本發(fā)明涉及一種檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及表面貼裝電路基板檢測用的光電顯示裝置、檢測裝置及其方法。

背景技術(shù)：

近年來，液晶顯示技術(shù)快速發(fā)展。液晶顯示技術(shù)是一種電光轉(zhuǎn)換技術(shù)，即根據(jù)加在液晶兩側(cè)的電場大小，改變液晶的排列狀態(tài)，從而改變經(jīng)過液晶層的光路方向，最終改變液晶顯示裝置的出光效果。

如圖1A、1B所示，一種檢測電路基板電學特性的檢測裝置，采用一塊如PDLC型光電顯示裝置10懸空在電路基板14上，該液晶顯示面板10包括對置基板11，液晶層12，反射層13。其中，圖1A為該光電顯示裝置10處于電壓關(guān)斷狀態(tài)，液晶未發(fā)生光學變化。而圖1B為該光電顯示裝置10處于加電壓狀態(tài)。通過在光電顯示裝置10的對置基板11和電路基板14之間施加電壓產(chǎn)生電場15，使電路基板14對應(yīng)電極上方的液晶12的狀態(tài)發(fā)生改變，根據(jù)光電顯示裝置的出光效果判斷電路基板上各個電極的電學特性，電極導通處的液晶光學發(fā)生正常的變化，而電極不導通出的液晶光學未發(fā)生變化。

相比其他電路測試方法，如飛針測試，用液晶顯示裝置檢測電路基板的電學特性，更加直觀形象。并且，沒有外加的機械力，不會造成線路板的表面損傷。但是，在圖1B中，液晶面板的基板作為絕緣層，會消弱加載到液晶上的電場強度。所以，基板必須做到微米級的厚度。然而越是薄的基板頻繁接觸到電路基板就越容易被電路基板磨損，因此顯示屏需要與電路基板保持一定的距離，但該距離的存在也會消弱加載到液晶上的電場強度。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

有鑒于此，本發(fā)明的目的就是針對現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，提供一種可降低檢測電壓，增強裝置可靠性和耐久性，增加光電顯示裝置的可應(yīng)用范圍的用于電路檢測的光電顯示裝置及其用于檢測的方法。

為達上述或其它目的，本發(fā)明一方面一實施例提出了一種光電顯示裝置，包括：一基板，具有兩側(cè)表面，一側(cè)表面上配置有多個第一電極片，另一側(cè)表面上對應(yīng)配置有多 個第二電極片，一所述第一電極片與一所述第二電極片通過導電孔實現(xiàn)電氣連接；一對置基板，與該基板對向設(shè)置；以及一顯示介質(zhì)，設(shè)置于該基板與該對置基板之間。

為達上述或其它目的，本發(fā)明另一實施例提出了一種光電顯示裝置，包括：一基板，具有兩側(cè)表面，一側(cè)表面上配置有多個第一電極片，另一側(cè)表面上對應(yīng)配置有多個第二電極片，一所述第一電極片與一所述第二電極片通過導電孔實現(xiàn)電氣連接；一對置基板，其上配置有透明導電層，與該基板對向設(shè)置；以及一顯示介質(zhì)，設(shè)置于該基板與該對置基板之間。

為達上述或其它目的，本發(fā)明又一實施例提出了一種光電顯示裝置，包括：一基板，具有兩側(cè)表面，一側(cè)表面上配置有多個第一電極片，另一側(cè)表面上對應(yīng)配置有多個第二電極片，一所述第一電極片與一所述第二電極片通過導電孔實現(xiàn)電氣連接；一對置基板，其上配置有透明導電層，與該基板對向設(shè)置；以及一顯示介質(zhì)，設(shè)置于該基板與該對置基板之間；其中，所述基板與所述對置基板上分別覆蓋有配向膜。

為達上述或其它目的，本發(fā)明再一實施例提出了一種光電顯示裝置，包括：一基板，具有兩側(cè)表面，一側(cè)表面上配置有多個第一電極片，另一側(cè)表面上對應(yīng)配置有多個第二電極片，一所述第一電極片與一所述第二電極片通過導電孔實現(xiàn)電氣連接；一對置基板，與該基板對向設(shè)置；以及一顯示介質(zhì)，設(shè)置于該基板與該對置基板之間；其中，所述基板與所述對置基板上分別覆蓋有配向膜。

