專利名稱：環(huán)形磁芯電感快速檢分裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種磁環(huán)電感快速檢測(cè)、分選的裝置，尤其是涉及磁導(dǎo)率 低的金屬環(huán)型磁芯和開過氣隙后電感低的環(huán)型磁芯的電感快速檢測(cè)、分選裝置。
背景技術(shù)：
眾所周知，對(duì)環(huán)型磁芯電感參數(shù)的檢測(cè)都需要在環(huán)上繞上N匝線圈再進(jìn)行 測(cè)試， 一些磁導(dǎo)率、電感量高的磁芯也可以采用單匝線圈來判定其性能從而可 以提高測(cè)試速度， 一些自動(dòng)電感分選機(jī)也是采用單匝線圈測(cè)量的。但是對(duì)那些 初始磁導(dǎo)率在300以下的金屬磁芯以及開過氣隙的鐵氧體磁芯，采用單匝線圈 來測(cè)量是不大可能的，因?yàn)槠鋯卧训碾姼袠O其微小， 一般的儀器、儀表都很難 測(cè)出，加上測(cè)試手法、環(huán)境變化等不定因素的存在使測(cè)試誤差加大所以很難對(duì) 此類產(chǎn)品進(jìn)行電感判定。如果對(duì)每個(gè)磁芯都繞上N匝線圈進(jìn)行測(cè)試判定合格與 否，會(huì)浪費(fèi)大量的銅絲與人力，因此在測(cè)試技術(shù)方面嚴(yán)重阻礙了本產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型提供了一種能對(duì)低電感磁芯進(jìn)行準(zhǔn)確、快速地測(cè)量，能快速判 定產(chǎn)品合格與否，從而擴(kuò)張了該類磁芯量產(chǎn)的技術(shù)瓶頸的環(huán)形磁芯電感快速檢 分裝置，解決了現(xiàn)有技術(shù)對(duì)低電感磁芯測(cè)量不準(zhǔn)、引起誤判的測(cè)試技術(shù)問題。
本實(shí)用新型的上述技術(shù)目的主要是通過以下技術(shù)方案解決的它包括底座， 所述底座上固定有支軸，支軸具有中心孔，中心孔下端具有底部，中心孔上端 開口，支軸外壁同軸固定有互感器座，互感器座與支軸的外壁之間形成環(huán)形空 腔，環(huán)形空腔內(nèi)設(shè)有互感器，互感器的兩引線分別連接在與互感器座固定的兩 測(cè)試樁頭上；具有倒杯狀空腔的外圈的下端與互感器座的上端連接，互感器座上端與外圈之間設(shè)置有膠木板，膠木板將外圈的倒杯狀空腔和互感器座與支軸 的外壁之間的環(huán)形空腔隔開；導(dǎo)向柱上下滑動(dòng)連接在互感器座的中心孔內(nèi)，中 心孔的底部支撐有復(fù)位彈簧，所述復(fù)位彈簧作用在導(dǎo)向柱上使導(dǎo)向柱具有向上 運(yùn)動(dòng)的趨勢(shì)；所述膠木板中心設(shè)有供導(dǎo)向柱上端穿出的通孔，導(dǎo)向柱上端具有 沉孔，上下端分別呈臺(tái)階狀縮小的測(cè)試頭的下端配合在導(dǎo)向柱的上端沉孔內(nèi)； 所述外圈的上底部中心具有測(cè)試通孔，所述測(cè)試頭可在測(cè)試通孔內(nèi)上下滑動(dòng)， 手指壓頭的下端具有下錐臺(tái)結(jié)構(gòu)，下錐臺(tái)結(jié)構(gòu)的下端面與測(cè)試頭的上端連接， 所述下錐臺(tái)結(jié)構(gòu)的最大直徑大于測(cè)試通孔的孔徑。使用時(shí)，將兩測(cè)試樁頭與測(cè) 試儀器的兩極導(dǎo)線連接起來，此時(shí)測(cè)試儀器上顯示互感器的初始電感值。將被 測(cè)磁芯套在測(cè)試頭上，用手指壓頭將測(cè)試頭壓下，直到手指壓頭接觸到外圈時(shí) 止，此時(shí)手指壓將外圈與測(cè)試頭連接起來，使測(cè)試頭一導(dǎo)向柱一復(fù)位彈簧一支 軸一手指壓頭一外圈一互感受器座之間形成一個(gè)線圈回路，此線圈穿過被測(cè)磁 芯和互感器的中心，在測(cè)試儀上又顯示了一個(gè)新的電感值，新的電感值減去初 始電感值的值就是放大后的磁環(huán)電感值，這個(gè)值已經(jīng)比原來單圈電感值放大了 互感器的倍數(shù)，因而更準(zhǔn)確。 一般地，互感器有1000倍以上，足夠滿足測(cè)試的 精度要求。本實(shí)用新型在結(jié)構(gòu)上保證了測(cè)試線圈回路長(zhǎng)度穩(wěn)定，被測(cè)磁芯定位 準(zhǔn)確，所以測(cè)試誤差小，因?yàn)楸粶y(cè)值在互感受器的作用下放大千倍以上(可根 據(jù)所需的放大倍數(shù)來選擇合適的互感器)所以很容易判定該磁芯的性能合格與 否，在操作上體現(xiàn)了簡(jiǎn)單快速。
