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      Cu-Mg-P系銅合金條材及其制造方法_2

      文檔序號(hào):9611947閱讀:來源:國知局
      ationSpread),并算出平均值不 到4°的晶粒的面積,并將其除W總測(cè)量面積而求出總晶粒中所占的晶粒內(nèi)的平均取向差 不到4°的晶粒的面積的比例。應(yīng)予說明,將連結(jié)有2像素W上的設(shè)為晶粒。
      [0037][數(shù)U
      [0038]
      [0039] 在上式中,i、j表示晶粒內(nèi)的像素的編號(hào)。
      [0040] η表示晶粒內(nèi)的像素?cái)?shù)。 陽〇Wαij表示像素i和j的取向差。
      [0042] 運(yùn)樣求出的、晶粒內(nèi)的全部像素間的平均取向差不到4°的晶粒的面積比例為測(cè) 量面積的45~55%的本發(fā)明的銅合金條材,在晶粒中不易蓄積應(yīng)變,也不易發(fā)生龜裂,拉 伸強(qiáng)度和彈性極限值W高水平保持平衡。
      [0043] 運(yùn)種構(gòu)成的銅合金條材例如能夠通過如W下的制造工序進(jìn)行制造。
      [0044]"烙解/鑄造一熱社一冷社一烙體化處理一中間冷社一精冷社一低溫退火"
      [0045] 應(yīng)予說明,在上述工序中雖然沒有記載,但在熱社后可W根據(jù)需要進(jìn)行表面刮削, 在各熱處理后也可W根據(jù)需要進(jìn)行酸洗、研磨,或者還進(jìn)行脫脂。
      [0046]W下,對(duì)主要的工序進(jìn)行詳述。
      [0047][熱社/冷社/烙體化處理]
      [0048] 為了使銅合金穩(wěn)定化,并W高水平取得拉伸強(qiáng)度和彈性極限值的平衡,需要適當(dāng) 地調(diào)整熱社、冷社、烙體化處理的各種條件,W使烙體化處理后的銅合金板的維氏硬度成為 80 ~lOOHv。
      [0049] 其中,重要的是,在熱社中使壓延開始溫度為700°C~800°C,使總壓延率為90% W上來進(jìn)行每1社制道次的平均壓延率為10%~35%的熱社。每1社制道次的平均壓延 率不到10%,則在后工序中的加工性變差,若超過35%,則易發(fā)生材料破裂。總壓延率不到 90%,則添加元素?zé)o法均勻地分散,并且,易發(fā)生材料破裂。壓延開始溫度不到700°C,則添 加元素?zé)o法均勻地分散,并且,易發(fā)生材料破裂,若超過80(TC,則熱成本增加而成為經(jīng)濟(jì)上 的浪費(fèi)。
      [0050][中間冷社/精冷社]
      [0051] 中間、精冷社分別設(shè)為50~95%的壓延率。 陽0巧[低溫退火]
      [0053] 在精冷社后,通過實(shí)施250~450°C、30~180秒的低溫退火,使銅合金組織進(jìn)一 步穩(wěn)定化,并且W高水平保持拉伸強(qiáng)度和彈性極限值的平衡,W通過帶有背散射電子衍射 像系統(tǒng)的掃描型電子顯微鏡的邸SD法,測(cè)量所述銅合金條材表面的測(cè)量面積內(nèi)的全部像 素的取向,將鄰接的像素間的取向差為5°W上的境界當(dāng)作晶界時(shí)的、晶粒內(nèi)的全部像素間 的平均取向差不到4°的晶粒的面積比例成為所述測(cè)量面積的45~55%。
      [0054] 低溫退火溫度不到250°C,則觀察不到彈性極限值特性的提高,若超過450°(:,貝。 形成易碎且粗大的Mg化合物而引起拉伸強(qiáng)度的降低。同樣地,低溫退火時(shí)間不到30秒,貝U 觀察不到彈性極限值特性的提高,若超過180秒,則形成易碎且粗大的Mg化合物而引起拉 伸強(qiáng)度的降低。
      [0055][實(shí)施例]
      [0056]W下,對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例與比較例進(jìn)行比較來說明其特性。
      [0057] 將表1所示組成的銅合金由電爐在還原性氣氛下烙解,烙制厚度為150mm、寬度為 500mm、長度為3000mm的鑄塊。將該烙制的鑄塊W表1所示的壓延開始溫度、總壓延率、平 均壓延率進(jìn)行熱社,制成厚度為7. 5mm~18mm的銅合金板。W銳刀去除該銅合金板的兩表 面的氧化膜0. 5mm后,施W壓延率為85%~95%的冷社,W750°C進(jìn)行烙體化處理,并進(jìn)行 壓延率為70 %~85%的精社來制作0. 2mm的冷社薄板,之后,實(shí)施表1所示的低溫退火,審U 作表1的實(shí)施例1~12及比較例1~6所示的化-Mg-P系銅合金薄板。
