本發(fā)明涉及光學(xué)顯示器件的檢查方法以及光學(xué)構(gòu)件的圖案識(shí)別方法。

本申請(qǐng)基于在2014年7月1日在日本申請(qǐng)的特愿2014-135741號(hào)主張優(yōu)先權(quán)，將其內(nèi)容引用于此。

背景技術(shù)：

近年來，正在開發(fā)被稱作FPR(Film Patterned Retarder)方式的被動(dòng)式的3D(3Dimension)液晶顯示裝置。

在該方式的3D液晶顯示裝置(顯示裝置)中，例如在液晶面板的顯示面?zhèn)扰渲糜衅衿瑢?，進(jìn)一步地在視覺辨識(shí)側(cè)配置有圖案化相位差層。另外，在液晶面板的背光側(cè)配置有偏振膜。

偏振片層是具有如下光學(xué)功能的層：吸收從液晶面板側(cè)入射的光中的與偏振片層的吸收軸平行的振動(dòng)面的偏振分量，使從液晶面板側(cè)入射的光中的與偏振片層的吸收軸正交的振動(dòng)面的偏振分量透過。剛透過偏振片層之后的透射光是直線偏振光。

圖案化相位差層通常形成于基材膜上。圖案化相位差層具備第一區(qū)域和第二區(qū)域。第一區(qū)域和第二區(qū)域分別形成為帶狀，與形成為矩陣狀的液晶面板的像素排列對(duì)應(yīng)地交替排列。

圖10是用于對(duì)3D液晶顯示裝置中的液晶面板P與圖案化相位差層3的對(duì)位進(jìn)行說明的俯視圖。

如圖10所示，在液晶面板P中，沿著長(zhǎng)邊(圖10中的液晶面板P的左右方向：橫寬方向)周期性地排列配置有紅色像素R、綠色像素G、藍(lán)色像素B。并且，各色的像素R、G、B沿著左右方向排列多個(gè)而成為像素列L，該像素列L遍及液晶面板P的顯示區(qū)域的上下(圖10中的液晶面板P的縱向)地排列多個(gè)。

另一方面，圖案化相位差層3具有沿著圖案化相位差層3的長(zhǎng)邊(圖10中的左右：橫寬方向)延伸的多個(gè)第一區(qū)域3R以及多個(gè)第二區(qū)域3L。與液晶面板P的各像素列L對(duì)應(yīng)地上下(圖10中的縱向)排列有多個(gè)第一區(qū)域3R以及第二區(qū)域3L。例如，在顯示右眼用圖像的像素列L的視覺辨識(shí)側(cè)配置有第一區(qū)域3R，在顯示左眼用圖像的像素列L的視覺辨識(shí)側(cè)配置有第二區(qū)域3L。在第一區(qū)域3R和第二區(qū)域3L中，相位差的方向不同，右眼用圖像和左眼用圖像成為彼此不同的偏振狀態(tài)并顯示于視覺辨識(shí)側(cè)(例如，參照專利文獻(xiàn)1)。

圖案化相位差層3以第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界線K位于各像素列L之間的方式貼合于液晶面板P，構(gòu)成使用液晶面板P的FPR方式的3D液晶顯示裝置。

使用者借助在右眼用鏡片和左眼用鏡片具備光學(xué)特性不同的光學(xué)元件的所謂偏光眼鏡來觀察顯示圖像，由此選擇性地以右眼視覺辨識(shí)右眼用圖像，以左眼視覺辨識(shí)左眼用圖像。由此，使用者能夠識(shí)別出將兩眼的像合并而成的立體圖像。

在先技術(shù)文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)1：日本特開2012-212033號(hào)公報(bào)

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

發(fā)明所要解決的課題

在制造上述那樣的FPR方式的3D液晶顯示裝置時(shí)，使圖案化相位差層的第一區(qū)域與液晶面板的像素列準(zhǔn)確地對(duì)應(yīng)、或使圖案化相位差層的第二區(qū)域與液晶面板的像素列準(zhǔn)確地對(duì)應(yīng)，而將包括圖案化相位差層和偏振片層的光學(xué)構(gòu)件貼合于液晶面板。此時(shí)，若圖案化相位差層的第一區(qū)域以及第二區(qū)域雙方均與一個(gè)像素列重疊，則產(chǎn)生本來應(yīng)該僅由右眼識(shí)別的右眼用圖像也被左眼識(shí)別的所謂的串?dāng)_，有可能使立體顯示圖像的畫質(zhì)降低。

關(guān)于對(duì)所制造的3D液晶顯示裝置的檢查，目前是挪用對(duì)不進(jìn)行立體顯示的通常的液晶顯示裝置進(jìn)行的檢查方法來對(duì)液晶面板與光學(xué)構(gòu)件的貼合狀態(tài)進(jìn)行檢查。具體而言，如下進(jìn)行制造檢查：針對(duì)液晶面板以對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記、黑矩陣為基準(zhǔn)，針對(duì)光學(xué)構(gòu)件以光學(xué)構(gòu)件的端部為基準(zhǔn)，來確認(rèn)各基準(zhǔn)彼此的相對(duì)位置，由此來確認(rèn)液晶面板與光學(xué)構(gòu)件的俯視下的相對(duì)位置。

