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      一種磁控濺射臺(tái)以及磁控濺射裝置的制作方法

      文檔序號:12415575閱讀:413來源:國知局
      一種磁控濺射臺(tái)以及磁控濺射裝置的制作方法

      本發(fā)明涉及磁控濺射工藝技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種磁控濺射臺(tái)以及磁控濺射裝置。



      背景技術(shù):

      有機(jī)發(fā)光二極管(英文全稱:Organic Light Emitting Diode,英文簡稱:OLED)作為一種電流型發(fā)光器件,因其所具有的自發(fā)光、快速響應(yīng)、寬視角和可制作在柔性襯底上等特點(diǎn)而越來越多地被應(yīng)用于高性能顯示領(lǐng)域當(dāng)中。

      對于大尺寸的OLED顯示器而言,當(dāng)該顯示器中的OLED器件為頂發(fā)射型時(shí),可以采用透明導(dǎo)電材料作為OLED器件的陰極。構(gòu)成該透明導(dǎo)電層的材料可以為IZO(英文全稱:Indium Zinc Oxide,中文全稱:銦氧化鋅)或者IGZO(英文全稱:Indium Gallium Zinc Oxide,中文全稱:銦鎵鋅氧化物)為等。具體的,當(dāng)采用上述透明導(dǎo)電材料是,可以采用磁控濺射工藝形成OLED器件的陰極。

      然而,當(dāng)采用磁控濺射工藝制備OLED器件的陰極時(shí),如果待成膜基片與掩膜板之間的距離較遠(yuǎn),將會(huì)導(dǎo)致Shadow(薄膜圖案化陰影)的出現(xiàn)?;蛘撸绻赡せc掩膜板之間的距離較近,待成膜基片會(huì)受到掩膜板較大的擠壓力,容易導(dǎo)致待成膜基片發(fā)生破損。

      現(xiàn)有技術(shù)中,為了對待成膜基片與掩膜板之間的距離進(jìn)行調(diào)整,通常會(huì)對掩膜板與支撐該掩膜板的掩膜板支撐架之間的墊片數(shù)量進(jìn)行調(diào)整。然而,由于墊片的尺寸規(guī)格有限,因此很難使得調(diào)節(jié)后的間距達(dá)到理想值,從而降低了待成膜基片與掩膜板之間距離的調(diào)整精度。此外,在調(diào)整的過程中反復(fù)增減墊片,會(huì)導(dǎo)致調(diào)節(jié)過程繁瑣,降低了生產(chǎn)效率。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      本發(fā)明的實(shí)施例提供一種磁控濺射臺(tái)以及磁控濺射裝置,避免僅通過調(diào)整掩膜板與支撐該掩膜板的支撐架之間的墊片數(shù)量,導(dǎo)致待成膜基片與掩膜板之間距離的調(diào)整精度較低的問題。

      為達(dá)到上述目的,本發(fā)明的實(shí)施例采用如下技術(shù)方案:

      本發(fā)明實(shí)施例的一方面,提供一種磁控濺射臺(tái),包括掩膜板、升降機(jī)構(gòu)以及待成膜基片;所述待成膜基片位于所述升降機(jī)構(gòu)的承載面上,且所述掩膜板位于所述待成膜基片背離所述升降機(jī)構(gòu)的一側(cè);所述升降機(jī)構(gòu)用于根據(jù)升降指令上升或下降,以對所述待成膜基片和所述掩膜板之間的距離進(jìn)行調(diào)整。

      優(yōu)選的,所述升降機(jī)構(gòu)包括多個(gè)均勻分布的升降組件;所述升降組件包括升降桿,以及與所述升降桿相連接的驅(qū)動(dòng)器,所述驅(qū)動(dòng)器用于驅(qū)動(dòng)所述升降桿運(yùn)動(dòng)。

      優(yōu)選的,所述升降組件還包括設(shè)置于所述升降桿靠近所述待成膜基片一側(cè)的壓力感應(yīng)部;所述壓力感應(yīng)部與所述升降桿相連接,用于對升降桿的支撐力進(jìn)行采集。