進一步地，所述基板還包括絕緣層，配置于所述基板的所述一側(cè)表面上，覆蓋所述第一電極片。

進一步地，所述對置基板的靠近所述顯示介質(zhì)的一側(cè)配置有彩膜層。

進一步地，所述第一、二電極片為任意形狀，且一所述第一電極片的面積比與其對應(yīng)一所述第二電極片的面積大。

為達上述或其它目的，本發(fā)明另一方面提出了一種檢測裝置，用于檢測電路基板的電路特性，包括：如上述各實施例所述的光電顯示裝置，貼置在所述檢測電路基板的一側(cè)表面；導電板，貼置在所述檢測電路基板的另一側(cè)表面，用于為所述電路基板和所述光電顯示裝置提供電源。

為達上述或其它目的，本發(fā)明另一方面提出了一種檢測方法，用于檢測電路基板的電路特性，所述電路基板具有兩側(cè)電路圖案，通過導電過孔導通，包括：提供上述實施例中垂直電場切換型光電顯示裝置，貼置在所述檢測電路基板的一側(cè)表面；提供一導電 板，貼置在所述檢測電路基板的另一側(cè)表面，用于為所述電路基板和所述光電顯示裝置提供電源；在所述對置基板上的所述導電層和所述導電板之間施加一檢測電壓，施加在所述導電板上的電壓通過所述電路基板的所述導電過孔傳導到所述基板的所述第二電極片，再通過所述導電孔傳導到所述基板的所述第一電極片；根據(jù)所述光電顯示裝置的顯示結(jié)果，判斷所述電路基板的電路特性情況。

為達上述或其它目的，本發(fā)明再一方面提出了一種檢測方法，用于檢測電路基板的電路特性，所述電路基板具有兩側(cè)電路圖案，通過導電過孔導通，包括：提供上述實施例中共面電場切換型光電顯示裝置，貼置在所述檢測電路基板的一側(cè)表面；提供一導電板，具有多個導電圖案單元，貼置在所述檢測電路基板的另一側(cè)表面，一所述導電圖案單元與所述第二電極片對應(yīng)，用于為所述電路基板和所述光電顯示裝置提供電源；通過對所述導電板上兩相鄰的所述導電圖案單元施加檢測電壓，施加在所述導電板上的所述檢測電壓通過所述電路基板上對應(yīng)的多個所述導電過孔傳導到所述基板上對應(yīng)的多個所述第二電極片，再通過對應(yīng)的多個所述導電孔傳導到對應(yīng)的多個所述第一電極片；根據(jù)所述光電顯示裝置的顯示結(jié)果，判斷所述電路基板的電路特性情況。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下優(yōu)點：

本發(fā)明通過將待檢測電路基板的一側(cè)和光電顯示裝置一側(cè)分別作為液晶的兩個電極，或者通過將待檢測電路基板的一側(cè)的兩個相鄰電極分別作為液晶的兩個電極，對光電顯示裝置和/或電路基板施加電壓后，使光電顯示裝置實現(xiàn)電控光閥的作用，從而在光電顯示裝置上顯示出線路電氣特征，最終能準確、直觀地判斷電路的短路和斷路情況。可降低檢測電壓，增強裝置可靠性和耐久性。

附圖說明

圖1A、1B為本發(fā)明現(xiàn)有技術(shù)的液晶顯示裝置的剖面示意圖；

圖2A為示意性示出本發(fā)明光電顯示裝置一實施例的剖面示意圖；

圖2B為示意性示出本發(fā)明光電顯示裝置另一實施例的剖面示意圖；

圖3A為示意性示出本發(fā)明光電顯示裝置又一實施例的剖面示意圖；

圖3B為示意性示出本發(fā)明光電顯示裝置再一實施例的剖面示意圖；

圖4A為示意性示出本發(fā)明檢測裝置一實施例的剖面示意圖；

圖4B為示意性示出本發(fā)明檢測裝置又一實施例的剖面示意圖；

圖5A為示意性示出本發(fā)明正常電路基板中導電過孔矩陣的平面示意圖；

圖5B為示意性示出本發(fā)明檢測圖5A所示正常電路基板的檢測裝置顯示畫面示意圖；

圖6為示意性示出本發(fā)明檢測存在導電過孔斷路的電路基板的光電顯示裝置剖面示意圖；

圖7A為示意性示出本發(fā)明檢測圖6所示電路基板中導電過孔矩陣的平面示意圖；

圖7B為示意性示出本發(fā)明檢測圖6所示電路基板的光電顯示裝置顯示平面示意圖；

圖8為示意性示出本發(fā)明檢測存在相鄰導電過孔短路的電路基板的光電顯示裝置剖面示意圖；

圖9A示意性示出為本發(fā)明檢測圖8所示電路基板中導電過孔矩陣的平面示意圖；

圖9B示意性示出為本發(fā)明檢測圖8所示電路基板的光電顯示裝置顯示平面示意圖。

具體實施方式

圖2A為本發(fā)明光電顯示裝置一實施例的剖面示意圖。如圖2A所示，本發(fā)明提供一種光電顯示裝置，包括：一基板230、一與所述基板230對向設(shè)置的對置基板210，以及夾在基板230與所述對置基板210之間的液晶層220。所述對置基板210和基板230可以為玻璃基板或樹脂基板(PET)等。