但是，在挪用上述那樣的以往的檢查方法的方法中，無法檢查各像素列與第一區(qū)域以及第二區(qū)域是否是一對(duì)一地重疊。例如，即使是液晶面板與光學(xué)構(gòu)件乍一看是按照設(shè)計(jì)那樣貼合而成的3D液晶顯示裝置，在各像素列與第一區(qū)域以及第二區(qū)域沒有一對(duì)一地重疊的情況下，也會(huì)產(chǎn)生串?dāng)_而判斷為不合格品。但在上述那樣的以往的檢查方法中，無法檢測(cè)出這樣的不合格品，難以保證立體顯示圖像的畫質(zhì)。

本發(fā)明是鑒于這樣的情況而做出的，其目的在于提供能夠?qū)崿F(xiàn)可靠性高的品質(zhì)檢查的光學(xué)顯示器件的檢查方法。另外，本發(fā)明的目的還在于，提供能夠高精度地識(shí)別圖案化相位差層的第一區(qū)域與第二區(qū)域的分界的光學(xué)構(gòu)件的圖案識(shí)別方法。

用于解決課題的方案

為了解決上述問題，本發(fā)明的一個(gè)技術(shù)方案提供一種光學(xué)顯示器件的檢查方法，其是通過將具備相位差層的光學(xué)構(gòu)件和具有多個(gè)像素列的光學(xué)顯示部件貼合而成的光學(xué)顯示器件的檢查方法，其特征在于，所述相位差層具有：沿著一方向呈帶狀延伸，使入射的直線偏振光變化為第一偏振狀態(tài)的多個(gè)第一區(qū)域；以及沿著與所述第一區(qū)域的延伸方向相同的方向呈帶狀延伸，使入射的直線偏振光變化為第二偏振狀態(tài)的多個(gè)第二區(qū)域，所述多個(gè)第一區(qū)域以及所述多個(gè)第二區(qū)域在與所述第一區(qū)域以及所述第二區(qū)域的延伸方向交叉的方向上交替配置，所示光學(xué)顯示器件的檢查方法包括：測(cè)定工序，在所述測(cè)定工序中，測(cè)定分界與基準(zhǔn)線之間的俯視下的距離，所述分界是在相鄰的所述第一區(qū)域與所述第二區(qū)域之間檢測(cè)出的分界，所述基準(zhǔn)線是在相鄰的所述像素列之間的區(qū)域沿著所述像素列設(shè)定的線；以及判定工序，在所述判定工序中，基于所述距離來判定所述光學(xué)顯示器件是否合格。

在具備上述結(jié)構(gòu)的本發(fā)明的一技術(shù)方案中，也可以設(shè)為如下方法：在所述光學(xué)顯示部件的顯示區(qū)域的中央進(jìn)行所述測(cè)定工序和所述判定工序。

在具備上述結(jié)構(gòu)的本發(fā)明的一技術(shù)方案中，也可以設(shè)為如下方法：在所述光學(xué)構(gòu)件的所述延伸方向上的周邊部進(jìn)行所述測(cè)定工序和所述判定工序。

在具備上述結(jié)構(gòu)的本發(fā)明的一技術(shù)方案中，也可以設(shè)為如下方法：在所述光學(xué)構(gòu)件的所述交叉的方向上的周邊部進(jìn)行所述測(cè)定工序和所述判定工序。

在具備上述結(jié)構(gòu)的本發(fā)明的一技術(shù)方案中，也可以設(shè)為如下方法：在所述測(cè)定工序之前，基于在所述光學(xué)構(gòu)件的所述交叉的方向上的周邊部檢測(cè)出的所述第一區(qū)域與所述第二區(qū)域的分界、以及所述相位差層的設(shè)計(jì)值，來估算與在所述周邊部檢測(cè)出的所述分界分開的分界的位置，檢測(cè)距估算出的所述分界的位置最近的所述第一區(qū)域與所述第二區(qū)域的分界。

在具備上述結(jié)構(gòu)的本發(fā)明的一技術(shù)方案中，也可以設(shè)為如下方法：在相鄰的所述像素列的彼此對(duì)置的側(cè)部檢測(cè)所述像素列所包含的多個(gè)像素的端部的坐標(biāo)，按所述像素列地基于檢測(cè)出的多個(gè)所述坐標(biāo)來近似出與所述側(cè)部對(duì)應(yīng)的直線，在得到的兩條近似線之間設(shè)定所述基準(zhǔn)線。

在具備上述結(jié)構(gòu)的本發(fā)明的一技術(shù)方案中，也可以設(shè)為如下方法：在相鄰的兩個(gè)所述像素列中的一方的像素列的與另一方的像素列對(duì)置的側(cè)部，檢測(cè)多個(gè)像素的端部的坐標(biāo)，基于檢測(cè)出的多個(gè)所述坐標(biāo)來近似出與所述側(cè)部對(duì)應(yīng)的直線，基于得到的近似線和光學(xué)顯示部件的設(shè)計(jì)值來設(shè)定所述基準(zhǔn)線。

在具備上述結(jié)構(gòu)的本發(fā)明的一技術(shù)方案中，也可以設(shè)為如下方法：跨相鄰的所述第一區(qū)域和所述第二區(qū)域來設(shè)定直線狀的檢測(cè)區(qū)域，沿著所述檢測(cè)區(qū)域在多個(gè)點(diǎn)檢測(cè)所述第一區(qū)域和所述第二區(qū)域的明度，基于檢測(cè)出的多個(gè)點(diǎn)的所述明度來檢測(cè)所述分界。

