光柵基板短路檢測(cè)方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及顯示【技術(shù)領(lǐng)域】，公開了一種光柵基板短路檢測(cè)方法，包括步驟：對(duì)光柵基板上的每條第一電極施加電壓，對(duì)于每條第二電極不加電，采用探針沿第二電極所在的直線移動(dòng)，檢測(cè)所述第二電極的電壓；判斷每條第二電極上的電壓最大值是否大于預(yù)定閾值，若大于，則確定與第一電極短路。本發(fā)明通過電學(xué)探針檢測(cè)到哪兩條第一電極和第二電極短路，實(shí)現(xiàn)了對(duì)電極傾斜設(shè)置的光柵基板進(jìn)行短路檢測(cè)并定位，并及時(shí)反饋出短路不良的具體位置，從而提高產(chǎn)線良率和效益。
【專利說明】光柵基板短路檢測(cè)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示【技術(shù)領(lǐng)域】，特別涉及一種光柵基板短路檢測(cè)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前應(yīng)用于裸眼3D的光柵設(shè)計(jì)中，光柵條紋相對(duì)于顯示面板的一行或一列像素傾斜設(shè)置，如傾斜80.54°角度。一種液晶光柵如圖1所不，包括第一光柵基板1、第二光柵基板2及兩者之間的液晶3。第一光柵基板I上形成有若干交替設(shè)置的第一電極4和第二電極5,且第一電極4和第二電極5均為條狀,排布平面圖如圖2所不,第一電極4和第二電極5在第一光柵基板I上的分布情況，兩者都是傾斜設(shè)置，傾斜角度為α。所有的第一電極4連接在一起(通過過孔7與第一電極4對(duì)應(yīng)的信號(hào)線連接)，所有的第二電極5連接在一起(通過過孔8與第二電極5對(duì)應(yīng)的信號(hào)線連接)。第二光柵基板3上形成有第三電極6 (板狀電極)。上述第一電極4、第二電極5和第三電極6通常都采用ITCKIndium Tin Oxide)材料制作。工作時(shí)(對(duì)于常白模式)，對(duì)第一電極4和第三電極6施加相同的第一電壓,對(duì)第二電極5施加與第一電壓不同的第二電壓，使第二電極5對(duì)應(yīng)區(qū)域的液晶3偏轉(zhuǎn)到該區(qū)域不透光，從而形成擋光條紋。同理，對(duì)第二電極5和第三電極6施加相同的第一電壓，對(duì)第一電極4施加與第一電壓不同的第二電壓，使第一電極4對(duì)應(yīng)區(qū)域的液晶3偏轉(zhuǎn)到該區(qū)域不透光，從而形成擋光條紋。
[0003]在第一光柵基板I上，由于某一條第一電極4和其相鄰的第二電極5水平間距相對(duì)于第一電極4或第二電極5的寬度非常小，在制作過程中很容易發(fā)生短路，若不及時(shí)檢測(cè)出短路情況，會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品不良，產(chǎn)線良率和效率低?，F(xiàn)有的陣列基板檢測(cè)設(shè)備中帶動(dòng)探針移動(dòng)的導(dǎo)軌包括與柵線平行的橫向?qū)к壓团c數(shù)據(jù)線平行的縱向?qū)к墸瑱M向?qū)к壓涂v向?qū)к壪嗷ゴ怪??？蓪⑻结槹惭b在縱向?qū)к壣?，縱向?qū)к壯貦M向?qū)к壱苿?dòng)以定位一條數(shù)據(jù)線，探針在縱向軌道上移動(dòng)，以檢測(cè)每條數(shù)據(jù)線上的電壓；同理，可將探針安裝在橫向?qū)к壣?，橫向?qū)к壯乜v向?qū)к壱苿?dòng)以定位一條柵線，探針在橫向軌道上移動(dòng)，以檢測(cè)每條柵線上的電壓。由于光柵基板中第一電極4和第二電極5傾斜設(shè)置，橫向?qū)к壓涂v向?qū)к壘鶡o(wú)法使探針沿第一電極4和第二電極5傾斜移動(dòng)，因此無(wú)法對(duì)兩者短路情況進(jìn)行檢測(cè)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004](一)要解決的技術(shù)問題