其中，所述對置基板210在靠近所述液晶層220一側(cè)可選擇地覆蓋彩膜層(CF)(圖未示)，可以實現(xiàn)彩色顯示畫面。

所述基板230具有兩側(cè)表面，在所述基板230的一側(cè)表面的所述顯示區(qū)域內(nèi)布置多個第一電極片231形成的矩陣，在所述基板230的另一側(cè)表面布置多個第二電極片233形成的矩陣，一所述第一電極片231與一所述第二電極片233上下垂直對應(yīng)，且一所述第一電極片231與一所述第二電極片233之間通過導電孔232實現(xiàn)電學導通連接。且所述基板230靠近液晶層220的表面覆蓋有透明絕緣層235。

在一具體的實現(xiàn)中，所述第一電極片231與所述第二電極片233可以為金屬、合金、復合金屬或金屬氧化物等材料，其可以通過噴墨印刷、絲網(wǎng)印刷或貼片等制作工藝形成在上述光電顯示裝置的基板230上，所述第一、二電極片231、233可選擇為任意形狀。優(yōu)選地，一所述第一電極片231的形狀與光電顯示裝置顯示區(qū)域內(nèi)一所述像素單元的形狀相同，所述一第一電極片231的面積比與其對應(yīng)一所述第二電極片233的面積大，所述一第一電極片231面積較大以使光電顯示裝置顯示結(jié)果的缺陷便于被人眼識別，所述 顯示缺陷包括點缺陷、線缺陷和/或面缺陷等電路電氣異常的情況。所述一第二電極片233面積較小以提高被測試電路基板上測試點的精細度。

在圖2A所示的光電顯示裝置中，所述液晶層220中的材料優(yōu)選地為采用藍相(Blue Phase，BP)液晶等。采用該類型的顯示介質(zhì)，光電顯示裝置的所述對置基板無需設(shè)置導電層，兩側(cè)基板不用涂布配向膜。該光電顯示裝置為共面電場切換型液晶顯示裝置，通過在任意兩第二電極片或任意兩第二電極片區(qū)域之間施加電壓，即可實現(xiàn)電光轉(zhuǎn)換顯示畫面的效果。

圖2B為本發(fā)明光電顯示裝置另一實施例的剖面示意圖。如圖2B所示，本發(fā)明提供一種光電顯示裝置，包括：一基板230’、一與所述基板230’對向設(shè)置的對置基板210’，以及夾在基板230’與所述對置基板210’之間的液晶層220’。所述對置基板210’和基板230’可以為玻璃基板或樹脂基板(PET)等,其中，所述基板與所述對置基板上分別覆蓋有配向膜229’。

其中，所述對置基板210’在靠近所述液晶層220’一側(cè)可選擇地覆蓋彩膜層(CF)(圖未示)，可以實現(xiàn)彩色顯示畫面，其上配置有所述配向膜229’。

所述基板230’具有兩側(cè)表面，在所述基板230’的一側(cè)表面的所述顯示區(qū)域內(nèi)布置多個第一電極片231’形成的矩陣，在所述基板230’的另一側(cè)表面布置多個第二電極片233’形成的矩陣，一所述第一電極片231’與一所述第二電極片233’上下垂直對應(yīng)，且一所述第一電極片231’與一所述第二電極片233’之間通過導電孔232’實現(xiàn)電學導通連接。且所述基板230’靠近液晶層220’的表面覆蓋有透明絕緣層235’。

在一具體的實現(xiàn)中，所述第一電極片231’與所述第二電極片233’可以為金屬、合金、復合金屬或金屬氧化物等材料，其可以通過噴墨印刷、絲網(wǎng)印刷或貼片等制作工藝形成在上述光電顯示裝置的基板230’上，所述第一、二電極片231’、233’可選擇為任意形狀。優(yōu)選地，一所述第一電極片231’的形狀與光電顯示裝置顯示區(qū)域內(nèi)一所述像素單元的形狀相同，所述一第一電極片231’的面積比與其對應(yīng)一所述第二電極片233’的面積大，所述一第一電極片231’面積較大以使光電顯示裝置顯示結(jié)果的缺陷便于被人眼識別，所述顯示缺陷包括點缺陷、線缺陷和/或面缺陷等電路電氣異常的情況。所述一第二電極片233’面積較小以提高被測試電路基板上測試點的精細度。

