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      一種帶有表面刻度的平板探測(cè)器的制造方法_2

      文檔序號(hào):10121370閱讀:來(lái)源:國(guó)知局
      ,不以本實(shí)施例為限。通過(guò)軟件的參數(shù)配置修改軟件的采集功能就可以完成所述局部采集區(qū)域11內(nèi)的圖像矩陣數(shù)據(jù)采集,實(shí)現(xiàn)非全屏圖像數(shù)據(jù)采集。
      [0033]如圖1?圖2所示,所述正面刻度12包括位于所述局部采集區(qū)域11外側(cè)且相互垂直的第一刻度121及第二刻度122。在本實(shí)施例中,所述第一刻度121及所述第二刻度122標(biāo)記于所述局部采集區(qū)域11的矩形邊界上。如圖2所示,在本實(shí)施例中,所述第一刻度121標(biāo)記于與Y軸平行的左、右兩側(cè)邊界上,也可以只標(biāo)記于其中一側(cè)的邊界上,不以本實(shí)施例為限。所述第一刻度121的零點(diǎn)為其所在一側(cè)邊界的中點(diǎn),對(duì)應(yīng)于所述局部采集區(qū)域11的中心,在本實(shí)施例中,零點(diǎn)以三角符號(hào)標(biāo)記。所述第一刻度121的零點(diǎn)的兩側(cè)分別標(biāo)有正刻度和負(fù)刻度,正刻度和負(fù)刻度對(duì)稱分布,且精度由零點(diǎn)向兩側(cè)逐漸減小。如圖2所示,在本實(shí)施例中,所述第二刻度122標(biāo)記于與X軸平行的上、下兩側(cè)邊界上,也可以只標(biāo)記于其中一側(cè)的邊界上,不以本實(shí)施例為限。所述第二刻度122的零點(diǎn)為其所在一側(cè)邊界的中點(diǎn),對(duì)應(yīng)于所述局部采集區(qū)域11的中心,在本實(shí)施例中,零點(diǎn)以三角符號(hào)標(biāo)記。在本實(shí)施例中,為了精簡(jiǎn)刻度,所述第二刻度122僅標(biāo)記零點(diǎn),當(dāng)需要進(jìn)行正面精確擺位時(shí),以所述第一刻度121作為參考標(biāo)準(zhǔn)。所述第二刻度122也可以標(biāo)記正刻度和負(fù)刻度,不以本實(shí)施例為限。在使用時(shí),將待檢測(cè)物放置于所述探測(cè)面板上,從所述平板探測(cè)器的正上方觀察待檢測(cè)物,并以所述第一刻度121為基準(zhǔn)對(duì)待檢測(cè)物進(jìn)行精確擺位。
      [0034]如圖1所示,所述側(cè)邊刻度13包括位于所述平板探測(cè)器兩相鄰側(cè)邊的第三刻度131及第四刻度132。在本實(shí)施例中,所述側(cè)邊刻度13與所述正面刻度12對(duì)應(yīng)。左側(cè)邊、右側(cè)邊上的刻度為第三刻度131,如圖3所示為所述第三刻度131的局部放大圖,所述第三刻度131的零點(diǎn)對(duì)應(yīng)于所述局部采集區(qū)域11的中心,所述第三刻度131的零點(diǎn)的兩側(cè)分別標(biāo)有正刻度和負(fù)刻度,正刻度和負(fù)刻度對(duì)稱分布,且精度由零點(diǎn)向兩側(cè)逐漸減小,且標(biāo)記有讀數(shù);上側(cè)邊、下側(cè)邊上的刻度為第四刻度132,如圖4所示為所述第四刻度132的局部放大圖,所述第四刻度132的零點(diǎn)對(duì)應(yīng)于所述局部采集區(qū)域11的中心,同樣為了精簡(jiǎn)刻度,所述第四刻度132僅標(biāo)記零點(diǎn),當(dāng)需要進(jìn)行側(cè)面精確擺位時(shí),以所述第三刻度131作為參考標(biāo)準(zhǔn)。所述第四刻度132也可以標(biāo)記正刻度和負(fù)刻度,不以本實(shí)施例為限。所述側(cè)邊刻度13可以印刷于各側(cè)邊表面,也可以刻蝕于各側(cè)邊表面,在本實(shí)施例中,為了防止磨損,所述側(cè)邊刻度13為設(shè)置于所述平板探測(cè)器側(cè)邊的凹槽。在使用時(shí),將待檢測(cè)物放置于所述探測(cè)面板上,從所述平板探測(cè)器的側(cè)面觀察待檢測(cè)物,并以所述第三刻度111為基準(zhǔn)對(duì)待檢測(cè)物進(jìn)行精確擺位。
      [0035]本實(shí)用新型的帶有表面刻度的平板探測(cè)器通過(guò)增加局部采集區(qū)域及其正面刻度和側(cè)邊刻度,實(shí)現(xiàn)從待檢測(cè)物的正面和側(cè)面對(duì)局部圖像采集進(jìn)行精確定位,提高了平板探測(cè)器的局部圖像采集質(zhì)量和檢測(cè)的靈活性。
      [0036]綜上所述,本實(shí)用新型提供一種帶有表面刻度的平板探測(cè)器,包括:一平板探測(cè)器,所述平板探測(cè)器的探測(cè)面板上設(shè)置有局部采集區(qū)域,所述探測(cè)面板上設(shè)置有與所述局部采集區(qū)域?qū)?yīng)的正面刻度,所述平板探測(cè)器的側(cè)邊上設(shè)置有與所述局部采集區(qū)域?qū)?yīng)的側(cè)邊刻度。本實(shí)用新型的帶有表面刻度的平板探測(cè)器通過(guò)增加局部采集區(qū)域及其正面刻度和側(cè)邊刻度,實(shí)現(xiàn)從待檢測(cè)物的正面和側(cè)面對(duì)局部圖像采集進(jìn)行精確定位,提高了平板探測(cè)器的局部圖像采集質(zhì)量和檢測(cè)的靈活性。所以,本實(shí)用新型有效克服了現(xiàn)有技術(shù)中的種種缺點(diǎn)而具高度產(chǎn)業(yè)利用價(jià)值。