[0005]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是:如何對(duì)電極傾斜設(shè)置的光柵基板進(jìn)行短路檢測(cè)。
[0006](二)技術(shù)方案
[0007]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種光柵基板短路檢測(cè)方法，包括步驟:
[0008]對(duì)光柵基板上的每條第一電極施加電壓，對(duì)于每條第二電極不加電，采用探針沿第二電極所在的直線移動(dòng)，檢測(cè)所述第二電極的電壓；
[0009]判斷每條第二電極上的電壓最大值是否大于預(yù)定閾值，若大于，則確定與第一電極短路。[0010]其中，對(duì)于每條第二電極，采用探針沿第二電極所在的直線移動(dòng)的具體方式包括:
[0011]設(shè)置陣列基板檢測(cè)設(shè)備的縱向?qū)к?，使所述縱向?qū)к壦诘闹本€與第二電極所在的直線在同一方向；
[0012]驅(qū)動(dòng)縱向?qū)к壴跈M向?qū)к壣弦苿?dòng)以定位每一條第二電極，驅(qū)動(dòng)探針在所述縱向?qū)к壣弦苿?dòng)，以檢測(cè)每條第二電極的電壓。
[0013]其中，對(duì)于每條第二電極，采用探針沿第二電極所在的直線移動(dòng)的具體方式包括:
[0014]驅(qū)動(dòng)陣列基板檢測(cè)設(shè)備的縱向?qū)к壴跈M向?qū)к壣弦苿?dòng)，同時(shí)驅(qū)動(dòng)探針在縱向?qū)к壣弦苿?dòng)，使得探針的軌跡為所述第二電極所在的直線。
[0015]其中，所述預(yù)定閾值為第一電極施加電壓的30%?50%。
[0016]其中，在確定與第一電極短路的第二電極后，還包括:使光學(xué)鏡頭沿短路的第一電極和第二電極之間的縫隙移動(dòng)，將采集短路的第一電極和第二電極之間的縫隙的圖像與預(yù)先設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)圖像對(duì)比，若采集到的縫隙的圖像中在一定區(qū)域的圖像與所述標(biāo)準(zhǔn)圖像中相應(yīng)區(qū)域的圖像不同，則短路，從而確定短路位置為所述一定區(qū)域所在位置。
[0017]其中，使光學(xué)鏡頭沿短路的第一電極和第二電極之間的縫隙移動(dòng)的具體方式包括:
[0018]設(shè)置陣列基板檢測(cè)設(shè)備的縱向?qū)к?，使所述縱向?qū)к壦诘闹本€與第二電極所在的直線在同一方向；
[0019]驅(qū)動(dòng)縱向?qū)к壴跈M向?qū)к壣弦苿?dòng)以定位短路的第一電極和第二電極之間的縫隙，驅(qū)動(dòng)光學(xué)鏡頭在所述縱向?qū)к壣弦苿?dòng)。
[0020]其中，使光學(xué)鏡頭沿短路的第一電極和第二電極之間的縫隙移動(dòng)的具體方式包括:
[0021 ] 驅(qū)動(dòng)陣列基板檢測(cè)設(shè)備的縱向?qū)к壴跈M向?qū)к壣弦苿?dòng)，同時(shí)驅(qū)動(dòng)光學(xué)鏡頭在縱向?qū)к壣弦苿?dòng)，使得所述光學(xué)鏡頭沿短路的第一電極和第二電極之間的縫隙移動(dòng)。
