本發(fā)明涉及顯示面板檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種顯示面板不良信息的分析方法和分析裝置。

背景技術(shù)：

隨著智能化制造技術(shù)的發(fā)展，在顯示面板的生產(chǎn)檢查環(huán)節(jié)中自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)使用日益廣泛。AOI采用無人化自動(dòng)檢測(cè)的方式，檢測(cè)速度快、性能穩(wěn)定、可調(diào)控性好，成為替代人工檢測(cè)的主要的產(chǎn)品缺陷檢測(cè)模式。

顯示面板AOI是利用拍照設(shè)備對(duì)切割后的單一子顯示面板進(jìn)行拍攝，然后對(duì)拍攝的圖像進(jìn)行分析，找出單一子顯示面板上的不良，并進(jìn)行不良品攔截，并不能獲取未切割前的母面板的不良整體形貌圖，具體不良在母面板上的關(guān)聯(lián)、貫穿情況等。

現(xiàn)今高世代線顯示面板生產(chǎn)，針對(duì)母面板上不良發(fā)生的原因分析與及時(shí)的工藝、設(shè)備調(diào)整，對(duì)于產(chǎn)品良率提升，改善出貨品質(zhì)，遏制廢品損失等方面具有巨大的促進(jìn)作用。

現(xiàn)有的顯示面板不良信息的分析方法是刷取子顯示面板檢測(cè)數(shù)據(jù)，統(tǒng)計(jì)出母面板上各子顯示面板位置特定不良的發(fā)生率，粗略得出母面板哪些部位的特定不良發(fā)生比例高，進(jìn)而追查工藝設(shè)備的對(duì)應(yīng)問題點(diǎn)。

上述分析方法效率低下，須人工從大量數(shù)據(jù)中進(jìn)行甄別篩選，同時(shí)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行編輯整理，最終只能得到簡(jiǎn)略抽象的不良Mapping(地圖)發(fā)生率圖表，且無法準(zhǔn)確定位不良具體位置，無法直觀得出母面板不良整體形貌圖，無法研究具體不良在母面板上的關(guān)聯(lián)、貫穿情況等，對(duì)于及時(shí)準(zhǔn)確的不良分析有很大的局限性。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

有鑒于此，本發(fā)明提供一種顯示面板不良信息的分析方法和分析裝置，能夠?qū)ξ辞懈钋暗哪该姘宓牟涣夹畔⑦M(jìn)行全面的分析。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種顯示面板不良信息的分析方法，包括：

獲取第一母面板的不良拼接圖像，以及與所述第一母面板關(guān)聯(lián)的第二母面板的不良拼接圖像，其中，母面板的不良拼接圖像由屬于該母面板的各子顯示面板的不良檢測(cè)圖像拼接而成，母面板的不良拼接圖像對(duì)應(yīng)的不良信息由屬于該母面板的各子顯示面板的不良信息匯總得到；

將所述第一母面板的不良拼接圖像和所述第二母面板的不良拼接圖像疊加融合，得到一不良疊加圖像，所述不良疊加圖像對(duì)應(yīng)的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息匯總得到。

優(yōu)選地，所述將所述第一母面板的不良拼接圖像和所述第二母面板的不良拼接圖像疊加融合，得到一不良疊加圖像的步驟之后還包括：

確定待解析的不良信息類型；

顯示加載有所述待解析的不良信息的相關(guān)內(nèi)容的所述不良疊加圖像。

優(yōu)選地，所述獲取第一母面板的不良拼接圖像的步驟之前還包括：

通過自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)待檢測(cè)的子顯示面板進(jìn)行檢測(cè)，得到已檢測(cè)的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像；

存儲(chǔ)所述已檢測(cè)的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像。

優(yōu)選地，所述獲取第一母面板的不良拼接圖像的步驟包括：

確定待解析的第一子顯示面板，所述第一子顯示面板屬于所述第一母面板；

從存儲(chǔ)的所述已檢測(cè)的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像中，提取存儲(chǔ)的所述第一子顯示面板的不良檢測(cè)圖像，以及與所述第一子顯示面板同屬于所述第一母面板的第二子顯示面板的不良檢測(cè)圖像；

對(duì)獲取到的第一子顯示面板的不良檢測(cè)圖像和所述第二子顯示面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行拼接，得到所述第一母面板的不良拼接圖像，所述第一母面板的不良拼接圖像對(duì)應(yīng)的不良信息由所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板的不良信息匯總得到。

