準致密儲層快速評價方法及準致密儲層多指標評價方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種準致密儲層快速評價方法及準致密儲層多指標評價方法。所述準致密儲層快速評價方法包括：根據(jù)巖心資料和地質(zhì)資料，得出不同儲層深度下的孔隙度、含水飽和度、沖洗帶飽和度以及厚度；根據(jù)每個儲層深度下的含水飽和度和沖洗帶飽和度，確定該儲層深度下的巖石孔隙中可動烴體積與水體積的比值；根據(jù)每個儲層深度下的孔隙度、含水飽和度、沖洗帶飽和度、厚度以及巖石孔隙中可動烴體積與水體積的比值，確定該儲層深度下的儲層流體識別指標的大??；以及根據(jù)每個儲層深度下的儲層流體識別指標的大小，識別該儲層深度下的流體性質(zhì)，以對所述儲層的流體性質(zhì)進行評價。由此，可以提高儲層評價的快速性、準確性和可靠性。
【專利說明】
準致密儲層快速評價方法及準致密儲層多指標評價方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本發(fā)明涉及儲層評價領(lǐng)域，具體地，涉及一種準致密儲層快速評價方法及準致密 儲層多指標評價方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 準致密碎肩巖儲層具有低孔滲、高束縛水、連通性差、非均質(zhì)性強的特征，儲層評 價水平是有效開發(fā)該儲層的關(guān)鍵因素。測井評價作為三種核心儲層評價手段之一，其定性 評價的可靠性和定量評價的精度，是決定儲層評價水平的基礎(chǔ)和關(guān)鍵。但準致密儲層測井 評價一直是儲層測井評價面臨的技術(shù)難點。由于準致密儲層超低的儲集空間，孔隙和孔隙 流體對測井響應(yīng)貢獻小，儲層非均性強，測井響應(yīng)差異大，因此，傳統(tǒng)、常規(guī)的儲層測井評價 方法、評價指標已經(jīng)不能滿足準致密儲層測井評價可靠性和精度要求，制約了儲層評價水 平的提高和發(fā)展，并且制約該類儲層的有效開發(fā)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 本發(fā)明的目的是提供一種準致密儲層快速評價方法及準致密儲層多指標評價方 法，所述評價方法能夠基于新構(gòu)建的評價指標來對儲層進行評價，從而提高儲層評價的快 速性、準確性和可靠性。
[0004] 為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種準致密儲層快速評價方法，該方法包括：根 據(jù)巖心資料和地質(zhì)資料，得出不同儲層深度下的孔隙度、含水飽和度、沖洗帶飽和度以及厚 度；根據(jù)每個儲層深度下的含水飽和度和沖洗帶飽和度，確定該儲層深度下的巖石孔隙中 可動烴體積與水體積的比值；根據(jù)每個儲層深度下的孔隙度、含水飽和度、沖洗帶飽和度、 厚度以及巖石孔隙中可動烴體積與水體積的比值，確定該儲層深度下的儲層流體識別指標 的大?。灰约案鶕?jù)每個儲層深度下的儲層流體識別指標的大小，識別該儲層深度下的流體 性質(zhì)，以對所述儲層的流體性質(zhì)進行評價。
[0005] 優(yōu)選地，通過以下方式確定所述巖石孔隙中可動烴體積與水體積的比值：
[0007] 通過以下方式確定所述儲層流體識別指標大小：
[0009] 其中，GW&表示第i個儲層深度下的巖石孔隙中可動烴體積與水體積的比值；Sw i 表示第i個儲層深度下的含水飽和度；Sx〇1表示第i個儲層深度下的沖洗帶飽和度；FLQI i 表示第i個儲層深度下的儲層流體識別指標；PHIEi表示第i個儲層深度下的孔隙度；以及 嘸表示第i個儲層深度下的厚度。
[0010] 優(yōu)選地，根據(jù)每個儲層深度下的儲層流體識別指標的大小，識別該儲層深度下的 流體性質(zhì)的步驟包括：在FLQI1= 0. 00的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為干 層；在FLQIf 0. 50的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為水層；在FLQI 1. 00 的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為含水含氣層；在FLQI1= 1. 50的情況下，識 別第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為含氣層；在FLQI1= 2. 00的情況下，識別第i個儲層深 度下的流體性質(zhì)為氣水同層；在FLQI1= 2. 50的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性 質(zhì)為含水氣層；在FLQI1= 3. 00的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為差氣層；以 及在FLQIi= 3. 50的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為氣層。
