本實(shí)用新型涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種能檢測(cè)斷路和短路的顯示面板以及顯示裝置。

背景技術(shù)：

現(xiàn)有的內(nèi)嵌式觸摸屏(In Cell Touch Panel)，一般將液晶顯示面板(Liquid Crystal Display，LCD)的公共電極層劃分為多個(gè)公共電極塊，并將每一公共電極塊分別通過(guò)一走線與一控制IC(integrated circuit)電連接。所述公共電極塊復(fù)用做觸控電極。在顯示狀態(tài)下，所述公共電極塊用于接收公共電壓信號(hào)，在觸控狀態(tài)下，所述公共電極塊作為觸控驅(qū)動(dòng)電極并用于接收觸控驅(qū)動(dòng)信號(hào)。

目前，制造過(guò)程中，在綁上控制IC之前并沒(méi)有成熟有效的檢測(cè)方式來(lái)檢測(cè)觸控電極以及相應(yīng)的觸控走線是否存在異常，僅僅只能通過(guò)檢測(cè)面板的顯示功能來(lái)判斷觸控走線是否發(fā)生異常，并在顯示異常時(shí)透過(guò)OM(Optical Microscope、光學(xué)顯微鏡)機(jī)臺(tái)判斷是否存在斷線現(xiàn)象，檢測(cè)過(guò)程周期長(zhǎng)、操作繁瑣。

圖1是現(xiàn)有技術(shù)的一種顯示面板的示意圖。圖2是現(xiàn)有技術(shù)的一種顯示面板的電路連接示意圖。如圖1和2所示，現(xiàn)有的顯示面板10包括矩陣排列的觸控電極(如圖中的T1、T2、T3......至T12)和測(cè)試模塊11。觸控電極(T1、T2、T3......至T12)通過(guò)走線連接到集成電路串口，復(fù)用為公共電極及觸控檢測(cè)電極。測(cè)試模塊11通常設(shè)置在顯示面板10上遠(yuǎn)離集成電路的一端。測(cè)試模塊11包括多個(gè)開(kāi)關(guān)器件14、控制信號(hào)輸入端12以及測(cè)試信號(hào)輸入端13。每一個(gè)觸控電極通過(guò)一個(gè)對(duì)應(yīng)的開(kāi)關(guān)器件14連接到測(cè)試信號(hào)輸入端13，所有開(kāi)關(guān)器件14的控制端連接到控制信號(hào)輸入端12。如圖1、2所示，現(xiàn)有的顯示面板在檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)公共電極通短路僅限虛線部分，VT(Visual Test，可視化測(cè)試)檢測(cè)無(wú)法確認(rèn)到模組真正使用到的實(shí)線走線，即這種VT檢測(cè)存在較大范圍的盲區(qū)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的問(wèn)題，本實(shí)用新型的目的在于提供顯示面板以及顯示裝置，能有效解決虛擬測(cè)試中的漏檢問(wèn)題，能夠檢測(cè)全部真正使用到的實(shí)線走線，不存在檢測(cè)盲區(qū)，減小后端良率損失，并且無(wú)需在顯示區(qū)域增加測(cè)試走線。

本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種顯示面板，包括：

基板，包括顯示區(qū)域和非顯示區(qū)域；

觸控電極陣列，設(shè)置在所述基板的顯示區(qū)域，所述觸控電極陣列包括由多個(gè)沿行方向以及列方向排布的觸控電極；

多個(gè)測(cè)試走線組，每個(gè)所述測(cè)試走線組包括通過(guò)非顯示區(qū)串聯(lián)的多條測(cè)試走線，每條所述測(cè)試走線與一個(gè)對(duì)應(yīng)的所述觸控電極電連接；以及

多個(gè)輸入端，各自對(duì)應(yīng)連接一所述測(cè)試走線組。

優(yōu)選地，還包括多個(gè)開(kāi)關(guān)器件，設(shè)置在所述觸控電極陣列的列方向或者行方向兩端的非顯示區(qū)，所述第一測(cè)試走線組以及所述第二測(cè)試走線組各自經(jīng)過(guò)所述開(kāi)關(guān)器件串聯(lián)。

