床上對(duì)準(zhǔn)直器分辨率和靈敏度的需要，選擇所述準(zhǔn)直器I上適當(dāng)?shù)乃龉ぷ鲄^(qū)，以獲得理想的醫(yī)學(xué)圖像。
[0035]基于本發(fā)明第一實(shí)施例的思想，本發(fā)明的第一實(shí)施例還有一種變形結(jié)構(gòu)，該變形結(jié)構(gòu)與上述結(jié)構(gòu)的區(qū)別在于:相鄰兩所述上表面當(dāng)中，其中一所述上表面與所述長(zhǎng)度方向X平行，另一所述上表面相對(duì)所述長(zhǎng)度方向X傾斜，該相鄰的二所述上表面相交，其交線即為對(duì)應(yīng)的二所述工作區(qū)的臨界線，由于與該相鄰的二上表面對(duì)應(yīng)設(shè)置的二所述下表面均與所述長(zhǎng)度方向X平行，所以對(duì)應(yīng)的二所述工作區(qū)中有一所述工作區(qū)內(nèi)的各處具有相等的厚度，使貫通該工作區(qū)的若干所述準(zhǔn)直孔2具有相同的孔深。
[0036]當(dāng)然，所述變形結(jié)構(gòu)還可以是:所述上表面為弧形或波浪形，一所述上表面的末端與與之相鄰的另一所述上表面的起端重合。
[0037]圖4至圖8，為本發(fā)明的第二實(shí)施例:所述準(zhǔn)直器I的每一所述工作區(qū)為一臺(tái)階結(jié)構(gòu)3，若干所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3沿所述長(zhǎng)度方向X分布，一所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3末端的厚度不等于與之鄰接的另一所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3起端的厚度，即相鄰兩所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3之間具有突然躍變的厚度差，每一所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3具有相對(duì)設(shè)置的一上端面和一下端面，所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3的上端面和下端面均平行于所述長(zhǎng)度方向X，若干所述準(zhǔn)直孔2貫穿對(duì)應(yīng)的所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3的上端面和下端面，這樣，每一所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3沿所述長(zhǎng)度方向X具有相同的厚度，使位于該臺(tái)階結(jié)構(gòu)3上的若干所述準(zhǔn)直孔2具有相同的孔深。同時(shí)分別位于相鄰兩所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3上的若干所述準(zhǔn)直孔2因所述突然躍變的厚度差而具有不同的孔深，即一所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3上的若干所述準(zhǔn)直孔2的孔深與與之相鄰的另一所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3上的若干所述準(zhǔn)直孔2的孔深不同。具有不同孔深的若干所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3具有不同的準(zhǔn)直性能，孔深較大的所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3具有較大的分辨率，孔深較小的所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3具有較大的靈敏度。在使用過(guò)程中，可以根據(jù)臨床上對(duì)準(zhǔn)直器分辨率和靈敏度的需要，選擇所述準(zhǔn)直器I上適當(dāng)?shù)乃雠_(tái)階結(jié)構(gòu)3，以獲得理想的醫(yī)學(xué)圖像。
[0038]如圖4至圖6，所述準(zhǔn)直器I 一體成型，該一體成型包括模制成型、切割成型等，即所述準(zhǔn)直器I為一體結(jié)構(gòu)。一體成型有利于增加成型后的所述準(zhǔn)直器I固有的硬度。