優(yōu)選地，存儲(chǔ)的每一所述已檢測(cè)的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像對(duì)應(yīng)一唯一編號(hào)，所述編號(hào)中包含所述已檢測(cè)的子顯示面板所屬的母面板的標(biāo)識(shí)信息；

所述提取存儲(chǔ)的所述第一子顯示面板的不良檢測(cè)圖像，以及與所述第一子顯示面板同屬于所述第一母面板的第二子顯示面板的不良檢測(cè)圖像的步驟包括：

根據(jù)所述第一子顯示面板的編號(hào)，檢索出與所述第一子顯示面板同屬于所述第一母面板的第二子顯示面板的編號(hào)；

根據(jù)所述第一子顯示面板和第二子顯示面板的編號(hào)，提取所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板的不良檢測(cè)圖像。

優(yōu)選地，所述編號(hào)中還包含所述已檢測(cè)的子顯示面板在其所屬的母面板中的位置信息；

所述獲取第一母面板的不良拼接圖像的步驟包括：

根據(jù)所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板的編號(hào)中所指示的其所述第一母面板中的位置信息，確定所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板在所述第一母面板中的位置；

根據(jù)所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板在所述第一母面板中的位置，對(duì)所述第一子顯示面板的不良檢測(cè)圖像和所述第二子顯示面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行拼接，得到所述第一母面板的不良拼接圖像。

優(yōu)選地，子顯示面板的不良信息包括不良在子顯示面板中的坐標(biāo)信息，所述獲取第一母面板的不良拼接圖像的步驟還包括：

根據(jù)所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板中的不良信息的坐標(biāo)，所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板在所述第一母面板中的位置，所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板的尺寸，所述第一母面板的尺寸和所述第一母面板在切割工藝中的切割參數(shù)，將不良在所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板中的坐標(biāo)信息轉(zhuǎn)換為不良在所述第一母面板上的坐標(biāo)信息。

優(yōu)選地，所述獲取第一母面板的不良拼接圖像的步驟之前還包括：

利用自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)待檢測(cè)的子顯示面板進(jìn)行檢測(cè)，得到已檢測(cè)的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像；

將屬于同一母面板的各已檢測(cè)的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行拼接，得到母面板的不良拼接圖像；

存儲(chǔ)母面板的不良拼接圖像。

優(yōu)選地，所述獲取第一母面板的不良拼接圖像的步驟包括：

確定待解析的第一母面板；

從存儲(chǔ)的母面板的不良拼接圖像中，提取待解析的第一母面板的不良拼接圖像。

本發(fā)明還提供一種顯示面板不良信息的分析裝置，包括：

獲取模塊，用于獲取第一母面板的不良拼接圖像，以及與所述第一母面板關(guān)聯(lián)的第二母面板的不良拼接圖像，其中，母面板的不良拼接圖像由屬于該母面板的各子顯示面板的不良檢測(cè)圖像拼接而成，母面板的不良拼接圖像對(duì)應(yīng)的不良信息由屬于該母面板的各子顯示面板的不良信息匯總得到；

疊加融合模塊，用于將所述第一母面板的不良拼接圖像和所述第二母面板的不良拼接圖像疊加融合，得到一不良疊加圖像，所述不良疊加圖像對(duì)應(yīng)的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息匯總得到。

本發(fā)明的上述技術(shù)方案的有益效果如下：

本發(fā)明實(shí)施例中，將屬于同一母面板的多個(gè)子顯示面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行拼接，得到母面板的不良拼接圖像，然后，將多個(gè)相關(guān)的母面板的不良拼接圖像進(jìn)行疊加，得到不良疊加圖像，由于不良疊加圖像對(duì)應(yīng)的不良信息是由多個(gè)母面板的不良信息匯總得到，因而能夠體現(xiàn)大數(shù)據(jù)量的面板不良在母面板上的表現(xiàn)。

本發(fā)明實(shí)施例的方法簡(jiǎn)單有效，可迅速直觀得出母面板的不良相貌、不良位置、不良的貫穿性、不良的濃度等信息，大大提升了不良分析效率與準(zhǔn)確性，從而可根據(jù)不良分析結(jié)果進(jìn)行及時(shí)的工藝、設(shè)備調(diào)整，提升產(chǎn)品良率，改善出貨品質(zhì)，遏制廢品損失。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實(shí)施例一的顯示面板不良信息的分析方法的流程示意圖；