優(yōu)選地，還包括：一控制信號(hào)輸入端，連接所述開(kāi)關(guān)器件的控制端。

優(yōu)選地，所述開(kāi)關(guān)器件是薄膜晶體管，所述控制端是所述薄膜晶體管的柵極。

優(yōu)選地，所述多個(gè)測(cè)試走線組至少包括通過(guò)非顯示區(qū)串聯(lián)的多條第一測(cè)試走線組成的第一測(cè)試走線組，以及通過(guò)非顯示區(qū)串聯(lián)的多條第二測(cè)試走線組成的第二測(cè)試走線組；

所述第一測(cè)試走線組電連接一第一輸入端，所述第二測(cè)試走線組連接一第二輸入端。

優(yōu)選地，所述觸控電極陣列中偶數(shù)行偶數(shù)列的觸控電極以及奇數(shù)行奇數(shù)列的觸控電極電連接所述第一測(cè)試走線組；

所述觸控電極陣列中奇數(shù)行偶數(shù)列的觸控電極以及偶數(shù)行奇數(shù)列的觸控電極電連接所述第二測(cè)試走線組。

優(yōu)選地，所述觸控電極陣列中奇數(shù)行的觸控電極電連接所述第一測(cè)試走線組；所述觸控電極陣列中偶數(shù)行的觸控電極電連接所述第二測(cè)試走線組。

優(yōu)選地，所述觸控電極陣列中奇數(shù)列的觸控電極電連接所述第一測(cè)試走線組；所述觸控電極陣列中偶數(shù)列的觸控電極電連接所述第二測(cè)試走線組。

優(yōu)選地，所述第一測(cè)試走線組包括多個(gè)第一測(cè)試走線對(duì)，所述第一測(cè)試走線對(duì)包括兩條相鄰且串聯(lián)的第一測(cè)試走線；

所述第二測(cè)試走線組包括多個(gè)第二測(cè)試走線對(duì)，所述第二測(cè)試走線對(duì)包括兩條相鄰且串聯(lián)的第二測(cè)試走線；

奇數(shù)列的所述觸控電極的所述第一測(cè)試走線對(duì)與所述第二測(cè)試走線對(duì)在行方向上的排列順序，與偶數(shù)列的所述觸控電極的所述第一測(cè)試走線對(duì)與所述第二測(cè)試走線對(duì)在行方向上的排列順序鏡像對(duì)稱。

優(yōu)選地，測(cè)試時(shí)，所述第一輸入端與所述第二輸入端施加不同電壓。

優(yōu)選地，所述多個(gè)測(cè)試走線組還包括通過(guò)非顯示區(qū)串聯(lián)的多條第三測(cè)試走線組成的第三測(cè)試走線組，以及通過(guò)非顯示區(qū)串聯(lián)的多條第四測(cè)試走線組成的第四測(cè)試走線組；

所述第三測(cè)試走線組連接一第三輸入端，所述第四測(cè)試走線組連接一第四輸入端。

另一方面，本實(shí)用新型實(shí)施例還提供一種顯示裝置，包括上述的顯示面板。

本實(shí)用新型所提供的顯示面板以及顯示裝置具有下列優(yōu)點(diǎn)：

本實(shí)用新型的顯示面板以及顯示裝置能有效解決虛擬測(cè)試中的漏檢問(wèn)題，能夠檢測(cè)全部真正使用到的實(shí)線走線，不存在檢測(cè)盲區(qū)，減小后端良率損失，并且無(wú)需在顯示區(qū)域增加測(cè)試走線。

附圖說(shuō)明

通過(guò)閱讀參照以下附圖對(duì)非限制性實(shí)施例所作的詳細(xì)描述，本實(shí)用新型的其它特征、目的和優(yōu)點(diǎn)將會(huì)變得更明顯。