      優(yōu)選的,所述驅(qū)動(dòng)器還與所述壓力感應(yīng)部相連接,所述驅(qū)動(dòng)器包括處理單元、驅(qū)動(dòng)控制單元以及執(zhí)行單元;所述處理單元與所述壓力感應(yīng)部相連接,用于根據(jù)所述壓力感應(yīng)部的采集結(jié)果計(jì)算出所述升降桿的位移補(bǔ)償值;所述驅(qū)動(dòng)控制單元與所述處理單元相連接,用于根據(jù)所述位移補(bǔ)償值生成所述升降指令;其中所述升降指令與所述位移補(bǔ)償值相匹配;所述執(zhí)行單元與所述驅(qū)動(dòng)控制單元和所述升降桿相連接,用于根據(jù)所述升降指令控制所述升降桿的位移。

      優(yōu)選的,所述升降組件還包括連接所述升降桿和所述壓力感應(yīng)部的緩沖部;所述緩沖部用于在所述升降桿上升或下降的過程中,對所述升降桿施加至所述壓力感應(yīng)部件的作用力進(jìn)行緩沖。

      優(yōu)選的,所述執(zhí)行單元為旋轉(zhuǎn)電機(jī),所述升降桿為絲杠;所述升降機(jī)構(gòu)還包括固定安裝的固定板;所述固定板與所述待成膜基片平行;每一個(gè)所述絲杠穿過所述固定板,并與所述固定板相配合以構(gòu)成絲杠螺母副;所述升降組件還包括安裝于所述固定板上的導(dǎo)軌,所述導(dǎo)軌的延伸方向與所述絲杠的延伸方向一致,所述旋轉(zhuǎn)電機(jī)的機(jī)殼安裝于所述導(dǎo)軌上,所述絲杠在上升或下降的過程中帶動(dòng)所述旋轉(zhuǎn)電機(jī)沿所述導(dǎo)軌運(yùn)動(dòng)。

      優(yōu)選的,所述執(zhí)行單元為液壓缸,所述升降桿與所述液壓缸的活塞桿相連接。

      優(yōu)選的,所述壓力感應(yīng)部包括封裝蓋、滾珠、杠桿支架以及安裝于所述杠桿支架上的多個(gè)傾斜設(shè)置的杠桿;所述多個(gè)杠桿設(shè)置于所述滾珠周邊,每一個(gè)所述杠桿的一端與所述滾珠相接觸;所述封裝蓋上設(shè)置有用于露出所述滾珠的開孔,以使得所述滾珠與所述待成膜基片相接觸;所述壓力感應(yīng)部還包括安裝于所述封裝蓋背離所述待成膜基片一側(cè)的多個(gè)壓電感應(yīng)器,所述壓電感應(yīng)器與所述杠桿一一對應(yīng),且所述壓電感應(yīng)器設(shè)置于所述杠桿的另一端。

      優(yōu)選的,所述緩沖部包括套筒以及彈簧;所述彈簧的一端與所述套筒相連接,另一端與所述升降桿相連接;所述套筒扣合與所述升降桿上,且所述套筒背離所述升降桿的一端與所述壓力感應(yīng)部相連接。

      本發(fā)明實(shí)施例的另一方面,提供一種磁控濺射裝置,包括如上所述的任意一種磁控濺射臺(tái);所述磁控濺射裝置還包括磁控濺射腔室,所述磁控濺射臺(tái)位于所述磁控濺射腔室內(nèi)。

      本發(fā)明實(shí)施例提供一種磁控濺射臺(tái)以及磁控濺射裝置,該磁控濺射臺(tái)包括掩膜板、升降機(jī)構(gòu)以及待成膜基片。其中,待成膜基片位于升降機(jī)構(gòu)的承載面上,且掩膜板位于待成膜基片背離升降機(jī)構(gòu)的一側(cè)。該升降機(jī)構(gòu)用于根據(jù)升降指令上升或下降,以對待成膜基片和掩膜板之間的距離進(jìn)行調(diào)整。這樣一來,該升降機(jī)構(gòu)在上升或下降的過程中可以對掩膜板與待成膜基片之間的距離進(jìn)行微調(diào),從而提高待成膜基片與掩膜板之間距離的調(diào)整精度,且避免多次通過調(diào)整掩膜板與掩膜板支撐架之間的墊片數(shù)量導(dǎo)致調(diào)節(jié)過程繁瑣的問題。