[0022](三)有益效果
[0023]本發(fā)明通過電學(xué)探針沿光柵基板的第二電極傾斜移動(dòng)，檢測(cè)到哪兩條第一電極和第二電極短路，實(shí)現(xiàn)了對(duì)電極傾斜設(shè)置的光柵基板進(jìn)行短路檢測(cè)以定位到短路的第二電極，并及時(shí)反饋出短路不良的位置，從而提高產(chǎn)線良率和效益。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0024]圖1是本發(fā)明的液晶光柵的截面示意圖；
[0025]圖2是本發(fā)明的液晶光柵的平面示意圖；
[0026]圖3是本發(fā)明的光柵基板短路檢測(cè)方法流程圖；
[0027]圖4是本發(fā)明的液晶光柵的光柵基板上第一電極和第二電極未短路的示意圖；
[0028]圖5是本發(fā)明的液晶光柵的光柵基板上第一電極和第二電極短路的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0029]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說明本發(fā)明，但不用來(lái)限制本發(fā)明的范圍。
[0030]如圖3所示，本實(shí)施例提供的光柵基板短路檢測(cè)方法包括:
[0031]步驟S310，對(duì)光柵基板上的每條第一電極施加電壓，對(duì)于每條第二電極不加電，采用探針沿第二電極所在的直線移動(dòng)，檢測(cè)所述第二電極的電壓；
[0032]如圖2所示，對(duì)光柵基板上的每條第一電極4施加電壓，可以通過圖2中端部的引線為第一電極4施加電壓。在對(duì)第一電極4加電的同時(shí),對(duì)于每條第二電極5,米用探針沿第二電極5所在的直線移動(dòng)來(lái)檢測(cè)第二電極5的電壓。由于透明電極ITO電阻的原因，在短路處的電壓最大，離短路處越遠(yuǎn)電壓越小，離短路的第二電極5越遠(yuǎn)的未短路的第二電極5的電壓更小。逐根檢測(cè)每條第二電極5的電壓，可測(cè)得每條第二電極5的最大電壓值。
[0033]本實(shí)施例中，對(duì)于每條第二電極5，采用探針沿第二電極5所在的直線移動(dòng)的具體方式可以采用以下兩種任一種方式實(shí)現(xiàn):
[0034]方式一:
[0035]設(shè)置陣列基板檢測(cè)設(shè)備的縱向?qū)к墸锤倪M(jìn)陣列基板檢測(cè)設(shè)備的縱向?qū)к?，使縱向?qū)к壦诘闹本€與第二電極5所在的直線在同一方向。驅(qū)動(dòng)縱向?qū)к壴跈M向?qū)к壣弦苿?dòng)以定位每一條第二電極5，驅(qū)動(dòng)探針在縱向?qū)к壣弦苿?dòng)，以檢測(cè)每條第二電極5的電壓。
[0036]方式二:
[0037]可以改進(jìn)橫向?qū)к壓涂v向?qū)к壍尿?qū)動(dòng)程序，使得橫向?qū)к壓涂v向?qū)к壙赏瑫r(shí)移動(dòng)，驅(qū)動(dòng)縱向?qū)к壴跈M向?qū)к壣弦苿?dòng)，同時(shí)驅(qū)動(dòng)探針在縱向?qū)к壣弦苿?dòng)，使得探針的軌跡為第二電極5所在的直線，以檢測(cè)每條第二電極5的電壓。
[0038]步驟S320，判斷每條第二電極上的電壓最大值是否大于預(yù)定閾值，若大于，則確定與第一電極短路。檢測(cè)到的電壓可以用數(shù)值的形式展現(xiàn)，也可以采用陣列基板的檢測(cè)設(shè)備將電壓信號(hào)在顯示器端轉(zhuǎn)換為可視圖形，如:亮線(和檢測(cè)陣列基板上柵線或數(shù)據(jù)線之間短路的情況相同)。該預(yù)定閾值的范圍可根據(jù)實(shí)際情況而設(shè)定，由于短路處的圖形形狀不一樣，電阻就不一樣，電阻越大，短路的第二電極5的短路處的電壓就越小，反之，電阻越小，短路的第二電極5的短路處的電壓就越大。為了使得短路的情況盡量都能檢測(cè)出來(lái)，又保證檢測(cè)的準(zhǔn)確性，預(yù)定閾值為第一電極施加電壓的30%?50%。