[0011] 本發(fā)明還提供一種準致密儲層多指標評價方法，該方法包括：根據(jù)本發(fā)明提供的 所述準致密儲層快速評價方法，確定每個儲層深度下的儲層流體識別指標的大小；根據(jù)巖 心資料和地質(zhì)資料，得出每個儲層深度下的泥質(zhì)含量和滲透率；對測井資料進行環(huán)境校正， 得出所述儲層的測井曲線，其中，該測井曲線包括由每個儲層深度下的深電阻率測井值形 成的深電阻率曲線；根據(jù)每個儲層深度下的孔隙度、含水飽和度和沖洗帶飽和度，確定該儲 層深度下的巖石孔隙中可動烴的體積、以及可動烴體積與巖石孔隙體積的比值；根據(jù)每個 儲層深度下的孔隙度和深電阻率測井值，確定該儲層深度下的儲層流體性質(zhì)指標的大小； 根據(jù)每個儲層深度下的孔隙度、含水飽和度、沖洗帶飽和度、厚度、泥質(zhì)含量、滲透率、巖石 孔隙中可動烴的體積、可動烴體積與巖石孔隙體積的比值、巖石孔隙中可動烴體積與水體 積的比值、以及儲層流體性質(zhì)指標，構(gòu)建該儲層深度下的多指標識別圖版；以及根據(jù)每個儲 層深度下的儲層流體識別指標的大小、以及每個儲層深度下的多指標識別圖版，共同識別 該儲層深度下的流體性質(zhì)，以對所述儲層的流體性質(zhì)進行評價。
[0012] 優(yōu)選地，通過以下方式確定所述巖石孔隙中可動烴的體積、以及所述可動烴體積 與巖石孔隙體積的比值：
[0013] BVWI^ PHIE ^Sxo-PHIE^Sw,
[0015] 其中，BVWL表示第i個儲層深度下的巖石孔隙中可動烴的體積；SGM i表示第i個 儲層深度下的可動烴體積與巖石孔隙體積的比值；PHIEi表示第i個儲層深度下的孔隙度； SWl表示第i個儲層深度下的含水飽和度；以及Sxo i表示第i個儲層深度下的沖洗帶飽和 度。
[0016] 優(yōu)選地，根據(jù)每個儲層深度下的孔隙度和深電阻率測井值，確定該儲層深度下的 儲層流體性質(zhì)指標的大小的步驟包括：構(gòu)建所述儲層的孔隙度-電阻率交會圖版；將每個 儲層深度下的孔隙度和深電阻率測井值映射到所述孔隙度-電阻率交會圖版中，形成每個 儲層深度下的孔隙度-電阻率坐標點；以及根據(jù)每個儲層深度下的孔隙度-電阻率坐標 點在所述孔隙度-電阻率交會圖版中的位置，確定該儲層深度下的儲層流體性質(zhì)指標的大 小。
[0017] 優(yōu)選地，所述測井曲線還包括由每個儲層深度下的自然伽瑪測井值形成的自然伽 瑪曲線和由每個儲層深度下的聲波測井值形成的聲波曲線；以及所述準致密儲層多指標評 價方法還包括：對所述自然伽瑪曲線和所述聲波曲線進行歸一化；判斷所述測井曲線中是 否包括由每個儲層深度下的中子測井值形成的中子曲線和由每個儲層深度下的密度測井 值形成的密度曲線；在判定所述測井曲線中未包括所述中子曲線的情況下，利用歸一化的 自然伽瑪曲線和聲波曲線，重構(gòu)歸一化的中子曲線；在判定所述測井曲線中未包括所述密 度曲線的情況下，利用歸一化的自然伽瑪曲線和聲波曲線，重構(gòu)歸一化的密度曲線；在判定 所述測井曲線中包括所述中子曲線的情況下，判斷該中子曲線是否合格，并在判定所述中 子曲線不合格的情況下，利用歸一化的自然伽瑪曲線和聲波曲線，重構(gòu)歸一化的中子曲線， 以及在判定所述中子曲線合格的情況下，對所述中子曲線進行歸一化；在判定所述測井曲 線中包括所述密度曲線的情況下，判斷該密度曲線是否合格，并在判定所述密度曲線不合 格的情況下，利用歸一化的自然伽瑪曲線和聲波曲線，重構(gòu)歸一化的密度曲線，以及在判定 所述密度曲線合格的情況下，對所述密度曲線進行歸一化。
[0018] 優(yōu)選地，通過以下方式重構(gòu)歸一化的中子曲線和歸一化的密度曲線：
[0019] NCNLri= 0. 5707*NAC ,+0. 4114^6^-0. 001
[0020] NDENri= 0. 1092-0. 6922*NAC ,+0. 1254^6?