圖2為本發(fā)明實(shí)施例二的顯示面板不良信息的分析方法的流程示意圖；

圖3為本發(fā)明實(shí)施例三的顯示面板不良信息的分析方法的流程示意圖；

圖4為本發(fā)明實(shí)施例四的顯示面板不良信息的分析方法的流程示意圖；

圖5為本發(fā)明一實(shí)施例的子顯示面板的編號(hào)示意圖；

圖6為本發(fā)明一實(shí)施例的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像的拼接方法示意圖；

圖7為本發(fā)明一實(shí)施例的不良在子顯示面板上的坐標(biāo)信息轉(zhuǎn)換為不良在母面板上的坐標(biāo)信息的示意圖；

圖8為本發(fā)明一實(shí)施例的多個(gè)母面板的拼接圖像進(jìn)行疊加融合的示意圖；

圖9為本發(fā)明一實(shí)施例的顯示的不良疊加圖像的示意圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述。顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明的一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；谒枋龅谋景l(fā)明的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

除非另作定義，此處使用的技術(shù)術(shù)語或者科學(xué)術(shù)語應(yīng)當(dāng)為本發(fā)明所屬領(lǐng)域內(nèi)具有一般技能的人士所理解的通常意義。本發(fā)明專利申請(qǐng)說明書以及權(quán)利要求書中使用的“第一”、“第二”以及類似的詞語并不表示任何順序、數(shù)量或者重要性，而只是用來區(qū)分不同的組成部分。同樣，“一個(gè)”或者“一”等類似詞語也不表示數(shù)量限制，而是表示存在至少一個(gè)。“連接”或者“相連”等類似的詞語并非限定于物理的或者機(jī)械的連接，而是可以包括電性的連接，不管是直接的還是間接的?！吧稀?、“下”、“左”、“右”等僅用于表示相對(duì)位置關(guān)系，當(dāng)被描述對(duì)象的絕對(duì)位置改變后，則該相對(duì)位置關(guān)系也相應(yīng)地改變。

請(qǐng)參考圖1，圖1為本發(fā)明實(shí)施例一的顯示面板不良信息的分析方法的流程示意圖，該分析方法包括：

步驟11：獲取第一母面板的不良拼接圖像，以及與所述第一母面板關(guān)聯(lián)的第二母面板的不良拼接圖像，其中，母面板的不良拼接圖像由屬于該母面板的各子顯示面板的不良檢測(cè)圖像拼接而成，母面板的不良拼接圖像對(duì)應(yīng)的不良信息由屬于該母面板的各子顯示面板的不良信息匯總得到；

所謂母面板，是指未切割前的大面板，所謂子顯示面板，是指由母面板切割后的小面板。

所述不良信息可以包括不良的類型、不良的數(shù)量和不良的坐標(biāo)信息等。

所述子顯示面板的不良檢測(cè)圖像可以是由自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)檢測(cè)得到的不良檢測(cè)圖像。

與所述第一子顯示面板關(guān)聯(lián)的第二母面板，個(gè)數(shù)可以為一個(gè)或多個(gè)，是與第一母面板產(chǎn)品型號(hào)相同的母面板，進(jìn)一步地，還可以是具有與所述第一子顯示面板相同類型的預(yù)定不良信息的母面板。

步驟12：將所述第一母面板的不良拼接圖像和所述第二母面板的不良拼接圖像疊加融合，得到一不良疊加圖像，所述不良疊加圖像對(duì)應(yīng)的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息匯總得到。

本發(fā)明實(shí)施例中，將屬于同一母面板的多個(gè)子顯示面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行拼接，得到母面板的不良拼接圖像，然后，將多個(gè)相關(guān)的母面板的不良拼接圖像進(jìn)行疊加，得到不良疊加圖像，由于不良疊加圖像對(duì)應(yīng)的不良信息是由多個(gè)母面板的不良信息匯總得到，因而能夠體現(xiàn)大數(shù)據(jù)量的面板不良在母面板上的表現(xiàn)。

本發(fā)明實(shí)施例的方法簡(jiǎn)單有效，可迅速直觀得出母面板的不良相貌、不良位置、不良的貫穿性、不良的濃度等信息，大大提升了不良分析效率與準(zhǔn)確性，從而可根據(jù)不良分析結(jié)果進(jìn)行及時(shí)的工藝、設(shè)備調(diào)整，提升產(chǎn)品良率，改善出貨品質(zhì)，遏制廢品損失。

為方便觀看，本發(fā)明實(shí)施例的方法還可以包括：顯示加載有所述不良疊加圖像對(duì)應(yīng)的不良信息的相關(guān)內(nèi)容的不良疊加圖像。