      附圖說明

      為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

      圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種磁控濺射裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖2為圖1中掩膜板的結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖3為圖1中磁控濺射臺(tái)的一種結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖4為圖1中磁控濺射臺(tái)的另一種結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖5為圖4中壓力感應(yīng)部的結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖6為圖5中壓力感應(yīng)部的俯視圖;

      圖7為圖1中磁控濺射臺(tái)的另一種結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖8為圖1中磁控濺射臺(tái)的又一種結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖9為圖1中升降組件的一種結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖10為圖9中各個(gè)部件的分解示意圖。

      附圖標(biāo)記:

      01-磁控濺射臺(tái);02-磁控濺射腔室;10-掩膜板;101-開口區(qū)域;102-遮擋區(qū)域;11-掩膜板支撐架;12-靶材;13-磁控管;14-調(diào)整墊片;20-升降機(jī)構(gòu);21-升降組件;210-升降桿;211-驅(qū)動(dòng)器;2110-處理單元;2111-驅(qū)動(dòng)控制單元;2112-執(zhí)行單元;2113-操作單元;212-壓力感應(yīng)部;2120-封裝蓋;2121-滾珠;2122-杠桿支架;2123-杠桿;2124-壓電感應(yīng)器;213-固定板;214-;215-緩沖部;2151-套筒;2152-彈簧;30-待成膜基片。

      具體實(shí)施方式

      下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

      本發(fā)明實(shí)施例提供一種如圖1所示的磁控濺射臺(tái)01。該磁控濺射臺(tái)01包括掩膜板10、升降機(jī)構(gòu)20以及待成膜基片30。其中,該掩膜板10如圖2所示,具有間隔設(shè)置的開口區(qū)域101和遮擋區(qū)域102。

      具體的,該待成膜基片30位于升降機(jī)構(gòu)20的承載面上。其中,該升降機(jī)構(gòu)20的承載面是指升降機(jī)構(gòu)20用于承載待成膜基片30的表面,即與該待成膜基片30相接觸的表面。

      此外,掩膜板10位于待成膜基片30背離升降機(jī)構(gòu)20的一側(cè)。該升降機(jī)構(gòu)20用于根據(jù)升降指令沿如圖1所示的箭頭方向上升或下降,以對待成膜基片30和掩膜板10之間的距離H1進(jìn)行調(diào)整。

      需要說明的是,上述磁控濺射臺(tái)01設(shè)置于封閉的磁控濺射腔室02內(nèi)。在進(jìn)行磁控濺射工藝時(shí),磁控濺射腔室02內(nèi)處于真空的狀態(tài),此時(shí),向磁控濺射腔室02內(nèi)充入啟輝氣體,并通過磁控管13產(chǎn)生磁場。該啟輝氣體為惰性氣體,例如氬氣、氦氣等?;谳x光放電原理,使得啟輝氣體產(chǎn)生氣體正離子C1。該氣體正離子C1撞擊靶材12,使得固定原子C2從靶材12表面射出,并通過掩膜板10的開口區(qū)域101沉積于待成膜基片30上,以形成圖案化的薄膜層。

      在此情況下,一方面,為了避免待成膜基片30與靶材12之間的距離H2太小,從而使得沉積于待成膜基片30的固定原子C2動(dòng)能較大,對已形成于待成膜基片30上的薄膜層,例如OLED器件中的有機(jī)材料功能層造成損壞??赏ㄟ^上述升降機(jī)構(gòu)20沿垂直于地面的方向下降,從而帶動(dòng)待成膜基片30下降,以增大待成膜基片30與靶材12之間的距離H2。這樣一來,能夠增加從靶材12表面射出固定原子C2與啟輝氣體的碰撞次數(shù),從而降低了上述固定原子C2在沉積于待成膜基片30表面時(shí)的動(dòng)能,進(jìn)而可以降低對已形成于待成膜基片30上的薄膜層的損壞程度。其中,上述OLED器件的有機(jī)材料功能層包括空穴注入層、空穴傳輸層、有機(jī)發(fā)光層、電子傳輸層以及電子注入層等。