作為優(yōu)選，所述導(dǎo)向柱的下端具有倒沉孔，所述復(fù)位彈簧的上端位于倒沉 孔內(nèi)。其中，導(dǎo)向柱下端通過倒沉孔與復(fù)位彈簧的上端配合可使復(fù)位彈簧能對(duì) 導(dǎo)向柱起到良好的上下復(fù)位作用；同時(shí)可延長(zhǎng)復(fù)位彈簧的長(zhǎng)度而無須加長(zhǎng)支軸 中心孔長(zhǎng)度，可使本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)更為緊湊。
作為優(yōu)選，所述測(cè)試頭的下端與導(dǎo)向柱上端的沉孔之間螺紋連接，從而可 便于對(duì)測(cè)試頭的拆裝更換，以滿足不同孔徑磁性的測(cè)試需要。
5作為優(yōu)選，所述外圈倒杯狀空腔的內(nèi)壁下端與互感器座的外壁上端之間通 過螺紋連接，從而可方便對(duì)外圈的更換。
作為優(yōu)選，所述支軸中心孔底部設(shè)有定位柱，所述復(fù)位彈簧的下端與定位 柱配合，從而可起到對(duì)復(fù)位彈簧良好的對(duì)心作用，保證復(fù)位彈簧對(duì)導(dǎo)向柱良好 的復(fù)位作用。
作為優(yōu)選，所述支軸下端與底座之間螺紋連接，從而便于本實(shí)用新型的裝 配和維修。
因此，本實(shí)用新型具有結(jié)構(gòu)緊湊，能對(duì)低電感磁芯進(jìn)行準(zhǔn)確、快速地測(cè)量， 能快速判定產(chǎn)品合格與否，從而擴(kuò)張了該類磁芯量產(chǎn)的技術(shù)瓶頸等特點(diǎn)。


圖1是本實(shí)用新型的一種測(cè)試結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式

下面通過實(shí)施例，并結(jié)合附圖，對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案作進(jìn)一步具體的 說明。
實(shí)施例l:如圖1所示，包括底座l、支軸2、互感器座3，支軸2下端與 底座l之間螺紋連接，支軸2具有中心孔4，中心孔4下端具有底部5，底部5 上具有定位柱6，中心孔4上端開口，支軸2的外壁同軸與互感器座3之間螺 紋連接，互感器座3與支軸2的外壁之間形成環(huán)形空腔7，環(huán)形空腔7內(nèi)設(shè)有 互感器8，互感器8的兩引線分別連接在與互感器座3固定的兩測(cè)試樁頭9上； 外圈11具有倒杯狀空腔10，外圈11的倒杯狀空腔10的內(nèi)壁下端與互感器座3 的外壁上端之間通過螺紋連接，互感器座3的上端與外圈11之間設(shè)置有膠木板 12，膠木板12將外圈11的倒杯狀空腔10和互感器座3與支軸2的外壁之間的 環(huán)形空腔7隔開成測(cè)試室和互感器室；
導(dǎo)向柱13上下滑動(dòng)連接在互感器座3的中心孔4內(nèi)，中心孔4的底部支撐有復(fù)位彈簧14,導(dǎo)向柱的下端具有倒沉孔15，復(fù)位彈簧14的上端位于倒沉孔 15內(nèi)使導(dǎo)向柱13具有向上運(yùn)動(dòng)的趨勢(shì)；膠木板12中心設(shè)有供導(dǎo)向柱13上端 穿出的通孔，導(dǎo)向柱13上端具有沉孔16,上下端分別呈臺(tái)階狀縮小的測(cè)試頭 17的下端螺紋配合在導(dǎo)向柱13的上端沉孔16內(nèi)；外圈11的上底部中心具有測(cè) 試通孔18，測(cè)試頭17可在測(cè)試通孔18內(nèi)上下滑動(dòng)，手指壓頭19的下端具有 下錐臺(tái)結(jié)構(gòu)20，下錐臺(tái)結(jié)構(gòu)20的下端面與測(cè)試頭17的上端連接，下錐臺(tái)結(jié)構(gòu) 20的最大直徑大于測(cè)試通孔18的孔徑。
使用時(shí)，如圖1所示，將兩測(cè)試樁頭9與測(cè)試儀器的兩極導(dǎo)線連接起來， 此時(shí)測(cè)試儀器上顯示互感器的初始電感值。將被測(cè)磁芯21套在測(cè)試頭17上， 用手指壓頭19將測(cè)試頭17壓下，直到手指壓頭19接觸到外圈時(shí)止，此時(shí)手指 壓將外圈與測(cè)試頭連接起來，使測(cè)試頭一導(dǎo)向柱一復(fù)位彈簧一支軸一手指壓頭 —外圈一互感受器座之間形成一個(gè)線圈回路，此線圈穿過被測(cè)磁芯和互感器的 中心，在測(cè)試儀上又顯示了一個(gè)新的電感值，新的電感值減去初始電感值的值 就是放大后的磁環(huán)電感值，這個(gè)值已經(jīng)比原來單圈電感值放大了互感器的倍數(shù)， 因而更準(zhǔn)確。
