700。上頌頰面部開口 742和下頌頰面部開口 746在相應(yīng)的上頌組件732和下頌組件734的相對側(cè)上。連續(xù)通道將在開口 742、746之間延伸比銷示蹤30中更大的距離。一般而言，將開口放置在相應(yīng)的上頌牙弓和下頌牙弓的相對應(yīng)側(cè)上比將開口放置在非相對應(yīng)的表面上更便于掃描。例如，銷示蹤30的開口 42、46被置于上頌組件32和下頌組件34兩者的左側(cè)和右側(cè)上。這提供了比銷示蹤700更簡單的連續(xù)通道。
[0193]圖33是具有上頌頰舌部開口851和下頌頰舌部開口 853的銷示蹤830。銷示蹤830將可能必須與口內(nèi)掃描儀一起使用，因為口外掃描儀將不能具有開口851、853的清楚視圖。
[0194]圖34是具有上頌唇面部開口941和下頌唇面部開口 943的銷示蹤930。開口 941和943的這些位置可以比面部開口 42、46更易被掃描，但相對于銷示蹤30也會使得銷示蹤930不穩(wěn)定。
[0195]圖35是具有上頌唇舌部開口1045和下頌唇舌部開口 1047的銷示蹤1030。在有銷示蹤830時，相比于口外掃描儀，舌開口可需要用口內(nèi)掃描儀掃描。
[0196]僅為示例
[0197]在前面的描述中，為了解釋的目的，給出了很多細(xì)節(jié)，來提供對實施例的透徹理解。然而，對本領(lǐng)域技術(shù)人員來說很明顯的是，并不需要這些特定的細(xì)節(jié)。在一些實例中，至于本文描述的實施例是實施為軟件例程、硬件電路、固件還是其組合，并不提供特定細(xì)節(jié)。
[0198]本公開的實施例可表示為存儲在機(jī)器可讀介質(zhì)(也稱作其中嵌入有計算機(jī)可讀程序代碼的計算機(jī)可讀介質(zhì)、處理器可讀介質(zhì)或計算機(jī)可使用的介質(zhì))中的計算機(jī)程序產(chǎn)品。機(jī)器可讀介質(zhì)可以是任何適當(dāng)?shù)挠行?、非瞬時性介質(zhì)，包括磁性的、光學(xué)的或電的存儲介質(zhì)，包括磁盤、壓縮盤只讀存儲器(CD-ROM)、存儲設(shè)備(易失或非易失)或類似存儲機(jī)制。機(jī)器可讀介質(zhì)可包含各種指令集、代碼序列、配置信息或其它數(shù)據(jù)，這些數(shù)據(jù)在被執(zhí)行時，促使處理器執(zhí)行根據(jù)本公開實施例的方法的部分。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將認(rèn)識到，其它對于實施所描述的實施方式來說必要的指令和操作也可存儲在機(jī)器可讀介質(zhì)上。存儲在機(jī)器可讀介質(zhì)上的指令可由處理器或其它適當(dāng)?shù)奶幚碓O(shè)備執(zhí)行，并可與電路接合以執(zhí)行所描述的任務(wù)。
[0199]以上描述的實施例意在僅為示例?？捎杀绢I(lǐng)域技術(shù)人員對特定實施例作出改變、修改和變體，而不偏離僅由所附權(quán)利要求限定的范圍。
【主權(quán)項】
1.一種獲取用于制備缺齒的個人的模型的數(shù)據(jù)的方法，包括: 獲取所述個人的上頌牙弓的第一數(shù)據(jù)和所述個人的下頌牙弓的第一數(shù)據(jù)，用于對所述上頌牙弓和所述下頌牙弓進(jìn)行建模； 提供一對組件，用于接納處于限定咬合位置的上下頌關(guān)系中的所述上頌牙弓和所述下頌牙弓，所述一對組件在所述組件中的每一個組件上限定開口，用于暴露所述上頌牙弓和所述下頌牙弓之間的連續(xù)通道；以及 沿處于所述咬合位置中的所述上頌牙弓和所述下頌牙弓的所述連續(xù)通道獲取第二數(shù)據(jù)，用于對處于所述咬合位置中的所述上頌牙弓和所述下頌牙弓的相對位置進(jìn)行建模。2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述開口在所述組件中的每一個組件的相應(yīng)表面上被對準(zhǔn)。3.