      另一方面,當(dāng)通過升降機(jī)構(gòu)20將待成膜基片30與靶材12之間的距離H2調(diào)整好后,將會(huì)增大待成膜基片30與掩膜板10之間的間距H1。在此情況下,可以先通過減小掩膜板10和用于支撐掩膜板10的掩膜板支撐架11之間的墊片14的數(shù)量,以對待成膜基片30與掩膜板10之間的間距H1進(jìn)行粗調(diào)。當(dāng)通過調(diào)整墊片14的數(shù)量不能夠達(dá)到理想間距時(shí),可以通過上述升降機(jī)構(gòu)20沿垂直于地面的方向上升,從而帶動(dòng)待成膜基片30上升,以使得待成膜基片30與掩膜板10之間的間距H1逐漸減小,最終達(dá)到上述理想間距。

      其中,該理想間距需要使得待成膜基片30與掩膜板10緊貼的同時(shí),確保掩膜板10不會(huì)對待成膜基片30施加過大的壓力,從而導(dǎo)致待成膜基片30破損或者掩膜板10發(fā)生變形。這樣一來,通過升降機(jī)構(gòu)20能夠?qū)Υ赡せ?0與掩膜板10之間的間距H1進(jìn)行微調(diào),以盡可能減小上述間距H1,從而可以降低固定原子C2穿過掩膜板10的開口區(qū)域101后落入成膜基片30與掩膜板10的間隙中形成Shadow的幾率,以達(dá)到降低有上述Shadow導(dǎo)致器件短路不良產(chǎn)生的幾率。

      需要說明的是,上述理想間距可以通過工作人員的多次調(diào)試得出。此外,為了表面在調(diào)節(jié)的過程中,使得掩膜板10對待成膜基片30施加過大的壓力,造成掩膜板10或待成膜基片30損壞。優(yōu)選的,工作人員還可以設(shè)置調(diào)節(jié)上線,當(dāng)上述間距H1大于或等于上述調(diào)節(jié)上線時(shí),可以通過報(bào)警裝置進(jìn)行報(bào)警。

      綜上所述,該升降機(jī)構(gòu)20在上升或下降的過程中可以對掩膜板10與待成膜基片30之間的距離H1進(jìn)行微調(diào),從而提高待成膜基片30與掩膜板10之間距離H1的調(diào)整精度,且避免多次通過調(diào)整掩膜板10與掩膜板支撐架11之間的墊片14數(shù)量導(dǎo)致調(diào)節(jié)過程繁瑣的問題,進(jìn)而可以提高生產(chǎn)效率。

      由上述可知,在磁控濺射的過程中,需要通過磁控管13產(chǎn)生磁場,而掩膜板10通常由金屬材料制成,因此掩膜板10在上述磁控管13的磁場作用下,會(huì)造成部分變形。例如,如圖3所示,掩膜板10在對應(yīng)磁控管13的位置F發(fā)生鼓起。

      在此情況下,為了通過升降機(jī)構(gòu)20在上升或下降的過程中可以對掩膜板10與待成膜基片30之間的距離H1進(jìn)行調(diào)節(jié)時(shí),使得掩膜板10與待成膜基片30之間的距離H1處處相等。優(yōu)選的,如圖3所示,該升降機(jī)構(gòu)20包括多個(gè)均勻分布的升降組件21。

      其中,升降組件21包括升降桿210,以及與升降桿210相連接的驅(qū)動(dòng)器211,該驅(qū)動(dòng)器211用于驅(qū)動(dòng)升降桿210沿垂直于地面的方向上、下運(yùn)動(dòng)。這樣一來,每一個(gè)升降組件21可以單獨(dú)上升或下降,從而可以在掩膜板10上發(fā)生局部變形位置處,對該掩膜板10與待成膜基片30之間的距離H1進(jìn)行單獨(dú)調(diào)整。例如,當(dāng)減小上述間距H1時(shí),對應(yīng)掩膜板10上發(fā)生鼓起位置處F的升降組件21而言,其上升時(shí)的位移量大于對應(yīng)其他位置的升降組件21在上升過程中的位移量,從而使得掩膜板10與待成膜基片30之間的距離H1處處相等。

