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      內(nèi)部顯示器端口接口測試方法和設(shè)備的制作方法

      文檔序號(hào):2584283閱讀:349來源:國知局
      專利名稱:內(nèi)部顯示器端口接口測試方法和設(shè)備的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本申請(qǐng)涉及內(nèi)部顯示器端口(iDP)接口測試方法和設(shè)備,更具體地涉及用于在 iDP接口內(nèi)測試吸收(sink)設(shè)備的方法和設(shè)備。
      背景技術(shù)
      由于諸如重量輕、纖薄外觀和低功耗驅(qū)動(dòng)等特征,液晶顯示器不斷地?cái)U(kuò)大其應(yīng)用范圍。液晶顯示器被用作諸如筆記本PC等便攜式計(jì)算機(jī)、辦公自動(dòng)化設(shè)備、音頻/視頻設(shè)備、室內(nèi)和室外廣告顯示設(shè)備等等。液晶顯示器控制施加給液晶單元的電場從而調(diào)制自背光單元提供的光,從而顯示圖像。為了滿足用戶對(duì)于高分辨率顯示性能的需求,液晶顯示器已經(jīng)逐漸地實(shí)現(xiàn)了用于視頻數(shù)據(jù)的在高信道傳輸帶寬和高幀刷新率上的高圖像質(zhì)量圖像。當(dāng)前,在電視機(jī)系統(tǒng)內(nèi), 在生成將要在液晶顯示面板上顯示的視頻數(shù)據(jù)的片上系統(tǒng)(“S0C”)和控制液晶顯示面板的驅(qū)動(dòng)電路的操作定時(shí)的定時(shí)控制器之間的視頻數(shù)據(jù)傳輸使用了 LVDS (低壓差分信號(hào))接口。LVDS接口的優(yōu)點(diǎn)在于由于使用低壓擺動(dòng)電平和差分信號(hào)對(duì),它具有低功耗并較少受到外部噪聲的影響,但是由于數(shù)據(jù)傳輸率的限制,不適用于傳輸高分辨率的視頻數(shù)據(jù)。DP(顯示器端口)接口是由視頻電子標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)(VESA)規(guī)定的接口,并且是將作為現(xiàn)有內(nèi)部接口標(biāo)準(zhǔn)的LVDS和作為外部連接標(biāo)準(zhǔn)的DVI (數(shù)字可視接口)合二為一的接口方案。DP接口是不僅能進(jìn)行芯片之間的內(nèi)部連接而且能以數(shù)字的方式進(jìn)行產(chǎn)品之間的外部連接的技術(shù)。因?yàn)閷蓚€(gè)分離的接口集成為一體,因而通過加寬數(shù)據(jù)帶寬可以支持更高的顏色深度和分辨率。DP接口具有最高10. SGbps的帶寬,其是現(xiàn)有DVI (最高4. 95Gbps)的兩倍或更高,并且通過使用微分組結(jié)構(gòu)支持多流,能夠通過一條連接同時(shí)傳輸最高IOSOi (三個(gè)1080p)的六個(gè)流。此外,DP接口安裝IMbps帶寬的雙向輔助信道,因而可以同時(shí)支持諸如屏幕聊天和網(wǎng)際電話(VoIP)的應(yīng)用。圖1圖示用于由DP接口標(biāo)準(zhǔn)表示的吸收抖動(dòng)容限測試的電路配置。參見圖1,DP接口測試設(shè)備包括壓力信號(hào)生成器(SSG)51、時(shí)鐘模式生成器52、輔助信道控制器53和測試固定裝置54。接收側(cè)DP吸收設(shè)備55是所要測試的元件,并用作在DP接口內(nèi)的接收電路。壓力信號(hào)生成器51、時(shí)鐘模式生成器52和輔助信道控制器53連接至測試固定裝置54的通路輸入端和輔助輸入端。測試固定裝置54通過測試連接器連接至接收側(cè)DP吸收設(shè)備(55),還通過另一測試連接器連接至壓力信號(hào)生成器51、時(shí)鐘模式生成器52和輔助信道控制器53。通過連接至這兩個(gè)連接器的負(fù)載阻抗匹配,測試固定裝置54在沒有頻率損失的情況下中繼信號(hào)傳輸。 除了連接至主鏈路通路的端子和輔助信道端之外,測試固定裝置54還包括HPD (熱插檢測)端。在用于DP接口的測試方法中,HPD使得能夠獲知在測試固定裝置M和接收側(cè)DP吸收設(shè)備陽之間的連接狀態(tài)。壓力信號(hào)生成器51輸出包括符號(hào)間干擾(ISI)、隨機(jī)抖動(dòng)(RJ)和正弦抖動(dòng)(SJ) 等的測試數(shù)據(jù)。自壓力信號(hào)生成器51輸出的測試數(shù)據(jù)是具有正負(fù)信號(hào)的差分信號(hào)對(duì),并通過分別由一對(duì)信號(hào)線形成的主鏈路通道發(fā)送給測試固定裝置M。時(shí)鐘模式生成器52生成在DP接口標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)定義的D24. 3(方形時(shí)鐘模式)時(shí)鐘信號(hào),從而反映影響傳輸線路的串?dāng)_分量。D24. 3時(shí)鐘信號(hào)模式是諸如11001100等的時(shí)鐘模式。通過用來傳輸測試數(shù)據(jù)的每一主鏈路通路中的兩個(gè)通路,來傳輸自時(shí)鐘模式生成器52 輸出的時(shí)鐘信號(hào)。