[0021] 其中，NAQ表示歸一化的聲波曲線中第i個儲層深度下的聲波測井值；NGR i表示 歸一化的自然伽瑪曲線中第i個儲層深度下的自然伽瑪測井值；NCNL"表示重構(gòu)的歸一化 的中子曲線中第i個儲層深度下的中子測井值；以及NDEN"表示重構(gòu)的歸一化的密度曲線 中第i個儲層深度下的密度測井值。
[0022] 優(yōu)選地，該準致密儲層多指標評價方法還包括：在重構(gòu)歸一化的中子曲線之后，利 用所重構(gòu)的歸一化的中子曲線重構(gòu)中子曲線；和/或在重構(gòu)歸一化的密度曲線之后，利用 所重構(gòu)的歸一化的密度曲線重構(gòu)密度曲線。
[0023] 優(yōu)選地，通過以下方式重構(gòu)所述中子曲線和所述密度曲線：
[0024] CNLri= 0. 1566+0. 0639*NCNL ri
[0025] DENri= 2· 4929+0. 1305*NDEN ri
[0026] 其中，CNL"表示重構(gòu)的中子曲線中第i個儲層深度下的中子測井值；DEN"表示重 構(gòu)的密度曲線中第i個儲層深度下的密度測井值；NCNL"表示重構(gòu)的歸一化的中子曲線中 第i個儲層深度下的中子測井值；以及NDEN"表示重構(gòu)的歸一化的密度曲線中第i個儲層 深度下的密度測井值。
[0027] 優(yōu)選地，所述測井曲線還包括由每個儲層深度下的淺電阻率測井值形成的淺電阻 率曲線；以及所述準致密儲層多指標評價方法還包括：對所述深電阻率曲線和所述淺電阻 率曲線進行歸一化；根據(jù)歸一化的自然伽瑪曲線、歸一化的聲波曲線、歸一化的深電阻率曲 線、以及每個儲層深度下的泥質(zhì)含量，確定該儲層深度下的高角度縫指標的大小；根據(jù)歸一 化的深電阻率曲線、歸一化的淺電阻率曲線、未經(jīng)歸一化的深電阻率曲線、未經(jīng)歸一化的淺 電阻率曲線、以及每個儲層深度下的泥質(zhì)含量，確定該儲層深度下的低角度縫指標的大??； 以及根據(jù)每個儲層深度下的高角度縫指標的大小和低角度縫指標的大小，對該儲層深度下 的裂縫發(fā)育情況進行評價，以對所述儲層的裂縫發(fā)育情況進行評價。
[0028] 優(yōu)選地，通過以下方式確定所述高角度縫指標的大?。?br>[0029]
[0030] 通過以下方式確定所述低角度縫指標的大小：
[0031]
[0032] 其中，VFRL表示第i個儲層深度下的高角度縫指標；VCL i表示第i個儲層深度下 的泥質(zhì)含量；DMaXl表示第i個儲層深度下，歸一化的自然伽瑪曲線的一階導數(shù)、歸一化的 聲波曲線的一階導數(shù)、歸一化的深電阻率曲線的一階導數(shù)中的最大值；DMi ni表示第i個儲 層深度下，歸一化的自然伽瑪曲線的一階導數(shù)、歸一化的聲波曲線的一階導數(shù)、以及歸一化 的深電阻率曲線的一階導數(shù)中導數(shù)間差值的最小值；HFRL表示第i個儲層深度下的低角 度縫指標；NRDi表示歸一化的深電阻率曲線中第i個儲層深度下的深電阻率測井值；NRS i 表示歸一化的淺電阻率曲線中第i個儲層深度下的淺電阻率測井值;AvLRDi表示未經(jīng)歸一 化的深電阻率曲線中所有深電阻率測井值的對數(shù)均值；以及AvLRS^示未經(jīng)歸一化的淺電 阻率曲線中所有淺電阻率測井值的對數(shù)均值。
[0033] 優(yōu)選地，該準致密儲層多指標評價方法還包括：根據(jù)歸一化的聲波曲線、歸一化 的中子曲線和每個儲層深度下的泥質(zhì)含量，確定該儲層深度下的天然氣挖掘效應(yīng)指標的大 小；以及根據(jù)每個儲層深度下的天然氣挖掘效應(yīng)指標的大小，對該儲層深度下的流體性質(zhì) 進行定性識別，以對所述儲層的流體性質(zhì)進行評價。