      在此基礎(chǔ)上,由上述可知升降機(jī)構(gòu)20在對待成膜基片30和掩膜板10之間的距離H1進(jìn)行調(diào)整的過程中,該升降機(jī)構(gòu)20可以根據(jù)升降指令沿如圖1所示的箭頭方向上升或下降。其中,上述升降指令可以通過工作人員直接發(fā)出,或者還可以通過對升降桿210的支撐力進(jìn)行采集,并根據(jù)采集結(jié)果生成上述升降指令,以達(dá)到自動(dòng)調(diào)節(jié)上述間距H1的目的。

      為了實(shí)現(xiàn)對升降桿210的支撐力的采集,優(yōu)選的,如圖4所示,該升降組件21還包括設(shè)置于所述升降桿210靠近待成膜基片30一側(cè)的壓力感應(yīng)部212。該壓力感應(yīng)部212與升降桿210相連接,用于對升降桿210的支撐力進(jìn)行采集。

      具體的,上述壓力感應(yīng)部212可以為一壓電傳感器,該壓電傳感器的一端與升降桿210相連接,在升降桿210上升的過程中,壓電傳感器的另一端與待成膜基片30相接觸,隨著升降桿210的繼續(xù)上升,升降桿210與待成膜基片30支架的壓力,即升降桿210向待成膜基片30提供的支撐力不斷變化,從而使得壓電傳感器輸出的電信號發(fā)生變化,從而達(dá)到對升降桿210的支撐力進(jìn)行采集的目的。

      進(jìn)一步的,為了提高壓力感應(yīng)部212的檢測精度,本發(fā)明還提供對了一種壓力感應(yīng)部212的結(jié)構(gòu),具體的如圖5所示,該壓力感應(yīng)部212包括封裝蓋2120、滾珠2121、杠桿支架2122以及安裝于杠桿支架2122上的多個(gè)傾斜設(shè)置的杠桿2123。

      其中,如圖6所示多個(gè)杠桿2123設(shè)置于滾珠2121的周邊。如圖5所示,每一個(gè)杠桿2121的一端與滾珠2121相接觸。此外,封裝蓋上2120設(shè)置有用于露出滾珠2121的開孔,以使得滾珠2121能夠與待成膜基片30相接觸。

      在此基礎(chǔ)上,該壓力感應(yīng)部212還包括安裝于封裝蓋2120背離待成膜基片30一側(cè)的多個(gè)壓電感應(yīng)器2124,且該壓電感應(yīng)器2124與杠桿2123一一對應(yīng),該壓電感應(yīng)器2124設(shè)置于杠桿2123的另一端。

      這樣一來,在升降桿210上升的過程中,滾珠2121與待成膜基片30相接觸,隨著升降桿210的繼續(xù)上升,升降桿210與待成膜基片30支架的壓力逐漸增大,此時(shí)滾珠2121沿垂直于地面的方向向下運(yùn)動(dòng),從而將杠桿2123與滾珠2121相接觸的一端沿如圖5的箭頭所示的方向向下按壓。在此情況下,杠桿2123與壓電感應(yīng)器2124的一端沿箭頭所示的方向向上按壓與該杠桿2123位置相對應(yīng)的壓電感應(yīng)器2124,使得壓電傳感器2124對杠桿2123施加的壓力進(jìn)行采集。

      在此基礎(chǔ)上,通過杠桿原理,可以將上述該壓電傳感器2124檢測到的壓力轉(zhuǎn)換為滾珠2121施加至該杠桿2123的壓力。當(dāng)?shù)贸鰸L珠2121施加至每個(gè)杠桿2123的壓力后,再乘以杠桿2123的數(shù)量即可得出滾珠2121收到待成膜基片30的壓力,即單個(gè)升降組件21向待成膜基片30提供的支撐力。

