一種背光模組發(fā)光面吸附檢查設備的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種背光模組發(fā)光面吸附檢查設備,包括:上治具,與上治具扣合的下治具,其特征在于:下治具的內(nèi)側圓周設置有側邊吸氣孔,上治具與下治具扣合后,下治具的側邊吸氣孔與上治具的側邊吸氣孔相對應,檢查時背光模組置于上治具和下治具之間,用抽氣裝置從真空吸氣口及側邊吸氣孔吸氣,即利用背光模組的保護膜同治具貼合密封將其內(nèi)部空氣抽出,點燈狀態(tài)下即可清晰的檢查出發(fā)光面的不良問題,該檢查設備不使用其它治具接觸背光模組,檢查過程無損傷,避免了因檢查導致?lián)p傷進而致使發(fā)光面不良的現(xiàn)象,該檢查設備較滾輪壓檢可靠,而且效率高,吸附壓檢2-3秒即可完成檢查,并且發(fā)光面檢出率達100%。
【專利說明】一種背光模組發(fā)光面吸附檢查設備
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種電子技術中背光模組的表面檢查設備,尤其涉及一種背光模組發(fā)光面吸附檢查的設備。
【背景技術】
[0002]背光模組(Back light module)為液晶顯示器面板(LCD panel)的關鍵零組件之一,由于液晶本身不發(fā)光,背光模組之功能即在于供應充足的亮度與分布均勻的光源,使其能正常顯示影像。IXD面板主要是由彩色濾光片、背光模組、驅(qū)動1C、補償膜及偏光板、玻璃基板、ITO膜、配向膜、控制電路等零組件所組成,由于液晶面板本身不具發(fā)光特性,必須藉助背光模組來達到顯示的功能,IXD面板制造商在產(chǎn)生玻璃面板之后,須先結合彩色濾光片,兩者封合后灌入液晶,再與背光模組、驅(qū)動1C、控制電路板等組件,組合成IXD模組。背光模組主要由光源、燈罩、反射板、導光板、擴散片、增亮膜及外框等組件組裝而成,背光模組主要是提供液晶面板均勻、高亮度的光源,基本原理為將常用的點或線型光源,透過簡潔有效光機構轉化成高亮度且均一輝度的面光源產(chǎn)品。一般結構為利用冷陰極管的線型光源經(jīng)反射罩進入導光板,轉化線光源分布成均勻的面光源,再經(jīng)擴散片的均光作用與棱鏡片的集光作用以提高光源的高度與均齊度。但是,由于表面污潰、刮傷及異物的產(chǎn)生導致大量不良品的出現(xiàn),因此,需要設計一系列的表面檢查裝置來檢查背光模組的表面是否存在表面污潰、刮傷及異物。
[0003]現(xiàn)有技術中,由100V?240V的電源供電,采用HID電子式的點燈方式對背光模組進行照射來檢查背光模組發(fā)光面的表面污潰、刮傷及異物,但是此種方式存在諸多缺點:一,現(xiàn)有技術的這種設備體積太大,占用工作臺面積太大;二,故障維修費用太高;三,使用的電源電壓過高,容易危機使用人員的人身安全;四,此種點燈方式照射出來的光,給長時間作業(yè)的人員造成眼部疲勞。而且,點燈狀況下背光模組發(fā)光面采用滾輪壓附檢查,存在漏檢,檢不出的弊端,使用滾輪作業(yè)工時,由滾輪壓檢10秒以上;滾輪壓檢不良,而且滾輪不可長時間停留,極易出現(xiàn)漏檢、檢不出的不良現(xiàn)象。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0004]本實用新型在上述弊端的基礎上,提供了一種針對背光模組發(fā)光面的檢查設備,該設備通過發(fā)光面吸附原理檢查,不僅檢查效率高,檢查結果清晰可見,而且操作簡便,避免了漏檢、檢不出的現(xiàn)象。