圖1是現(xiàn)有技術(shù)的一種顯示面板的示意圖；

圖2是現(xiàn)有技術(shù)的一種顯示面板的電路連接示意圖；

圖3是本實(shí)用新型的第一種顯示面板的電路連接示意圖；

圖4是本實(shí)用新型的第一種顯示面板的測(cè)試走線分組示意圖；

圖5是本實(shí)用新型的第一種顯示面板的測(cè)試狀態(tài)示意圖；

圖6是本實(shí)用新型的第二種顯示面板的測(cè)試狀態(tài)示意圖；

圖7是本實(shí)用新型的第三種顯示面板的測(cè)試狀態(tài)示意圖；

圖8是本實(shí)用新型的第四種顯示面板的示意圖；以及

圖9是本實(shí)用新型的第四種顯示面板的測(cè)試狀態(tài)示意圖。

具體實(shí)施方式

現(xiàn)在將參考附圖更全面地描述示例實(shí)施方式。然而，示例實(shí)施方式能夠以多種形式實(shí)施，且不應(yīng)被理解為限于在此闡述的實(shí)施方式；相反，提供這些實(shí)施方式使得本實(shí)用新型將全面和完整，并將示例實(shí)施方式的構(gòu)思全面地傳達(dá)給本領(lǐng)域的技術(shù)人員。在圖中相同的附圖標(biāo)記表示相同或類似的結(jié)構(gòu)，因而將省略對(duì)它們的重復(fù)描述。

圖3是本實(shí)用新型的第一種顯示面板的電路連接示意圖。如圖3所示，本實(shí)用新型的顯示面板20，包括：基板、觸控電極陣列(如：T1、T2、T3......至T16)、多個(gè)測(cè)試走線組、多個(gè)開(kāi)關(guān)器件24、控制開(kāi)關(guān)器件24狀態(tài)的控制信號(hào)輸入端23以及第一輸入端21、第二輸入端22。

基板包括顯示區(qū)域和非顯示區(qū)域。觸控電極陣列(如：T1至T16)設(shè)置在基板的顯示區(qū)域，觸控電極陣列包括由多個(gè)沿行方向以及列方向排布的觸控電極。每個(gè)測(cè)試走線組包括通過(guò)非顯示區(qū)串聯(lián)的多條測(cè)試走線，每條測(cè)試走線與一個(gè)對(duì)應(yīng)的觸控電極電連接。多個(gè)測(cè)試走線組至少包括通過(guò)非顯示區(qū)串聯(lián)的多條第一測(cè)試走線組成的第一測(cè)試走線組，以及通過(guò)非顯示區(qū)串聯(lián)的多條第二測(cè)試走線組成的第二測(cè)試走線組。第一測(cè)試走線組電連接一第一輸入端21，第二測(cè)試走線組連接一第二輸入端22。開(kāi)關(guān)器件24設(shè)置在觸控電極陣列的列方向或者行方向兩端的非顯示區(qū)，第一測(cè)試走線組以及第二測(cè)試走線組各自經(jīng)過(guò)開(kāi)關(guān)器件24串聯(lián)。控制信號(hào)輸入端23連接所有開(kāi)關(guān)器件24的控制端。本實(shí)用新型中，開(kāi)關(guān)器件24是薄膜晶體管，控制端是薄膜晶體管的柵極，但不以此為限。

繼續(xù)參考圖3，本實(shí)用新型的觸控電極陣列中偶數(shù)行偶數(shù)列的觸控電極以及奇數(shù)行奇數(shù)列的觸控電極電連接第一測(cè)試走線組，第一輸入端21對(duì)應(yīng)的第一測(cè)試走線組經(jīng)過(guò)并連接了其中一半的觸控電極，包括觸控電極T1、T3、T6、T8、T9、T11、T14以及T16。觸控電極陣列中奇數(shù)行偶數(shù)列的觸控電極以及偶數(shù)行奇數(shù)列的觸控電極電連接第二測(cè)試走線組，第二輸入端22對(duì)應(yīng)的第二測(cè)試走線組經(jīng)過(guò)并連接了另外一半的觸控電極，包括觸控電極T2、T4、T5、T7、T10、T12、T13以及T15，兩組測(cè)試走線組分別連接的觸控電極呈棋盤(pán)格間隔分布，但不以此為限。