[0039]本實(shí)施例的方法通過電學(xué)探針沿光柵基板的第二電極傾斜移動(dòng)，檢測(cè)到哪兩條第一電極和第二電極短路，實(shí)現(xiàn)了對(duì)電極傾斜設(shè)置的光柵基板進(jìn)行短路檢測(cè)以定位到短路的第二電極，并及時(shí)反饋出短路不良的位置，從而提高產(chǎn)線良率和效益。
[0040]為了實(shí)現(xiàn)對(duì)短路位置更精確的定位，在確定與第一電極4短路的第二電極5后，還包括:使光學(xué)鏡頭沿短路的第一電極4和第二電極5之間的縫隙移動(dòng)，將采集短路的第一電極4和第二電極5之間的縫隙的圖像與預(yù)先設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)圖像對(duì)比，如圖4中的標(biāo)準(zhǔn)圖像對(duì)t匕，若采集到的縫隙的圖像在一定區(qū)域的圖像與所述標(biāo)準(zhǔn)圖像中相應(yīng)區(qū)域的圖像不同，且在一定區(qū)域中填充有第一電極4或第二電極5的電極材料，使兩者連通，則短路，短路圖像如圖5所示，從而確定短路位置。圖5中虛線框表示短路位置，即未短路時(shí)整條縫隙不會(huì)出現(xiàn)第一電極4和第二電極5的連接點(diǎn)。光學(xué)鏡頭將采集到短路處的坐標(biāo)位置返回給陣列基板的檢測(cè)設(shè)備，從而獲取了短路的準(zhǔn)確位置。
[0041]使光學(xué)鏡頭沿短路的第一電極4和第二電極5之間的縫隙移動(dòng)的方式可采用以下兩種任一種方式實(shí)現(xiàn):[0042]方式一:
[0043]設(shè)置陣列基板檢測(cè)設(shè)備的縱向?qū)к?，即改進(jìn)陣列基板檢測(cè)設(shè)備的縱向?qū)к?，使縱向?qū)к壦诘闹本€與第二電極5所在的直線在同一方向。驅(qū)動(dòng)縱向?qū)к壴跈M向?qū)к壣弦苿?dòng)以定位短路的第一電極4和第二電極5之間的縫隙，驅(qū)動(dòng)探針在縱向?qū)к壣弦苿?dòng)，以采集縫隙的圖像。
[0044]方式二:
[0045]可以改進(jìn)橫向?qū)к壓涂v向?qū)к壍尿?qū)動(dòng)程序，使得橫向?qū)к壓涂v向?qū)к壙赏瑫r(shí)移動(dòng)，驅(qū)動(dòng)縱向?qū)к壴跈M向?qū)к壣弦苿?dòng)，同時(shí)驅(qū)動(dòng)光學(xué)鏡頭在縱向?qū)к壣弦苿?dòng)，使得所述光學(xué)鏡頭沿短路的第一電極4和第二電極5之間的縫隙移動(dòng)，以采集縫隙的圖像。
[0046]本實(shí)施例中，還利用光學(xué)鏡頭對(duì)短路的第一電極4和第二電極5之間的縫隙進(jìn)行圖像采集，并與標(biāo)準(zhǔn)的圖像比較，從而準(zhǔn)確定位了第一電極4和第二電極5短路的具體位置。
[0047]以上實(shí)施方式僅用于說明本發(fā)明，而并非對(duì)本發(fā)明的限制，有關(guān)【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，還可以做出各種變化和變型，因此所有等同的技術(shù)方案也屬于本發(fā)明的范疇，本發(fā)明的專利保護(hù)范圍應(yīng)由權(quán)利要求限定。