所謂不良信息的相關(guān)內(nèi)容，包括不良的類型，不良的位置信息以及不良的統(tǒng)計(jì)信息等內(nèi)容，不良的統(tǒng)計(jì)信息包括不良的發(fā)生率等信息。

具體的，可以在顯示的不良疊加圖像上加載所有類型的不良信息的相關(guān)內(nèi)容。

當(dāng)然，也可以根據(jù)需要加載某些待解析的不良信息，而非加載所有類型的不良信息。因而，本發(fā)明實(shí)施例的方法還可以包括：確定待解析的不良信息類型；顯示加載有所述待解析的不良信息的相關(guān)內(nèi)容的所述不良疊加圖像。從而使得顯示的不良疊加圖像中僅針對(duì)性地顯示待解析的不良信息的相關(guān)內(nèi)容，避免其他不需要的不良信息干擾視線。

本發(fā)明實(shí)施例中，可以通過自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)待檢測(cè)的各子顯示面板進(jìn)行檢測(cè)，得到各子顯示面板的不良檢測(cè)圖像，然后將各子顯示面板的不良檢測(cè)圖像存儲(chǔ)起來，待進(jìn)行顯示面板不良信息分析時(shí)使用。

下面舉例進(jìn)行說明。

請(qǐng)參考圖2，圖2為本發(fā)明實(shí)施例二的顯示面板不良信息的分析方法的流程示意圖，該分析方法包括：

不良檢測(cè)階段：

步驟21：通過自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)待檢測(cè)的子顯示面板進(jìn)行檢測(cè)，得到已檢測(cè)的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像；

該不良檢測(cè)圖像包括檢測(cè)到的子顯示面板的不良信息；

該不良信息包括：不良的類型、不良的數(shù)量、不良在子顯示面板上的坐標(biāo)等。

步驟22：存儲(chǔ)所述已檢測(cè)的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像。

不良分析階段：

步驟23：確定待解析的第一子顯示面板，所述第一子顯示面板屬于第一母面板；

所述待解析的第一子顯示面板可以是具有高發(fā)類不良和/或特異性不良的子顯示面板。

步驟24：從存儲(chǔ)所述已檢測(cè)的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像中，提取存儲(chǔ)的所述第一子顯示面板的不良檢測(cè)圖像，以及與所述第一子顯示面板同屬于所述第一母面板的第二子顯示面板的不良檢測(cè)圖像；

所述第二子顯示面板的數(shù)量可以一個(gè)或多個(gè)。所述第二子顯示面板是第一母面板中除第一子顯示面板之外的其他子顯示面板。

步驟25：對(duì)獲取到的第一子顯示面板的不良檢測(cè)圖像和所述第二子顯示面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行拼接，得到所述第一母面板的不良拼接圖像，所述第一母面板的不良拼接圖像對(duì)應(yīng)的不良信息由所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板的不良信息匯總得到；

步驟26：獲取與所述第一子顯示面板關(guān)聯(lián)的第二母面板的不良拼接圖像，其中，所述第二母面板的不良拼接圖像的獲取過程與步驟24和步驟25過程類似，即提取第二母面板的各子顯示面板的不良檢測(cè)圖像，然后進(jìn)行拼接。

步驟27：將所述第一母面板的不良拼接圖像和所述第二母面板的不良拼接圖像疊加融合，得到一不良疊加圖像，所述不良疊加圖像對(duì)應(yīng)的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息匯總得到。

本發(fā)明實(shí)施例中，存儲(chǔ)的每一所述已檢測(cè)的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像對(duì)應(yīng)一唯一編號(hào)，從而能夠在進(jìn)行顯示面板的不良信息的分析時(shí)，通過子顯示面板的唯一編號(hào)從存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)庫(kù)中快速檢索到待解析的子顯示面板。同時(shí)，子顯示面板的編號(hào)中還包括該子顯示面板所屬的母面板的標(biāo)識(shí)信息，從而根據(jù)該編號(hào)中的母面板的標(biāo)識(shí)信息，從存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)庫(kù)中檢索出與待解析的子顯示面板屬于同一母面板的其他子顯示面板，從而進(jìn)行子顯示面板的不良檢測(cè)圖像的拼接，得到母面板的拼接圖像。

請(qǐng)參考圖5，圖5為本發(fā)明一實(shí)施例的子顯示面板的編號(hào)示意圖，該實(shí)施例中，每一子顯示面板的編號(hào)具有14位，其中：

