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      核磁共振測井孔隙度校正方法及裝置的制造方法

      文檔序號:9486440閱讀:594來源:國知局
      核磁共振測井孔隙度校正方法及裝置的制造方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001] 本發(fā)明實施例設(shè)及石油探測領(lǐng)域,尤其設(shè)及一種核磁共振測井孔隙度校正方法及 裝置。
      【背景技術(shù)】
      [0002] 隨著石油勘探技術(shù)的不斷發(fā)展,W及勘探對象的日益復(fù)雜,核磁共振測井作為一 種新的測井技術(shù),成為確定儲層孔隙度的重要的測井方法之一。儲層孔隙度是指巖樣中所 有孔隙空間體積之和與該巖樣體積的比值,是衡量儲層巖石中所含孔隙體積多少的一種參 數(shù),反映著儲層巖石儲存流體的能力。因此,儲層孔隙度的準(zhǔn)確計算對油氣藏的精細(xì)評價具 有十分重要的意義。
      [0003]核磁共振測井的測量對象為儲層孔隙中流體如氨核,其測量結(jié)果基本不受巖性、 巖石骨架等因素的影響,因此,在確定儲層孔隙度方面具有其他測井方法無法比擬的優(yōu)勢。
      [0004]但是,當(dāng)儲層巖性為砂堿巖時,利用核磁共振測井確定的儲層孔隙度比地層實際 的儲層孔隙度偏小,導(dǎo)致無法對油氣藏進(jìn)行精細(xì)評價。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0005]本發(fā)明實施例提供一種核磁共振測井孔隙度校正方法及裝置,W校正核磁共振測 井孔隙度,提高對油氣藏的評價精度。
      [0006]本發(fā)明實施例的一個方面是提供一種核磁共振測井孔隙度校正方法,包括:
      [0007]獲取目標(biāo)巖石對應(yīng)的井壁電成像測井圖像和核磁共振測井孔隙度,所述核磁共振 測井孔隙度表示孔隙空間在所述目標(biāo)巖石中的比例,所述目標(biāo)巖石包括堿石組分和所述非 堿石組分,所述非堿石組分包括所述孔隙空間;
      [0008]依據(jù)所述目標(biāo)巖石的大小、所述堿石組分的大小和所述非堿石組分的大小W及孔 隙度的定義建立所述核磁共振測井孔隙度的校正模型;
      [0009]依據(jù)所述井壁電成像測井圖像獲取所述堿石組分在所述目標(biāo)巖石中的比例;
      [0010]依據(jù)所述堿石組分在所述目標(biāo)巖石中的比例和所述校正模型計算核磁共振校正 孔隙度,所述核磁共振校正孔隙度是所述核磁共振測井孔隙度的校正值。
      [0011] 本發(fā)明實施例的另一個方面是提供一種核磁共振測井孔隙度校正裝置,包括:
      [0012]獲取模塊,用于獲取目標(biāo)巖石對應(yīng)的井壁電成像測井圖像和核磁共振測井孔隙 度,所述核磁共振測井孔隙度表示孔隙空間在所述目標(biāo)巖石中的比例,所述目標(biāo)巖石包括 堿石組分和非堿石組分,所述非堿石組分包括所述孔隙空間;依據(jù)所述井壁電成像測井圖 像獲取所述堿石組分在所述目標(biāo)巖石中的比例;
      [0013]建模模塊,用于依據(jù)所述目標(biāo)巖石的大小、所述堿石組分的大小和所述非堿石組 分的大小W及孔隙度的定義建立所述核磁共振測井孔隙度的校正模型;
      [0014]計算模塊,用于依據(jù)所述堿石組分在所述目標(biāo)巖石中的比例和所述校正模型計算 核磁共振校正孔隙度,所述核磁共振校正孔隙度是所述核磁共振測井孔隙度的校正值。
      [0015] 本發(fā)明實施例提供的核磁共振測井孔隙度校正方法及裝置,通過獲取目標(biāo)巖石對 應(yīng)的井壁電成像測井圖像和核磁共振測井孔隙度,利用電成像測井技術(shù)獲得的井壁電成像 測井圖像對核磁共振測井孔隙度進(jìn)行校正,獲得核磁共振測井孔隙度的校正值,避免了核 磁共振測井確定的儲層孔隙度比地層實際的儲層孔隙度偏小,提高了對油氣藏的評價精 度。
      【附圖說明】
      [0016] 圖1為本發(fā)明實施例提供的核磁共振測井孔隙度校正方法流程圖;
      [0017] 圖2為本發(fā)明實施例提供的井壁微電阻率圖像示意圖;
      [0018]圖3為本發(fā)明實施例提供的核磁共振測井的原始數(shù)據(jù)的示意圖;
      [0019] 圖4為本發(fā)明實施例提供的核磁共振測井孔隙度校正方法適用的檢測區(qū)域;
      [0020] 圖5為本發(fā)明另一實施例提供的核磁共振測井孔隙度校正方法適用的檢測區(qū)域;
      [0021]圖6為本發(fā)明實施例提供的核磁共振測井孔隙度與巖屯、分析孔隙度校正前的交 會圖;
