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      單晶硅的制備方法與流程

      文檔序號:11429081閱讀:5876來源:國知局

      本發(fā)明涉及單晶硅技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種單晶硅的制備方法。



      背景技術(shù):

      直拉法是單晶硅的主要生產(chǎn)方法,而石英坩堝是直拉法所必不可少的輔助器具。石英坩堝在拉晶的高溫下,具有變成二氧化硅晶體的趨向,此過程稱為析晶。析晶通常發(fā)生在石英坩堝的表層。

      嚴(yán)重的析晶會對拉晶造成影響。例如,析晶將減薄石英坩堝原有的厚度,降低了石英坩堝的強度,從而容易引起石英坩堝變形。特別是,近年來隨著投料量的增大,拉晶時間也相應(yīng)延長;隨著拉晶時間的延長,還有可能導(dǎo)致漏料的發(fā)生。另外,石英坩堝內(nèi)壁發(fā)生析晶時有可能破壞坩堝內(nèi)壁原有的涂層,這將導(dǎo)致涂層下面的氣泡層和熔硅發(fā)生反應(yīng),造成部分顆粒狀氧化硅進(jìn)入熔硅內(nèi),使得正在生長中的晶體結(jié)構(gòu)發(fā)生變異而無法正常長晶。并且石英坩堝表面如果附帶極其微小的雜質(zhì),析晶也將導(dǎo)致單晶在生長過程中斷棱,影響成品率。



      技術(shù)實現(xiàn)要素:

      基于此,有必要提供一種有效抑制石英坩堝析晶的單晶硅的制備方法。

      一種單晶硅的制備方法,包括如下步驟:

      在石英坩堝的內(nèi)壁底部覆蓋碳酸鋇層;然后裝入硅料進(jìn)行直拉單晶操作。

      上述單晶硅的制備方法,由于在裝硅料直拉單晶之前,在石英坩堝的內(nèi)壁底部事先覆蓋碳酸鋇層;當(dāng)融硅時,碳酸鋇會分解形成氧化鋇,而氧化鋇會與石英坩堝反應(yīng)形成硅酸鋇basio3,由于硅酸鋇basio3的存在,從而在石英坩堝的內(nèi)壁上形成一層致密微小的釉層。隨著硅液面的上升,最終在石英坩堝內(nèi)壁與硅液接觸的地方均形成這種釉層。由于形成致密微小的釉層的保護(hù)層,有效抑制了析晶,因此可以大幅度的改善石英坩堝的使用壽命及長晶良率。這種致密微小的釉層的保護(hù)層很難使硅液滲入而剝落。另外,形成的致密微小的釉層保護(hù)層可以增加石英坩堝的強度,從而減少高溫軟化現(xiàn)象。碳酸鋇的碳酸根會變成二氧化碳而逸出,不會與硅料中殘留的堿金屬離子、堿土金屬離子結(jié)合成強堿,腐蝕石英坩堝。還有,鋇在硅中的平衡偏析系數(shù)非常小,從而使得鋇在硅晶棒中的濃度小于2.5×10-9/cm3;故而不會影響到硅晶棒的品質(zhì)。

      另外,采用本發(fā)明的方法,不用在石英坩堝的側(cè)壁形成涂層,隨著硅液面的上升,最終在石英坩堝內(nèi)壁與硅液接觸的地方均形成這種釉層;簡化了操作,更有利于工業(yè)化實施。

      在其中一個實施例中,所述碳酸鋇層通過將碳酸鋇粉撒在石英坩堝的內(nèi)壁底部形成。

      在其中一個實施例中,所述碳酸鋇粉的質(zhì)量為4.2g~7g。

      在其中一個實施例中,在裝入硅料之前,還包括在所述石英坩堝的上沿形成氫氧化鋇層。

      在其中一個實施例中,所述氫氧化鋇層通過噴涂形成。

      在其中一個實施例中,所述噴涂的噴涂液中水與氫氧化鋇的質(zhì)量比為48~54:1。

      在其中一個實施例中,所述噴涂的厚度為0.2mm~0.6mm。

      在其中一個實施例中,所述噴涂的寬度為100mm~150mm。

      在其中一個實施例中,所述方法還包括在拉晶過程中,在提蓋子中加入碳酸鋇粉。

      在其中一個實施例中,在提蓋子中加入的碳酸鋇粉的質(zhì)量為3.4g~4g。

      附圖說明

      圖1為本發(fā)明一實施方式的石英坩堝組件沿軸向的截面結(jié)構(gòu)示意圖。

      具體實施方式

      為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白,以下結(jié)合具體實施方式,對本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的具體實施方式僅僅用以解釋本發(fā)明,并不用于限定本發(fā)明。