1-11位為子顯示面板的序列號(hào)(GLASS ID)。子顯示面板的序列號(hào)中能夠體現(xiàn)所屬的母面板的標(biāo)識(shí)。

第12位為子顯示面板的類型，是single Panel(單個(gè)子顯示面板)還是Q-panel，Q-panle指的是將一張母面板切成幾小片，每片含幾個(gè)小的single panel，這樣的每一片就叫做Q-panel。

第13和第14位為子顯示面板在母面板中的位置。其中，第13位是子顯示面板所在的行(Panel Rows)，命名規(guī)則可以是A～Z行，0～9行。第14位是子顯示面板所在的列(Panel Columns)，命名規(guī)則可以是A～Z列，0～9列。

本發(fā)明實(shí)施例中，在進(jìn)行一子顯示面板及與其同屬一母面板的其他子顯示面板的不良檢測(cè)圖像的提取時(shí)，可以根據(jù)該子顯示面板的編號(hào)中的第1-12位，確定與其同屬一母面板的其他子顯示面板的編號(hào)，并根據(jù)各子顯示面板的編號(hào)，提取各子顯示面板的不良檢測(cè)圖像。

當(dāng)然，在本發(fā)明的其他一些實(shí)施例中，子顯示面板的編號(hào)也可以采用其他命名規(guī)則，在此不再一一說明。

也就是說，上述步驟24中，提取存儲(chǔ)的所述第一子顯示面板的不良檢測(cè)圖像，以及與所述第一子顯示面板同屬于所述第一母面板的第二子顯示面板的不良檢測(cè)圖像可以具體包括：

步驟241：根據(jù)所述第一子顯示面板的編號(hào)，檢索出與所述第一子顯示面板同屬于所述第一母面板的第二子顯示面板的編號(hào)；

步驟242：根據(jù)所述第一子顯示面板和第二子顯示面板的編號(hào)，提取所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板的不良檢測(cè)圖像。

進(jìn)一步優(yōu)選地，所述子顯示面板的編號(hào)中還可以包括所述已檢測(cè)的子顯示面板在其所屬的母面板中的位置信息，從而可以根據(jù)該位置信息對(duì)同屬一母面板的各子面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行拼接。

也就是說，上述步驟25中，對(duì)獲取到的第一子顯示面板的不良檢測(cè)圖像和所述第二子顯示面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行拼接，得到所述第一母面板的不良拼接圖像的步驟可以包括：

步驟251：根據(jù)所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板的編號(hào)中所指示的其所述第一母面板中的位置信息，確定所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板在所述第一母面板中的位置；

步驟252：根據(jù)所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板在所述第一母面板中的位置，對(duì)所述第一子顯示面板的不良檢測(cè)圖像和所述第二子顯示面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行拼接，得到所述第一母面板的不良拼接圖像。

請(qǐng)參考圖6，圖6為本發(fā)明一實(shí)施例的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像的拼接方法示意圖，從圖6中可以看出，各子顯示面板的編號(hào)(Panel ID)中攜帶其在所屬母面板中的位置信息，如圖6中的Panel ID表格中所示，AA(A Row，1Column)，AB(A Row，2Column)，CA(C Row，1Column)等，根據(jù)各子顯示面板的編號(hào)中的位置信息，對(duì)各子面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行拼接，得到一完整的母面板的不良拼接圖像，如圖6箭頭所指的右邊視圖所示。

本發(fā)明實(shí)施例中，子顯示面板的不良信息包括該子顯示面板的不良在該子顯示面板上的坐標(biāo)信息，在對(duì)屬于同一母面板的各子顯示面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行拼接時(shí)，需要將每一子顯示面板的不良在該子顯示面板上的坐標(biāo)信息，轉(zhuǎn)換為該不良在母面板中的坐標(biāo)信息。

即，上述實(shí)施例中，所述獲取第一母面板的不良拼接圖像的步驟還包括：根據(jù)所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板中的不良信息的坐標(biāo)，所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板在所述第一母面板中的位置，所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板的尺寸，所述第一母面板的尺寸和所述第一母面板在切割工藝中的切割參數(shù)，將不良在所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板中的坐標(biāo)信息轉(zhuǎn)換為不良在所述第一母面板上的坐標(biāo)信息。

請(qǐng)參考圖7，圖7為本發(fā)明一實(shí)施例的不良在子顯示面板上的坐標(biāo)信息轉(zhuǎn)換為不良在母面板上的坐標(biāo)信息的示意圖，從圖7中可以看出，在將不良在子顯示面板上的坐標(biāo)信息(x，y)轉(zhuǎn)換為不良在母面板上的坐標(biāo)信息(x'，y')時(shí)，需要考慮子顯示面板在母面板中的位置(即Map位置)，子顯示面板的尺寸，母面板的尺寸，以及母面板在切割工藝中的切割參數(shù)(Dummy寬度)。