權(quán)利要求1、一種環(huán)形磁芯電感快速檢分裝置，包括底座，其特征在于所述底座上固定有支軸，支軸具有中心孔，中心孔下端具有底部，中心孔上端開口，支軸外壁同軸固定有互感器座，互感器座與支軸的外壁之間形成環(huán)形空腔，環(huán)形空腔內(nèi)設(shè)有互感器，互感器的兩引線分別連接在與互感器座固定的兩測(cè)試樁頭上；具有倒杯狀空腔的外圈的下端與互感器座的上端連接，互感器座上端與外圈之間設(shè)置有膠木板，膠木板將外圈的倒杯狀空腔和互感器座與支軸的外壁之間的環(huán)形空腔隔開；導(dǎo)向柱上下滑動(dòng)連接在互感器座的中心孔內(nèi)，中心孔的底部支撐有復(fù)位彈簧，所述復(fù)位彈簧作用在導(dǎo)向柱上使導(dǎo)向柱具有向上運(yùn)動(dòng)的趨勢(shì)；所述膠木板中心設(shè)有供導(dǎo)向柱上端穿出的通孔，導(dǎo)向柱上端具有沉孔，上下端分別呈臺(tái)階狀縮小的測(cè)試頭的下端配合在導(dǎo)向柱的上端沉孔內(nèi)；所述外圈的上底部中心具有測(cè)試通孔，所述測(cè)試頭可在測(cè)試通孔內(nèi)上下滑動(dòng)，手指壓頭的下端具有下錐臺(tái)結(jié)構(gòu)，下錐臺(tái)結(jié)構(gòu)的下端面與測(cè)試頭的上端連接，所述下錐臺(tái)結(jié)構(gòu)的最大直徑大于測(cè)試通孔的孔徑。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的環(huán)形磁芯電感快速檢分裝置，其特征在于所述導(dǎo)向柱的下端具有倒沉孔，所述復(fù)位彈簧的上端位于倒沉孔內(nèi)。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的環(huán)形磁芯電感快速檢分裝置，其特征在于所述測(cè)試頭的下端與導(dǎo)向柱上端的沉孔之間螺紋連接。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的環(huán)形磁芯電感快速檢分裝置，其特征在于所述外圈倒杯狀空腔的內(nèi)壁下端與互感器座的外壁上端之間通過螺紋連接。
5、 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的環(huán)形磁芯電感快速檢分裝置，其特征在于所述支軸中心孔底部設(shè)有定位柱，所述復(fù)位彈簧的下端與定位柱配合。
6、根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的環(huán)形磁芯電感快速檢分裝置，其特征在于所述支軸下端與底座之間螺紋連接。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種環(huán)形磁芯電感快速檢分裝置。底座上固定有具有中心孔的支軸，中心孔具有底部且上端開口，支軸外壁固定有互感器座，互感器座與支軸的外壁之間設(shè)有互感器，互感器的兩引線分別連接在兩測(cè)試樁頭上；外圈下端與互感器座上端連接，互感器座上端與外圈之間設(shè)置有膠木板；導(dǎo)向柱滑動(dòng)連接在中心孔內(nèi)，中心孔的底部支撐有復(fù)位彈簧；膠木板中心設(shè)有通孔，導(dǎo)向柱上端具有沉孔，上下端呈臺(tái)階狀縮小的測(cè)試頭的下端配合在導(dǎo)向柱的上端沉孔內(nèi)；外圈的上底部具有測(cè)試通孔，手指壓頭的下端具有下錐臺(tái)結(jié)構(gòu)，下錐臺(tái)結(jié)構(gòu)的下端面與測(cè)試頭的上端連接，下錐臺(tái)結(jié)構(gòu)的最大直徑大于測(cè)試通孔的孔徑。
文檔編號(hào)B07C5/34GK201267809SQ20082013832
公開日2009年7月8日 申請(qǐng)日期2008年9月16日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月16日
發(fā)明者王開旺, 羅建橋 申請(qǐng)人:橫店集團(tuán)東磁股份有限公司