測試者通過在每次執(zhí)行測試時(shí)使用輔助信道設(shè)置DPCD(顯示器端口配置數(shù)據(jù))的 LINK_BW_SET (地址0x100),來設(shè)置作為傳輸速率的1. 62Gbps和2. 70Gbps的一個(gè)鏈路速率,并且以相同的方式,通過設(shè)置LANE_C0UNT_SET(地址0x101)設(shè)置所要測試的通路。典型地,將吸收設(shè)備壓力測試分類成鏈路時(shí)鐘鎖定測試、符號(hào)鎖定測試、PRBS (偽隨機(jī)比特序列)計(jì)數(shù)器測試和BER (誤比特率)測試。在鏈路時(shí)鐘鎖定測試中,壓力信號(hào)生成器51發(fā)送測試數(shù)據(jù),其中將抖動(dòng)插入到在 DP接口標(biāo)準(zhǔn)中定義的D10. 2模式內(nèi)。接收側(cè)DP吸收設(shè)備55將當(dāng)恢復(fù)其中插入有抖動(dòng)的 D10. 2模式時(shí)生成的恢復(fù)錯(cuò)誤數(shù)量存儲(chǔ)在內(nèi)部DPCD寄存器的指定字段內(nèi)。測試者通過輔助信道控制器53請(qǐng)求鏈路時(shí)鐘鎖定測試的恢復(fù)錯(cuò)誤數(shù)量,監(jiān)視自接收側(cè)DP吸收設(shè)備55發(fā)送的鏈路時(shí)鐘鎖定測試的恢復(fù)錯(cuò)誤數(shù)量,因而可以檢查接收側(cè)DP吸收設(shè)備55恢復(fù)測試數(shù)據(jù)的情況。在符號(hào)鎖定測試中,壓力信號(hào)生成器51發(fā)送其中插入抖動(dòng)的符號(hào)鎖定模式,接收側(cè)DP吸收設(shè)備55將當(dāng)恢復(fù)其中插入抖動(dòng)的該符號(hào)鎖定模式時(shí)生成的恢復(fù)錯(cuò)誤量存儲(chǔ)在內(nèi)部DPCD寄存器的指定字段內(nèi)。測試者通過輔助信道控制器53請(qǐng)求用于符號(hào)鎖定測試的恢復(fù)錯(cuò)誤量,監(jiān)視自接收側(cè)DP吸收設(shè)備55發(fā)送的用于符號(hào)鎖定測試的恢復(fù)錯(cuò)誤量,從而可以檢查接收側(cè)DP吸收設(shè)備55恢復(fù)測試數(shù)據(jù)的情況。如果通過主鏈路通路的鏈路訓(xùn)練滿足用于通過鏈路時(shí)鐘鎖定測試和符號(hào)鎖定測試的條件,則壓力信號(hào)生成器51將測試數(shù)據(jù)模式改變成PRBS7模式,該P(yáng)RBS7模式是在其中插入錯(cuò)誤之后按照相對(duì)于該模式定義的數(shù)量而發(fā)送的。接收側(cè)DP吸收設(shè)備55對(duì)在所接收的PRBS7模式內(nèi)的錯(cuò)誤進(jìn)行計(jì)數(shù),將其結(jié)果存儲(chǔ)在內(nèi)部DPCD寄存器的指定字段內(nèi)。測試者通過輔助信道控制器53請(qǐng)求錯(cuò)誤計(jì)數(shù)結(jié)果,監(jiān)視自接收側(cè)DP吸收設(shè)備55發(fā)送的錯(cuò)誤計(jì)數(shù)結(jié)果,從而可以檢查接收側(cè)DP吸收設(shè)備55的錯(cuò)誤計(jì)數(shù)器是否正常工作。如上所述,當(dāng)驗(yàn)證了接收側(cè)DP吸收設(shè)備55的全部功能時(shí),壓力信號(hào)生成器51在給定時(shí)間內(nèi)發(fā)送其中插入抖動(dòng)的PRBS7模式,并且如果在給定時(shí)間內(nèi)由接收側(cè)DP吸收設(shè)備 55檢測到的BER等于或小于1E-9錯(cuò)誤/秒,則接收側(cè)DP吸收設(shè)備55可以通過測試。該DP接口測試方法需要輔助信道AUX,還需要在接收側(cè)DP吸收設(shè)備55內(nèi)部的 DP⑶寄存器。此外,除了用于發(fā)送數(shù)據(jù)的主鏈路通路之外,該DP接口測試方法需要用于發(fā)送輔助信道的分別通路,并需要DP⑶寄存器和處理該寄存器的邏輯。此外,DP接口還通過輔助信道通信執(zhí)行讀寫,并需要用于檢查它的接口軟件。因此,用于實(shí)現(xiàn)該DP接口測試方法的成本很高。
      近年來,VESA已經(jīng)定義了 iDP接口標(biāo)準(zhǔn)。iDP接口已經(jīng)基于現(xiàn)有的DP接口被優(yōu)化為在片上系統(tǒng)(SoC)和顯示設(shè)備的定時(shí)控制器之間的接口。iDP接口支持用于發(fā)送差分信號(hào)對(duì)的通路的3. 24Gbps的串行數(shù)據(jù)鏈路速率,因而可以以低通路計(jì)數(shù)來發(fā)送高色彩深度、 分辨率和幀刷新率的視頻數(shù)據(jù)。iDP接口并不以與DP接口相同的方式分別地使用時(shí)鐘傳輸線路,因而需要接收電路Rx執(zhí)行用于恢復(fù)時(shí)鐘信號(hào)的CDR(時(shí)鐘和數(shù)據(jù)恢復(fù))處理。另一方面,因?yàn)樵趇DP接口內(nèi)不存在輔助信道AUX,因此不能以與DP接口相同的方式測試接收側(cè)吸收設(shè)備。

      發(fā)明內(nèi)容