本實(shí)用新型中可以在為顯示區(qū)域設(shè)置多個(gè)開(kāi)關(guān)器件24，但是為了避免開(kāi)關(guān)器件24的位置臨近而造成需要多層過(guò)橋的結(jié)構(gòu)，本實(shí)用新型通過(guò)將不同的測(cè)試走線組進(jìn)行分組，并且調(diào)整分組之間的排列順序的方式來(lái)減少過(guò)橋結(jié)構(gòu)。圖4是本實(shí)用新型的第一種顯示面板的測(cè)試走線分組示意圖。如圖4所示，第一測(cè)試走線組包括多個(gè)第一測(cè)試走線對(duì)25，第一測(cè)試走線對(duì)25包括兩條相鄰且串聯(lián)的第一測(cè)試走線。第二測(cè)試走線組包括多個(gè)第二測(cè)試走線對(duì)26，第二測(cè)試走線對(duì)26包括兩條相鄰且串聯(lián)的第二測(cè)試走線。奇數(shù)列的觸控電極的第一測(cè)試走線對(duì)25與第二測(cè)試走線對(duì)26在行方向上的排列順序，與偶數(shù)列的觸控電極的第一測(cè)試走線25對(duì)與第二測(cè)試走線對(duì)26在行方向上的排列順序鏡像對(duì)稱。以圖4為例，自左起第一列的觸控電極以及第三列的觸控電極上的第一測(cè)試走線對(duì)25在左，第二測(cè)試走線對(duì)26在右；而自左起第二列的觸控電極以及第四列的觸控電極上的第二測(cè)試走線對(duì)26在左，第一測(cè)試走線對(duì)25在右。所以，第一列的觸控電極上第一測(cè)試走線對(duì)25在與第二測(cè)試走線對(duì)26的位置關(guān)系與第二列的觸控電極上第一測(cè)試走線對(duì)25在與第二測(cè)試走線對(duì)26的位置關(guān)系鏡像對(duì)稱(即：兩者排列順序相反)。同樣地，第三列的觸控電極上第一測(cè)試走線對(duì)25在與第二測(cè)試走線對(duì)26的位置關(guān)系與第四列的觸控電極上第一測(cè)試走線對(duì)25在與第二測(cè)試走線對(duì)26的位置關(guān)系鏡像對(duì)稱(即：兩者排列順序相反)。

圖5是本實(shí)用新型的第一種顯示面板的測(cè)試狀態(tài)示意圖。如圖5所示，本實(shí)用新型的顯示面板在測(cè)試時(shí)，第一輸入端21與第二輸入端22施加不同電壓，使得第一測(cè)試走線組經(jīng)過(guò)的觸控電極T1、T3、T6、T8、T9、T11、T14以及T16，具有一個(gè)較暗的第一亮度，第二測(cè)試走線組經(jīng)過(guò)的觸控電極T2、T4、T5、T7、T10、T12、T13以及T15，具有一個(gè)較亮的第二亮度。則當(dāng)畫(huà)面顯示為明暗間隔的棋盤(pán)格時(shí)，顯示面板為良品；當(dāng)畫(huà)面出現(xiàn)部分棋盤(pán)格部分純色畫(huà)面，表示顯示面板存在測(cè)試走線的斷路；當(dāng)畫(huà)面整體顯示純色畫(huà)面時(shí)表示測(cè)試走線之間存在短路不良，以此，可以快速準(zhǔn)確地判斷顯示面板的品質(zhì)，或是準(zhǔn)確知道顯示面板電路出現(xiàn)的是哪種問(wèn)題(是顯示面板出現(xiàn)了斷路問(wèn)題，或者是顯示面板出現(xiàn)了短路問(wèn)題)。

本實(shí)用新型的第一測(cè)試走線組和第二測(cè)試走線組也可以通過(guò)其他的方式連接各個(gè)觸控電極。

圖6是本實(shí)用新型的第二種顯示面板的測(cè)試狀態(tài)示意圖。如圖6所示，在一個(gè)變化例中，本實(shí)用新型中的觸控電極陣列中奇數(shù)行的觸控電極T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13以及T15，電連接第一測(cè)試走線組，觸控電極陣列中偶數(shù)行的觸控電極T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14以及T16，電連接第二測(cè)試走線組(為了清楚顯示測(cè)試結(jié)果，圖6中不顯示連接的具體電路圖)。第一輸入端31連接第一測(cè)試走線組，第一輸入端32連接第二測(cè)試走線組。其他技術(shù)特征如前所述，此處不再贅述。