在圖2B所示的光電顯示裝置中，所述液晶層220’中的材料優(yōu)選地為采用平面轉(zhuǎn)換(In Plane Switching，IPS)型液晶等。采用該類型的顯示介質(zhì)，光電顯示裝置的所 述對置基板無需設(shè)置導電層。該光電顯示裝置為共面電場切換型液晶顯示裝置，通過在任意兩第二電極片或任意兩第二電極片區(qū)域之間施加電壓，即可實現(xiàn)電光轉(zhuǎn)換顯示畫面的效果。

圖3A為本發(fā)明光電顯示裝置又一實施例的剖面示意圖。如圖3A所示，本發(fā)明提供一種光電顯示裝置，包括：一基板330、一與所述基板330對向的對置基板310，以及夾在基板330與所述對置基板310之間的液晶層320。所述對置基板310靠近液晶層320一側(cè)覆蓋導電層324。所述導電層324常用的材料為氧化銦錫(ITO)或摻雜氧化鋁，優(yōu)選地為氧化銦錫(ITO)材料。所述對置基板310和基板330可以為玻璃基板或樹脂基板(PET)等。

其中，所述對置基板310在靠近所述液晶層320一側(cè)可選擇地覆蓋彩膜層(CF)(圖未示)，可以實現(xiàn)彩色顯示畫面。

所述基板330具有兩側(cè)表面，在所述基板330的一側(cè)表面的所述顯示區(qū)域內(nèi)布置多個第一電極片331形成的矩陣，在所述基板330的另一側(cè)表面布置多個第二電極片233形成的矩陣，一所述第一電極片331與一所述第二電極片333上下垂直對應(yīng)，且一所述第一電極片331與一所述第二電極片333之間通過導電孔232實現(xiàn)電學導通連接。且所述基板330靠近液晶層320的表面覆蓋有透明絕緣層335。

在一具體的實現(xiàn)中，所述第一電極片331與所述第二電極片333可以為金屬、合金、復合金屬或金屬氧化物等材料，其可以通過噴墨印刷、絲網(wǎng)印刷或貼片等制作工藝形成在上述光電顯示裝置的基板330上，所述第一、二電極片331、333可選擇為任意形狀。優(yōu)選地，所述一第一電極片331的面積比與其對應(yīng)一所述第二電極片333的面積大，所述一第一電極片331面積較大以使光電顯示裝置顯示結(jié)果的缺陷便于被人眼識別，所述顯示缺陷包括點缺陷、線缺陷和/或面缺陷等電路電氣異常的情況。所述一第二電極片333面積較小以提高被測試電路基板上測試點的精細度。

在圖3A所示的光電顯示裝置中，所述液晶層320中的材料優(yōu)選地為表面穩(wěn)定鐵電液晶(Surface Stabilized Ferroelectric Liquid Crystal，SSFLC)或者膽甾相液晶(Cholesteric Liquid Crystal)或者聚合物分散液晶(Polymer Dispersed Liquid Crystal，PDLC)或等液晶材料。采用該類型的顯示介質(zhì)，光電顯示裝置的兩側(cè)基板無需涂布配向膜。該光電顯示裝置為垂直電場切換型液晶顯示裝置，通過在所述對置基板的所述導電層324與所述第二電極片333之間施加電壓，即可實現(xiàn)電光轉(zhuǎn)換顯示畫面的 效果。

圖3B為本發(fā)明光電顯示裝置再一實施例的剖面示意圖。如圖3B所示，本發(fā)明提供一種光電顯示裝置，包括：一基板330’、一與所述基板330’對向設(shè)置的對置基板310’，以及夾在基板330’與所述對置基板310’之間的液晶層320’。所述對置基板310’靠近液晶層320’一側(cè)覆蓋導電層324’，配向膜329’覆蓋所述導電層324’。所述導電層324’常用的材料為氧化銦錫(ITO)或摻雜氧化鋁，優(yōu)選地為氧化銦錫(ITO)材料。所述對置基板310’和基板330’可以為玻璃基板或樹脂基板(PET)等,其中，所述基板與所述對置基板上分別覆蓋有配向膜329’。

其中，所述對置基板310’在靠近所述液晶層320’一側(cè)可選擇地覆蓋彩膜層(CF)(圖未示)，相應(yīng)地所述導電層324’可選擇地覆蓋所述彩膜層,可以實現(xiàn)彩色顯示畫面，所述上導電層324’配置有所述配向膜329’。