      本文獻(xiàn)的實(shí)施例提供適合于測試在iDP接口內(nèi)的接收側(cè)吸收設(shè)備的iDP接口測試方法和設(shè)備。根據(jù)本文獻(xiàn)的實(shí)施例,提供iDP接口測試方法,包括將測試時(shí)鐘發(fā)送給iDP吸收設(shè)備;根據(jù)當(dāng)執(zhí)行用于測試時(shí)鐘的時(shí)鐘鎖定操作時(shí)從iDP吸收設(shè)備輸出的HPD信號(hào)的測量結(jié)果,確定在iDP吸收設(shè)備內(nèi)的鏈路時(shí)鐘鎖定操作是否成功;如果在iDP吸收設(shè)備內(nèi)的鏈路時(shí)鐘鎖定操作是成功的,則將測試數(shù)據(jù)和任意視頻數(shù)據(jù)發(fā)送給iDP吸收設(shè)備;根據(jù)當(dāng)執(zhí)行用于測試數(shù)據(jù)和任意視頻數(shù)據(jù)的符號(hào)鎖定操作時(shí)從iDP吸收設(shè)備輸出的HPD信號(hào)的測量結(jié)果,確定在iDP吸收設(shè)備內(nèi)的符號(hào)鎖定操作是否成功;和在給定時(shí)間內(nèi)計(jì)數(shù)HPD信號(hào)的觸發(fā)數(shù)量,比較該計(jì)數(shù)結(jié)果與預(yù)定參考值,和根據(jù)比較結(jié)果確定iDP吸收設(shè)備的鏈路穩(wěn)定性。根據(jù)本文獻(xiàn)的實(shí)施例,提供iDP接口測試設(shè)備,包括配置以生成測試時(shí)鐘的測試時(shí)鐘生成器;配置以生成測試數(shù)據(jù)和任意視頻數(shù)據(jù)的測試數(shù)據(jù)生成器;iDP吸收設(shè)備,配置以當(dāng)用于測試時(shí)鐘的時(shí)鐘鎖定操作成功時(shí)使HPD信號(hào)具有高邏輯電平,當(dāng)用于測試數(shù)據(jù)和任意視頻數(shù)據(jù)的符號(hào)鎖定操作成功時(shí)將HPD信號(hào)維持在高邏輯電平內(nèi),當(dāng)時(shí)鐘鎖定操作和符號(hào)鎖定失敗時(shí)使HPD信號(hào)具有低邏輯電平;測試固定裝置,配置以連接在測試時(shí)鐘生成器和測試數(shù)據(jù)生成器以及iDP吸收設(shè)備之間,和將測試時(shí)鐘、測試數(shù)據(jù)和任意視頻數(shù)據(jù)發(fā)送給iDP吸收設(shè)備;配置以計(jì)數(shù)HPD信號(hào)的觸發(fā)數(shù)量的計(jì)數(shù)器;和測試確定單元,配置以根據(jù)當(dāng)執(zhí)行測試時(shí)鐘的時(shí)鐘鎖定操作時(shí)生成的HPD信號(hào)的測量結(jié)果,確定在iDP吸收設(shè)備內(nèi)的鏈路時(shí)鐘鎖定操作是否成功;根據(jù)當(dāng)執(zhí)行用于測試數(shù)據(jù)和任意視頻數(shù)據(jù)的符號(hào)鎖定操作時(shí)HPD信號(hào)的測量結(jié)果,確定在iDP吸收設(shè)備內(nèi)的符號(hào)鎖定操作是否成功;和比較計(jì)數(shù)器輸出與預(yù)定參考值,和根據(jù)比較結(jié)果確定iDP吸收設(shè)備的鏈路穩(wěn)定性。


      包括以提供本發(fā)明的進(jìn)一步理解和并入和構(gòu)成本說明書一部分的附示本發(fā)明的實(shí)施例,和說明書一起用于解釋本發(fā)明的原理。在附圖中圖1是圖示DP接口測試設(shè)備的方框圖;圖2圖示根據(jù)本文獻(xiàn)實(shí)施例的iDP發(fā)送電路和iDP接收電路;圖3是圖示通過在iDP接口內(nèi)的主鏈路通路發(fā)送的3. 24Gbps鏈路符號(hào)時(shí)鐘的例子的波形;圖4和圖5是在iDP接口標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)定義的在iDP發(fā)送電路和iDP接收電路之間的操作過程中的定時(shí)邊界的定時(shí)圖6和圖7是圖示根據(jù)本文獻(xiàn)實(shí)施例的iDP接口測試設(shè)備的方框圖;圖8是圖示根據(jù)本文獻(xiàn)實(shí)施例的iDP接口測試方法的流程圖;和圖9是圖示根據(jù)本文獻(xiàn)實(shí)施例的顯示設(shè)備的方框圖。
      具體實(shí)施例方式在下文中,將參考附圖詳細(xì)描述本文獻(xiàn)的實(shí)施例。相同的參考數(shù)字在全文中指示相同的單元。在下文描述中,當(dāng)確定本文獻(xiàn)相關(guān)的公知功能或配置的詳細(xì)描述不必要地模糊本發(fā)明的主旨時(shí),將省略其詳細(xì)描述。參見圖2和圖3,iDP接口包括連接在iDP發(fā)送電路10和iDP接收電路20之間的多個(gè)主鏈路通路31。每條通路31包括用于發(fā)送差分信號(hào)對(duì)的一對(duì)線路。而且,iDP接口包括HPD (熱插檢測)發(fā)送線路32。iDP發(fā)送電路10是源設(shè)備,并檢測通過HPD發(fā)送線路32 接收的HPD信號(hào)。在從HPD信號(hào)上升沿開始將HPD信號(hào)維持在高邏輯電平的周期內(nèi),經(jīng)由主鏈路通路31,iDP發(fā)送電路10發(fā)送用ANSI 8B/10B編碼方案編碼的主鏈路數(shù)據(jù)。iDP接收電路20是吸收設(shè)備,接收通過主鏈路通路31發(fā)送的Mvid值,并在消隱間隔內(nèi)使用M/N PLL 21恢復(fù)像素時(shí)鐘PXLCLK。