請(qǐng)參考圖3，圖3為本發(fā)明實(shí)施例四的顯示面板不良信息的分析方法的流程示意圖，該分析方法包括：

不良檢測(cè)階段：

步驟31：采用自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)待測(cè)試的子顯示面板進(jìn)行測(cè)試，得到已測(cè)試的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像；

該不良檢測(cè)圖像中包括子顯示面板的不良信息。

該不良信息包括：不良的類型、不良的數(shù)量以及不良在子顯示面板上的坐標(biāo)等。

步驟32：通過P-CIM(Probe CIM，計(jì)算機(jī)集成制造信息管理系統(tǒng))系統(tǒng)將已測(cè)試的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像上傳至File Server(文件服務(wù)器)相應(yīng)的文件站點(diǎn)中存儲(chǔ)。

每一存儲(chǔ)的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像對(duì)應(yīng)一編號(hào)(panel ID)，該panel ID中包括子顯示面板所屬的第一母面板的標(biāo)識(shí)信息以及子顯示面板在母面板中的位置信息。panel ID可以參見圖5。

不良分析階段：

步驟33：通過BO(數(shù)據(jù)信息報(bào)表)系統(tǒng)對(duì)File Server存儲(chǔ)的各子顯示面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行分析，獲取高發(fā)類不良或特異性不良的第一子顯示面板的panel ID。

步驟34：輸入待解析的第一子顯示面板的panel ID；

步驟35：在File Server中檢索出與所述第一子顯示面板關(guān)聯(lián)的其他子顯示面板的panel ID；

與待解析的子顯示面板關(guān)聯(lián)的其他子顯示面板包括：與待解析的子顯示面板屬于同一母面板的第二子顯示面板，以及與待解析的子顯示面板所屬的母面板產(chǎn)品型號(hào)相同，且具有類似高發(fā)類不良或特異性不良的子顯示面板及其同屬一母面板的其他子顯示面板。

具體的，根據(jù)第一子顯示面板的panel ID中攜帶的所屬的母面板的標(biāo)識(shí)信息，確定與第一子顯示面板屬于同一母面板的第二子顯示面板的panel ID。

根據(jù)第一子顯示面板的高發(fā)類不良或特異性不良，確定與待解析的子顯示面板所屬的母面板產(chǎn)品型號(hào)相同，且具有類似高發(fā)類不良或特異性不良的子顯示面板及其同屬一母面板的其他子顯示面板。

步驟36：從File Server中提取與第一子顯示面板以及與所述第一子顯示面板關(guān)聯(lián)的其他子顯示面板的不良檢測(cè)圖像；

步驟37：根據(jù)panel ID中攜帶的子顯示面板在母面板中的位置信息，對(duì)提取的屬于同一母面板的各子顯示面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行拼接，得到多個(gè)母面板的不良拼接圖像。

對(duì)各子顯示面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行拼接時(shí)，需要對(duì)將不良在子顯示面板中的坐標(biāo)轉(zhuǎn)換為在母面板中的坐標(biāo)。

步驟38：對(duì)拼接得到的多個(gè)母面板的不良拼接圖像進(jìn)行疊加融合處理，得到一不良疊加圖像。

步驟39：確定待解析的不良信息類型；

具體的，可以提供一選擇界面，選擇界面中顯示出所有類型的不良信息，并提供勾選方式，以對(duì)待解析的不良信息進(jìn)行勾選。

步驟310：顯示加載有所述待解析的不良信息的相關(guān)內(nèi)容的所述不良疊加圖像。

也就是說，顯示的不良疊加圖像中，只標(biāo)示出待解析的不良信息的相關(guān)內(nèi)容，并不顯示其他類型的不良信息，從而可針對(duì)特定不良信息進(jìn)行查看，避免視覺干擾。

另外，步驟39和步驟310可以重復(fù)執(zhí)行，即可以根據(jù)需要多次選擇需要解析的不良信息。

上述實(shí)施例中，在不良檢測(cè)階段，通過自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)獲取各子顯示面板的不良檢測(cè)圖像，然后將各子顯示面板的不良檢測(cè)圖像存儲(chǔ)起來，在不良分析階段，再將各子顯示面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行拼接，得到母面板的不良拼接圖像。當(dāng)然，在本發(fā)明的其他一些實(shí)施例中，也可以在不良檢測(cè)階段，就將各子顯示面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行拼接，得到母面板的不良拼接圖像，并存儲(chǔ)母面板的不良拼接圖像，在不良分析階段，直接使用母面板的不良拼接圖像進(jìn)行分析。