所述基板330’具有兩側(cè)表面，在所述基板330’的一側(cè)表面的所述顯示區(qū)域內(nèi)布置多個第一電極片331’形成的矩陣，在所述基板330’的另一側(cè)表面布置多個第二電極片333’形成的矩陣，一所述第一電極片331’與一所述第二電極片333’上下垂直對應(yīng)，且一所述第一電極片331’與一所述第二電極片333’之間通過導電孔332’實現(xiàn)電學導通連接。且所述基板330’靠近液晶層320’的表面覆蓋有透明絕緣層335’,配向膜329’可選擇地覆蓋所述透明絕緣層325’。

在一具體的實現(xiàn)中，所述第一電極片331’與所述第二電極片333’可以為金屬、合金、復合金屬或金屬氧化物等材料，其可以通過噴墨印刷、絲網(wǎng)印刷或貼片等制作工藝形成在上述光電顯示裝置的基板330’上，所述第一、二電極片331’、333’可選擇為任意形狀。優(yōu)選地，所述一第一電極片331’的面積比與其對應(yīng)一所述第二電極片333’的面積大，所述一第一電極片331’面積較大以使光電顯示裝置顯示結(jié)果的缺陷便于被人眼識別，所述顯示缺陷包括點缺陷、線缺陷和/或面缺陷等電路電氣異常的情況。所述一第二電極片333’面積較小以提高被測試電路基板上測試點的精細度。

在圖3B所示的光電顯示裝置中，所述液晶層320’中的材料優(yōu)選地為采用扭曲向列(Twisted Nematic，TN)型液晶，或者垂直取向(Vertical Alignment，VA)型液晶等。采用該類型的顯示介質(zhì)，光電顯示裝置的所述對置基板需要在所述對置基板一側(cè)設(shè)置導電層以及在兩側(cè)基板涂布配向膜。該光電顯示裝置為垂直電場切換型液晶顯示裝置，通過在所述對置基板的所述導電層324’與所述第二電極片333’之間施加電壓，即可 實現(xiàn)電光轉(zhuǎn)換顯示畫面的效果。

本發(fā)明提供的光電顯示裝置，根據(jù)上述實施例提供的不同結(jié)構(gòu)和對應(yīng)的顯示介質(zhì)，可以相應(yīng)地施加水平電場或垂直電場，使光電顯示裝置實現(xiàn)電控光閥的作用，從而在光電顯示裝置上顯示出線路電氣特征，最終能準確、直觀地判斷電路異常情況，如短路和斷路?？山档蜋z測電壓，增強裝置可靠性和耐久性，增加光電顯示裝置的可應(yīng)用范圍的用于電路檢測的光電顯示裝置及其用于檢測的方法。

本發(fā)明還提供了包括上述各實施例光電顯示裝置的檢測裝置，用于電路檢測，下面進一步結(jié)合附圖描述如下。

圖4A為本發(fā)明檢測裝置一實施例的剖面示意圖。如圖4A所示，本發(fā)明提供一種檢測裝置，用于檢測電路電氣特性，具體例如檢測電路板，優(yōu)選地，所述電路板具有兩側(cè)電路圖案，且所述兩側(cè)電路圖案通過導電過孔510實現(xiàn)電氣導通。所述檢測裝置包括：光電顯示裝置400，貼置在所述檢測電路基板500的一側(cè)表面；導電板600，貼置在所述檢測電路基板500的另一側(cè)表面，用于為所述電路基板500和所述光電顯示裝置400提供電源。

提供上述光電顯示裝置400，包括：一基板430、一與所述基板430對向設(shè)置的對置基板410，以及夾在基板430與所述對置基板410之間的液晶層420。所述對置基板410和基板430可以為玻璃基板或樹脂基板(PET)等。

其中，所述對置基板410在靠近所述液晶層420一側(cè)可選擇地覆蓋彩膜層(CF)(圖未示)，可以實現(xiàn)彩色顯示畫面。

所述基板430具有兩側(cè)表面，在所述基板430的一側(cè)表面的所述顯示區(qū)域內(nèi)布置多個第一電極片431形成的矩陣，在所述基板430的另一側(cè)表面布置多個第二電極片433形成的矩陣，一所述第一電極片431與一所述第二電極片433上下垂直對應(yīng)，且一所述第一電極片431與一所述第二電極片433之間通過導電孔432實現(xiàn)電學導通連接。且所述基板430靠近液晶層420的表面覆蓋有透明絕緣層435。