此外,iDP接收電路20在待機(jī)模式中將具有低邏輯電平的 HPD信號(hào)發(fā)送給iDP發(fā)送電路10,并在待機(jī)模式中鎖定自M/N PLL 21輸出的像素時(shí)鐘和數(shù)據(jù)符號(hào)相位。不存在用于在iDP發(fā)送電路10和iDP接收電路20之間傳輸時(shí)鐘的線路。因此, 通過將通過主鏈路通路31接收的主鏈路數(shù)據(jù)的鏈路符號(hào)時(shí)鐘LSCLK乘以Mvid/48的倍增系數(shù),iDP接收電路20的M/N PLL 21恢復(fù)像素時(shí)鐘PXLCLK。鏈路符號(hào)時(shí)鐘LSCLK的串行比特率是3. 24Gbps/通路,其頻率fLSCLK是324MHz/秒。Mvid值是可以使用8比特獲得的 0和255之間的整數(shù)。在iDP接口內(nèi),使用HPD信號(hào)生成鏈路訓(xùn)練,換句話說,在發(fā)送視頻數(shù)據(jù)之前,在 iDP發(fā)送電路10和iDP接收電路20之間的鏈路時(shí)鐘鎖定操作和符號(hào)鎖定操作。當(dāng)鏈路時(shí)鐘鎖定和符號(hào)鎖定被解鎖、并因而未形成與iDP發(fā)送電路10的鏈路時(shí),iDP接收電路20將 HPD信號(hào)下拉至低邏輯電平。當(dāng)HPD信號(hào)反轉(zhuǎn)至低邏輯電平時(shí),iDP發(fā)送電路10將在iDP 接口標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)定義的鏈路時(shí)鐘鎖定模式數(shù)據(jù)D10. 2(TPAT1)發(fā)送至iDP接收電路20,從而在已經(jīng)經(jīng)過了圖4和圖5所示的反應(yīng)時(shí)間tT1D之后,生成鏈路時(shí)鐘鎖定和符號(hào)鎖定。在iDP接收電路20內(nèi)重新生成鏈路時(shí)鐘鎖定需要的時(shí)間是圖4和圖5所示的t·,而iDP接收電路 20在該周期內(nèi)將HPD信號(hào)維持在低邏輯電平內(nèi)。當(dāng)生成鏈路時(shí)鐘鎖定時(shí),iDP接收電路20將HPD信號(hào)上拉至高邏輯電平,并在已經(jīng)經(jīng)過了反應(yīng)時(shí)間tT2D之后,iDP發(fā)送電路10將用于生成符號(hào)鎖定的符號(hào)鎖定模式數(shù)據(jù)TPAT2 發(fā)送給iDP接收電路20。需要iDP接收電路20在圖4中的最大tT2P κχ內(nèi)完成符號(hào)鎖定操作。iDP發(fā)送電路10將視頻數(shù)據(jù)模式發(fā)送給iDP接收電路20,同時(shí)iDP接收電路20維持在符號(hào)鎖定,并將HPD信號(hào)維持在高邏輯電平。iDP接收電路20將HPD信號(hào)維持在高邏輯電平,直到與iDP發(fā)送電路10的鏈路再次故障。圖4和圖5是圖示在iDP接口標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)定義的在iDP發(fā)送電路10和iDP接收電路 20之間的操作過程中的定時(shí)邊界。在圖4和圖5中,時(shí)間tT1D是等待時(shí)間,直到在iDP接收電路20將HPD信號(hào)下拉至低邏輯電平之后iDP發(fā)送電路10發(fā)送鏈路時(shí)鐘鎖定模式TPAT1。時(shí)間tT1D是從HPD信號(hào)的下拉點(diǎn)開始的最小0微秒至最大50微秒的允許范圍,時(shí)間t·是當(dāng)HPD信號(hào)維持在低邏輯電平內(nèi)的時(shí)間。時(shí)間t·是從HPD信號(hào)的下拉點(diǎn)開始的最小50微秒至最大500微秒的允許范圍。當(dāng)在時(shí)間t·內(nèi)成功地執(zhí)行鏈路時(shí)鐘鎖定時(shí),iDP接收電路20將HPD信號(hào)上拉至高邏輯電平。根據(jù)該實(shí)施例,如果即使在從HPD 信號(hào)的下拉點(diǎn)開始已經(jīng)經(jīng)過了 500微秒之后iDP接收電路20仍未維持在鏈路時(shí)鐘鎖定中, 則iDP發(fā)送電路10確定鏈路恢復(fù)失敗。時(shí)間tT2D是在iDP接收電路20將HPD信號(hào)上拉至高邏輯電平之后直到iDP發(fā)送電路10發(fā)送符號(hào)鎖定模式數(shù)據(jù)TPAT2為止的等待時(shí)間。時(shí)間tT2D是從HPD信號(hào)的上拉點(diǎn)開始的最小0微秒至最大50微秒的允許范圍。時(shí)間tT2P κχ是在iDP接收電路20將HPD信號(hào)上拉至高邏輯電平之后直到iDP發(fā)送電路10發(fā)送符號(hào)鎖定模式數(shù)據(jù)TPAT2的等待時(shí)間。時(shí)間tT2P κχ是從HPD信號(hào)的上拉點(diǎn)開始的從最小0微秒至50微秒的允許范圍。時(shí)間tT2D τχ是iDP發(fā)送電路10將符號(hào)鎖定模式數(shù)據(jù)TPAT2發(fā)送給iDP接收電路 20的時(shí)間。需要iDP接收電路20在時(shí)間tT2P κχ丨后在最大80微秒內(nèi)繼續(xù)符號(hào)鎖定。時(shí)間tHPP是在HPD信號(hào)的上升沿和下降沿之間的時(shí)間。將時(shí)間tHPP設(shè)置為最大2 毫秒。iDP接口沒有DP⑶和輔助信道。