繼續(xù)參考圖6，本實(shí)用新型的顯示面板在測(cè)試時(shí)，第一輸入端31與第二輸入端32施加不同電壓，使得第一測(cè)試走線組經(jīng)過(guò)的觸控電極T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13以及T15，具有一個(gè)較暗的第一亮度，第二測(cè)試走線組經(jīng)過(guò)的觸控電極T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14以及T16，具有一個(gè)較亮的第二亮度。則當(dāng)畫(huà)面顯示為明暗間隔的橫向的斑馬線時(shí)，顯示面板為良品；當(dāng)畫(huà)面出現(xiàn)部分斑馬線部分純色畫(huà)面，表示顯示面板存在測(cè)試走線的斷路；當(dāng)畫(huà)面整體顯示純色畫(huà)面時(shí)表示測(cè)試走線之間存在短路不良，以此，可以快速準(zhǔn)確地判斷顯示面板的品質(zhì)，或是準(zhǔn)確知道顯示面板電路出現(xiàn)的是哪種問(wèn)題(是顯示面板出現(xiàn)了斷路問(wèn)題，或者是顯示面板出現(xiàn)了短路問(wèn)題)。

圖7是本實(shí)用新型的第三種顯示面板的測(cè)試狀態(tài)示意圖。如圖7所示，在一個(gè)變化例中，本實(shí)用新型中的觸控電極陣列中奇數(shù)列的觸控電極T1、T2、T3、T4、T9、T10、T11以及T12，電連接第一測(cè)試走線組，觸控電極陣列中偶數(shù)列的觸控電極T5、T6、T7、T8、T13、T14、T15以及T16，電連接第二測(cè)試走線組(為了清楚顯示測(cè)試結(jié)果，圖7中也不顯示連接的具體電路圖)。第一輸入端41連接第一測(cè)試走線組，第二輸入端42連接第二測(cè)試走線組。其他技術(shù)特征如前所述，此處不再贅述。

繼續(xù)參考圖7，本實(shí)用新型的顯示面板在測(cè)試時(shí)，第一輸入端41與第二輸入端42施加不同電壓，使得第一測(cè)試走線組經(jīng)過(guò)的觸控電極T1、T2、T3、T4、T9、T10、T11以及T12，具有一個(gè)較暗的第一亮度，第二測(cè)試走線組經(jīng)過(guò)的觸控電極T5、T6、T7、T8、T13、T14、T15以及T16，具有一個(gè)較亮的第二亮度。則當(dāng)畫(huà)面顯示為明暗間隔的縱向的斑馬線時(shí)，顯示面板為良品；當(dāng)畫(huà)面出現(xiàn)部分斑馬線部分純色畫(huà)面，表示顯示面板存在測(cè)試走線的斷路；當(dāng)畫(huà)面整體顯示純色畫(huà)面時(shí)表示測(cè)試走線之間存在短路不良，以此，可以快速準(zhǔn)確地判斷顯示面板的品質(zhì)，或是準(zhǔn)確知道顯示面板電路出現(xiàn)的是哪種問(wèn)題(是顯示面板出現(xiàn)了斷路問(wèn)題，或者是顯示面板出現(xiàn)了短路問(wèn)題)。

本實(shí)用新型也可以通過(guò)四個(gè)輸入端來(lái)進(jìn)行檢測(cè)，為了配合四個(gè)輸入端，本實(shí)用新型的多個(gè)測(cè)試走線組還包括通過(guò)非顯示區(qū)串聯(lián)的多條第三測(cè)試走線組成的第三測(cè)試走線組，以及通過(guò)非顯示區(qū)串聯(lián)的多條第四測(cè)試走線組成的第四測(cè)試走線組，來(lái)形成多個(gè)不同亮度等級(jí)的檢測(cè)模式，以便應(yīng)對(duì)具有更多像素的面板。