在一具體的實現(xiàn)中，所述第一電極片431與所述第二電極片433可以為金屬、合金、復合金屬或金屬氧化物等材料，其可以通過噴墨印刷、絲網(wǎng)印刷或貼片等制作工藝形成在上述光電顯示裝置的基板430上，所述第一、二電極片431、433可選擇為任意形狀。優(yōu)選地，所述一第一電極片431的面積比與其對應(yīng)一所述第二電極片433的面積大，所述一第一電極片431面積較大以使光電顯示裝置顯示結(jié)果的缺陷便于被人眼識別，所述 顯示缺陷包括點缺陷、線缺陷和/或面缺陷等電路電氣異常的情況。所述一第二電極片433面積較小以提高被測試電路基板上測試點的精細度。

在圖4A所示的光電顯示裝置400中，所述液晶層420中的材料優(yōu)選地為采用藍相(Blue Phase，BP)型液晶等。采用該類型的顯示介質(zhì)，光電顯示裝置的所述對置基板無需設(shè)置導電層，兩側(cè)基板不用涂布配向膜。該光電顯示裝置為共面電場切換型液晶顯示裝置，通過在任意兩第二電極片或任意兩第二電極片區(qū)域之間施加電壓，即可實現(xiàn)電光轉(zhuǎn)換顯示畫面的效果。

可選擇地，在光電顯示裝置400的基板430和對置基板410的對向兩側(cè)各涂布有配向膜429，所述液晶層420中的材料優(yōu)選地為采用平面轉(zhuǎn)換(In Plane Switching，IPS)型液晶等。采用該類型的顯示介質(zhì)，光電顯示裝置的所述對置基板無需設(shè)置導電層。該光電顯示裝置為共面電場切換型液晶顯示裝置，通過在任意兩第二電極片或任意兩第二電極片區(qū)域之間施加電壓，即可實現(xiàn)電光轉(zhuǎn)換顯示畫面的效果。

具體地，一導電板600，其上形成有導電圖案，包括多個導電圖案單元，一該導電圖案單元與光電顯示裝置400的基板430上的一第二電極片433的圖案相對應(yīng)，在光電顯示裝置400的導電板600的兩相鄰的導電圖案單元上施加電壓Vc，施加在所述導電板600上的所述檢測電壓通過所述電路基板500對應(yīng)的所述導電過孔510A和510B分別傳導到相應(yīng)地所述第二電極片433A和433B，再分別通過所述基板430的所述導電孔432A和432B分別傳導到所述基板430的所述第一電極片431A和431B；在第一電極片431A和431B之間就形成一個由電壓Vc形成的橫向電場。其中，兩相鄰的導電圖案單元不限于圖4A所示的點圖案，也可以是兩相鄰區(qū)域的其他圖案。

圖4B為本發(fā)明又一實施例的光電顯示裝置的剖面示意圖。如圖4B所示，本發(fā)明提供一種檢測裝置，其結(jié)構(gòu)與前述實施例相同的部分不再贅述，不同在于本實施例中，在光電顯示裝置400’的對置基板410’靠近顯示介質(zhì)420’的一側(cè)配置有透明導電層424，且采用的顯示介質(zhì)材料不同。

具體地，該光電顯示裝置400’所述液晶層420’中的材料優(yōu)選地為表面穩(wěn)定鐵電液晶(Surface Stabilized Ferroelectric Liquid Crystal，SSFLC)或者膽甾相液晶(Cholesteric Liquid Crystal)或者聚合物分散液晶(Polymer Dispersed Liquid Crystal，PDLC)或等液晶材料。采用該類型的顯示介質(zhì)，光電顯示裝置的兩側(cè)基板無需涂布配向膜。該光電顯示裝置為垂直電場切換型液晶顯示裝置，通過在所述對置基板 的所述導電層424’與所述第二電極片433’之間施加電壓，即可實現(xiàn)電光轉(zhuǎn)換顯示畫面的效果。

可選擇地，在光電顯示裝置400’的基板430’和對置基板410’的對向兩側(cè)各涂布有配向膜429’。所述液晶層420’中的材料優(yōu)選地為采用扭曲向列(Twisted Nematic，TN)型液晶，或者垂直取向(Vertical Alignment，VA)型液晶等。采用該類型的顯示介質(zhì)，光電顯示裝置的所述對置基板需要在所述對置基板一側(cè)設(shè)置導電層以及在兩側(cè)基板涂布配向膜。該光電顯示裝置為垂直電場切換型液晶顯示裝置，通過在所述對置基板的所述導電層424’與所述第二電極片433’之間施加電壓，即可實現(xiàn)電光轉(zhuǎn)換顯示畫面的效果。