本文獻(xiàn)的實(shí)施例提供了用于根據(jù)iDP接口標(biāo)準(zhǔn)的 HPD規(guī)范,而不使用DPCD和輔助信道,來測試當(dāng)為iDP接收電路20執(zhí)行吸收設(shè)備測試時(shí)是否成功地執(zhí)行鏈路時(shí)鐘鎖定和符號(hào)鎖定的方法和設(shè)備。圖6和圖7圖示根據(jù)本文獻(xiàn)實(shí)施例的iDP接口測試設(shè)備。參見圖6和圖7,該iDP接口測試設(shè)備包括測試數(shù)據(jù)生成器201、測試時(shí)鐘生成器 202、HPD監(jiān)視器203和測試固定裝置100。如圖6和圖7所示,iDP接收電路200內(nèi)嵌有計(jì)數(shù)器301,或者連接至外部計(jì)數(shù)器 301。計(jì)數(shù)器301在iDP接口測試期間對(duì)HPD信號(hào)的觸發(fā)數(shù)量或觸發(fā)頻率進(jìn)行計(jì)數(shù)。計(jì)數(shù)器 301連接至測試確定單元400,并將計(jì)數(shù)結(jié)果發(fā)送至測試確定單元400。測試確定單元400 將預(yù)置參考值與來自計(jì)數(shù)器301的計(jì)數(shù)結(jié)果進(jìn)行比較,從而確定該iDP接收電路300是否通過測試。測試數(shù)據(jù)生成器201和測試時(shí)鐘生成器202通過測試電纜和測試連接器連接至測試固定裝置100的主鏈路通路端子,HPD監(jiān)視器203通過測試電纜和測試連接器連接至測試固定裝置100的HPD端子。測試固定裝置100具有主鏈路通路端子和HPD端子。測試固定裝置100通過測試電纜和測試連接器連接至主鏈路通路端子和iDP接收電路300的HPD端子,并通過另一測試電纜和測試連接器連接至測試數(shù)據(jù)生成器201、測試時(shí)鐘生成器202和HPD監(jiān)視器203。 測試固定裝置100通過連接至兩個(gè)連接器的負(fù)載的阻抗匹配,在沒有頻率損失的情況下中繼信號(hào)傳輸。通過還用于在DP接口內(nèi)的吸收設(shè)備測試的壓力信號(hào)生成器(SSG),可以實(shí)現(xiàn)測試數(shù)據(jù)生成器201。通過還用于DP接口內(nèi)的吸收設(shè)備測試的時(shí)鐘模式生成器,可以實(shí)現(xiàn)測試時(shí)鐘生成器202??梢酝ㄟ^示波器簡單地實(shí)現(xiàn)HPD監(jiān)視器203。
      圖8是圖示根據(jù)本文獻(xiàn)實(shí)施例的iDP接口測試方法的控制程序的流程圖。將參考圖6和圖7所示的設(shè)備配置來描述該測試方法。在iDP接收電路300即iDP吸收設(shè)備內(nèi)執(zhí)行的時(shí)鐘鎖定操作和符號(hào)鎖定操作與現(xiàn)有iDP吸收設(shè)備內(nèi)的操作基本上相同。例如,在iDP 吸收設(shè)備內(nèi)的時(shí)鐘和符號(hào)鎖定操作可以使用在“A 2. 7Gbps&l. 62Gbps Dual-Mode Clock and Data Recovery for Display Port by Seung-won Lee, Jae-ffook Yoo, Jin-Ku Kang Dept. of Electronics Engineering INHA University,2008 International SoC Design Conference”中公開的數(shù)據(jù)和時(shí)鐘恢復(fù)方法。因此,將省略在iDP吸收設(shè)備內(nèi)執(zhí)行的時(shí)鐘鎖定操作和符號(hào)鎖定操作的詳細(xì)描述。參見圖6至圖8,測試數(shù)據(jù)生成器201通過測試固定裝置100和主鏈路通路,將具有D10. 2模式的測試數(shù)據(jù)發(fā)送給iDP接收電路300,該D10. 2模式包括抖動(dòng)并滿足iDP TP3 眼罩(EYE mask) 0此外,測試時(shí)鐘生成器202還將D24. 3時(shí)鐘信號(hào)模式發(fā)送給傳輸測試數(shù)據(jù)的每條主鏈路通路的兩個(gè)線路,以便檢查串?dāng)_對(duì)傳輸線路的影響(Si)。當(dāng)在最大t·內(nèi)維持在鏈路時(shí)鐘鎖定時(shí),iDP接收電路300將HPD信號(hào)上拉至高邏輯電平。在本文獻(xiàn)的實(shí)施例中,確定HPD信號(hào)是否在最大t·內(nèi)上拉至高邏輯電平,并且如果HPD信號(hào)在最大內(nèi)(當(dāng)從HPD信號(hào)的下拉點(diǎn)開始已經(jīng)經(jīng)過了 500微秒時(shí)的時(shí)間點(diǎn)) 未反轉(zhuǎn)至高邏輯電平,則確定鏈路時(shí)鐘鎖定失敗(S3)。如果HPD信號(hào)在最大t·內(nèi)上拉至高邏輯電平,則檢查符號(hào)鎖定是否成功。在考慮封閉系統(tǒng)的情況下設(shè)計(jì)該iDP接口。因此, 在iDP接口內(nèi),在HPD信號(hào)的低邏輯部分內(nèi),迅速地發(fā)送視頻數(shù)據(jù),而不在發(fā)送符號(hào)鎖定模式數(shù)據(jù)之后單獨(dú)地檢查鎖定或未鎖定。在本文獻(xiàn)的實(shí)施例中,通過步驟S4至S7,通過測量時(shí)間tm,間接地確定在iDP接收電路內(nèi)是否產(chǎn)生符號(hào)鎖定以及鏈路穩(wěn)定性。