[0039]如圖7和圖8，所述準(zhǔn)直器I的每一所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3單獨(dú)成型，然后將單獨(dú)成型后的若干所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3組合在一起構(gòu)成所述準(zhǔn)直器1.單獨(dú)成型有助于對(duì)所述準(zhǔn)直器I的加工精度進(jìn)行把控，可以使所述準(zhǔn)直器I的加工精度更高。
[0040]所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3有兩種單獨(dú)成型的結(jié)構(gòu)模式，所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3的第一種單獨(dú)成型的結(jié)構(gòu)模式為:
[0041]如圖7，若干所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3沿所述厚度方向Z堆疊，任一所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3沿所述長(zhǎng)度方向X的長(zhǎng)度不等于與之相鄰的另一所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3沿所述長(zhǎng)度方向X上的長(zhǎng)度。每一所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3對(duì)應(yīng)貫設(shè)有若干所述準(zhǔn)直孔2，所述準(zhǔn)直孔2的延伸方向與所述厚度方向Z平行或者相對(duì)所述厚度方向Z傾斜，且該傾斜角為銳角。
[0042]每一所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3均由一準(zhǔn)直層組成，在其它實(shí)施例當(dāng)中，還可以是每一所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3由若干準(zhǔn)直層堆疊組成，目的是加工更方便，精度更高。此處所述的準(zhǔn)直層可從兩個(gè)角度理解:一是將其看作是對(duì)一個(gè)臺(tái)階結(jié)構(gòu)3進(jìn)行切分(將孔切短)而得到的子臺(tái)階結(jié)構(gòu)；二是通過(guò)串聯(lián)疊加在一起而形成一個(gè)臺(tái)階系統(tǒng)的多個(gè)臺(tái)階結(jié)構(gòu)3中的每一個(gè)。射線要穿過(guò)一個(gè)包含多個(gè)準(zhǔn)直層的臺(tái)階結(jié)構(gòu)3，須依次穿過(guò)每一個(gè)準(zhǔn)直層。
[0043]每一所述準(zhǔn)直層3的厚度可以完全相等，也可以不盡相等，即至少有一個(gè)所述準(zhǔn)直層3可以與其它所述準(zhǔn)直層3的厚度不相等。
[0044]所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3的第二種單獨(dú)成型的結(jié)構(gòu)模式為:
[0045]若干所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3沿所述長(zhǎng)度方向X堆疊(未圖示)，任一所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3沿所述厚度方向Z的高度不等于與之相鄰的另一所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3沿所述厚度方向Z上的高度。每一所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3對(duì)應(yīng)貫設(shè)有若干所述準(zhǔn)直孔2，所述準(zhǔn)直孔2的延伸方向與所述厚度方向Z平行或者相對(duì)所述厚度方向Z傾斜，且該傾斜角為銳角。
