一種烹飪器具及其控制方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電器領(lǐng)域，具體地，涉及一種烹飪器具及其控制方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，大多數(shù)的加熱類烹飪器具，如純蒸爐、烤箱等，其控制方式基本上都是檢測腔體溫度并在腔體溫度達到目標腔體溫度值時將發(fā)熱器件斷開。這種溫度控制方式比較粗糙，而且最大的問題是，在烹飪器具運行之后，在腔體溫度上升階段，所控制的腔體溫度實際上會高于目標腔體溫度值非常大的幅值(如圖1所示)，在最差的情況下，實際的最大正向溫漂會達到將近80°C，也即，在腔體溫度上升階段，腔體最終能達到的溫度有可能比目標腔體溫度值高出將近80°C。盡管該正向溫漂的持續(xù)時間不是太長，但是對于烹飪的食物來說，這種過高的正向溫漂會導(dǎo)致如下兩個問題:
[0003](I)太高的腔體溫度(比如高于250°C )會使得食物水分快速蒸發(fā)，而且在該過高腔體溫度持續(xù)期間甚至?xí)焖俚禺a(chǎn)生大量無益的致癌物質(zhì)；
[0004](2)在腔體溫度達到平衡之后，也即在腔體溫度平衡階段，由于腔體溫度上升階段腔體溫度的波動，會導(dǎo)致腔體平衡階段實際的平均腔體溫度可能早就偏離了用戶設(shè)定的理想溫度(也即目標腔體溫度值)，而且偏離幅度甚至可能會接近20°C，這進而導(dǎo)致烹飪效果大打折扣。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的是提供一種烹飪器具及其控制方法，該烹飪器具及其控制方法能夠在烹飪器具的烹飪腔體溫升階段期間極大地抑制烹飪腔體溫度的正向溫漂。
[0006]為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種烹飪器具，該烹飪器具包括烹飪參數(shù)檢測裝置、加熱裝置和控制器，所述烹飪參數(shù)檢測裝置用于檢測所述烹飪器具的腔體烹飪參數(shù)，以及所述控制器用于在所檢測的腔體烹飪參數(shù)值小于目標腔體烹飪參數(shù)值的情況下，依據(jù)所述目標腔體烹飪參數(shù)值和所檢測的腔體烹飪參數(shù)值來控制所述加熱裝置的加熱方式。
[0007]本發(fā)明還提供一種烹飪器具的控制方法，該控制方法包括:檢測烹飪器具的腔體烹飪參數(shù)；以及在所檢測的腔體烹飪參數(shù)值小于目標腔體烹飪參數(shù)值的情況下，依據(jù)所述目標腔體烹飪參數(shù)值和所檢測的腔體烹飪參數(shù)值來控制所述烹飪器具的加熱裝置的加熱方式。
[0008]本發(fā)明的上述技術(shù)方案是在所檢測的腔體烹飪參數(shù)值小于目標腔體烹飪參數(shù)值的情況下，也即在烹飪器具的烹飪腔體溫升階段期間，依據(jù)目標腔體烹飪參數(shù)值和所檢測的腔體烹飪參數(shù)值來控制加熱裝置的加熱方式，而不是像現(xiàn)有技術(shù)那樣簡單地判斷腔體烹飪參數(shù)是否達到目標腔體烹飪參數(shù)并在腔體烹飪參數(shù)達到目標腔體烹飪參數(shù)時粗糙地斷開加熱裝置的加熱。這樣，就能夠在烹飪腔體溫升階段期間很好地控制烹飪腔體溫度的圓滑上升，極大地抑制了烹飪腔體溫升階段期間的過大正向溫漂的問題，使得烹飪出來的食物更安全、健康和美味。
[0009]本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點將在隨后的【具體實施方式】部分予以詳細說明。
【附圖說明】
[0010]附圖是用來提供對本發(fā)明的進一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與下面的【具體實施方式】一起用于解釋本發(fā)明，但并不構(gòu)成對本發(fā)明的限制。在附圖中:
[0011]圖1是現(xiàn)有烹飪器具的腔體溫度隨時間的變化曲線；
[0012]圖2是根據(jù)本發(fā)明一種實施方式的烹飪器具的示意框圖；
[0013]圖3是根據(jù)本發(fā)明一種實施方式的烹飪器具的另一示意框圖；
[0014]圖4是根據(jù)本發(fā)明一種實施方式的蒸汽加熱類烹飪器具的示意結(jié)構(gòu)圖；
[0015]圖5是根據(jù)本發(fā)明一種實施方式的烹飪器具的控制時序圖；
[0016]圖6是根據(jù)本發(fā)明一種實施方式的烹飪器具的控制方法的流程圖；以及
[0017]圖7是根據(jù)本發(fā)明一種實施方式的烹飪器具的控制方法的另一流程圖。
【具體實施方式】
[0018]以下結(jié)合附圖對本發(fā)明的【具體實施方式】進行詳細說明。應(yīng)當理解的是，此處所描述的【具體實施方式】僅用于說明和解釋本發(fā)明，并不用于限制本發(fā)明。
[0019]如圖2所示，根據(jù)本發(fā)明一種實施方式的烹飪器具包括烹飪參數(shù)檢測裝置10、加熱裝置20和控制器30，烹飪參數(shù)檢測裝置10用于檢測烹飪器具的腔體烹飪參數(shù)，以及控制器30用于在所檢測的腔體烹飪參數(shù)值小于目標腔體烹飪參數(shù)值的情況下，依據(jù)所述目標腔體烹飪參數(shù)值和所檢測的腔體烹飪參數(shù)值來控制加熱裝置20的加熱方式。這樣，在烹飪器具的烹飪腔體溫升階段期間，加熱裝置20就能夠在控制器30的控制下對烹飪腔體內(nèi)的食材進行加熱，以使得腔體烹飪參數(shù)圓滑地上升到目標腔體烹飪參數(shù)。
[0020]其中，目標腔體烹飪參數(shù)值可以是用戶針對所烹飪的食品而設(shè)置的期望烹飪參數(shù)值，也可以是針對烹飪器具的內(nèi)置菜譜而預(yù)先設(shè)置在烹飪器具中的期望烹飪參數(shù)值。
[0021]優(yōu)選地，所述腔體烹飪參數(shù)可以包括腔體溫度、腔體濕度、食材重量和腔體磁場能量密度中的至少一者。在目前的烹飪器具中，最常采用的腔體烹飪參數(shù)是腔體溫度。
[0022]優(yōu)選地，所述加熱方式可以包括加熱火力、加熱時間和加熱通斷占空比中的至少一者。例如，對于采用電磁輻射來加熱的烹飪器具，加熱火力可以通過調(diào)整電磁輻射的強度來調(diào)整；對于采用電阻絲來加熱的烹飪器具，加熱火力可以通過調(diào)整電阻絲的供電電壓、供電電流等來調(diào)整。加熱通斷占空比指的是，在加熱裝置20周期性加熱的情況下，一個加熱周期內(nèi)加熱裝置20的加熱時間所占的時間比率。
[0023]優(yōu)選地，控制器30可以通過采用以下方式來依據(jù)目標腔體烹飪參數(shù)值和所檢測的腔體烹飪參數(shù)值來控制加熱裝置20的加熱方式，S卩:對目標腔體烹飪參數(shù)值和所檢測的腔體烹飪參數(shù)值進行運算，并依據(jù)運算結(jié)果來控制加熱裝置20的加熱方式。這里的運算可以包括簡單的乘除法運算，也可以包括多次乘除法(如冪次、開方等)運算以及其他的運算方式，但是為了增加控制器30的控制精度，優(yōu)選采用簡單乘除法浮點運算。
[0024]通常來說，控制器30，例如單片機或其他類型的處理單元，都可以集成運算能力，例如浮點運算(通常把乘法、除法等運算歸為浮點運算)。一些較為低端的4位或8位單片機，其浮點運算所花費的時間大概為普通加減法運算所花費時間的幾倍到幾十倍之間。因此，在本發(fā)明中，若控制器30采用的運算方式是浮點運算，則優(yōu)選使得控制器30所采用的浮點運算過程不是太過復(fù)雜，例如，盡可能采用只有乘除法的方式進行浮點運算，避免采用多次乘除法(如冪次、開方等)等導(dǎo)致浮點運算過程過慢的浮點運算，以減少對控制器30的控制精度和速度的影響，并使得根據(jù)本發(fā)明的烹飪器具具有高的性價比。但是，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當理解的是，控制器30也可以采用成本較高的有專門浮點運算模塊的芯片來實現(xiàn)。