具體地，導電板600沿著電路基板500的導電過孔(THROUGH VIA)510、光電顯示裝置400的所述基板的第二電極片433、導電孔432、第一電極片431，形成一個導電通道。通過在光電顯示裝置400在對置基板410的透明導電層424與導電板600之間施加電壓，所述導電板600將與所述光電顯示裝置400的基板430的第一電極片431形成等電位，從而把導電板600與所述光電顯示裝置400的對置基板410之間的電位直接施加到液晶層420上，其中，導電過孔510表示從電路基板500的一個表層延展到另一個表層的導通孔。

本發(fā)明各實施例提供的檢測裝置的說明中，光電顯示裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)只是舉例說明，不限于此，還可以是PDLC型液晶顯示裝置等其它光電顯示裝置的結(jié)構(gòu)。

圖5A是本發(fā)明正常電路基板中導電過孔矩陣的平面示意圖。如圖5A所示，電路基板500中的多個導電過孔510呈現(xiàn)點陣圖案440分布，一所述導電過孔510連接所述電路基板500兩側(cè)的各一電路圖案，所述電路基板500兩側(cè)的電路圖案為與所述導電過孔510數(shù)量對應(yīng)的多個，且形狀不限。

圖5B是本發(fā)明檢測圖5A所示正常電路基板的光電顯示裝置顯示平面示意圖。光電顯示裝置400顯示圖案畫面440’與基板430一側(cè)的第一電極片的形狀圖案對應(yīng)。

本發(fā)明另一實施例還提供了一種檢測方法。參考圖4A和圖5A、5B，使用圖4A實施例提供的檢測裝置進行電路特性檢測的方法步驟如下：

a、提供一導電板600，其上形成有導電圖案，包括多個導電圖案單元，一該導電圖案單元與光電顯示裝置400的基板430上的一第二電極片433的圖案相對應(yīng)，在光電顯示裝置400的導電板600的兩相鄰的導電圖案單元上施加電壓Vc，施加在所述導電板 600上的所述檢測電壓通過所述電路基板500對應(yīng)的所述導電過孔510A和510B分別傳導到相應(yīng)地所述第二電極片433A和433B，再通過所述基板430的所述導電孔432A和432B傳導到所述基板430的所述第一電極片431A和431B；在第一電極片431A和431B之間就形成一個由電壓Vc形成的橫向電場。其中，兩相鄰的導電圖案單元不限于圖4A所示的點圖案，也可以是兩相鄰區(qū)域圖案。

b、根據(jù)如圖5B所示的光電顯示裝置400的顯示圖案畫面440，判斷如圖5A所示的電路基板導電過孔的電路特性。

本發(fā)明一實施例還提供了一種檢測方法。參考圖4B和圖5A、5B，使用圖4B實施例提供的檢測裝置進行電路特性檢測的方法步驟如下：

a、在光電顯示裝置400的導電層424和導電板600之間施加電壓Vc，施加在所述導電板600上的所述檢測電壓通過所述電路基板的所述導電過孔510傳導到所述基板430的所述第二電極片433，再通過所述基板430的所述導電孔432傳導到所述基板430的所述第一電極片431；

b、根據(jù)如圖5B所示的光電顯示裝置400的顯示圖案畫面440’，判斷如圖5A所示的電路基板導電過孔的電路特性。

在上述各檢測方法的實施例的具體的實現(xiàn)中，圖5B所示光電顯示裝置500顯示的像素矩陣中每一像素的位置與圖5A所示電路基板如電路基板中的導電過孔矩陣中每一導電過孔的位置一一對應(yīng)。

在上述各檢測方法的實施例的具體的實現(xiàn)中，在所述對置基板410和所述導電板600之間施加檢測電壓Vc時，所述第一電極片431與所述對置基板410的導電層424之間形成電場使液晶層422發(fā)生轉(zhuǎn)動，改變第一電極片431正上方區(qū)域的液晶的光學特性，產(chǎn)生液晶發(fā)生變化的區(qū)域A。

在上述各檢測方法的實施例的具體的實現(xiàn)中，所述顯示結(jié)果為待檢測的所述電路基板的光電顯示效果與圖5所示正常的所述電路基板的光電顯示效果對比，根據(jù)顯示缺陷的位置再判定所述電路基板上短路或斷路導電過孔的位置。例如，所述顯示缺陷為液晶顯示裝置400施加電壓Vc后，所述液晶顯示裝置400中液晶層422不發(fā)生變化的點或區(qū)域，其包括點缺陷、線缺陷和/或面缺陷等電氣。

針對本發(fā)明的檢測方法，以采用垂直電場切換型液晶顯示裝置應(yīng)用于圖4B實施例對應(yīng)檢測裝置的檢測方法為例，為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點能更明顯易 懂，下文特舉優(yōu)選實施例，并配合附圖作詳細說明如下：