      [0022]圖7為本發(fā)明實施例提供的核磁共振測井孔隙度與巖屯、分析孔隙度校正后的交 會圖;
      [0023] 圖8為本發(fā)明實施例提供的核磁共振測井孔隙度校正裝置的結(jié)構(gòu);
      [0024]圖9為本發(fā)明另一實施例提供的核磁共振測井孔隙度校正裝置的結(jié)構(gòu)圖。
      【具體實施方式】
      [00巧]圖1為本發(fā)明實施例提供的核磁共振測井孔隙度校正方法流程圖;圖2為本發(fā)明 實施例提供的井壁微電阻率圖像示意圖;圖3為本發(fā)明實施例提供的核磁共振測井的原始 數(shù)據(jù)的示意圖。本發(fā)明實施例針對儲層巖性為砂堿巖時,利用核磁共振測井確定的儲層孔 隙度比地層實際的儲層孔隙度偏小,提供了核磁共振測井孔隙度校正方法,該方法的具體 步驟如下:
      [0026] 步驟S101、獲取目標(biāo)巖石對應(yīng)的井壁電成像測井圖像和核磁共振測井孔隙度,所 述核磁共振測井孔隙度表示孔隙空間在所述目標(biāo)巖石中的比例,所述目標(biāo)巖石包括堿石組 分和非堿石組分,所述非堿石組分包括所述孔隙空間;
      [0027] 所述獲取目標(biāo)巖石對應(yīng)的井壁電成像測井圖像和核磁共振測井孔隙度,包括:利 用電成像測井儀測量所述目標(biāo)巖石對應(yīng)的地層電阻率,依據(jù)所述地層電阻率獲得所述井壁 電成像測井圖像;利用所述核磁共振測井儀測量所述目標(biāo)巖石對應(yīng)的核磁共振信號,依據(jù) 所述核磁共振信號獲得所述核磁共振測井孔隙度。
      [0028] 電成像測井儀利用井下儀器極板上密集排列的鈕扣狀電極測量井壁圓周上幾十 條甚至上百條微電阻率信息,對該微電阻率信息經(jīng)過高分辨率數(shù)學(xué)成像處理產(chǎn)生一幅高清 晰度的井壁微電阻率圖像,該井壁微電阻率圖像如圖2所示,對該井壁微電阻率圖像經(jīng)過 現(xiàn)有的測井解釋軟件進(jìn)行分析處理獲得井壁電成像測井圖像。
      [0029] 在核磁共振測井之前,地層中的質(zhì)子是隨機取向排列的,當(dāng)核磁共振測井儀經(jīng)過 地層時,核磁共振測井儀的磁場使質(zhì)子磁化。首先核磁共振測井儀的永久磁場使質(zhì)子的旋 轉(zhuǎn)軸朝向一致。然后,核磁共振測井儀發(fā)射交變磁場使運些被極化的質(zhì)子從新的平衡位置 翻轉(zhuǎn)。當(dāng)核磁共振測井儀停止發(fā)射交變磁場后,質(zhì)子就開始進(jìn)動回到靜磁場使之極化的位 置,運一過程稱為弛豫。核磁共振測井儀利用特定的脈沖序列采集弛豫過程中一系列自旋 回波,該自旋回波即為核磁共振測井的原始數(shù)據(jù),核磁共振測井的原始數(shù)據(jù)如圖3所示,對 該核磁共振測井的原始數(shù)據(jù)經(jīng)過現(xiàn)有的測井解釋軟件進(jìn)行分析處理獲得核磁共振測井孔 隙度。
      [0030]步驟S102、依據(jù)所述目標(biāo)巖石的大小、所述堿石組分的大小和所述非堿石組分的 大小W及孔隙度的定義建立所述核磁共振測井孔隙度的校正模型;
      [0031]依據(jù)W下Ξ個特性建立核磁共振測井孔隙度的校正模型:1)目標(biāo)巖石的大小等 于堿石組分的大小和非堿石組分的大小的和(孔隙存在于非堿石組分中);2)核磁共振測 井孔隙度表示孔隙空間在所述目標(biāo)巖石中的比例;3)堿石組分的孔隙度為0,即堿石組分 中沒有孔隙。
      [0032]步驟S103、依據(jù)所述井壁電成像測井圖像獲取所述堿石組分在所述目標(biāo)巖石中的 比例;
      [0033]所述井壁電成像測井圖像包括多個圖像點;所述依據(jù)所述井壁電成像測井圖像獲 取所述堿石組分在所述目標(biāo)巖石中的比例,包括:依據(jù)各個圖像點的亮暗程度分別對每個 圖像點進(jìn)行標(biāo)識,且所述圖像點的亮暗程度與標(biāo)識值成正比;統(tǒng)計所述標(biāo)識值大于闊值的 圖像點的個數(shù),所述個數(shù)與所述圖像點的總個數(shù)的比值是所述堿石組分在所述目標(biāo)巖石中 的比例。
      [0034]在本發(fā)明實施例中井壁電成像測井圖像包括多個圖像點,每個圖像點亮暗程度不 同,依據(jù)各個圖像點的亮暗程度分別對每個圖像點進(jìn)行標(biāo)識,標(biāo)識值在0-256之間,圖像點 的亮度越大,標(biāo)識值越大,圖像點的亮度越小,標(biāo)識值越小,將堿石的電阻率臨界值作為井 壁電成像測井圖像對應(yīng)的圖像亮度臨界值,并將該圖像亮度臨界值作為標(biāo)識值的闊值,貝
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