在具備上述結(jié)構(gòu)的本發(fā)明的一技術(shù)方案中，也可以設(shè)為如下方法：在多個(gè)所述檢測(cè)區(qū)域檢測(cè)多個(gè)所述分界，基于檢測(cè)出的多個(gè)所述分界的坐標(biāo)來近似出與所述分界對(duì)應(yīng)的直線。

另外，本發(fā)明的一技術(shù)方案提供光學(xué)構(gòu)件的圖案識(shí)別方法，其是具備相位差層的光學(xué)構(gòu)件的圖案識(shí)別方法，其特征在于，所述相位差層具有：沿著一方向呈帶狀延伸，使入射的直線偏振光變化為第一偏振狀態(tài)的多個(gè)第一區(qū)域；以及沿著與所述第一區(qū)域的延伸方向相同的方向呈帶狀延伸，使入射的直線偏振光變化為第二偏振狀態(tài)的多個(gè)第二區(qū)域，所述多個(gè)第一區(qū)域以及所述多個(gè)第二區(qū)域在與所述第一區(qū)域以及所述第二區(qū)域的延伸方向交叉的方向上交替配置，所述圖案識(shí)別方法包括如下工序：基于在所述光學(xué)構(gòu)件的所述交叉的方向上的周邊部檢測(cè)出的所述第一區(qū)域與所述第二區(qū)域的分界、以及所述相位差層的設(shè)計(jì)值，來估算所述光學(xué)構(gòu)件的所述交叉的方向上的中央處的所述第一區(qū)域與所述第二區(qū)域的分界的位置，檢測(cè)距估算出的所述分界的位置最近的所述第一區(qū)域與所述第二區(qū)域的分界。

發(fā)明效果

根據(jù)本發(fā)明，能夠提供可實(shí)現(xiàn)可靠性高的品質(zhì)檢查的光學(xué)顯示器件的檢查方法。另外，能夠提供可高精度地識(shí)別圖案化相位差層的第一區(qū)域與第二區(qū)域的分界的光學(xué)構(gòu)件的圖案識(shí)別方法。

附圖說明

圖1是表示顯示裝置的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu)的俯視圖。

圖2是表示顯示裝置的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu)的剖視圖。

圖3是圖案化相位差層的俯視示意圖。

圖4A是著眼于顯示裝置的顯示區(qū)域與光學(xué)構(gòu)件的位置關(guān)系的簡(jiǎn)要俯視圖。

圖4B是著眼于顯示裝置的顯示區(qū)域與光學(xué)構(gòu)件的位置關(guān)系的簡(jiǎn)要俯視圖。

圖5A是本實(shí)施方式的光學(xué)器件的檢查方法的說明圖。

圖5B是本實(shí)施方式的光學(xué)器件的檢查方法的說明圖。

圖6A是本實(shí)施方式的光學(xué)器件的檢查方法的說明圖。

圖6B是本實(shí)施方式的光學(xué)器件的檢查方法的說明圖。

圖7是本實(shí)施方式的光學(xué)器件的檢查方法的說明圖。

圖8是本實(shí)施方式的光學(xué)器件的檢查方法的說明圖。

圖9是本實(shí)施方式的光學(xué)器件的檢查方法的說明圖。

圖10是用于說明3D液晶顯示裝置中的液晶面板與圖案化相位差層的對(duì)位的俯視圖。

具體實(shí)施方式

以下，參照附圖來說明本實(shí)施方式的光學(xué)顯示器件的檢查方法以及光學(xué)構(gòu)件的圖案識(shí)別方法。需要說明的是，在以下的說明中所參照的所有附圖中，為了容易觀察附圖，使各構(gòu)成要素的尺寸、比率等適當(dāng)?shù)夭煌?/p>

<光學(xué)顯示器件>

圖1～圖4A、圖4B是表示以本實(shí)施方式的光學(xué)顯示器件的檢查方法進(jìn)行檢查的顯示裝置(光學(xué)顯示器件)100的說明圖。

圖1是表示顯示裝置100的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu)的俯視圖。圖2是圖1的線段II-II處的顯示裝置100的剖視圖。本實(shí)施方式的顯示裝置100是FPR方式的3D液晶顯示裝置。如圖1或圖2所示，顯示裝置100具有液晶面板(光學(xué)顯示部件)P、偏振膜F11以及光學(xué)構(gòu)件1。

如圖1以及圖2所示，液晶面板P具備在俯視下形成為長(zhǎng)方形狀的第一基板P1、與第一基板P1對(duì)置配置的形成為比較小的長(zhǎng)方形狀的第二基板P2、以及封入到第一基板P1與第二基板P2之間的液晶層P3。液晶面板P中，將在俯視下形成為沿著第一基板P1的外形形狀的長(zhǎng)方形狀且在俯視下落在液晶層P3的外周的內(nèi)側(cè)的區(qū)域設(shè)為顯示區(qū)域P4。

在液晶面板P的俯視下的四角設(shè)置有定位用的對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記Am。在圖1中，示出了四角均設(shè)置有對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記Am的情況，但例如也可以在四角中的三個(gè)角設(shè)置共計(jì)三個(gè)對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記，也可以在四角中的對(duì)角的位置設(shè)置共計(jì)兩個(gè)對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記。