下面舉例進(jìn)行說明。

請(qǐng)參考圖4，圖4為本發(fā)明實(shí)施例三的顯示面板不良信息的分析方法的流程示意圖，該分析方法包括：

不良檢測(cè)階段：

步驟41：利用自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)待檢測(cè)的子顯示面板進(jìn)行檢測(cè)，得到已檢測(cè)的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像；

該不良檢測(cè)圖像包括檢測(cè)到的子顯示面板的不良信息；

該不良信息包括：不良的類型、不良的數(shù)量、不良在子顯示面板上的坐標(biāo)等。

步驟42：將屬于同一母面板的各已檢測(cè)的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行拼接，得到母面板的不良拼接圖像；

步驟43：存儲(chǔ)母面板的不良拼接圖像。

不良分析階段：

步驟44：確定待解析的第一母面板；

步驟45：從存儲(chǔ)的母面板的不良拼接圖像中，提取待解析的第一母面板的不良拼接圖像；

步驟46：從存儲(chǔ)的母面板的不良拼接圖像中，提取與所述第一母面板關(guān)聯(lián)的第二母面板的不良拼接圖像。

步驟47：將所述第一母面板的不良拼接圖像和所述第二母面板的不良拼接圖像疊加融合，得到一不良疊加圖像，所述不良疊加圖像對(duì)應(yīng)的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息匯總得到。

本發(fā)明實(shí)施例中，存儲(chǔ)的每一母面板的不良拼接圖像對(duì)應(yīng)一唯一編號(hào)，從而能夠在進(jìn)行顯示面板的不良信息的分析時(shí)，通過母面板的唯一編號(hào)從存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)庫(kù)中快速檢索到所需的母面板。

本發(fā)明實(shí)施中在不良檢測(cè)階段時(shí)，子顯示面板的不良檢測(cè)圖像的拼接方法，可以參見實(shí)施例二的拼接方法，即每一子顯示面板的不良檢測(cè)圖像也對(duì)應(yīng)一唯一編號(hào)，從而根據(jù)該編號(hào)進(jìn)行子顯示面板的拼接。

上述實(shí)施例中，第一母面板和第二母面板的疊加融合方法可以參見圖8所示的附圖，從圖8中可以看出，疊加融合后得到的不良疊加圖像中匯總了第一母面板和第二母面板的不良信息。

獲得的不良疊加圖像中，由于包括多個(gè)母面板的不良信息，因而可以體現(xiàn)大數(shù)據(jù)量的面板不良在母面板上的不良相貌，并可準(zhǔn)確定位各不良的位置坐標(biāo)，另外，還可根據(jù)需要標(biāo)識(shí)出不良的濃度信息，有效分析不良間的相關(guān)性、貫穿性等問題。

所謂濃度信息是不良在區(qū)域發(fā)生的比例。所謂貫穿性是指不良在母基板上的形貌連續(xù)出現(xiàn)在各個(gè)子顯示面板區(qū)域，即不良的完整形貌貫穿多少個(gè)子顯示面板。

請(qǐng)參考圖9，圖9為本發(fā)明一實(shí)施例的顯示的不良疊加圖像的示意圖，從圖9所示的不良疊加圖像中標(biāo)識(shí)出了：不良的類型(如P/T Gap、劃傷)，不良的位置(圖中的a,b,c,d)，不良的發(fā)生率，不良的貫穿性(圖中貫穿四個(gè)子顯示面板的虛線所示內(nèi)容)。

圖中，a標(biāo)示某種Mura不良距離母面板的GP側(cè)的距離；

b標(biāo)示這兩類Mura不良在GP方向上的間隔距離；

c標(biāo)示Mura類不良距離GPO側(cè)的距離；

d標(biāo)示劃傷不良在GPO側(cè)終點(diǎn)位置與DPO側(cè)的距離。

所述GP、GPO、DP、DPO側(cè)均為液晶面板制造行業(yè)對(duì)母面板四邊的定義稱呼，以Glass電路信號(hào)源Mask與玻璃Mark為位置參照。