[0005]本實用新型所述的一種背光模組發(fā)光面吸附檢測設備,包括:上治具,與上治具扣合的下治具,其特征在于:下治具的內(nèi)側圓周設置有側邊吸氣孔,側邊吸氣孔相互貫通,下治具一側設置有靜電連接端,右上角設置有夾手,靠近夾手處裝置有PCB板,中間設置有真空吸氣口,下治具底端設置有底腳,底端側邊設置有開關,上治具與下治具扣合后,下治具的側邊吸氣孔與上治具的側邊吸氣孔相對應,下治具兩側的取產(chǎn)品避位缺口與上治具兩側的取產(chǎn)品避位缺口相對應。背光模組置于上治具和下治具之間,通過夾手和側邊扣合壓緊。用抽氣裝置從真空吸氣口及側邊吸氣孔吸氣,即利用背光模組的保護膜同治具貼合密封將其內(nèi)部空氣抽出,點燈狀態(tài)下即可清晰的檢查出發(fā)光面的不良問題,兩端設置的取產(chǎn)品避位缺口方便操作過程中放置、取出背光模組。
[0006]該背光模組發(fā)光面吸附檢查設備的檢查方式為背光模組的保護膜和治具相配合,采用吸氣原理,將點燈狀況下發(fā)光面迅速抽成真空來檢查出發(fā)光面不良問題點,抽出空氣后,背光模組發(fā)光面壓合,即可檢查其發(fā)光面不良(白點、亮點、亮線、折傷、黑點)。該檢查設備不使用其它治具接觸背光模組,檢查過程無損傷,避免了因檢查導致?lián)p傷進而致使發(fā)光面不良的現(xiàn)象,該檢查設備較滾輪壓檢可靠,而且效率高,吸附壓檢2-3秒即可完成檢查,并且發(fā)光面檢出率達100%。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0007]附圖1為該檢查設備的結構示意圖
[0008]附圖2為該檢查設備的主視圖
[0009]附圖3為該檢查設備中下治具的主視圖
[0010]附圖4為附圖3的左視圖
[0011]附圖5為附圖3的仰視圖
[0012]附圖6為該檢查設備中側邊吸氣孔的結構示意圖
【具體實施方式】
[0013]下面結合【專利附圖】
![附圖](/img/[目錄]/[文檔編號].gif)
【附圖說明】對本實用新型做進一步的闡述。
[0014]本實用新型所述的一種背光模組發(fā)光面吸附檢測設備,包括:上治具1,與上治具I扣合的下治具2,其特征在于:下治具2的內(nèi)側圓周設置有側邊吸氣孔8,側邊吸氣孔8相互貫通,下治具2 —側設置有靜電連接端3,右上角設置有夾手7,靠近夾手7處裝置有PCB板10,中間設置有真空吸氣口 4,下治具2底端設置有底腳5,底端側邊設置有開關6,上治具I與下治具2扣合后,下治具2的側邊吸氣孔8與上治具I的側邊吸氣孔8相對應,下治具2兩側的取產(chǎn)品避位缺口 9與上治具I兩側的取產(chǎn)品避位缺口 9相對應。
[0015]具體使用時,將背光模組置于上治具I和下治具2之間,通過夾手7和側邊扣合壓緊,打開開關6,PCB板7工作,用抽氣裝置從真空吸氣口 4及側邊吸氣孔8吸氣,即利用背光模組的保護膜同治具貼合密封將其內(nèi)部空氣抽出,點燈狀態(tài)下即可清晰的檢查出發(fā)光面的不良問題,兩端設置的取產(chǎn)品避位缺口 9方便操作過程中放置、取出背光模組,靜電連接端3用于在操作過程中對設備靜電吸附,檢查過程2?3秒即可完成,檢查完成后關掉開關6,打開上治具I和下治具2,取下背光模組即可。
【權利要求】
1.一種背光模組發(fā)光面吸附檢查設備,包括:上治具(1),與上治具(I)扣合的下治具(2),其特征在于:下治具(2)的內(nèi)側圓周設置有側邊吸氣孔(8),側邊吸氣孔(8)相互貫通,下治具(2) —側設置有靜電連接端(3),右上角設置有夾手(7),靠近夾手(7)處裝置有PCB板(10),中間設置有真空吸氣口(4),下治具(2)底端設置有底腳(5),底端側邊設置有開關⑶。
2.根據(jù)權利要求1所述的背光模組發(fā)光面吸附檢查設備,其特征還在于:上治具(I)與下治具⑵扣合后,下治具⑵的側邊吸氣孔⑶與上治具⑴的側邊吸氣孔⑶相對應,下治具(2)兩側的取產(chǎn)品避位缺口(9)與上治具(I)兩側的取產(chǎn)品避位缺口(9)相對應。
【文檔編號】G02F1/13GK203465485SQ201320451398
【公開日】2014年3月5日 申請日期:2013年7月26日 優(yōu)先權日:2013年7月26日
【發(fā)明者】李傳波 申請人:蘇州啟悅精密電子有限公司