[0046]每一所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3均由一準(zhǔn)直層組成，該準(zhǔn)直層具有若干完整的準(zhǔn)直孔。在其它實(shí)施例當(dāng)中，還可以是每一所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3由若干準(zhǔn)直層堆疊組成，若干所述準(zhǔn)直層具有若干波格結(jié)構(gòu)或者若干梳齒結(jié)構(gòu)，相鄰的兩所述準(zhǔn)直層的組合可以使相應(yīng)的波格結(jié)構(gòu)或者梳齒結(jié)構(gòu)結(jié)合成完整的準(zhǔn)直孔，目的是加工更方便，精度更高。此處所述的準(zhǔn)直層可從兩個(gè)角度理解:一是將其看作是對(duì)一個(gè)臺(tái)階結(jié)構(gòu)3進(jìn)行切分(平行于厚度方向Z)而得到的子臺(tái)階結(jié)構(gòu)；二是通過(guò)串聯(lián)疊加在一起而形成一個(gè)臺(tái)階系統(tǒng)的多個(gè)臺(tái)階結(jié)構(gòu)3中的每一個(gè)。射線要穿過(guò)一個(gè)包含多個(gè)準(zhǔn)直層的臺(tái)階結(jié)構(gòu)3，須同時(shí)穿過(guò)每一個(gè)準(zhǔn)直層。
[0047]基于本發(fā)明第二實(shí)施例的思想，本發(fā)明的第二實(shí)施例中所述的臺(tái)階結(jié)構(gòu)3還有一種變形結(jié)構(gòu):所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3的上端面相對(duì)所述長(zhǎng)度方向X傾斜，所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3的下端面平行于所述長(zhǎng)度方向X，若干所述準(zhǔn)直孔2貫穿對(duì)應(yīng)的所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3的上端面和下端面，如此，每一所述臺(tái)階結(jié)構(gòu)3沿所述長(zhǎng)度方向X具有不等的厚度，使位于該臺(tái)階結(jié)構(gòu)3上的若干所述準(zhǔn)直孔2具有不同的孔深。當(dāng)然在其它實(shí)施例中，所述上端面還可以為弧形或波浪形。
[0048]在所述掃描設(shè)備中，所述探測(cè)裝置安裝于所述機(jī)架，所述機(jī)架可以帶動(dòng)所述探測(cè)裝置相對(duì)被檢測(cè)體運(yùn)動(dòng)，從而使所述探測(cè)裝置從多個(gè)角度探測(cè)到由所述被檢測(cè)體發(fā)出的伽馬射線，在所述探測(cè)裝置中，所述準(zhǔn)直器I的位置可以相對(duì)所述檢測(cè)裝置調(diào)整變動(dòng)，或者所述檢測(cè)裝置的位置可以相對(duì)所述準(zhǔn)直器I調(diào)整變動(dòng)，使所述檢測(cè)裝置與所述準(zhǔn)直器I上符合需求的孔深區(qū)對(duì)應(yīng)，即通過(guò)移動(dòng)所述準(zhǔn)直器I或者所述檢測(cè)裝置來(lái)選擇適當(dāng)?shù)姆直媛屎挽`敏度。
[0049]相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明具有以下有益效果:
[0050](I)在所述準(zhǔn)直孔2的形狀、尺寸以及在所述準(zhǔn)直器I的材質(zhì)和加工精度等不變的情況下，所述準(zhǔn)直孔2的孔深的變化對(duì)所述準(zhǔn)直器I的空間分辨率和靈敏度具有很大的影響:孔深較深的所述準(zhǔn)直孔2可以使所述準(zhǔn)直器I具有較大的空間分辨率，孔深較淺的所述準(zhǔn)直孔2可以使所述準(zhǔn)直器I具有較大的靈敏度。而本發(fā)明提供的所述準(zhǔn)直器I沿所述長(zhǎng)度方向X具有不等的厚度，使沿所述長(zhǎng)度方向X分布并設(shè)于所述準(zhǔn)直器I的若干所述準(zhǔn)直孔2具有不同的孔深。在使用過(guò)程中，可通過(guò)選擇使用所述準(zhǔn)直器I上所述準(zhǔn)直孔2孔深不同的區(qū)域，來(lái)滿足不同的性能需求。這一過(guò)程無(wú)需卸載舊的準(zhǔn)直器、安裝新的準(zhǔn)直器，使用更方便，同時(shí)也解決了在更換準(zhǔn)直器過(guò)程中對(duì)準(zhǔn)直器或者其他設(shè)備損壞的問(wèn)題。
[0051](2)本發(fā)明提供的所述準(zhǔn)直器I因具有不等的厚度，進(jìn)而使貫穿所述準(zhǔn)直器I的若干所述準(zhǔn)直孔2具有不等的孔深，進(jìn)而使本發(fā)明提供的所述準(zhǔn)直器I因孔深的不同而具有多種不同的性能，在多性能使用需求的臨床操作中，不需要其它性能的備用準(zhǔn)直器。