【權(quán)利要求】
1.一種光柵基板短路檢測(cè)方法，其特征在于，包括步驟: 對(duì)光柵基板上的每條第一電極施加電壓，對(duì)于每條第二電極不加電，采用探針沿第二電極所在的直線移動(dòng)，檢測(cè)所述第二電極的電壓； 判斷每條第二電極上的電壓最大值是否大于預(yù)定閾值，若大于，則確定與第一電極短路。
2.如權(quán)利要求1所述的光柵基板短路檢測(cè)方法，其特征在于，對(duì)于每條第二電極，采用探針沿第二電極所在的直線移動(dòng)的具體方式包括: 設(shè)置陣列基板檢測(cè)設(shè)備的縱向?qū)к?，使所述縱向?qū)к壦诘闹本€與第二電極所在的直線在同一方向； 驅(qū)動(dòng)縱向?qū)к壴跈M向?qū)к壣弦苿?dòng)以定位每一條第二電極，驅(qū)動(dòng)探針在所述縱向?qū)к壣弦苿?dòng)，以檢測(cè)每條第二電極的電壓。
3.如權(quán)利要求1所述的光柵基板短路檢測(cè)方法，其特征在于，對(duì)于每條第二電極，采用探針沿第二電極所在的直線移動(dòng)的具體方式包括: 驅(qū)動(dòng)陣列基板檢測(cè)設(shè)備的縱向?qū)к壴跈M向?qū)к壣弦苿?dòng)，同時(shí)驅(qū)動(dòng)探針在縱向?qū)к壣弦苿?dòng)，使得探針的軌跡為所述第二電極所在的直線。
4.如權(quán)利要求1所述的光柵基板短路檢測(cè)方法，其特征在于，所述預(yù)定閾值為第一電極施加電壓的30%?50%。
5.如權(quán)利要求1?4中任一項(xiàng)所述的光柵基板短路檢測(cè)方法，其特征在于，在確定與第一電極短路的第二電極后，還包括:使光學(xué)鏡頭沿短路的第一電極和第二電極之間的縫隙移動(dòng)，將采集短路的第一電極和第二電極之間的縫隙的圖像與預(yù)先設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)圖像對(duì)比，若采集到的縫隙的圖像中在一定區(qū)域的圖像與所述標(biāo)準(zhǔn)圖像中相應(yīng)區(qū)域的圖像不同，則短路，從而確定短路位置為所述一定區(qū)域所在位置。
6.如權(quán)利要求5所述的光柵基板短路檢測(cè)方法，其特征在于，使光學(xué)鏡頭沿短路的第一電極和第二電極之間的縫隙移動(dòng)的具體方式包括: 設(shè)置陣列基板檢測(cè)設(shè)備的縱向?qū)к?，使所述縱向?qū)к壦诘闹本€與第二電極所在的直線在同一方向； 驅(qū)動(dòng)縱向?qū)к壴跈M向?qū)к壣弦苿?dòng)以定位短路的第一電極和第二電極之間的縫隙，驅(qū)動(dòng)光學(xué)鏡頭在所述縱向?qū)к壣弦苿?dòng)。
7.如權(quán)利要求5所述的光柵基板短路檢測(cè)方法，其特征在于，使光學(xué)鏡頭沿短路的第一電極和第二電極之間的縫隙移動(dòng)的具體方式包括: 驅(qū)動(dòng)陣列基板檢測(cè)設(shè)備的縱向?qū)к壴跈M向?qū)к壣弦苿?dòng)，同時(shí)驅(qū)動(dòng)光學(xué)鏡頭在縱向?qū)к壣弦苿?dòng)，使得所述光學(xué)鏡頭沿短路的第一電極和第二電極之間的縫隙移動(dòng)。
【文檔編號(hào)】G02F1/13GK103487960SQ201310495913
【公開日】2014年1月1日 申請(qǐng)日期:2013年10月21日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月21日
【發(fā)明者】郭會(huì)斌, 王守坤 申請(qǐng)人:京東方科技集團(tuán)股份有限公司, 北京京東方顯示技術(shù)有限公司