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      主動元件陣列基板及其檢測方法

      文檔序號:8360320閱讀:416來源:國知局
      主動元件陣列基板及其檢測方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本申請涉及一種元件陣列基板及其檢測方法,特別是一種適用于顯示面板的主動元件陣列基板及其檢測方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]液晶顯示面板主要是由主動元件陣列基板、彩色濾光陣列基板以及液晶層所構(gòu)成,其中主動元件陣列基板包括多條信號線以及多個陣列排列的像素,像素分別與對應(yīng)的信號線連接。一般來說,為了避免制造成本增加,業(yè)界趨向于在完成薄膜晶體管陣列后先檢測出共通線與信號線發(fā)生短路的確切位置,再進(jìn)行修補(bǔ)。另外,在面板設(shè)計時,直接將柵極驅(qū)動電路制作在主動元件陣列基板上,以代替外接的驅(qū)動芯片的技術(shù),被稱為柵極驅(qū)動電路基板技術(shù)(Gate on Array,GOA)。然而,在檢測GOA形式的主動元件陣列基板的短路位置時,常常有檢出率不高且影像不明顯的問題。特別是,以紅外線加熱定位檢測方式為例,實(shí)務(wù)上常常發(fā)生影像不明顯甚至是無影像的問題。此外,由于測試信號需流經(jīng)顯示區(qū)周圍的驅(qū)動電路才能進(jìn)入顯示區(qū)內(nèi),若加大信號強(qiáng)度,又可能使驅(qū)動電路承受過大的電壓或電流而損毀。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0003]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種不需使測試信號流經(jīng)驅(qū)動電路而可檢測出顯示區(qū)內(nèi)的缺陷位置的主動元件陣列基板及其檢測方法,前述驅(qū)動電路例如可為柵極驅(qū)動電路或漏極驅(qū)動電路。
      [0004]為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種檢測方法,適于檢測主動元件陣列基板上的缺陷,其中主動元件陣列基板包括多個像素結(jié)構(gòu)、驅(qū)動電路、多條信號線以及控制線。所述多個像素結(jié)構(gòu)配置于顯示區(qū)內(nèi),驅(qū)動電路配置于顯示區(qū)之外。所述多條信號線分別電性連接驅(qū)動電路與相應(yīng)的像素結(jié)構(gòu)??刂凭€與信號線相互交錯。此檢測方法先從所述多條信號線中選定待測信號線,再導(dǎo)通控制線與待測信號線。接著,由控制線輸入測試信號至待測信號線,以判定缺陷的位置。最后,再絕緣控制線與待測信號線。
      [0005]在一實(shí)施例中,從所述多條信號線中選定待測信號線的方法為:通過電壓映像測定法來判斷缺陷所對應(yīng)的待測信號線。
      [0006]在一實(shí)施例中,輸入測試信號至待測信號線,以判定缺陷位置的方法為:對主動元件陣列基板進(jìn)行紅外線熱影像檢測,以通過獲得的紅外線熱影像數(shù)據(jù)來判斷缺陷的位置。
      [0007]在一實(shí)施例中,導(dǎo)通控制線與待測信號線的方法為:通過激光來熔接控制線與待測信號線的交錯處,以形成連接控制線與待測信號線的熔接點(diǎn)。在判定缺陷的位置之后,絕緣控制線與待測信號線的方法為:移除連接于熔接點(diǎn)的相對兩側(cè)的待測信號線的一部分,以形成第一信號線段、第二信號線段以及第三信號線段,其中第一信號線段電性連接驅(qū)動電路,第二信號線段電性連接像素結(jié)構(gòu),第三信號線段具有熔接點(diǎn),且與第一信號線段與第二信號線段相互絕緣。之后,再形成電性連接第一信號線段與第二信號線段的連接線,且連接線與第三信號線段相互絕緣。
      [0008]在一實(shí)施例中,信號線的一側(cè)具有突出的第一延伸部,控制線的一側(cè)具有突出的第二延伸部,且第一延伸部與第二延伸部相互交錯,以形成前述所提及的激光熔接后的熔接點(diǎn)。在判定缺陷的位置之后,絕緣控制線與待測信號線的方法為:移除連接于熔接點(diǎn)的部分第一延伸部,以絕緣熔接點(diǎn)與信號線;移除連接于熔接點(diǎn)的部分第二延伸部,以絕緣熔接點(diǎn)與控制線。
      [0009]為了更好地實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明還提供了一種主動元件陣列基板,包括多個像素結(jié)構(gòu)、驅(qū)動電路、控制線以及多條信號線。所述多個像素結(jié)構(gòu)配置于顯示區(qū)內(nèi)。驅(qū)動電路配置于顯示區(qū)之外??刂凭€位于驅(qū)動電路與顯示區(qū)之間。所述多條信號線電性連接驅(qū)動電路與相應(yīng)的像素結(jié)構(gòu),并分別與控制線相互交錯。所述多條信號線包括目標(biāo)信號線,且目標(biāo)信號線包括第一信號線段、第二信號線段、第三信號線段以及連接線。第一信號線段電性連接驅(qū)動電路,第二信號線段電性連接相應(yīng)的像素結(jié)構(gòu),第三信號線段具有熔接點(diǎn)并連接控制線,且第三信號線段分別與第一信號線段以及第二信號線段相互絕緣。連接線電性連接第一信號線段與第二信號線段,且連接線與第三信號線段相互絕緣。
      [0010]在一實(shí)施例中,上述的連接線與控制線交錯,且連接線的兩端分別連接第一信號線段與第二信號線段。