      [0037]上述實(shí)施例僅例示性說(shuō)明本實(shí)用新型的原理及其功效,而非用于限制本實(shí)用新型。任何熟悉此技術(shù)的人士皆可在不違背本實(shí)用新型的精神及范疇下,對(duì)上述實(shí)施例進(jìn)行修飾或改變。因此,舉凡所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者在未脫離本實(shí)用新型所揭示的精神與技術(shù)思想下所完成的一切等效修飾或改變,仍應(yīng)由本實(shí)用新型的權(quán)利要求所涵蓋。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1.一種帶有表面刻度的平板探測(cè)器,其特征在于,所述帶有表面刻度的平板探測(cè)器至少包括: 一平板探測(cè)器,所述平板探測(cè)器的探測(cè)面板上設(shè)置有局部采集區(qū)域,所述探測(cè)面板上設(shè)置有與所述局部采集區(qū)域?qū)?yīng)的正面刻度,所述平板探測(cè)器的側(cè)邊上設(shè)置有與所述局部采集區(qū)域?qū)?yīng)的側(cè)邊刻度。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶有表面刻度的平板探測(cè)器,其特征在于:所述正面刻度包括位于所述局部采集區(qū)域外側(cè)且相互垂直的第一刻度及第二刻度,其中,所述第一刻度的零點(diǎn)對(duì)應(yīng)于所述局部采集區(qū)域的中心,所述第一刻度的零點(diǎn)的兩側(cè)分別標(biāo)有正刻度和負(fù)刻度,所述第二刻度的零點(diǎn)對(duì)應(yīng)于所述局部采集區(qū)域的中心。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的帶有表面刻度的平板探測(cè)器,其特征在于:所述第一刻度的精度由零點(diǎn)向兩側(cè)逐漸減小。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶有表面刻度的平板探測(cè)器,其特征在于:所述側(cè)邊刻度包括位于所述平板探測(cè)器兩相鄰側(cè)邊的第三刻度及第四刻度,其中,所述第三刻度的零點(diǎn)對(duì)應(yīng)于所述局部采集區(qū)域的中心,所述第三刻度的零點(diǎn)的兩側(cè)分別標(biāo)有正刻度和負(fù)刻度,所述第四刻度的零點(diǎn)對(duì)應(yīng)于所述局部采集區(qū)域的中心。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的帶有表面刻度的平板探測(cè)器,其特征在于:所述第三刻度的精度由零點(diǎn)向兩側(cè)逐漸減小。6.根據(jù)權(quán)利要求1或4或5所述的帶有表面刻度的平板探測(cè)器,其特征在于:所述側(cè)邊刻度為設(shè)置于所述平板探測(cè)器的側(cè)邊的凹槽。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶有表面刻度的平板探測(cè)器,其特征在于:所述側(cè)邊刻度上標(biāo)記有讀數(shù)。
      【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型提供一種帶有表面刻度的平板探測(cè)器,包括:一平板探測(cè)器,所述平板探測(cè)器的探測(cè)面板上設(shè)置有局部采集區(qū)域,所述探測(cè)面板上設(shè)置有與所述局部采集區(qū)域?qū)?yīng)的正面刻度,所述平板探測(cè)器的側(cè)邊上設(shè)置有與所述局部采集區(qū)域?qū)?yīng)的側(cè)邊刻度。本實(shí)用新型的帶有表面刻度的平板探測(cè)器通過(guò)增加局部采集區(qū)域及其正面刻度和側(cè)邊刻度實(shí)現(xiàn)從待檢測(cè)物的正面和側(cè)面對(duì)局部圖像采集進(jìn)行精確定位,提高了平板探測(cè)器的局部圖像采集質(zhì)量和檢測(cè)的靈活性。
      【IPC分類(lèi)】G01T1/16, A61B6/00
      【公開(kāi)號(hào)】CN205031276
      【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520727167
      【發(fā)明人】王杰杰, 于祥國(guó)
      【申請(qǐng)人】上海奕瑞光電子科技有限公司
      【公開(kāi)日】2016年2月17日
      【申請(qǐng)日】2015年9月18日
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