在液晶面板P的背光側(cè)貼合有偏振膜F11。偏振膜F11經(jīng)由未圖示的粘合劑層而貼合于液晶面板P。偏振膜F11具有吸收入射的光中的與吸收軸平行的振動(dòng)面的偏振分量、使入射的光中的與吸收軸正交的振動(dòng)面的偏振分量透過的光學(xué)功能。剛透過偏振膜F11后的透射光是直線偏振光。

另一方面，在該液晶面板P的顯示面?zhèn)荣N合有光學(xué)構(gòu)件1。光學(xué)構(gòu)件1具有偏振片層2和圖案化相位差層(相位差層)3，以偏振片層2側(cè)面對(duì)液晶面板P的方式貼合于液晶面板P。形成光學(xué)構(gòu)件1的偏振片層2以及圖案化相位差層3可以分別通過以往公知的制造方法來制造。

偏振片層2具有吸收從液晶面板P側(cè)入射的光中的與吸收軸平行的振動(dòng)面的偏振分量、使從液晶面板P側(cè)入射的光中的與吸收軸正交的振動(dòng)面的偏振分量透過的光學(xué)功能。剛透過偏振片層2之后的透射光是直線偏振光。

偏振膜F11以及光學(xué)構(gòu)件1以偏振膜F11與光學(xué)構(gòu)件1的偏振片層2成為正交偏振(cross nicols)配置的方式貼合于液晶面板P。

圖3是光學(xué)構(gòu)件1所具有的圖案化相位差層3的俯視時(shí)的俯視示意圖。圖案化相位差層3具有多個(gè)第一區(qū)域3R以及多個(gè)第二區(qū)域3L。另外，圖案化相位差層3是俯視下呈矩形的構(gòu)件。

第一區(qū)域3R使經(jīng)由偏振片層2射出的直線偏振光例如變化成右旋的圓偏振光(第一偏振狀態(tài))。第二區(qū)域3L使經(jīng)由偏振片層2射出的直線偏振光例如變化成左旋的圓偏振光(第二偏振狀態(tài))。

第一區(qū)域3R以及第二區(qū)域3L在圖案化相位差層3的長(zhǎng)邊方向上呈帶狀延伸地形成，且在與第一區(qū)域3R以及第二區(qū)域3L的延伸方向交叉的方向上交替配置。第一區(qū)域3R以及第二區(qū)域3L的寬度根據(jù)貼合的液晶面板P的像素的大小而設(shè)定，例如是400μm～500μm這種程度。

在以下的說明中，有時(shí)將圖案化相位差層3中的第一區(qū)域3R以及第二區(qū)域3L的延伸方向稱作圖案化相位差層3的“長(zhǎng)邊方向”，將第一區(qū)域3R以及第二區(qū)域3L的排列方向稱作圖案化相位差層3的“寬度方向”。即，上述的“長(zhǎng)邊方向”與本發(fā)明中的“延伸方向”對(duì)應(yīng)，“寬度方向”與本發(fā)明中的“交叉的方向”對(duì)應(yīng)。

圖案化相位差層3在顯示裝置100中以具有在與液晶面板P的顯示區(qū)域P4俯視下重疊時(shí)、在顯示裝置100的寬度方向上從與顯示區(qū)域P4重疊的部分超出的“剩余區(qū)域”的方式，在俯視下形成得比顯示區(qū)域P4大。第一區(qū)域3R以及第二區(qū)域3L不僅設(shè)置到與顯示區(qū)域P4重疊的部分，也設(shè)置到剩余區(qū)域。在此，在本發(fā)明中所敘述的“圖案化相位差層(相位差層)3與液晶面板(光學(xué)顯示部件)P的顯示區(qū)域P4俯視下重疊”也包括例如圖2所示那樣在圖案化相位差層3與液晶面板P之間還夾設(shè)有其他層(偏振片層2)的情況。

圖4A以及圖4B是著眼于顯示裝置100的顯示區(qū)域P4與光學(xué)構(gòu)件1的位置關(guān)系而得到的簡(jiǎn)要俯視圖。圖4A是整體圖，圖4B是局部放大圖。

在以下的說明中，有時(shí)使用將俯視觀察顯示區(qū)域時(shí)的顯示區(qū)域的左上作為原點(diǎn)的屏幕坐標(biāo)系來表示位置、坐標(biāo)。在屏幕坐標(biāo)系中，顯示區(qū)域P4的橫向是X軸方向，顯示區(qū)域P4的縱向是Y軸方向。在X軸上，從左朝向右的方向是正向，在Y軸上，從上朝向下的方向是正向。

如圖4A所示，顯示裝置100在顯示區(qū)域P4中周期性地排列配置有多個(gè)紅色像素R、綠色像素G及藍(lán)色像素B，而形成像素列L。各像素列在顯示區(qū)域P4的Y軸方向上排列。在圖4A中，關(guān)于在Y軸方向上排列的各像素列，從原點(diǎn)數(shù)將第一個(gè)像素列以附圖標(biāo)記L1表示，將第二個(gè)像素列以附圖標(biāo)記L2表示，依次類推，將第2n個(gè)像素列以附圖標(biāo)記L2n表示，示出了在顯示區(qū)域P4中含有2n列的像素列L的情況。在顯示裝置100中，分別使用n列的像素列來顯示右眼用圖像和左眼用圖像。

如圖4B所示，設(shè)計(jì)成第一區(qū)域3R或第二區(qū)域3L以一對(duì)一的方式在俯視下與各像素列L重疊。第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界線BL同相鄰的兩個(gè)像素列L之間的像素間區(qū)域重疊。在圖4B中，示出了在像素間區(qū)域設(shè)置有格子狀的遮光構(gòu)件(黑矩陣)BM的情況。