      [0011]為了更好地實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明還提供了另一種主動元件陣列基板,包括多個像素結(jié)構(gòu)、驅(qū)動電路、控制線以及多條信號線。所述多個像素結(jié)構(gòu)配置于顯示區(qū)內(nèi)。驅(qū)動電路配置于顯示區(qū)之外??刂凭€位于驅(qū)動電路與顯示區(qū)之間。所述多條信號線電性連接驅(qū)動電路與相應(yīng)的像素結(jié)構(gòu),并分別與控制線相互交錯。各信號線的一側(cè)具有至少一第一延伸部,控制線的一側(cè)具有至少一第二延伸部,且各第一延伸部中的至少一個與相應(yīng)的第二延伸部相互交錯。
      [0012]在一實(shí)施例中,所述多條信號線中的至少一條為目標(biāo)信號線,且目標(biāo)信號線的第一延伸部與相應(yīng)的第二延伸部相互交錯并構(gòu)成熔接點(diǎn)。熔接點(diǎn)不與驅(qū)動電路電性連接。
      [0013]在一實(shí)施例中,上述的目標(biāo)信號線還具有第一主體部以及第一斷開部,控制線還具有第二主體部以及第二斷開部。熔接點(diǎn)通過第一斷開部以及第二斷開部而分別與第一主體部以及第二主體部電性絕緣。
      [0014]本發(fā)明的技術(shù)效果在于:
      [0015]本發(fā)明通過從控制線輸入測試信號至待測信號線,以達(dá)到不需使測試信號流經(jīng)驅(qū)動電路便可檢測出顯示區(qū)內(nèi)的缺陷位置的目的,進(jìn)而使檢測時可明顯制造出紅外線影像且不會損壞基板上的驅(qū)動電路。同時,有助于提高GOA形式的主動元件陣列基板的缺陷位置檢出率。
      [0016]還
      [0017]以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述,但不作為對本發(fā)明的限定。
      【附圖說明】
      [0018]圖1是本發(fā)明的主動元件陣列基板的示意圖;
      [0019]圖2是本發(fā)明的檢測方法流程圖;
      [0020]圖3是本發(fā)明所應(yīng)用的電壓映像檢測機(jī)臺示意圖;
      [0021]圖4是本發(fā)明一實(shí)施例的缺陷位置檢測方法流程圖;
      [0022]圖5A至圖5C是進(jìn)行本發(fā)明一實(shí)施例的一種主動元件陣列基板的檢測方法的相應(yīng)結(jié)構(gòu)的局部放大圖;
      [0023]圖6是本發(fā)明另一實(shí)施例的缺陷位置檢測方法流程圖;
      [0024]圖7A及圖7B是進(jìn)行本發(fā)明另一實(shí)施例的一種主動元件陣列基板的檢測方法的相應(yīng)結(jié)構(gòu)的局部放大圖。
      [0025]其中,附圖標(biāo)記
      [0026]30 電壓映像機(jī)臺
      [0027]31感光元件
      [0028]32 光源
      [0029]33調(diào)變元件
      [0030]34液晶結(jié)構(gòu)
      [0031]35反射元件
      [0032]40影像處理器
      [0033]50監(jiān)控器
      [0034]100主動元件陣列基板
      [0035]110 顯示區(qū)
      [0036]120像素結(jié)構(gòu)
      [0037]130驅(qū)動電路
      [0038]140U40A 信號線
      [0039]141A第一信號線段
      [0040]142A第二信號線段
      [0041]143A第三信號線段
      [0042]144第一延伸部
      [0043]144a第一主體部
      [0044]144b第一斷開部
      [0045]150控制線
      [0046]151第二延伸部
      [0047]151a第二主體部
      [0048]151b第二斷開部
      [0049]160連接線
      [0050]d 間隙
      [0051]S測試信號
      [0052]S10、S20、S30、S31、S32、S33a、S33b、S34a 步驟
      [0053]W熔接點(diǎn)
      【具體實(shí)施方式】
      [0054]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的結(jié)構(gòu)原理和工作原理作具體的描述:
      [0055]本發(fā)明通過從控制線輸入測試信號至待測信號線,以達(dá)到不需使測試信號流經(jīng)驅(qū)動電路便可檢測出顯示區(qū)內(nèi)的缺陷位置的目的,進(jìn)而于檢測時可明顯制造出紅外線影像且不會損壞GOA形式的主動元件陣列基板上的驅(qū)動電路。事實(shí)上,本發(fā)明所采用的控制線例如是起始脈沖信號線,起始脈沖信號線原用于提供起始脈沖信號Vst,柵極信號根據(jù)起始脈沖信號Vst而產(chǎn)生。換言之,可以選擇利用基板上的既有線路來傳輸測試信號,使得測試信號不需經(jīng)過GOA形式的主動元件陣列基板上的驅(qū)動電路,便能進(jìn)入顯示面內(nèi)的像素結(jié)構(gòu),而不需額外形成其他的線路作為控制線。當(dāng)然,在其他實(shí)施例中,還可以選擇類似的線路作為控制線,例如:提供負(fù)電壓Vss給所有移位寄存器電源端的負(fù)電壓線,或是提供時鐘信號Vck給時鐘信號端Ck的時鐘信號線等?;蛘?,在沒有適用的線路的情況下,也可以額外在GOA形式的主動元件陣列基板上的驅(qū)動電路與顯示區(qū)之間另外制作前述控制線。本發(fā)明并不以此為限。
      [0056]圖1是本發(fā)明的主動元件陣列基板的示意圖
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