      綜上所述,通過設(shè)置于滾珠2121周圍的杠桿2123,以及與該杠桿2123一一對應(yīng)的壓電感應(yīng)器2124,可以對均勻的對滾珠2121四周的受力進(jìn)行采集,從而可以提高對單個(gè)升降組件21支撐力進(jìn)行采集的采集精度,進(jìn)而提高對掩膜板10與待成膜基片30之間的距離H1進(jìn)行微調(diào)的精度。

      基于此,為了使得驅(qū)動(dòng)器211能夠并根據(jù)上述各個(gè)壓力感應(yīng)部212的采集結(jié)果生成上述升降指令,并執(zhí)行該升降指令。優(yōu)選的,該驅(qū)動(dòng)器211還與壓力感應(yīng)部212相連接。在此情況下,如圖7所示,該驅(qū)動(dòng)器211包括處理單元2110、驅(qū)動(dòng)控制單元2111以及執(zhí)行單元2112。

      其中,該處理單元2110與壓力感應(yīng)部212相連接。該處理單元2110用于根據(jù)壓力感應(yīng)部212的采集結(jié)果計(jì)算出升降桿210的位移補(bǔ)償值。

      驅(qū)動(dòng)控制單元2111與處理單元2110相連接,該驅(qū)動(dòng)控制單元2111用于根據(jù)上述位移補(bǔ)償值生成上述升降指令。其中,該升降指令與位移補(bǔ)償值相匹配。

      執(zhí)行單元2112與驅(qū)動(dòng)控制單元2111和升降桿210相連接,該執(zhí)行單元2112用于根據(jù)升降指令控制升降桿210的位移。

      需要說明的是,上述位移補(bǔ)償值的數(shù)值可以為正,也可以為負(fù)。例如,當(dāng)執(zhí)行單元2112根據(jù)升降指令控制升降桿210上升時(shí),上述位移補(bǔ)償值的數(shù)值可以為正,以通過該位置補(bǔ)償值對升降桿210的位移進(jìn)行正向補(bǔ)償。當(dāng)執(zhí)行單元2112根據(jù)升降指令控制升降桿210下降時(shí),上述位移補(bǔ)償值的數(shù)值可以為負(fù),以通過該位置補(bǔ)償值對升降桿210的位移進(jìn)行負(fù)向補(bǔ)償。

      這樣一來,在驅(qū)動(dòng)器211包括處理單元2110、驅(qū)動(dòng)控制單元2111以及執(zhí)行單元2112的情況下,由于該處理單元2110與壓力感應(yīng)部212相連接,從而可以形成壓力反饋回路。通過該壓力反饋回路可以對升降桿210的支撐力進(jìn)行實(shí)時(shí)采集,并根據(jù)實(shí)時(shí)采集的結(jié)果對升降桿210的支撐力進(jìn)行實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)。

      此外,為了方便工作人員輸入操作指令,以對上述調(diào)節(jié)過程進(jìn)行人為操控,例如輸入開啟設(shè)備或關(guān)閉設(shè)備的指令,或者控制上述反饋回路斷開,直接輸入上述升降指令等操作指令。優(yōu)選的,上述驅(qū)動(dòng)器211還包括與處理單元2110相連接的操作單元2113。該操作單元2113包括操作平臺(tái),工作人員可以通過操作平臺(tái)輸入上述指令。

      以下對上述執(zhí)行單元2112的結(jié)構(gòu)進(jìn)行舉例說明。

      例如,如圖8所示,該執(zhí)行單元2112為旋轉(zhuǎn)電機(jī),該旋轉(zhuǎn)電機(jī)的輸出軸可以通過聯(lián)軸器與上述升降桿210相連接。

      在此情況下,上述升降桿210如圖9所示,可以為絲杠。在此基礎(chǔ)上,為了使得絲杠能夠上升或下降,該升降機(jī)構(gòu)21還包括固定安裝的固定板213。其中,該固定板與待成膜基片30平行。每一個(gè)杠穿過固定板213,并與固定板213相配合以構(gòu)成絲杠螺母副。

