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      多粒棱面晶體的研磨磨具的制作方法

      文檔序號:3389356閱讀:449來源:國知局
      專利名稱:多粒棱面晶體的研磨磨具的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實用新型是一種用于研磨棱面晶體的磨具。
      多棱面的晶體,如各種棱面光學(xué)鏡頭,激光掃描鏡,棱面裝飾寶石等在加工制造時,其各個棱面必須逐一研磨。目前國內(nèi)外在研磨這類棱面晶體時,無論是機械化還是半機械化加工,多未能擺脫使用傳統(tǒng)的單粒晶體加工磨具進(jìn)行研磨,每次只能加工一粒晶體,操作人員勞動強度大,加工效率極低。
      本實用新型的目的是為改變上述傳統(tǒng)方法而提供一種可以同時加工多粒棱面晶體的研磨磨具。
      目前使用的機械化或半機械化的晶體研磨磨具,結(jié)構(gòu)上一般都有一個可以旋轉(zhuǎn)的磨盤和在其上方由手動或機械帶動而進(jìn)行水平往復(fù)擺動的擺桿。本實用新型以此結(jié)構(gòu)為基礎(chǔ),在這根擺桿上連接有垂直且上下位置可以調(diào)整的連接桿,其下端連接有一根或數(shù)根水平設(shè)置的橫軸。這些橫軸可以處于同一水平面上,也可以不在同一平面上。每根橫軸上連接有一根或數(shù)根與橫軸相垂直的縱軸,每根縱軸的下端都按常規(guī)方式設(shè)置有夾持被研磨晶體的夾具。每根橫軸和縱軸都可以分別繞其自身的長軸旋轉(zhuǎn),并且可以由各自的定位機構(gòu)固定于任意一旋轉(zhuǎn)位置上,各軸的旋轉(zhuǎn)角度可以分別由各自的刻度顯示標(biāo)志指示。
      下面通過附圖所提供的一個具體實施例進(jìn)一步說明本實用新型的結(jié)構(gòu)和工作原理。


      圖1本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖在本實施例的磨具中,旋轉(zhuǎn)磨盤(10)的上方有一可作水平往復(fù)擺動的擺桿(2),擺桿(2)上連接有一根垂直設(shè)置,且上下位置可調(diào)的連接桿(1),連接桿(1)的下端通過連接件(8)連接有若干以連接桿為中心呈水平輻射狀設(shè)置的橫軸(4),各橫軸處于同一平面上。連接件(8)在連接桿(1)上的位置可以移動和固定。每根橫軸(4)上都設(shè)置有二根與橫軸相垂直的縱軸(6),各縱軸的下端分別都設(shè)有用于夾持待磨晶體的夾具(7)。每根橫軸(4)和縱軸(6)都可以繞其自身長軸旋轉(zhuǎn),并分別通過各自的刻度顯示環(huán)(9、5)指示出旋轉(zhuǎn)的角度。緊定螺釘(11、3)可以分別將各橫軸或縱軸定位于所需的旋轉(zhuǎn)角度上。
      本實用新型的研磨磨具在工作時,通過分別旋轉(zhuǎn)各橫軸(4)和縱橫軸(6),就可以將待磨晶體調(diào)整并固定于所需要的任一傾斜角度和任一平面,由擺桿(2)帶動往復(fù)擺動,在旋轉(zhuǎn)磨盤(10)上進(jìn)行研磨。磨削量可以用深度尺測量,或用如發(fā)光二極管或其他的裝置進(jìn)行顯示和控制。一個平面研磨完畢,通過旋轉(zhuǎn)各橫軸和各縱軸,將各個晶體分別調(diào)整至另一待磨角度和平面后即可繼續(xù)研磨。
      由于橫軸和縱軸的數(shù)量可以根據(jù)需要和磨盤大小的實際可能而設(shè)置,數(shù)量不限,因此采用本實用新型的磨具可以同時研磨幾粒至幾十粒棱面晶體,大大提高了工效,降低了操作人員的勞動強度。當(dāng)然,同時研磨的晶體數(shù)量越多,對磨盤的平面度及磨具各部分構(gòu)件的精度要求也相應(yīng)越高,以保證各個晶體研磨質(zhì)量的穩(wěn)定性和一致性。
      權(quán)利要求1.一種具有旋轉(zhuǎn)磨盤(10)和擺桿(2)的晶體研磨磨具,其特征在于擺桿(2)上連接有垂直的連接桿(1),連接桿(1)的下端連接有一根或數(shù)根水平設(shè)置的橫軸(4),每一橫軸(4)上連接有一根或數(shù)根與橫軸相垂直的縱軸(6),縱軸(6)的下端設(shè)置有用于夾持晶體的夾具,每根橫軸和縱橫都可以繞其自身的長軸旋轉(zhuǎn),并且可以被各自的定位機構(gòu)(11、3)定位,旋轉(zhuǎn)角度由各自的刻度顯示標(biāo)志(9、5)指示。
      專利摘要本實用新型是一種研磨棱面晶體的磨具,可以同時研磨多粒棱面晶體。其結(jié)構(gòu)特點是在水平往復(fù)擺動的擺桿上設(shè)有垂直的連接桿,連接桿下端連接有若干水平狀的橫軸,每根橫軸上連接有垂直于橫軸的縱軸,縱軸下端設(shè)有晶體夾具,各橫軸和縱軸均可繞其自身的長軸旋轉(zhuǎn)。調(diào)整橫軸和縱軸的旋轉(zhuǎn)角度,就可以對晶體的任一角度和任一平面進(jìn)行研磨。
      文檔編號B24B9/14GK2036469SQ8821888
      公開日1989年4月26日 申請日期1988年9月2日 優(yōu)先權(quán)日1988年9月2日
      發(fā)明者李正炳, 李春 申請人:成都?xì)庀髮W(xué)院紅光實驗工廠
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