返回圖2，也可以設(shè)置成在光學(xué)構(gòu)件1的圖案化相位差層3側(cè)的表面貼合未圖示的保護(hù)膜。保護(hù)膜是保護(hù)光學(xué)構(gòu)件1的表面的透明樹脂膜，其被設(shè)置為相對(duì)于光學(xué)構(gòu)件1剝離自如。

貼合有偏振膜F11以及光學(xué)構(gòu)件1的液晶面板P通過進(jìn)一步組裝未圖示的驅(qū)動(dòng)電路、背光單元等，而成為顯示裝置100。

關(guān)于液晶面板P的驅(qū)動(dòng)方式，例如可以采用TN(Twisted Nematic)、STN(SuperTwisted Nematic)、VA(Vertical Alignment)、IPS(In-Plane Switching)以及OCB(Optically Compensated Bend)等在本領(lǐng)域已知的各種模式。其中，優(yōu)選使用IPS方式的液晶面板P。

通過本實(shí)施方式的光學(xué)器件的檢查方法進(jìn)行檢查的顯示裝置100為以上那樣的結(jié)構(gòu)。

<光學(xué)顯示器件的檢查方法>

圖5A、圖5B～圖9是本實(shí)施方式的光學(xué)顯示器件的檢查方法的說明圖。在本實(shí)施方式中，檢測(cè)光學(xué)構(gòu)件的第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界，將檢測(cè)到的分界作為光學(xué)構(gòu)件側(cè)的基準(zhǔn)。另外，在液晶面板的相鄰的像素列L之間的像素間區(qū)域中設(shè)定成為液晶面板側(cè)的基準(zhǔn)的基準(zhǔn)線。測(cè)定該光學(xué)構(gòu)件側(cè)的基準(zhǔn)與液晶面板側(cè)的基準(zhǔn)的距離(測(cè)定工序)，基于測(cè)定出的距離，來進(jìn)行是否光學(xué)構(gòu)件的第一區(qū)域3R與液晶面板的像素列良好地對(duì)應(yīng)而貼合、且光學(xué)構(gòu)件的第二區(qū)域3L與液晶面板的像素列良好地對(duì)應(yīng)而貼合的合格與否的判定(判定工序)，進(jìn)行光學(xué)顯示器件的檢查。

(第一區(qū)域與第二區(qū)域的分界的檢測(cè))

圖5A以及圖5B是示出第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界的檢測(cè)方法的一例的說明圖。在本實(shí)施方式的光學(xué)顯示器件的檢查方法中，可以包括通過下述方法進(jìn)行的檢測(cè)第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界的工序。

第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界的檢測(cè)基于對(duì)顯示裝置100進(jìn)行拍攝而得到的圖像來進(jìn)行。此時(shí)的拍攝圖像包括光學(xué)構(gòu)件1和液晶面板P這兩者，但在圖5A以及圖5B中，為了便于說明，僅示出了光學(xué)構(gòu)件1。

首先，如圖5A所示，首先利用拍攝裝置(未圖示)對(duì)包括作為檢測(cè)對(duì)象的第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界在內(nèi)的區(qū)域進(jìn)行拍攝。此時(shí)，第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界同液晶面板的遮光區(qū)域在俯視下重疊，因此若需要拍攝用的照明，則從與拍攝裝置相同的一側(cè)向要拍攝的區(qū)域照射光。

接下來，跨相鄰的第一區(qū)域3R和第二區(qū)域3L地設(shè)定直線狀的檢測(cè)區(qū)域DA。在拍攝到的圖像中，第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的色調(diào)、明亮度看起來不同，因此能夠區(qū)別第一區(qū)域3R和第二區(qū)域3L。

接下來，在拍攝到的圖像中，沿著檢測(cè)區(qū)域DA在多個(gè)點(diǎn)檢測(cè)第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的明度?？梢匝刂鴻z測(cè)區(qū)域DA連續(xù)地在多個(gè)點(diǎn)進(jìn)行明度的檢測(cè)，也可以離散地在多個(gè)點(diǎn)進(jìn)行明度的檢測(cè)。在圖5A中，示出了沿著檢測(cè)區(qū)域DA在檢測(cè)區(qū)域DA內(nèi)所示的箭頭方向上連續(xù)地在多個(gè)點(diǎn)進(jìn)行明度的檢測(cè)的情況。

如圖5A的圖表所示，在第一區(qū)域3R的明度為a且第二區(qū)域3L的明度為b的情況下，認(rèn)為在拍攝到的圖像的第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界附近，明度逐漸從a變化為b。在這樣的情況下，可以檢測(cè)明度表示a與b的中間值的點(diǎn)(表示(a+b)/2的點(diǎn))來作為第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界點(diǎn)BP。

當(dāng)然，分界點(diǎn)BP也可以設(shè)為在明度表示a和b的范圍內(nèi)按照預(yù)先設(shè)定的確定方法檢測(cè)而得到的點(diǎn)，而非明度表示a與b的中間值的點(diǎn)。

另外，也可以是，以灰色標(biāo)度表示拍攝到的圖像，針對(duì)該灰色標(biāo)度圖像，采用上述方法檢測(cè)第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界點(diǎn)BP。

