專利名稱：一種檢測像素的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種檢測像素的方法，尤其涉及一種檢測缺陷像素的方法。
背景技術(shù)：
液晶顯示面板通常由兩塊玻璃板構(gòu)成，中間是厚約5微米(1/1000毫米)的水晶 液滴，被均勻間隔隔開，包含在細(xì)小的單元格結(jié)構(gòu)中，每三個單元格構(gòu)成屏幕上的一個像 素。在放大鏡下呈現(xiàn)方格狀，一個像素即為一個光點。每個光點都有獨(dú)立的晶體管來控制 其電流的強(qiáng)弱，如果該點的晶體管或控制電路出現(xiàn)問題，就會造成該光點永遠(yuǎn)點亮或不亮， 這種像素缺陷被統(tǒng)稱為“壞點”。液晶技術(shù)發(fā)展到現(xiàn)在，還無法從根本上克服壞點這一缺陷。因此，按照業(yè)內(nèi)默認(rèn)的標(biāo)準(zhǔn)，“壞點”是一種正常現(xiàn)象，液晶顯示面板出現(xiàn)一定數(shù)量 的亮點或暗點是一種特性，對于任何一個生產(chǎn)廠家，這樣的現(xiàn)象都是不可避免的。不同的生 產(chǎn)廠商對與壞點數(shù)量的最高限度有各自的標(biāo)準(zhǔn)。雖然壞點不可避免，但其可以被檢測出來， 進(jìn)行補(bǔ)償或切除后仍然可以正常使用。然而目前所使用的檢測方法由于技術(shù)條件限制，無法測量單獨(dú)的像素電流大小， 只能檢測一個像素串中的部分像素組成的像素組。因此檢測的精度僅能達(dá)到像素組，而無 法精確到單個缺陷像素，為后續(xù)的處理帶來很大不便。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的目的就是提供一種檢測像素的方法，能夠檢測到缺陷像素的 具體位置。根據(jù)本發(fā)明的一實施例，提供了一種檢測像素的方法，適用于一具有多個像素的 顯示面板，這些像素線性排列成多個像素串，包含下列步驟(a)從像素串其中之一選取N 個像素作為一第一像素組，測出一第一電流值；(b)將第一像素組中的N個像素其中之一替 換為一待測像素，作為一第二像素組，測出一第二電流值；(c)比較第一電流值與第二電流 值，若第一電流值與第二電流值相等則待測像素為正常像素，若第二電流值遠(yuǎn)小于第一電 流值則待測像素為缺陷像素。依據(jù)一實施例，每一像素包含多個子像素。較佳的，待測像素位于該像素串中。其中，N為640或其整數(shù)倍數(shù)。其中，重復(fù)進(jìn)行步驟(b)、(C)，檢測像素串的多個待測像素。使用本發(fā)明提供的檢測像素的方法其優(yōu)點在于，能夠?qū)z測缺陷像素的精度從像 素組提升到單個像素，從而便于對缺陷像素進(jìn)行后續(xù)處理。


為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征、優(yōu)點與實施例能更明顯易懂，所附附圖的詳 細(xì)說明如下
圖1繪示現(xiàn)有的檢測像素的方法的示意圖。圖2繪示依據(jù)本發(fā)明一實施例的檢測像素的方法的流程圖。
具體實施例方式以下將以附圖及詳細(xì)說明來清楚闡釋本發(fā)明的精神，任何本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員 在了解本發(fā)明的較佳實施例后，當(dāng)可由本發(fā)明所揭露的技術(shù)，加以改變及修飾，且并不脫離 本發(fā)明的精神與范圍。請參照圖1，其繪示現(xiàn)有的檢測像素的方法的示意圖。圖1中以具有3840X960個 子像素的顯示面板100為例，即橫向具有3840個子像素，縱向具有960子像素。目前所使用 的檢測缺陷像素的方法為，將該顯示面板100如圖中所示分為六個區(qū)塊，即區(qū)塊1、區(qū)塊2、 區(qū)塊3、區(qū)塊4、區(qū)塊5、區(qū)塊6，每一區(qū)塊具有多個像素，每一像素包含多個子像素，圖中所示 每一區(qū)塊包含640X960個子像素，即橫向具有640個子像素，縱向具有960個子像素。將 每一區(qū)塊中的橫向線性排列的640個子像素作為一個子像素組，測量每一個子像素組的電 流多次，取其平均值。以區(qū)塊1中的第840子像素組為例，測量其640個子像素的電流值多 次，取其平均值。在將所有區(qū)塊內(nèi)的960個子像素組進(jìn)行測量后便可根據(jù)其測量出的電流 值判斷在該組內(nèi)是否有缺陷像素。具體來說，若在某一像素組中存在一個或多個缺陷子像 素，例如由電路短路(RC-short)等原因?qū)е拢瑒t該子像素組的電流值會極小，若無任何缺 陷子像素，則電流值在正常范圍內(nèi)。