如權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括:將所述第一數(shù)據(jù)和所述第二數(shù)據(jù)組合來制備所述模型，所述模型包括所述咬合位置的經(jīng)驗數(shù)據(jù)。4.如權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括:提供一對義齒的牙具數(shù)據(jù)并組合所述第一數(shù)據(jù)、所述第二數(shù)據(jù)和所述牙具數(shù)據(jù)來制備所述模型，所述模型包括所述咬合位置的經(jīng)驗數(shù)據(jù)。5.如權(quán)利要求4所述的方法，其中提供所述牙具數(shù)據(jù)包括:掃描適于所述個人的一對義齒O6.如權(quán)利要求4所述的方法，其中提供所述牙具數(shù)據(jù)包括:訪問牙具數(shù)據(jù)的庫。7.如權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括:獲取所述一對組件的第三數(shù)據(jù)，用于對所述一對組件進(jìn)行建模。8.如權(quán)利要求7所述的方法，進(jìn)一步包括:將所述第一數(shù)據(jù)、所述第二數(shù)據(jù)和所述第三數(shù)據(jù)組合來制備所述模型，所述模型包括所述咬合位置的經(jīng)驗數(shù)據(jù)和所述一對組件的經(jīng)驗數(shù)據(jù)。9.如權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括:獲取所述個人的外部特征的第四數(shù)據(jù)，用于對所述外部特征進(jìn)行建模。10.如權(quán)利要求9所述的方法，進(jìn)一步包括:將所述第一數(shù)據(jù)、所述第二數(shù)據(jù)和所述第四數(shù)據(jù)組合來制備所述模型，所述模型包括所述咬合位置的經(jīng)驗數(shù)據(jù)和處于所述咬合位置處的所述外部特征的經(jīng)驗數(shù)據(jù)。11.如權(quán)利要求9所述的方法，其中獲取所述第四數(shù)據(jù)進(jìn)一步包括:在所述個人保持所選面部表情時獲取所述第四數(shù)據(jù)，以用所選面部表情處的所述外部特征的經(jīng)驗數(shù)據(jù)制備模型。12.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述第二數(shù)據(jù)進(jìn)一步包括所述個人的外部特征的數(shù)據(jù)，用于對所述上頌牙弓和所述外部特征的相對位置進(jìn)行建模。13.如權(quán)利要求1所述的方法，其中獲取所述第二數(shù)據(jù)包括用頰牽引器暴露所述開口。14.如權(quán)利要求1所述的方法，其中提供所述一對組件包括制備為所述個人制備的義齒的復(fù)制品，并且所述開口被限定在所述復(fù)制品上。15.如權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括:將所述一對組件鎖定在所述咬合位置中。16.如權(quán)利要求1所述的方法，所述一對組件進(jìn)一步包括記錄器和記錄表面。17.如權(quán)利要求16所述的方法，進(jìn)一步包括:參照由所述記錄器在所述記錄表面上做出的標(biāo)記來限定所述咬合位置。18.如權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括:在所述一對組件之間靠近所述開口提供橋，用于沿位于所述一對組件之間的所述連續(xù)通道的一部分提供參照系。19.如權(quán)利要求18所述的方法，其中在所述一對組件之間靠近所述開口提供橋包括:將所述一對組件與不可變形的材料連接。20.如權(quán)利要求18所述的方法，其中在所述一對組件之間靠近所述開口提供橋包括:將連接至所述一對組件的橋接組件從閉合位置移動到橋接位置。21.如權(quán)利要求1所述的方法，其中獲取所述第一數(shù)據(jù)包括:用口內(nèi)掃描儀掃描所述牙弓。22.如權(quán)利要求1所述的方法，其中獲取所述第一數(shù)據(jù)包括:用口外掃描儀掃描所述牙弓。