在步驟S7,如果HPD信號(hào)在時(shí)間內(nèi)反轉(zhuǎn)至低邏輯電平,則確定符號(hào)鎖定失敗。在步驟S5,測試確定單元400在鏈路時(shí)鐘鎖定成功之后,將其中插入抖.動(dòng)的符號(hào)鎖定模式發(fā)送至iDP接收電路300 (S4)。測試確定單元400檢查HPD信號(hào)是否維持在高邏輯電平達(dá)到2毫秒(S6)。如果在即便已經(jīng)經(jīng)過了 2毫秒之后HPD信號(hào)仍維持在高邏輯電平內(nèi)(S7),則確定成功地執(zhí)行了鏈路時(shí)鐘鎖定和符號(hào)鎖定。如圖4和圖5所示,計(jì)數(shù)器301對(duì)HPD信號(hào)的觸發(fā)頻率或觸發(fā)數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù),并輸出操作時(shí)間的計(jì)數(shù)結(jié)果。測試確定單元400在給定時(shí)間內(nèi)對(duì)HPD信號(hào)的觸發(fā)數(shù)量與預(yù)置參考值X進(jìn)行比較,并輸出測試結(jié)果。例如,如果觸發(fā)數(shù)量在給定時(shí)間內(nèi)大于參考值X,則測試確定單元400確定在iDP接收電路300內(nèi)的CDR操作不穩(wěn)定,因而鏈路穩(wěn)定性低,然后它輸出失敗。如果HPD信號(hào)的觸發(fā)數(shù)量在給定時(shí)間內(nèi)等于或小于參考值X,則測試確定單元400 確定鏈路穩(wěn)定性高并輸出通過(S9至S12)。此外,測試確定單元400還接收時(shí)間測量結(jié)果, 例如用于HPD信號(hào)的時(shí)間t·和tHPP,以及來自計(jì)數(shù)器301的輸出,定量輸出時(shí)間t·和tHPP 以及在給定時(shí)間內(nèi)的觸發(fā)數(shù)量,并輸出鏈路時(shí)鐘鎖定和符號(hào)鎖定是否成功。通過經(jīng)HPD監(jiān)視器203自己確定HPD信號(hào),測試者可以確定iDP接收電路300的測試結(jié)果。如上所述,在本文獻(xiàn)的實(shí)施例中,在iDP接口內(nèi),通過使用間接測量鏈路狀態(tài)以及在iDP發(fā)送電路10和iDP接收電路20和300之間的連接,在沒有輔助信道的情況下,可以實(shí)現(xiàn)iDP接口的鏈路穩(wěn)定性測試。此外,在本文獻(xiàn)的實(shí)施例中,還可以通過使用HPD信號(hào)和在iDP接收電路300內(nèi)部或外部安裝的計(jì)數(shù)器301,來量化測量iDP接口鏈路穩(wěn)定性,并有效地監(jiān)視其測量結(jié)果。在此,在圖8中的步驟S9和S10,可以將給定時(shí)間和參考值X設(shè)置為由iDP接口的設(shè)計(jì)者或銷售商改變。根據(jù)本文獻(xiàn)實(shí)施例的通過iDP接口測試的iDP接口可以應(yīng)用于如圖9所示的顯示設(shè)備。圖9是圖示根據(jù)本文獻(xiàn)實(shí)施例的顯示設(shè)備的方框圖。在圖9中,該顯示設(shè)備包括顯示面板500、SoC 600、定時(shí)控制器700、數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路 510和掃描確定電路520。該顯示面板500安裝有相互交叉的數(shù)據(jù)線和掃描線(或柵線)。該顯示面板500 包括由數(shù)據(jù)線和掃描線定義的以矩陣方式形成的像素。薄膜晶體管(TFT)設(shè)置在數(shù)據(jù)線和掃描線的交叉點(diǎn)上。該顯示面板500可以通過平板顯示器的顯示面板實(shí)現(xiàn),例如液晶顯示器(LCD)、場發(fā)射顯示器(FED)、等離子顯示面板(PDP)、包括無機(jī)或有機(jī)發(fā)光二極管的電致發(fā)光(EL)設(shè)備或者電泳顯示器(EPD)。如果用IXD的顯示面板實(shí)現(xiàn)顯示面板500,則背光單元是必需的。可以通過直接型背光單元或邊緣型背光單元實(shí)現(xiàn)背光單元。SoC 600內(nèi)嵌有iDP發(fā)送電路10,通過上述iDP接口將包括視頻數(shù)據(jù)信息的主鏈路數(shù)據(jù)發(fā)送給定時(shí)控制器700。內(nèi)嵌在定時(shí)控制器700內(nèi)的iDP接收電路20和300通過將主鏈路數(shù)據(jù)的鏈路時(shí)鐘LSCLK乘以倍增系數(shù)Mvid/48來恢復(fù)像素時(shí)鐘PXLCLK,使用像素時(shí)鐘PXLCLK對(duì)數(shù)字視頻數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣,和將所采樣的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)發(fā)送給數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路 510。此外,定時(shí)控制器700還根據(jù)像素時(shí)鐘PXLCLK生成用于控制數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路510和掃描驅(qū)動(dòng)電路520的操作定時(shí)的定時(shí)控制信號(hào)。