圖8是本實(shí)用新型的第四種顯示面板的示意圖。如圖8所示，本實(shí)用新型也可以包括第一輸入端51、第二輸入端52、第三輸入端53和第四輸入端54。這四個(gè)輸入端各自連接64個(gè)觸控電極中的16個(gè)觸控電極(圖8中不顯示連接的具體電路圖)。其他技術(shù)特征如前所述，此處不再贅述。

圖9是本實(shí)用新型的第四種顯示面板的測(cè)試狀態(tài)示意圖。如圖9所示，本實(shí)用新型的顯示面板在測(cè)試時(shí)，第一輸入端51、第二輸入端52、第三輸入端53和第四輸入端54不同電壓。

第一輸入端51電連接第一測(cè)試走線組，第一測(cè)試走線組經(jīng)過(guò)的觸控電極T1、T5、T11、T15、T17、T21、T27、T31、T33、T37、T43、T47、T49、T53、T59以及T63，具有第一亮度。

第二輸入端52電連接第二測(cè)試走線組，第二測(cè)試走線組經(jīng)過(guò)的觸控電極T2、T6、T12、T16、T18、T22、T28、T32、T34、T38、T44、T48、T50、T54、T60以及T64，具有第二亮度。

第三輸入端53電連接第三測(cè)試走線組，第三測(cè)試走線組經(jīng)過(guò)的觸控電極T3、T7、T9、T13、T19、T23、T25、T29、T35、T39、T41、T45、T51、T55、T57以及T61，具有第三亮度。

第四輸入端54電連接第四測(cè)試走線組，第四測(cè)試走線組經(jīng)過(guò)的觸控電極T4、T8、T10、T14、T20、T24、T26、T30、T36、T40、T42、T46、T52、T56、T58以及T62，具有第四亮度。

同樣地，則當(dāng)畫(huà)面顯示為四種不同亮度明暗間隔的復(fù)雜棋盤(pán)格時(shí)(如圖9所示)，顯示面板為良品；當(dāng)畫(huà)面出現(xiàn)部分棋盤(pán)格部分純色畫(huà)面，表示顯示面板存在測(cè)試走線的斷路；當(dāng)畫(huà)面整體顯示純色畫(huà)面時(shí)表示測(cè)試走線之間存在短路不良，以此，可以快速準(zhǔn)確地判斷顯示面板的品質(zhì)，或是準(zhǔn)確知道顯示面板電路出現(xiàn)的哪種問(wèn)題(是顯示面板出現(xiàn)了斷路問(wèn)題，或者是顯示面板出現(xiàn)了短路問(wèn)題)。

在此基礎(chǔ)上，增加輸入端和/或測(cè)試走線組(例如6個(gè)輸入端與6個(gè)測(cè)試走線組；或是8個(gè)輸入端與8個(gè)測(cè)試走線組等)來(lái)進(jìn)行測(cè)試的技術(shù)方案，也落在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之中。

本實(shí)施例提供了一種顯示裝置，包括：顯示面板以及驅(qū)動(dòng)電路，包括采用上述的顯示面板。在本實(shí)施例中，顯示裝置可以為手機(jī)、臺(tái)式電腦、筆記本、平板電腦、電子相冊(cè)等。

綜上，本實(shí)用新型所提供的顯示面板以及顯示裝置具有下列優(yōu)點(diǎn)：本實(shí)用新型的顯示面板以及顯示裝置能有效解決虛擬測(cè)試中的漏檢問(wèn)題，能夠檢測(cè)全部真正使用到的實(shí)線走線，不存在檢測(cè)盲區(qū)，減小后端良率損失，并且無(wú)需在顯示區(qū)域增加測(cè)試走線。

以上內(nèi)容是結(jié)合具體的優(yōu)選實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型所作的進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明，不能認(rèn)定本實(shí)用新型的具體實(shí)施只局限于這些說(shuō)明。對(duì)于本實(shí)用新型所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出多個(gè)簡(jiǎn)單推演或替換，都應(yīng)當(dāng)視為屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。