單個子像素的電流過小，以目前的技術(shù)無法測得，只能測量由多個子像素組成的 子像素組的電流，因此目前通常利用上述方法來檢測缺陷子像素的位置。然而由于造成 電路短路而使所測電流過小只需一個缺陷子像素便可，因此利用上述測量子像素組電流 (I-by-row)的方法僅能夠確定缺陷子像素所在的子像素組，而無法直接找到缺陷像素所在 的具體位置，為后續(xù)的處理帶來很大不便。請參照圖2，其繪示依據(jù)本發(fā)明一實施例的檢測像素的方法的流程圖。本發(fā)明所揭 示的檢測像素的方法適用于具有多個像素的顯示面板，例如一液晶顯示面板，像素線性排 列成多個像素串，其中每一像素包含多個子像素。首先，步驟200中，選擇一子像素串，并從 該像素串中選取N個正常的子像素作為第一像素組，測出其第一電流值，作為參考基準(zhǔn)。接 著，步驟202中，將第一像素組中的N個子像素其中之一替換為一個待測像素，例如該子像 素串中的其余子像素之一，作為第二像素組，測出該第二像素組的第二電流值。最后，步驟 204中，比較第一像素組和第二像素組的第一電流值和第二電流值的大小，由于缺陷子像素 會將電路短路，使得測出的電流值極小，因此若第一電流值與第二電流值相等，或誤差在正 常范圍內(nèi)，則該待測子像素為正常子像素，若第二電流值遠(yuǎn)小于第一電流值，則該待測子像 素為缺陷子像素。其中選擇的子像素個數(shù)N為640或其整數(shù)倍數(shù)。通過重復(fù)進(jìn)行步驟202 至204，就可以檢測出該子像素串中的所有子像素是否有缺陷。若檢測到單個子像素為缺陷 像素，則可對其進(jìn)行處理，例如使用鐳射切除，以保證顯示面板還可正常使用。使用本發(fā)明提供的檢測像素的方法的優(yōu)點在于，能夠?qū)z測缺陷像素的精度從像 素組提升到單個像素，從而便于對缺陷像素進(jìn)行后續(xù)處理。雖然本發(fā)明已以實施方式揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域的普 通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作各種的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視后附的申請專利范圍所界定者為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種檢測像素的方法，適用于一具有多個像素的顯示面板，其中所述像素線性排列 成多個像素串，其特征在于，所述方法包含下列步驟(a)從所述像素串其中之一選取N個所述像素作為一第一像素組，測出一第一電流值；(b)將所述第一像素組中的N個所述像素其中之一替換為一待測像素，作為一第二像 素組，測出一第二電流值；以及(c)比較所述第一電流值與所述第二電流值，其中，若所述第一電流值與所述第二電流值相等則所述待測像素為正常像素，若所述 第二電流值遠(yuǎn)小于所述第一電流值則所述待測像素為缺陷像素。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測像素的方法，其特征在于，所述像素為子像素。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測像素的方法，其特征在于，所述待測像素位于所述像素 串中。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項所述的檢測像素的方法，其特征在于，N為640或其整數(shù)倍數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項所述的檢測像素的方法，其特征在于，重復(fù)進(jìn)行步驟 (b)、(c)，檢測所述像素串的多個所述待測像素。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種檢測像素的方法，適用于一具有多個像素的顯示面板，這些像素線性排列成多個像素串，包含下列步驟(a)從像素串其中之一選取N個像素作為一第一像素組，測出一第一電流值；(b)將第一像素組中的N個像素其中之一替換為一待測像素，作為一第二像素組，測出一第二電流值；(c)比較第一電流值與第二電流值，若第一電流值與第二電流值相等則待測像素為正常像素，若第二電流值遠(yuǎn)小于第一電流值則待測像素為缺陷像素。使用本發(fā)明提供的檢測像素的方法能夠?qū)z測缺陷像素的精度從像素組提升到單個像素，從而便于對缺陷像素進(jìn)行后續(xù)處理。
文檔編號G02F1/13GK102081244SQ20111005089
公開日2011年6月1日 申請日期2011年3月1日 優(yōu)先權(quán)日2011年3月1日
發(fā)明者呂仁貴, 王濰淇, 邱贊勛, 陳冠翰 申請人:友達(dá)光電股份有限公司