另外，也可以是，針對(duì)拍攝到的圖像，不在多個(gè)點(diǎn)檢測(cè)明度，而以規(guī)定明度作為閾值將拍攝到的圖像二值化來檢測(cè)分界。

以該方式檢測(cè)出的分界點(diǎn)BP與本發(fā)明中的第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界對(duì)應(yīng)。

另外，如圖5B所示，也可以是，在多個(gè)檢測(cè)區(qū)域DA中檢測(cè)多個(gè)分界點(diǎn)BP，基于檢測(cè)出的多個(gè)分界點(diǎn)BP的坐標(biāo)來近似求出和第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界對(duì)應(yīng)的直線(分界線BL)。作為此時(shí)的近似方法，可以使用通常已知的統(tǒng)計(jì)學(xué)的方法。例如，可以舉出求解對(duì)多個(gè)分界點(diǎn)BP的坐標(biāo)使用最小二乘法而得到的回歸直線(近似直線)的近似方法。

(相鄰的像素列之間的基準(zhǔn)線的設(shè)定)

圖6A以及圖6B是關(guān)于像素列L之間的基準(zhǔn)線的設(shè)定方法示出一例的說明圖。在本實(shí)施方式的光學(xué)顯示器件的檢查方法中，可以包括通過下述方法進(jìn)行的設(shè)定相鄰的像素列L之間的基準(zhǔn)線的工序。

基準(zhǔn)線的設(shè)定基于對(duì)顯示裝置100進(jìn)行拍攝而得到的圖像來進(jìn)行。此時(shí)的拍攝圖像包括光學(xué)構(gòu)件1和液晶面板P這兩方，但在圖6A以及圖6B中，為了便于說明，僅示出了液晶面板P。

例如如圖6A所示，基于對(duì)像素列L進(jìn)行拍攝而得到的圖像，來檢測(cè)像素列所包含的多個(gè)像素R、G、B的端部的坐標(biāo)。在圖6A中，像素列La的像素的與像素列Lb對(duì)置這一側(cè)的端部以附圖標(biāo)記E1表示。另外，像素列Lb的像素的與像素列La對(duì)置這一側(cè)的端部以附圖標(biāo)記E2表示。所檢測(cè)的端部E1、E2是多個(gè)即可。

接下來，基于檢測(cè)出的多個(gè)端部E1的坐標(biāo)，近似出與多個(gè)端部E1對(duì)應(yīng)的(與像素列的側(cè)部對(duì)應(yīng)的)直線。在圖6A中，將這樣求出的近似線以附圖標(biāo)記AL1表示。

作為上述的近似方法，可以采用通常已知的統(tǒng)計(jì)學(xué)的方法。例如可以舉出求解對(duì)多個(gè)端部E1的坐標(biāo)使用最小二乘法而得到的回歸直線(近似直線)的近似方法。另外，也可以是，在作業(yè)者確認(rèn)拍攝圖像且能夠判斷為多個(gè)端部E1排列在同一直線上這樣的情況下，選擇檢測(cè)出坐標(biāo)的多個(gè)端部E1中的任意兩點(diǎn)(例如兩端的兩點(diǎn))，并將連結(jié)該兩點(diǎn)的直線設(shè)為近似線AL1。

另外，對(duì)于多個(gè)端部E2也進(jìn)行同樣的處理，求出近似線AL2。

接下來，在所得到的兩條近似線AL1、AL2之間設(shè)定基準(zhǔn)線?；鶞?zhǔn)線優(yōu)選設(shè)定于近似線AL1、AL2的中間位置，但也可以從中間位置偏向近似線AL1、AL2中的任一側(cè)。在圖6A中，示出了根據(jù)近似線AL1、AL2求出的近似線AL1、AL2之間的距離為W并在近似線AL1、AL2的中間位置(與近似線AL1相距距離W/2的位置)處設(shè)定基準(zhǔn)線FL的情況。

或者，也可以如圖6B所示那樣，通過上述方法僅求出近似線AL1，在Y方向的像素間的設(shè)計(jì)值為α的情況下，在與近似線AL1在Y方向上相距α/2的位置處設(shè)定基準(zhǔn)線FL。

(光學(xué)構(gòu)件與光學(xué)顯示部件的相對(duì)位置的測(cè)定)

接下來，根據(jù)拍攝圖像來測(cè)定通過圖5A以及圖5B所示的方法檢測(cè)出的第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界(分界點(diǎn)BP或分界線BL)和通過圖6A以及圖6B所示的方法設(shè)定的基準(zhǔn)線FL之間的距離。在以下的說明中，示出求出了第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界線BL的情況。

在拍攝圖像中，如圖7所示，要求光學(xué)構(gòu)件1的分界線BL與液晶面板P的基準(zhǔn)線FL重疊。因此，可以基于圖像求出俯視時(shí)的分界線BL與基準(zhǔn)線FL之間的距離D。

在此，在作為第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界而求出分界線BL的情況下，“距離D”是指針對(duì)分界線BL上的多個(gè)任意點(diǎn)求出的、從該任意點(diǎn)向基準(zhǔn)線FL引出垂線時(shí)的、從垂線與基準(zhǔn)線FL的交點(diǎn)到上述的任意點(diǎn)為止的距離的平均值。

另外，在作為第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界而求出分界點(diǎn)BP的情況下，“距離D”是指從分界點(diǎn)BP向基準(zhǔn)線FL引出垂線時(shí)的、從垂線與基準(zhǔn)線FL的交點(diǎn)到分界點(diǎn)BP為止的距離。