上述實(shí)施例中的顯示面板可以為液晶顯示面板。

基于同一發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種顯示面板不良信息的分析裝置，包括：

獲取模塊，用于獲取第一母面板的不良拼接圖像，以及與所述第一母面板關(guān)聯(lián)的第二母面板的不良拼接圖像，其中，母面板的不良拼接圖像由屬于該母面板的各子顯示面板的不良檢測(cè)圖像拼接而成，母面板的不良拼接圖像對(duì)應(yīng)的不良信息由屬于該母面板的各子顯示面板的不良信息匯總得到；

疊加融合模塊，用于將所述第一母面板的不良拼接圖像和所述第二母面板的不良拼接圖像疊加融合，得到一不良疊加圖像，所述不良疊加圖像對(duì)應(yīng)的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息匯總得到。

優(yōu)選地，還包括：

選擇模塊，用于確定待解析的不良信息類型；

顯示模塊，用于顯示加載有所述待解析的不良信息的相關(guān)內(nèi)容的所述不良疊加圖像。

優(yōu)選地，還包括：

自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)模塊，用于對(duì)待檢測(cè)的子顯示面板進(jìn)行檢測(cè)，得到已檢測(cè)的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像；

存儲(chǔ)模塊，用于存儲(chǔ)所述已檢測(cè)的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，所述獲取模塊具體用于：

確定待解析的第一子顯示面板，所述第一子顯示面板屬于所述第一母面板；

從存儲(chǔ)的所述已檢測(cè)的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像中，提取存儲(chǔ)的所述第一子顯示面板的不良檢測(cè)圖像，以及與所述第一子顯示面板同屬于所述第一母面板的第二子顯示面板的不良檢測(cè)圖像；

對(duì)獲取到的第一子顯示面板的不良檢測(cè)圖像和所述第二子顯示面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行拼接，得到所述第一母面板的不良拼接圖像，所述第一母面板的不良拼接圖像對(duì)應(yīng)的不良信息由所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板的不良信息匯總得到。

優(yōu)選地，存儲(chǔ)的每一所述已檢測(cè)的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像對(duì)應(yīng)一唯一編號(hào)，所述編號(hào)中包含所述已檢測(cè)的子顯示面板所屬的母面板的標(biāo)識(shí)信息；

所述提取存儲(chǔ)的所述第一子顯示面板的不良檢測(cè)圖像，以及與所述第一子顯示面板同屬于所述第一母面板的第二子顯示面板的不良檢測(cè)圖像的步驟包括：

根據(jù)所述第一子顯示面板的編號(hào)，檢索出與所述第一子顯示面板同屬于所述第一母面板的第二子顯示面板的編號(hào)；

根據(jù)所述第一子顯示面板和第二子顯示面板的編號(hào)，提取所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板的不良檢測(cè)圖像。

優(yōu)選地，所述編號(hào)中還包含所述已檢測(cè)的子顯示面板在其所屬的母面板中的位置信息；

所述獲取模塊用于：

根據(jù)所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板的編號(hào)中所指示的其所述第一母面板中的位置信息，確定所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板在所述第一母面板中的位置；

根據(jù)所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板在所述第一母面板中的位置，對(duì)所述第一子顯示面板的不良檢測(cè)圖像和所述第二子顯示面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行拼接，得到所述第一母面板的不良拼接圖像。

優(yōu)選地，子顯示面板的不良信息包括不良在子顯示面板中的坐標(biāo)信息，所述獲取模塊還用于：

根據(jù)所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板中的不良信息的坐標(biāo)，所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板在所述第一母面板中的位置，所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板的尺寸，所述第一母面板的尺寸和所述第一母面板在切割工藝中的切割參數(shù)，將不良在所述第一子顯示面板和所述第二子顯示面板中的坐標(biāo)信息轉(zhuǎn)換為不良在所述第一母面板上的坐標(biāo)信息。

在本發(fā)明的另一實(shí)施例中，所述分析裝置還包括：

檢測(cè)模塊，用于對(duì)待檢測(cè)的子顯示面板進(jìn)行檢測(cè)，得到已檢測(cè)的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像；

拼接模塊，用于將屬于同一母面板的各已檢測(cè)的子顯示面板的不良檢測(cè)圖像進(jìn)行拼接，得到母面板的不良拼接圖像；

存儲(chǔ)模塊，用于存儲(chǔ)母面板的不良拼接圖像。

優(yōu)選地，所述獲取模塊用于：

確定待解析的第一母面板；

從存儲(chǔ)的母面板的不良拼接圖像中，提取待解析的第一母面板的不良拼接圖像。

以上所述是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明所述原理的前提下，還可以作出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。