      除非另有定義,本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語與屬于本發(fā)明的技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中在本發(fā)明的說明書中所使用的術(shù)語只是為了描述具體的實施方式的目的,不是旨在于限制本發(fā)明。本文所使用的術(shù)語“及/或”包括一個或多個相關(guān)的所列項目的任意的和所有的組合。

      一種單晶硅的制備方法,包括如下步驟:

      在石英坩堝的內(nèi)壁底部覆蓋碳酸鋇層;然后裝入硅料進(jìn)行直拉單晶操作。

      優(yōu)選地,碳酸鋇層通過將碳酸鋇粉撒在石英坩堝的內(nèi)壁底部形成。在本實施方式中,石英坩堝的連接圓角處以及整個石英坩堝的底壁均撒上碳酸鋇粉。

      在本實施方式中,碳酸鋇粉的純度大于99.85%。這樣可以提高拉晶效果。

      更優(yōu)選地,碳酸鋇粉可以商購,也可以通過自己制備獲得。具體碳酸鋇粉的制備方法如下:在氮氣保護(hù)氣氛下,在氫氧化鋇溶液中通入純的二氧化碳?xì)怏w生成碳酸鋇。

      優(yōu)選地,碳酸鋇層的重量為4.2~7g。這樣進(jìn)一步提高拉晶效果。更優(yōu)選地,碳酸鋇層的重量為4.6~6.5g,這樣更適應(yīng)目前主要使用的26寸石英坩堝。

      為了進(jìn)一步保護(hù)石英坩堝,優(yōu)選地,在裝入硅料之前,還包括在石英坩堝的上沿形成氫氧化鋇層。也就是說,參見圖1,氫氧化鋇層300位于石英坩堝100的上沿處。

      氫氧化鋇層會與空氣中的二氧化碳反應(yīng)而轉(zhuǎn)化為碳酸鋇,當(dāng)石英坩堝被加熱時,碳酸鋇分解產(chǎn)生氧化鋇,而氧化鋇會與石英坩堝反應(yīng)形成硅酸鋇basio3,由于硅酸鋇basio3的存在,從而在石英坩堝的上沿形成一層致密微小的釉層,從而保護(hù)石英坩堝的上沿。由于氫氧化鋇層位于石英坩堝的上沿,故而硅液不會接觸到氫氧化鋇,不會導(dǎo)致氫氧化鋇層起皮掉落在硅液中影響拉晶品質(zhì)。同時未完全反應(yīng)轉(zhuǎn)化的氫氧根,也不會與硅料中殘留的堿金屬離子、堿土金屬離子結(jié)合成強堿,腐蝕石英坩堝。

      形成氫氧化鋇層與覆蓋碳酸鋇層的步驟,可以同時進(jìn)行,亦可以先形成氫氧化鋇層后覆蓋碳酸鋇層;還可以是先覆蓋碳酸鋇層后形成氫氧化鋇層。

      更優(yōu)選地,氫氧化鋇層通過噴涂形成。在本實施方式中,以水與氫氧化鋇的質(zhì)量比為48~54:1配制成噴涂時使用的噴涂液;也就是說,噴涂的噴涂液中水與氫氧化鋇的質(zhì)量比為48~54:1。