(判定是否合格)

接下來，基于所求出的距離，判定顯示裝置100是否合格。具體而言，預(yù)先設(shè)定能夠判定為合格品的距離的數(shù)值范圍，若距離的測(cè)定值處于所設(shè)定的數(shù)值范圍以內(nèi)則判定為合格品，若為比所設(shè)定的數(shù)值范圍大的測(cè)定值則判定為不合格品。

(光學(xué)構(gòu)件的圖案識(shí)別方法)

在本實(shí)施方式的光學(xué)顯示器件的檢查方法中，在液晶面板P的顯示區(qū)域P4的中央進(jìn)行基于上述的技術(shù)要素的合格與否判定。此時(shí)，需要判定顯示區(qū)域的中央的像素列(例如第n個(gè)像素列Ln、第(n+1)個(gè)像素列L(n+1))與第一區(qū)域3R以及第二區(qū)域3L是否一對(duì)一地對(duì)應(yīng)而良好地貼合。

在此，若考慮到貼合不良、光學(xué)構(gòu)件的制造誤差、變形等，則無法保證與第n個(gè)像素列Ln重疊的區(qū)域確實(shí)是從與第一個(gè)像素列對(duì)應(yīng)的圖案(例如第一區(qū)域3R)起數(shù)的第n個(gè)圖案(第二區(qū)域3L)。

因此，在將液晶面板P側(cè)的基準(zhǔn)設(shè)為在第n個(gè)像素列Ln與第(n+1)個(gè)像素列L(n+1)之間的區(qū)域設(shè)定的基準(zhǔn)線的情況下，需要在識(shí)別出與這些像素列對(duì)應(yīng)的第n個(gè)第二區(qū)域3L與第(n+1)個(gè)第一區(qū)域3R的基礎(chǔ)上，檢測(cè)應(yīng)該成為光學(xué)構(gòu)件1側(cè)的基準(zhǔn)的第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界。

于是，通過以下所示的光學(xué)構(gòu)件的圖案識(shí)別方法，識(shí)別與顯示區(qū)域P4的中央對(duì)應(yīng)的第n個(gè)第二區(qū)域3L與第(n+1)個(gè)第一區(qū)域3R，并通過上述方法檢測(cè)出該第二區(qū)域3L與第一區(qū)域3R之間的分界。

圖8是表示本實(shí)施方式的光學(xué)構(gòu)件的圖案識(shí)別方法的說明圖。首先，在光學(xué)構(gòu)件1的寬度方向上的周邊部檢測(cè)第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界。此時(shí)的分界的檢測(cè)方法可以使用上述的方法。

在此，上述的“周邊部”可以是光學(xué)構(gòu)件1中的與顯示區(qū)域P4俯視下重疊的部分，也可以是光學(xué)構(gòu)件1中的與顯示區(qū)域P4的外側(cè)即剩余區(qū)域DM俯視下重疊的部分。即，檢測(cè)的分界可以是與第一個(gè)像素列L1重疊的第一區(qū)域3R和與第二個(gè)像素列L2重疊的第二區(qū)域3L之間的分界，也可以是在顯示區(qū)域P4的外側(cè)即剩余區(qū)域DM配置的第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界。在圖8中，示出了在剩余區(qū)域DM檢測(cè)第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界線BLx的情況。

接下來，基于在剩余區(qū)域DM檢測(cè)出的分界線BLx和圖案化相位差層3的設(shè)計(jì)值，估算與分界線BLx分開的第n個(gè)第二區(qū)域3L與第(n+1)個(gè)第一區(qū)域3R的分界的位置。即，根據(jù)第一區(qū)域3R的寬度的設(shè)計(jì)值以及第二區(qū)域3L的寬度的設(shè)計(jì)值，估算以分界線BLx為基準(zhǔn)的第n個(gè)第二區(qū)域3L與第(n+1)個(gè)第一區(qū)域3R的分界的位置。在圖中，將估算求出的位置以估算點(diǎn)CP進(jìn)行表示。

接下來，將作為第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界的距估算點(diǎn)CP最近的分界作為第n個(gè)第二區(qū)域3L與第(n+1)個(gè)第一區(qū)域3R的分界，通過上述的方法來檢測(cè)分界。在圖8中，示出檢測(cè)出分界線BL1的情況。

根據(jù)這樣的方法，能夠高精度地檢測(cè)光學(xué)構(gòu)件1的寬度方向上的任意位置處的分界。

(光學(xué)顯示器件的檢查方法)

圖9是表示本實(shí)施方式的光學(xué)顯示器件的檢查方法的說明圖。在本實(shí)施方式的光學(xué)顯示器件的檢查方法中，包括：測(cè)定工序，其中，在液晶面板P的顯示區(qū)域P4的中央即第一判定區(qū)域AR1中，測(cè)定在相鄰的像素列Ln與像素列L(n+1)之間的區(qū)域內(nèi)沿著像素列設(shè)定的基準(zhǔn)線即基準(zhǔn)線FL1和作為第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界而檢測(cè)出的分界(分界線BL1)之間的俯視下的距離；以及判定工序，其中，基于測(cè)定出的距離來判定顯示裝置100是否合格。