      需要說明的是,上述固定安裝的固定板213是指,可以通過固定安裝方式,例如焊接、螺紋固定等方式將固定板213安裝于磁控濺射腔室02的內(nèi)壁上。這樣一來,當(dāng)旋轉(zhuǎn)電機(jī)的輸出軸在轉(zhuǎn)動(dòng)的過程中,可以帶動(dòng)絲杠旋轉(zhuǎn),在絲杠螺母副的作用下,絲杠可以上升或下降,可以減小或增加掩膜板10與待成膜基片30之間的距離H1。

      在此情況下,當(dāng)絲杠上升或下降的過程中,旋轉(zhuǎn)電機(jī)也需要沿絲杠的延伸方向進(jìn)行直線運(yùn)動(dòng)。因此,上述升降組件21還包括安裝于固定板213上的導(dǎo)軌214。該導(dǎo)軌214的延伸方向與絲杠的延伸方向一致,旋轉(zhuǎn)電機(jī)的機(jī)殼安裝于導(dǎo)軌上,從而使得絲杠在上升或下降的過程中能夠帶動(dòng)旋轉(zhuǎn)電機(jī)沿導(dǎo)軌直線運(yùn)動(dòng)。

      需要說明的是,當(dāng)上述旋轉(zhuǎn)電機(jī)為伺服電機(jī)時(shí),上述驅(qū)動(dòng)控制單元2111可以通過控制向伺服電機(jī)輸出信號的脈沖數(shù)量,以達(dá)到控制伺服電機(jī)轉(zhuǎn)速的目的。

      或者,又例如,上述執(zhí)行單元2112可以為液壓缸,該升降桿210與液壓缸的活塞桿相連接。具體的,驅(qū)動(dòng)控制單元2111可以控制液壓缸的行程,以到達(dá)控制升降桿210上升或下降的目的。

      在此基礎(chǔ)上,為了避免210在上升的過程中,對壓力感應(yīng)部212的沖擊力過大。優(yōu)選的,該升降組件21如圖9所示,還包括連接升降桿210和壓力感應(yīng)部212的緩沖部215。該緩沖部215用于在升降桿210上升或下降的過程中,對升降桿210施加至壓力感應(yīng)部件212的作用力進(jìn)行緩沖。

      具體的,如圖10所示,該緩沖部215包括套筒2151以及彈簧2152。其中,彈簧2152的一端與套筒2151相連接。例如,通過焊接的方式將彈簧2152的一端連接于套筒2151內(nèi)。此外,彈簧2152的另一端與升降桿210相連接。例如,在升降桿210靠近彈簧2152的一端設(shè)置圓柱形凸臺(tái),以將彈簧2152套在上述圓柱形凸臺(tái)上,實(shí)現(xiàn)彈簧2152與升降桿210的連接。

      在此基礎(chǔ)上,如圖9所示,套筒2151扣合與上述升降桿210上,且套筒2151背離升降桿210的一端與壓力感應(yīng)部212相連接。從而可以通過緩沖部215將升降桿210和壓力感應(yīng)部212相連接。

      本發(fā)明實(shí)施例提供一種磁控濺射裝置,包括如上所述的任意一種磁控濺射臺(tái)01。具有與前述實(shí)施例提供的磁控濺射臺(tái)01相同的結(jié)構(gòu)和有益效果,由于前述實(shí)施例已經(jīng)對磁控濺射臺(tái)01的結(jié)構(gòu)和有益效果進(jìn)行了說明,此處不再贅述。

      此外,磁控濺射裝置還包括如圖1所示的磁控濺射腔室02,上述磁控濺射臺(tái)01位于磁控濺射腔室02內(nèi)。

      本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解:實(shí)現(xiàn)上述方法實(shí)施例的全部或部分步驟可以通過程序指令相關(guān)的硬件來完成,前述的程序可以存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中,該程序在執(zhí)行時(shí),執(zhí)行包括上述方法實(shí)施例的步驟;而前述的存儲(chǔ)介質(zhì)包括:ROM、RAM、磁碟或者光盤等各種可以存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)。

      以上所述,僅為本發(fā)明的具體實(shí)施方式,但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此,任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi),可輕易想到變化或替換,都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此,本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)以所述權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。

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