      在本實施方式中,噴涂的厚度為0.2mm~0.6mm。

      在本實施方式中,噴涂的寬度為100mm~150mm。

      在裝入硅料之前,如圖1所示,在石英坩堝100的內(nèi)壁底部上有碳酸鋇層200;在石英坩堝100的上沿有氫氧化鋇層300。

      其中,裝入硅料進(jìn)行直拉單晶操作,是制備單晶硅的核心步驟。在本實施方式中,具體包括如下子步驟:

      s1、加料:將硅料以及摻雜劑放入石英坩堝內(nèi),摻雜劑的種類依n型或p型而定。摻雜劑有硼、磷、銻、砷等。

      s2、熔化:在加料完畢后,關(guān)閉長晶爐并抽真空后,充入高純氬氣,然后加熱至熔化溫度以上,將硅料熔化。

      s3、縮頸:當(dāng)硅液的溫度穩(wěn)定后,將籽晶慢慢浸入硅液中。由于籽晶與硅液場接觸時的熱應(yīng)力,會使籽晶產(chǎn)生位錯,這些位錯必須利用縮頸生長使之消失掉??s頸生長是將籽晶快速向上提升,使長出的籽晶的直徑縮小到一定大小(一般4-6mm)。

      s4、放肩:在縮頸完成之后,須降低溫度與拉速,使得晶體的直徑漸漸增大到所需的大小。

      s5、等徑生長:在放肩完成之后,調(diào)節(jié)拉速與溫度等參數(shù),使晶棒直徑基本保持不變生長,一般保持晶棒直徑維持在正負(fù)2mm之間。

      s6、收尾:在等徑生長之后,調(diào)節(jié)拉速與溫度等參數(shù),使晶棒的直徑縮小并使晶棒脫離硅液。

      當(dāng)然,可以理解的是,直拉單晶操作可以采用本領(lǐng)域技術(shù)人員所公知的操作,在此不再贅述。

      為了進(jìn)一步確保拉晶效果,優(yōu)選地,在拉晶過程中,在提蓋子中加入碳酸鋇粉。

      更優(yōu)選地,在提蓋子中加入的碳酸鋇粉的質(zhì)量為3.4g~4g。

      更優(yōu)選地,在加熱后70~80h時,用提蓋子加入碳酸鋇粉。這樣更有助于未成晶爐臺便于拉晶。

      上述單晶硅的制備方法,由于在裝硅料直拉單晶之前,在石英坩堝的內(nèi)壁底部事先覆蓋碳酸鋇層;當(dāng)融硅時,碳酸鋇會分解形成氧化鋇,而氧化鋇會與石英坩堝反應(yīng)形成硅酸鋇basio3,由于硅酸鋇basio3的存在,從而在石英坩堝的內(nèi)壁上形成一層致密微小的釉層。隨著硅液面的上升,最終在石英坩堝內(nèi)壁與硅液接觸的地方均形成這種釉層。由于形成致密微小的釉層的保護(hù)層,有效抑制了析晶,因此可以大幅度的改善石英坩堝的使用壽命及長晶良率;為多段拉晶提供支持。這種致密微小的釉層的保護(hù)層很難使硅液滲入而剝落。另外,形成的致密微小的釉層保護(hù)層可以增加石英坩堝的強度,從而減少高溫軟化現(xiàn)象。碳酸鋇的碳酸根會變成二氧化碳而逸出,不會與硅料中殘留的堿金屬離子、堿土金屬離子結(jié)合成強堿,腐蝕石英坩堝。還有,鋇在硅中的平衡偏析系數(shù)非常小,從而使得鋇在硅晶棒中的濃度小于2.5×10-9/cm3;故而不會影響到硅晶棒的品質(zhì)。

      另外,采用本發(fā)明的方法,不用在石英坩堝的側(cè)壁形成涂層,隨著硅液面的上升,最終在石英坩堝內(nèi)壁與硅液接觸的地方均形成這種釉層;簡化了操作,更有利于工業(yè)化實施。

      采用本發(fā)明所提供的方法,石英坩堝的使用壽命一般能延長至200h~250h。而若直接全部噴涂氫氧化鋇的石英坩堝,則在使用150h左右就會出現(xiàn)掉皮、析晶、變形嚴(yán)重等現(xiàn)象,對拉晶造成很大干擾。

      以上所述實施例的各技術(shù)特征可以進(jìn)行任意的組合,為使描述簡潔,未對上述實施例中的各個技術(shù)特征所有可能的組合都進(jìn)行描述,然而,只要這些技術(shù)特征的組合不存在矛盾,都應(yīng)當(dāng)認(rèn)為是本說明書記載的范圍。

      以上所述實施例僅表達(dá)了本發(fā)明的幾種實施方式,其描述較為具體和詳細(xì),但并不能因此而理解為對發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是,對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下,還可以做出若干變形和改進(jìn),這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此,本發(fā)明專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。

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