      [0058] 并且,根據(jù)JIS-Z2244測(cè)量表1所示的烙體化處理后的銅合金板的維氏硬度。
      [0059][表1]
      [0060]
      [0061]對(duì)于表1的薄板,將進(jìn)行W下各種試驗(yàn)的結(jié)果總結(jié)于表2。 陽0創(chuàng)(面積比例率)
      [0063] 作為前處理,將lOmmX10mm的試樣浸潰于10%硫酸中10分鐘后,通過水洗、吹氣 散水后,用日立高新技術(shù)公司制造的平壓銳削(離子銳削)裝置,W加速電壓5kV、入射角 5°、照射時(shí)間1小時(shí),對(duì)散水后的試樣施W表面處理。
      [0064] 接著,用T化公司制造的帶有邸SD系統(tǒng)的日立高新技術(shù)公司制造的掃描 型電子顯微鏡S-3400N觀察該試樣表面。使觀察條件為加速電壓25kV、測(cè)量面積為 150μmX150μm(包含晶粒5000個(gè)社)。
      [0065] 從觀察結(jié)果,晶粒內(nèi)的全部像素間的平均取向差不到4°的晶粒的相對(duì)于總測(cè)量 面積的面積比例由W下條件求出。 陽066] W0. 5μm步長,對(duì)測(cè)量面積范圍內(nèi)的全部像素的取向進(jìn)行測(cè)量,并將鄰接的像素 間的取向差為5°W上的分界當(dāng)作晶界。接著,對(duì)由晶界包圍的各晶粒,由所述數(shù)1計(jì)算晶 粒內(nèi)的全部像素間的取向差的平均值,并算出平均值不到4°的晶粒的面積,并將其除W總 測(cè)量面積,求出總晶粒中所占的晶粒內(nèi)的平均取向差不到4 °的晶粒的面積的比例。應(yīng)予說 明,將連結(jié)有2像素W上的設(shè)為晶粒。
      [0067]改變測(cè)量部位W該方法進(jìn)行5次測(cè)量,將各自的面積比例的平均值作為面積比 例。 W側(cè)(機(jī)械強(qiáng)度)
      [0069] W JIS5號(hào)試驗(yàn)片進(jìn)行測(cè)量。
      [0070] (彈性極限值)
      [0071] 根據(jù)JIS-冊(cè)130,通過力矩式試驗(yàn)測(cè)量永久彎曲量,算出R. T.下的肺0. 1(與永久 彎曲量0.1mm對(duì)應(yīng)的固定端處的表面最大應(yīng)力值)。
      [0072] (導(dǎo)電率)
      [0073] 根據(jù)JIS-冊(cè)505進(jìn)行測(cè)量。
      [0074] (應(yīng)力松弛率)
      [0075] 使用具有寬度12. 7mm、長度120mm(W下,設(shè)該長度120mm為L0)的尺寸的試驗(yàn)片, 將該試驗(yàn)片在具有長度:110mm、深度:3mm的水平縱長槽的夾具上,W所述試驗(yàn)片的中央部 朝上方鼓起的方式進(jìn)行彎曲設(shè)置(設(shè)此時(shí)的試驗(yàn)片的兩端部的距離:110mm為L1),在此狀 態(tài)下W溫度:170°C保持1000小時(shí),加熱后,測(cè)量從所述夾具拆卸的狀態(tài)下的所述試驗(yàn)片的 兩端部間的距離(W下,設(shè)為L2),由計(jì)算式:(L0-L2) / (L0-L1) X 100%計(jì)算從而求出。
      [0076] [表引
      [0077]
      [0078] 并且,從運(yùn)些結(jié)果可知:將W通過帶有背散射電子衍射像系統(tǒng)的掃描型電子顯微 鏡的邸SD法,測(cè)量所述銅合金條材表面的測(cè)量面積內(nèi)的全部像素的取向,將鄰接的像素間 的取向差為5°W上的分界當(dāng)作晶界時(shí)的、晶粒內(nèi)的全部像素間的平均取向差不到4°的 晶粒的相對(duì)于總測(cè)量面積的面積比例(AreaFraction)和彈性極限值(Kb)的關(guān)系描繪在 圖中的是圖1,若該面積比例在45~55%的范圍內(nèi),則顯示高的彈性極限值(在表2中為 472~503N/mm2)。
      [0079] 其中,Zr的添加也使彈性極限值提高到484~503N/mm2。