由于顯示裝置的使用者最注意觀察顯示區(qū)域的中心附近，因此若在顯示區(qū)域的中心產(chǎn)生串?dāng)_，則使用者容易發(fā)現(xiàn)。因此，通過如本實(shí)施方式的檢查方法那樣在顯示區(qū)域的中心(第一判定區(qū)域AR1)檢查貼合精度，由此能夠?qū)崿F(xiàn)可將使用者的滿足度高的顯示裝置判定為合格品的檢查。

另外，也可以設(shè)為包括：測(cè)定工序，其中，在光學(xué)構(gòu)件1的長(zhǎng)邊方向上的周邊部即第二判定區(qū)域AR2中，測(cè)定在相鄰的像素列Ln與像素列L(n+1)之間的區(qū)域內(nèi)沿著像素列設(shè)定的基準(zhǔn)線即第二基準(zhǔn)線FL2和作為第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界而檢測(cè)出的分界(分界線BL2)之間的俯視下的距離；以及判定工序，其中，基于在測(cè)定工序中測(cè)定出的距離來判定顯示裝置100是否合格。

通過使用第一判定區(qū)域AR1中的是否合格的判定結(jié)果和第二判定區(qū)域AR2中的是否合格的判定結(jié)果，能夠確認(rèn)出光學(xué)構(gòu)件1的寬度方向上的收縮。即，在第一判定區(qū)域AR1中判定為合格品的顯示裝置100在第二判定區(qū)域AR2中被判定為不合格品的情況下，推測(cè)因光學(xué)構(gòu)件1的寬度方向上的收縮而導(dǎo)致在第二判定區(qū)域AR2中被判定為不合格品，能夠?qū)崿F(xiàn)光學(xué)構(gòu)件1的品質(zhì)的確認(rèn)、重新研究光學(xué)構(gòu)件1的處理方法。

另外，也可以設(shè)為包括：測(cè)定工序，其中，在光學(xué)構(gòu)件1的寬度方向的周邊部即第三判定區(qū)域AR3中，測(cè)定在相鄰的兩個(gè)像素列(在圖9中為像素列L1、L2或像素列L(2n-1)、L2n)之間的區(qū)域內(nèi)沿著像素列設(shè)定的基準(zhǔn)線即基準(zhǔn)線FL3和作為第一區(qū)域3R與第二區(qū)域3L的分界而檢測(cè)出的分界(分界線BL3)之間的俯視下的距離；以及判定工序，其中，基于在第三測(cè)定工序中測(cè)定出的距離來判定顯示裝置100是否合格。

通過第一判定區(qū)域AR1中的是否合格的判定結(jié)果與第三判定區(qū)域AR3中的是否合格的判定結(jié)果的比較、或者長(zhǎng)邊方向的兩端的第三判定區(qū)域AR3中的是否合格的判定結(jié)果的比較，能夠確認(rèn)光學(xué)構(gòu)件1相對(duì)于液晶面板P的傾斜。由此，也能夠謀求重新研究光學(xué)構(gòu)件1與液晶面板P的貼合方法。

本實(shí)施方式的光學(xué)顯示器件的檢查方法在第一判定區(qū)域、第二判定區(qū)域以及第三判定區(qū)域中的至少一個(gè)區(qū)域進(jìn)行測(cè)定工序以及判定工序即可，優(yōu)選在第一判定區(qū)域、第二判定區(qū)域以及第三判定區(qū)域中的兩個(gè)區(qū)域進(jìn)行測(cè)定工序以及判定工序，更優(yōu)選在第一判定區(qū)域、第二判定區(qū)域以及第三判定區(qū)域都進(jìn)行測(cè)定工序以及判定工序。

根據(jù)以上那樣的構(gòu)成的光學(xué)顯示器件的檢查方法，能夠?qū)崿F(xiàn)可靠性高的品質(zhì)檢查。另外，根據(jù)以上那樣的構(gòu)成的光學(xué)構(gòu)件的圖案識(shí)別方法，能夠高精度地識(shí)別圖案化相位差層的第一區(qū)域與第二區(qū)域的分界。

以上，參照附圖對(duì)本發(fā)明的優(yōu)選的實(shí)施方式例進(jìn)行了說明，當(dāng)然，本發(fā)明不限定于這樣的例子。在上述的例子中示出的各結(jié)構(gòu)構(gòu)件的各種形狀、組合等僅為一例，可以在不脫離本發(fā)明的主旨的范圍內(nèi)基于設(shè)計(jì)要求等進(jìn)行各種變更。

產(chǎn)業(yè)上的可利用性

根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)顯示器件的檢查方法以及光學(xué)構(gòu)件的圖案識(shí)別方法，能夠提供可實(shí)現(xiàn)可靠性高的品質(zhì)檢查的光學(xué)顯示器件的檢查方法，另外，能夠提供能可高精度地識(shí)別圖案化相位差層的第一區(qū)域與第二區(qū)域的分界的光學(xué)構(gòu)件的圖案識(shí)別方法。

附圖標(biāo)記說明：

1…光學(xué)構(gòu)件、3…圖案化相位差層(相位差層)、3L…第二區(qū)域、3R…第一區(qū)域、100…顯示裝置(光學(xué)顯示器件)、AL1、AL2…近似線、BL、BL1、BL2、BL3…分界線(分界)、BP…分界點(diǎn)(分界)、DA…檢測(cè)區(qū)域、E1、E2…端部、FL、FL1、FL2、FL3…基準(zhǔn)線、D…距離、L…像素列、P…液晶面板(光學(xué)顯示部件)、P4…顯示區(qū)域、R、G、B…像素。