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      一種線光源的制作方法

      文檔序號:9546258閱讀:418來源:國知局
      一種線光源的制作方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001 ] 本發(fā)明涉及一種線光源。
      【背景技術(shù)】
      [0002]目前線掃描相機(jī)所用重要光源是線光源,由于線光源的出射角度比較固定。如圖1所示,第一線光源1包括,光源11以及聚光單元12,光源11將光線垂直射入聚光單元12,使得現(xiàn)有的線光源具有一定的局限性。
      [0003]有鑒于上述的缺陷,本設(shè)計人,積極加以研究創(chuàng)新,以期創(chuàng)設(shè)一種新型結(jié)構(gòu)的線光源,使其更具有產(chǎn)業(yè)上的利用價值。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明的目的是提供一種線光源。
      [0005]本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
      [0006]一種線光源,其特征在于:所述線光源為聚光單元組,所述聚光單元組包括多個聚光單元和外殼組成,所述聚光單元包括光源和聚光Lens,所述聚光Lens靠近所述光源一側(cè)為鋸齒形狀。
      [0007]進(jìn)一步的,所述鋸齒形狀優(yōu)選為,鋸齒的角度一樣大,鋸齒的高度不同。
      [0008]進(jìn)一步的,所述鋸齒形狀優(yōu)選為,鋸齒的角度不一樣大,鋸齒的高度一樣高。
      [0009]進(jìn)一步的,所述鋸齒形狀優(yōu)選為,鋸齒的角度不一樣大,鋸齒的高度不一樣高。
      [0010]借由上述方案,本發(fā)明至少具有以下優(yōu)點:
      [0011]本發(fā)明通過在聚光Lens上設(shè)置多種鋸齒,改變光源光線射出的方向,可以更好地照射待檢測物表面。
      [0012]上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述,為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段,并可依照說明書的內(nèi)容予以實施,以下以本發(fā)明的較佳實施例并配合附圖詳細(xì)說明如后。
      【附圖說明】
      [0013]圖1是【背景技術(shù)】中線光源結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0014]圖2是本發(fā)明結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0015]圖3是聚光單元組內(nèi)部結(jié)構(gòu)第一實施例結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0016]圖4是聚光單元組內(nèi)部結(jié)構(gòu)第二實施例結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0017]圖5是聚光單元組內(nèi)部結(jié)構(gòu)第三實施例結(jié)構(gòu)示意圖;
      【具體實施方式】
      [0018]下面結(jié)合附圖和實施例,對本發(fā)明的【具體實施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實施例用于說明本發(fā)明,但不用來限制本發(fā)明的范圍。
      [0019]參見圖2,本發(fā)明一較佳實施例所述的一種線光源,本發(fā)明中線光源為聚光單元組,其中包括外殼11和多個聚光單元組成,每一個聚光單元均包括光源12和聚光Lensl3,其中聚光Lensl3靠近光源12 —側(cè)為鋸齒狀。如圖3,是本發(fā)明聚光單元內(nèi)部結(jié)構(gòu)第一實施例結(jié)構(gòu)示意圖,相鄰鋸齒為鋸齒131、鋸齒132、鋸齒133,它們之間的角度一樣大,鋸齒的高度不一樣高;如圖4,是本發(fā)明聚光單元內(nèi)部結(jié)構(gòu)第二實施例結(jié)構(gòu)示意圖,相鄰鋸齒為鋸齒131、鋸齒132、鋸齒133,它們之間的角度不一樣大,鋸齒的高度是一樣高;如圖5,是本發(fā)明聚光單元內(nèi)部結(jié)構(gòu)第三實施例結(jié)構(gòu)示意圖,相鄰鋸齒為鋸齒131、鋸齒132、鋸齒133,它們之間的角度不一樣大,鋸齒的高度不一樣高。
      [0020]以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式,并不用于限制本發(fā)明,應(yīng)當(dāng)指出,對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明技術(shù)原理的前提下,還可以做出若干改進(jìn)和變型,這些改進(jìn)和變型也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
      【主權(quán)項】
      1.一種線光源,其特征在于:所述線光源為聚光單元組,所述聚光單元組包括多個聚光單元和外殼組成,所述聚光單元包括光源和聚光Lens,所述聚光Lens靠近所述光源一側(cè)為鋸齒形狀。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光源檢測裝置,其特征在于:所述鋸齒形狀優(yōu)選為,鋸齒的角度一樣大,鋸齒的高度不同。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光源檢測裝置,其特征在于:所述鋸齒形狀優(yōu)選為,鋸齒的角度不一樣大,鋸齒的高度一樣高。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光源檢測裝置,其特征在于:所述鋸齒形狀優(yōu)選為,鋸齒的角度不一樣大,鋸齒的高度不一樣高。
      【專利摘要】本發(fā)明涉及一種線光源,所述線光源為聚光單元組,所述聚光單元組包括多個聚光單元和外殼組成,所述聚光單元包括光源和聚光Lens,所述聚光Lens靠近所述光源一側(cè)為鋸齒形狀。本發(fā)明通過在聚光Lens上設(shè)置多種鋸齒,改變光源光線射出的方向,可以更好地照射待檢測物表面。
      【IPC分類】G03B15/02, G02B19/00
      【公開號】CN105301866
      【申請?zhí)枴緾N201510745084
      【發(fā)明人】張智海, 易永祥
      【申請人】蘇州威盛視信息科技有限公司
      【公開日】2016年2月3日
      【申請日】2015年11月5日
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