      [0080]另外,從運(yùn)些結(jié)果可知:將W通過帶有背散射電子衍射像系統(tǒng)的掃描型電子顯微 鏡的邸SD法,測(cè)量所述銅合金條材表面的測(cè)量面積內(nèi)的全部像素的取向,將鄰接的像素間 的取向差為5°W上的分界當(dāng)作晶界時(shí)的、晶粒內(nèi)的全部像素間的平均取向差不到4°的 晶粒的相對(duì)于總測(cè)量面積的面積比例(AreaFraction)和拉伸強(qiáng)度的關(guān)系描繪在圖中的是 圖2,若該面積比例在45~55%的范圍內(nèi),則顯示高的拉伸強(qiáng)度(在表2中為641~708N/ mm2)。
      [0081] 其中,Zr的添加也使拉伸強(qiáng)度提高到650~708N/mm2。
      [00間從運(yùn)些表2及圖1、圖2的結(jié)果可知:很明顯,本發(fā)明的化-Mg-P系銅合金的拉伸 強(qiáng)度和彈性極限值能夠W高的水平取得平衡,特別適于在彈性極限值特性重要的連接器、 弓I線架、繼電器、開關(guān)等電氣/電子部件上的使用。
      [0083] W上,對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式的制造方法進(jìn)行了說明,但本發(fā)明不限于該記載,在不 脫離本發(fā)明的主旨的范圍內(nèi)可加W各種改變。
      [0084] 例如,示出了 烙解/鑄造一熱社一冷社一烙體化處理一中間冷社一精冷社一 低溫退火"的順序的制造工序,但也可W依次進(jìn)行熱社、烙體化處理、精冷社、低溫退火,此 時(shí),熱社的壓延開始溫度、總壓延率、每1社制道次的平均壓延率及低溫退火的溫度、時(shí)間 等W外的條件使用通常的制造條件即可。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1. 銅合金條材,其是以質(zhì)量%計(jì)具有Mg:0. 3~2%、P:0. 001~0. 1%、Zr:0. 001~ 0.03%、余量為Cu及不可避免的雜質(zhì)的組成的銅合金條材,其特征在于,以通過帶有背散 射電子衍射像系統(tǒng)的掃描型電子顯微鏡的EBSD法,以0. 5μπι步長測(cè)量所述銅合金條材 表面的測(cè)量面積內(nèi)的全部像素的取向,將鄰接的像素間的取向差為5°以上的分界當(dāng)作晶 界時(shí)的、晶粒內(nèi)的全部像素間的平均取向差不到4°的晶粒的面積比例為所述測(cè)量面積的 45~55 %,拉伸強(qiáng)度為650~708N/mm2,彈性極限值為484~503N/mm2,導(dǎo)電率為49~66 % IACS〇2. 銅合金條材的制造方法,其是權(quán)利要求1所述的銅合金條材的制造方法,其特征在 于,在以依次包含熱乳、熔體化處理、精冷乳、低溫退火的工序制造銅合金時(shí),熱乳開始溫 度為700°C~800°C,總熱乳率為90 %以上,將每1乳制道次的平均壓延率設(shè)為10 %~35 % 來進(jìn)行所述熱乳,將所述熔體化處理后的銅合金板的維氏硬度調(diào)整至80~ΙΟΟΗν,以250~ 450 °C實(shí)施所述低溫退火30~180秒。
      【專利摘要】本發(fā)明涉及Cu-Mg-P系銅合金條材及其制造方法。本發(fā)明提供拉伸強(qiáng)度和彈性極限值能夠以高水平取得平衡的Cu-Mg-P系銅合金及其制造方法。銅合金條材,其以質(zhì)量%計(jì)具有Mg:0.3~2%、P:0.001~0.1%、余量為Cu及不可避免的雜質(zhì)的組成,以通過帶有背散射電子衍射像系統(tǒng)的掃描型電子顯微鏡的EBSD法,測(cè)量所述銅合金條材表面的測(cè)量面積內(nèi)的全部像素的取向,將鄰接的像素間的取向差為5°以上的分界當(dāng)作晶界時(shí)的、晶粒內(nèi)的全部像素間的平均取向差不到4°的晶粒的面積比例為所述測(cè)量面積的45~55%,拉伸強(qiáng)度為641~708N/mm2,彈性極限值為472~503N/mm2。
      【IPC分類】C22F1/08, C22C9/00
      【公開號(hào)】CN105369050
      【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510702288
      【發(fā)明人】櫻井健, 龜山嘉裕, 阿部良雄
      【申請(qǐng)人】三菱伸銅株式會(huì)社
      【公開日】2016年3月2日
      【申請(qǐng)日】2010年7月2日
      【公告號(hào)】CN102108457A, CN102108457B, EP2343388A1, EP2343388B1, EP2634274A1, EP2634274B1, US9255310, US20110146855
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