[0052]上述說(shuō)明是針對(duì)本發(fā)明較佳的實(shí)施例的詳細(xì)說(shuō)明，但上述實(shí)施例并非用以限定本發(fā)明的專利申請(qǐng)范圍，凡在本發(fā)明所揭示的技術(shù)精神下所完成的同等變化或修飾變更，均屬于本發(fā)明所涵蓋的專利范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種準(zhǔn)直器，包括若干準(zhǔn)直孔，其特征在于:所述準(zhǔn)直器還包括依次分布于所述準(zhǔn)直器的若干個(gè)工作區(qū)，每一所述工作區(qū)設(shè)有若干個(gè)所述準(zhǔn)直孔，任一所述工作區(qū)中至少有部分區(qū)域具有不同于與之相鄰的另一所述工作區(qū)的厚度，使位于相鄰兩所述工作區(qū)當(dāng)中的至少二所述準(zhǔn)直孔具有不同的孔深。
2.如權(quán)利要求1所述的準(zhǔn)直器，其特征在于:其中一所述工作區(qū)末端的厚度等于與之鄰接的另一所述工作區(qū)起端的厚度。
3.如權(quán)利要求1所述的準(zhǔn)直器，其特征在于:其中一所述工作區(qū)末端的厚度不等于與之相鄰的另一所述工作區(qū)起端的厚度。
4.如權(quán)利要求2或3所述的準(zhǔn)直器，其特征在于:其中一所述工作區(qū)內(nèi)各處具有不盡相等的厚度，使位于該工作區(qū)的若干所述準(zhǔn)直孔中至少有兩個(gè)所述準(zhǔn)直孔具有不同的孔深。
5.如權(quán)利要求2或3所述的準(zhǔn)直器，其特征在于:其中一個(gè)所述工作區(qū)內(nèi)各處具有相等的厚度，使位于該工作區(qū)的若干所述準(zhǔn)直孔中的若干所述準(zhǔn)直孔具有相同的孔深。
6.如權(quán)利要求1所述的準(zhǔn)直器，其特征在于:每一所述工作區(qū)由一準(zhǔn)直層組成，或由若干準(zhǔn)直層堆疊而成。
7.如權(quán)利要求1所述的準(zhǔn)直器，其特征在于:所述準(zhǔn)直器為一體結(jié)構(gòu)。
8.一種探測(cè)裝置，其包括檢測(cè)裝置，其特征在于:所述探測(cè)裝置還包括權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的準(zhǔn)直器，所述準(zhǔn)直器用于對(duì)射線進(jìn)行準(zhǔn)直，并且準(zhǔn)直后的射線將被施加到所述檢測(cè)裝置上。
9.如權(quán)利要求8所述的探測(cè)裝置，其特征在于:所述準(zhǔn)直器的位置相對(duì)所述檢測(cè)裝置是可以調(diào)整變動(dòng)的。
10.—種掃描設(shè)備，其包括探測(cè)裝置和機(jī)架，所述探測(cè)裝置安裝于所述機(jī)架，其特征在于:所述探測(cè)裝置包括權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的準(zhǔn)直器，所述準(zhǔn)直器用于對(duì)射線進(jìn)行準(zhǔn)直。
11.如權(quán)利要求10所述的掃描設(shè)備，其特征在于:所述準(zhǔn)直器的位置相對(duì)檢測(cè)裝置是可以調(diào)整變動(dòng)的。
【專利摘要】本實(shí)用新型提供一種準(zhǔn)直器，以及具有所述準(zhǔn)直器的探測(cè)裝置和掃描設(shè)備，所述準(zhǔn)直器包括若干準(zhǔn)直孔，若干所述準(zhǔn)直孔的孔深不盡相同。在使用過(guò)程中，可通過(guò)選擇使用所述準(zhǔn)直器上所述準(zhǔn)直孔深度不同的工作區(qū)，獲得不同的分辨率和靈敏度，來(lái)滿足對(duì)準(zhǔn)直器不同的性能需求。這一過(guò)程無(wú)需卸載舊的準(zhǔn)直器、安裝新的準(zhǔn)直器，使用更方便。
【IPC分類】A61B6-03, G21K1-02
【公開(kāi)號(hào)】CN204500744
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201420743868
【發(fā)明人】李延召
【申請(qǐng)人】武漢知微科技有限公司
【公開(kāi)日】2015年7月29日
【申請(qǐng)日】2014年12月2日