用于在定時(shí)控制器700和數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路510 之間進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸?shù)慕涌诳梢酝ㄟ^微型LVDS接口來實(shí)現(xiàn),但是并不限制于此。例如,在定時(shí)控制器700和數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路510之間的接口可以使用在本申請(qǐng)人已經(jīng)提交的美國專利申 it No. 12/543,996(2009 年 8 月 19 日)、美國專利申請(qǐng) No. 12/461,652 (2009 年 8 月 19 日) 等中推薦的接口技術(shù)。數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路510在定時(shí)控制器700的控制之下鎖存數(shù)字視頻數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路510將數(shù)字視頻數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成輸出給數(shù)據(jù)線路的數(shù)據(jù)電壓。在定時(shí)控制器700的控制下, 掃描驅(qū)動(dòng)電路520將與數(shù)據(jù)電壓同步的掃描脈沖順序地提供給掃描線路。如上所述,根據(jù)本文獻(xiàn),根據(jù)在iDP接口內(nèi)的HPD信號(hào)便可以檢查iDP接口鏈路穩(wěn)定性,而不依賴于輔助信道。此外,可以通過使用對(duì)HPD信號(hào)的觸發(fā)數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù)的計(jì)數(shù)器來量化地測量iDP接口鏈路穩(wěn)定性。盡管已經(jīng)參考其多個(gè)說明性實(shí)施例描述了實(shí)施例,但是應(yīng)當(dāng)理解本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以推導(dǎo)出多種其它的修改和實(shí)施例,將落入本公開文本的原理范圍之內(nèi)。更具體地,可以在本公開文本、附圖和權(quán)利要求書的保護(hù)范圍之內(nèi)的主題組合裝置的組成部件和/或裝置內(nèi)實(shí)現(xiàn)各種變型和修改。除了在組成部件和/或裝置內(nèi)的變型和修改之外,替代使用對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說也將是顯而易見的。
      權(quán)利要求
      1.一種iDP接口測試方法,包括 將測試時(shí)鐘發(fā)送給iDP吸收設(shè)備;根據(jù)當(dāng)執(zhí)行用于測試時(shí)鐘的時(shí)鐘鎖定操作時(shí)從iDP吸收設(shè)備輸出的HPD信號(hào)的測量結(jié)果,確定在iDP吸收設(shè)備內(nèi)的鏈路時(shí)鐘鎖定操作是否成功;如果在iDP吸收設(shè)備內(nèi)的鏈路時(shí)鐘鎖定操作是成功的,則將測試數(shù)據(jù)和任意視頻數(shù)據(jù)發(fā)送給iDP吸收設(shè)備;根據(jù)當(dāng)執(zhí)行用于測試數(shù)據(jù)和任意視頻數(shù)據(jù)的符號(hào)鎖定操作時(shí)從iDP吸收設(shè)備輸出的 HPD信號(hào)的測量結(jié)果,確定在iDP吸收設(shè)備內(nèi)的符號(hào)鎖定操作是否成功;和在給定時(shí)間內(nèi)對(duì)HPD信號(hào)的觸發(fā)數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù),比較該計(jì)數(shù)結(jié)果與預(yù)定參考值,并根據(jù)比較結(jié)果確定iDP吸收設(shè)備的鏈路穩(wěn)定性。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中確定在iDP吸收設(shè)備內(nèi)的鏈路時(shí)鐘鎖定操作是否成功的步驟包括測量從HPD信號(hào)的下拉點(diǎn)到上拉點(diǎn)的第一時(shí)間;和如果在第一時(shí)間內(nèi)HPD信號(hào)的電平未從低邏輯電平改變成高邏輯電平,則確定在iDP 吸收設(shè)備內(nèi)的鏈路時(shí)鐘鎖定操作失敗。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中確定在iDP吸收設(shè)備內(nèi)的符號(hào)鎖定操作是否成功的步驟包括測量當(dāng)HPD信號(hào)在從HPD信號(hào)的上拉點(diǎn)至隨后的下拉點(diǎn)都維持在高邏輯電平時(shí)的第二時(shí)間;和如果HPD信號(hào)電平在第二時(shí)間內(nèi)從高邏輯電平改變成低邏輯電平,則確定在iDP吸收設(shè)備內(nèi)的符號(hào)鎖定操作失敗。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中對(duì)HPD信號(hào)的觸發(fā)數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù)的步驟包括如果在給定時(shí)間內(nèi)HPD信號(hào)的觸發(fā)數(shù)量大于參考值,則確定iDP吸收設(shè)備的鏈路穩(wěn)定性低。