23.如權(quán)利要求1所述的方法，其中獲取所述第一數(shù)據(jù)包括:用光學(xué)掃描儀掃描所述牙弓。24.如權(quán)利要求1所述的方法，其中獲取所述第一數(shù)據(jù)包括:用超聲掃描所述牙弓。25.如權(quán)利要求1所述的方法，其中獲取所述第二數(shù)據(jù)包括:用口內(nèi)掃描儀沿所述連續(xù)通道掃描所述牙弓。26.如權(quán)利要求1所述的方法，其中獲取所述第二數(shù)據(jù)包括:用口外掃描儀沿所述連續(xù)通道掃描所述牙弓。27.如權(quán)利要求1所述的方法，其中獲取所述第一數(shù)據(jù)包括:用光學(xué)掃描儀沿所述連續(xù)通道掃描所述牙弓。28.如權(quán)利要求1所述的方法，其中獲取所述第一數(shù)據(jù)包括:用超聲沿所述連續(xù)通道掃描所述牙弓。29.—種咬合登記裝置，包括: 成形為接納上頌牙弓的上頌組件； 成形為接納下頌牙弓的下頌組件； 咬合建立組件，位于所述上頌組件和所述下頌組件的相對部分上，用于限定所述上頌組件與所述下頌組件之間的咬合；以及 在所述上頌組件上限定的上頌開口和在所述下頌組件上限定的下頌開口，用于暴露以掃描被接納于所述上頌組件內(nèi)的上頌牙弓和被接納于所述下頌組件內(nèi)的下頌牙弓之間的連續(xù)通道。30.如權(quán)利要求29所述的咬合登記裝置，其中所述上頌開口和所述下頌開口被限定在所述上頌組件的相應(yīng)表面和所述下頌組件的相應(yīng)表面上。31.如權(quán)利要求30所述的咬合登記裝置，其中所述相應(yīng)表面位于所述上頌組件的面部壁和所述下頌組件的面部壁上。32.如權(quán)利要求30所述的咬合登記裝置，其中所述相應(yīng)表面位于所述上頌組件的頰壁和所述下頌組件的頰壁上。33.如權(quán)利要求30所述的咬合登記裝置，其中所述相應(yīng)表面位于所述上頌組件的舌壁和所述下頌組件的舌壁上。34.如權(quán)利要求30所述的咬合登記裝置，其中所述相應(yīng)表面位于所述上頌組件的舌壁和所述下頌組件的舌壁上。35.如權(quán)利要求29所述的咬合登記裝置，進(jìn)一步包括:在靠近所述上頌開口的所述上頌組件與靠近所述下頌開口的所述下頌組件之間延伸的橋，用于提供沿所述上頌組件和所述下頌組件之間的所述連續(xù)通道的參照系。36.如權(quán)利要求35所述的咬合登記裝置，其中所述橋包括在閉合位置和橋接位置之間可移動的橋組件。37.如權(quán)利要求36所述的咬合登記裝置，其中所述橋組件鉸接地、樞接地或可滑動地連接至所述咬合登記裝置。38.如權(quán)利要求36所述的咬合登記裝置，其中所述橋包括連接至所述上頌組件或連接至所述下頌組件的單個橋組件。39.如權(quán)利要求36所述的咬合登記裝置，其中所述橋包括從所述上頌組件延伸的第一橋組件以及從所述下頌組件延伸的第二橋組件。40.如權(quán)利要求36所述的咬合登記裝置，其中所述橋組件可逆地覆蓋所述開口中的至少一個。41.如權(quán)利要求29所述的咬合登記裝置，其中所述補(bǔ)充咬合建立組件包括從所述上頌組件延伸以及從所述下頌組件延伸的齒列。42.如權(quán)利要求29所述的咬合登記裝置，其中所述補(bǔ)充咬合建立組件包括記錄表面和用于標(biāo)記所述記錄表面的相對的記錄器。43.如權(quán)利要求42所述的咬合登記裝置，其中所述記錄器從所述下頌組件延伸，并且所述記錄表面位于所述上頌組件上。44.如權(quán)利要求29所述的咬合登記裝置，其中所述補(bǔ)充咬合建立組件包括齒列。45.如權(quán)利要求1所述的方法，使用如權(quán)利要求29所述的咬合登記裝置。46.如權(quán)利要求16所述的方法，使用如權(quán)利要求42所述的咬合登記裝置。
【文檔編號】A61C19/04GK106061433SQ201480069065
【公開日】2016年10月26日
【申請日】2014年12月19日
【發(fā)明人】埃林·勒諾·德拉勞, 史蒂夫·考伯恩, 喬治·考伯恩
【申請人】特里斯佩拉牙科公司