[0025]以腔體烹飪參數(shù)為腔體溫度、目標腔體烹飪參數(shù)值為目標腔體溫度值為例，在所檢測的腔體溫度值小于目標腔體溫度值的情況下，控制器30可以采用以下運算公式對目標腔體溫度值和所檢測的腔體溫度值進行運算，并依據(jù)運算結(jié)果來控制加熱裝置20的導(dǎo)通時間和斷開時間:
[0026]t加熱裝置導(dǎo)通時間
[0027]= K設(shè)定比例系數(shù)X T目標腔體溫度一K腔溫比例系數(shù)X T所檢測的腔體溫度(I)
[0028]t加熱裝置斷開時間
[0029]=〖腔溫比例系數(shù)XT所檢測的腔體溫度 (2)
[0030]其中，T目標腔體g度為目標腔體溫度值；T所檢測度為烹任參數(shù)檢測裝置10所檢測的腔體溫度值為轉(zhuǎn)換系數(shù)，用于將目標腔體溫度值轉(zhuǎn)換成加熱裝置20的通斷周期比例系數(shù)為轉(zhuǎn)換系數(shù)，用于將所檢測的腔體溫度值轉(zhuǎn)換成加熱裝置20需要調(diào)整的導(dǎo)通時間量。例如，在％磯__為正數(shù)的情況下，其用于表示將所檢測的腔體溫度值轉(zhuǎn)換成加熱裝置20需要減小的導(dǎo)通時間量。這樣，加熱裝置20就能夠以斷續(xù)加熱的方式進行加熱，而不是在腔體溫度達到目標腔體溫度值之前一直以最大功率加熱，從而能夠使得腔體溫度圓滑地上升到目標腔體溫度值。
[0031 ] 在根據(jù)本發(fā)明的進一步優(yōu)選實施方式中，根據(jù)本發(fā)明的烹飪器具還可以包括檢測加熱裝置20的溫度的加熱裝置溫度檢測裝置40，控制器30還可以采用以下運算公式對目標腔體溫度值、所檢測的腔體溫度值和所檢測的加熱裝置溫度值進行運算，并依據(jù)運算結(jié)果來控制加熱裝置20的導(dǎo)通時間和斷開時間:
[0032]t加熱裝置導(dǎo)通時間
[00G3]= K設(shè)定比例系數(shù)X T目標腔體溫度—K腔溫比例系數(shù)X T所檢測的腔體溫度_
[0034]K加熱裝置溫度比例系數(shù)X (τ所檢測的加熱裝置溫度_仄加熱裝置溫度設(shè)定系數(shù))X S烹飪階段(3)
[0035]t加熱裝置斷開時間
[0036]=〖腔溫比例系數(shù)XT所檢測的腔體溫度+(4)
[0037]K加熱裝置溫度比例系數(shù)X (T所檢測的加熱裝置溫度—K加熱裝置溫度設(shè)定系數(shù))X S烹飪階段
[0038]其中，T所檢測_熱裝置溫度為加熱裝置溫度檢測裝置40所檢測的加熱裝置溫度；K加熱裝M為轉(zhuǎn)換系數(shù)，用于將所檢測的加熱裝置溫度轉(zhuǎn)換成加熱裝置20需要調(diào)整的導(dǎo)通時間量，例如，當KipasasstwiIsi為正數(shù)時，其用于表示將所檢測的加熱裝置溫度轉(zhuǎn)換成加熱裝置20需要減小的導(dǎo)通時間星個溫度值為條件系數(shù)，當所檢測的腔體溫度值小于所述目標腔體溫度值，即當烹飪器具處于烹飪腔體溫升階段時，Swag= O，在所檢測的腔體溫度值達到目標腔體溫度值之后，= 1
[0039]通過采用該優(yōu)選實施方式，既能夠在烹飪器具的烹飪腔體溫升階段期間，使加熱裝置20以斷續(xù)加熱的方式進行加熱，從而使得腔體溫度能夠圓滑地上升到目標腔體溫度值并很好地抑制溫度上沖(也即正向溫漂)的問題，又能夠在所檢測的腔體溫度值達到目標腔體溫度值之后，也即在烹飪器具進入腔溫平衡階段之后，通過公式⑶和⑷中的ΚΛ
熱