      5.一種iDP接口測試設(shè)備,包括配置以生成測試時(shí)鐘的測試時(shí)鐘生成器; 配置以生成測試數(shù)據(jù)和任意視頻數(shù)據(jù)的測試數(shù)據(jù)生成器;iDP吸收設(shè)備,配置以當(dāng)用于測試時(shí)鐘的時(shí)鐘鎖定操作成功時(shí)使HPD信號(hào)具有高邏輯電平,當(dāng)用于測試數(shù)據(jù)和任意視頻數(shù)據(jù)的符號(hào)鎖定操作成功時(shí)將HPD信號(hào)維持在高邏輯電平,以及當(dāng)時(shí)鐘鎖定操作和符號(hào)鎖定失敗時(shí)使HPD信號(hào)具有低邏輯電平;測試固定裝置,配置以連接在所述測試時(shí)鐘生成器和測試數(shù)據(jù)生成器與所述iDP吸收設(shè)備之間,并將測試時(shí)鐘、測試數(shù)據(jù)和任意視頻數(shù)據(jù)發(fā)送給iDP吸收設(shè)備; 配置以對(duì)HPD信號(hào)的觸發(fā)數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù)的計(jì)數(shù)器;和測試確定單元,配置以根據(jù)當(dāng)執(zhí)行測試時(shí)鐘的時(shí)鐘鎖定操作時(shí)生成的HPD信號(hào)的測量結(jié)果,確定在iDP吸收設(shè)備內(nèi)的鏈路時(shí)鐘鎖定操作是否成功;根據(jù)當(dāng)執(zhí)行用于測試數(shù)據(jù)和任意視頻數(shù)據(jù)的符號(hào)鎖定操作時(shí)HPD信號(hào)的測量結(jié)果,確定在iDP吸收設(shè)備內(nèi)的符號(hào)鎖定操作是否成功;以及將計(jì)數(shù)器的輸出與預(yù)定參考值進(jìn)行比較,并根據(jù)比較結(jié)果確定iDP吸收設(shè)備的鏈路穩(wěn)定性。
      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的設(shè)備,其中測試確定單元測量從HPD信號(hào)的下拉點(diǎn)至上拉點(diǎn)的第一時(shí)間,并且如果HPD信號(hào)的電平在第一時(shí)間內(nèi)未從低邏輯電平改變成高邏輯電平,則確定在iDP吸收設(shè)備內(nèi)的鏈路時(shí)鐘鎖定操作失敗。
      7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的設(shè)備,其中測試確定單元測量當(dāng)HPD信號(hào)在從HPD信號(hào)的上拉點(diǎn)至隨后的下拉點(diǎn)維持在高邏輯電平時(shí)的第二時(shí)間,并且如果HPD信號(hào)的電平在第二時(shí)間內(nèi)從高邏輯電平改變成低邏輯電平,則確定在iDP吸收設(shè)備內(nèi)的符號(hào)鎖定操作失敗。
      8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的設(shè)備,其中如果在給定時(shí)間內(nèi)HPD信號(hào)的觸發(fā)數(shù)量大于參考值,則測試確定單元確定iDP吸收設(shè)備的鏈路穩(wěn)定性低。
      9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的設(shè)備,其中所述計(jì)數(shù)器內(nèi)嵌在iDP吸收設(shè)備內(nèi),或安裝在iDP 吸收設(shè)備之外。
      全文摘要
      一種iDP接口測試方法,包括將測試時(shí)鐘發(fā)送給iDP吸收設(shè)備;根據(jù)當(dāng)執(zhí)行用于測試時(shí)鐘的時(shí)鐘鎖定操作時(shí)HPD信號(hào)的測量結(jié)果,確定在iDP吸收設(shè)備內(nèi)的鏈路時(shí)鐘鎖定操作是否成功;如果在iDP吸收設(shè)備內(nèi)的鏈路時(shí)鐘鎖定操作是成功的,則將測試數(shù)據(jù)和任意視頻數(shù)據(jù)發(fā)送給iDP吸收設(shè)備;當(dāng)執(zhí)行用于測試數(shù)據(jù)和任意視頻數(shù)據(jù)的符號(hào)鎖定操作時(shí),確定在iDP吸收設(shè)備內(nèi)的符號(hào)鎖定操作是否成功;以及將計(jì)數(shù)的結(jié)果與預(yù)定參考值進(jìn)行比較,根據(jù)比較結(jié)果確定iDP吸收設(shè)備的鏈路穩(wěn)定性。
      文檔編號(hào)G09G3/00GK102290018SQ20111016881
      公開日2011年12月21日 申請(qǐng)日期2011年6月17日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月17日
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