實施例1

圖6是本發(fā)明檢測存在導電過孔斷路的電路基板的光電顯示裝置剖面示意圖；圖7A是本發(fā)明檢測圖6所示電路基板中導電過孔矩陣的平面示意圖；圖7B是本發(fā)明檢測圖6所示電路基板的光電顯示裝置顯示平面示意圖。結(jié)合參考圖6、圖7A、7B，實施例1中的光電顯示裝置的主要構(gòu)件以及其對應(yīng)的連接關(guān)系與上述實施相類似，本發(fā)明的電路特性檢測裝置，檢測如圖6所示的存在導電過孔斷路的電路基板時，具體檢測方案如下：

a、提供一如上述各實施例說明的光電顯示裝置400’，將光電顯示裝置400’、電路基板500’、導電板600’依次緊密貼合；

b、在所述光電顯示裝置400’的對置基板410’的導電層424’和導電板600’之間施加檢測電壓Vc；

c、施加在導電板600’上的電壓通過電路基板500’的導電過孔510’傳導到光電顯示裝置400基板430’一側(cè)表面的第二電極片433’，再通過光電顯示裝置400基板430’上的導電孔432傳導到第一電極片431’，第一電極片431’與導電層424’之間形成電場促使液晶發(fā)生轉(zhuǎn)動，改變第一電極片431’正上方區(qū)域的液晶的光學特性，產(chǎn)生液晶發(fā)生變化的區(qū)域A，例如電路基板中導電過孔斷路C，其對應(yīng)的第一電極片431’正上方區(qū)域A’的液晶狀態(tài)則不發(fā)生變化。

d、對比圖7B所示的光學顯示效果與圖5所示的正常電路基板的顯示效果，判定斷路導電過孔510’的位置。例如，圖7B所示光電顯示裝置中像素矩陣顯示缺陷C1的陣列位置對應(yīng)圖7A所示電路基板如電路板所示導電過孔矩陣中斷路導電過孔C1’的陣列位置，其中，單個導電過孔C1斷路時上述顯示缺陷一般為點缺陷。

實施例2

圖8是本發(fā)明檢測存在相鄰導電過孔短路的電路基板的光電顯示裝置剖面示意圖；圖9A是本發(fā)明檢測圖8所示電路基板中導電過孔矩陣的平面示意圖；圖9B是本發(fā)明檢測圖8所示電路基板的光電顯示裝置顯示平面示意圖。結(jié)合參考圖8、圖9A、9B，實施例2中的光電顯示裝置和光電顯示裝置的主要構(gòu)件以及其對應(yīng)的連接關(guān)系與上述實施相類似，本發(fā)明的電路特性檢測裝置，檢測如圖8所示的存在相鄰導電過孔短路的電路基板時，具體檢測方案如下：

a、提供一如上述各實施例說明的光電顯示裝置400’，其包括將光電顯示裝置400’、電 路基板500’、導電板600’上下緊密貼合；

b、在光電顯示裝置400’中對置基板410’的導電層424’和導電板600’之間施加檢測電壓Vc；

c、施加在導電板600’上的電壓Vc通過電路基板500’的導電過孔510’傳導到光電顯示裝置基板400’的第二電極片433’，再通過光電顯示裝置400’基板410’的導電孔432’傳導到第一電極431’，該第一電極片431’與導電層424’之間形成電場促使液晶發(fā)生轉(zhuǎn)動，改變第一電極片431’正上方區(qū)域的液晶層的光學特性，產(chǎn)生液晶發(fā)生變化的區(qū)域A，例如電路基板中導電過孔短路S，其對應(yīng)的第一電極片正上方區(qū)域C的液晶狀態(tài)則不發(fā)生變化。

d、對比圖9B所示的光學顯示效果與圖5所示的正常電路基板的顯示效果，判定短路導電過孔的位置。例如，圖9B所示光電顯示裝置中像素矩陣顯示缺陷S1的陣列位置對應(yīng)圖9A所示電路基板如PCB板所示導電過孔矩陣中短路導電過孔S1’的陣列位置，其中，兩個導電過孔S’短路時上述顯示缺陷一般為兩個鄰接點缺陷。

以上詳細描述了本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，但是，本發(fā)明并不限于上述實施方式中的具體細節(jié)，在本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思范圍內(nèi)，可以對本發(fā)明的技術(shù)方案進行多種等同變換，這些等同變換均屬于本發(fā)明的保護范圍。

另外需要說明的是，在上述具體實施方式中所描述的各個具體技術(shù)特征，在不矛盾的情況下，可以通過任何合適的方式進行組合。為了避免不必要的重復，本發(fā)明對各種可能的組合方式不再另行說明。