[0034] 優(yōu)選地，通過以下方式確定所述天然氣挖掘效應(yīng)指標的大?。?br>[0035]
[0036] 其中，CAVL表示第i個儲層深度下的天然氣挖掘效應(yīng)指標；VCL i表示第i個儲層 深度下的泥質(zhì)含量；NAQ表示歸一化的聲波曲線中第i個儲層深度下的聲波測井值；以及 NCNQ表示歸一化的中子曲線中第i個儲層深度下的中子測井值。
[0037] 在上述技術(shù)方案中，通過構(gòu)建儲層流體識別指標，并基于該儲層流體識別指標的 大小來定量評價儲層的流體性質(zhì)，能夠?qū)崿F(xiàn)對準致密儲層的快速評價，并且能夠提高準致 密儲層評價的可靠性和精度。此外，還可以通過構(gòu)建的多種指標來構(gòu)建多指標識別圖版，并 基于所述儲層流體識別指標的大小和所述多指標識別圖版，來對所述儲層的流體性質(zhì)進行 綜合定量評價，這樣，可以排除準致密儲層評價中的多解性，進一步提高準致密儲層評價的 可靠性和精度。通過實例驗證，本發(fā)明提供的儲層評價方法所得到的評價準確度能夠達到 90%~95%。由此，本發(fā)明提供的準致密儲層評價方法能夠滿足準致密儲層測井評價可靠 性和精度的要求，有利于儲層評價水平的提高和發(fā)展，保證該類儲層的有效開發(fā)，并且能夠 為后續(xù)地質(zhì)、地球物理綜合研究奠定堅實基礎(chǔ)。
[0038] 本發(fā)明的其他特征和優(yōu)點將在隨后的【具體實施方式】部分予以詳細說明。
【附圖說明】
[0039] 附圖是用來提供對本發(fā)明的進一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與下面的具 體實施方式一起用于解釋本發(fā)明，但并不構(gòu)成對本發(fā)明的限制。在附圖中：
[0040] 圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的實施方式的準致密儲層快速評價方法的流程圖；
[0041] 圖2示出了根據(jù)本發(fā)明的實施方式的準致密儲層多指標評價方法的流程圖；
[0042] 圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的實施方式的孔隙度-電阻率交會圖版的示例；
[0043] 圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的實施方式的多指標識別圖版的示例；以及
[0044] 圖5和圖6分別示出了利用本發(fā)明提供的準致密儲層多指標評價方法對四川盆地 某井區(qū)進行實際評價所得的結(jié)果。
【具體實施方式】
[0045] 以下結(jié)合附圖對本發(fā)明的【具體實施方式】進行詳細說明。應(yīng)當理解的是，此處所描 述的【具體實施方式】僅用于說明和解釋本發(fā)明，并不用于限制本發(fā)明。
[0046] 圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的實施方式的準致密儲層快速評價方法的流程圖。如圖 1所示，該方法可以包括：步驟S11，根據(jù)巖心資料和地質(zhì)資料，得出不同儲層深度下的孔隙 度、含水飽和度、沖洗帶飽和度以及厚度；步驟S12,根據(jù)每個儲層深度下的含水飽和度和 沖洗帶飽和度，確定該儲層深度下的巖石孔隙中可動烴體積與水體積的比值；步驟S13,根 據(jù)每個儲層深度下的孔隙度、含水飽和度、沖洗帶飽和度、厚度以及巖石孔隙中可動烴體積 與水體積的比值，確定該儲層深度下的儲層流體識別指標的大??；以及步驟S14,根據(jù)每個 儲層深度下的儲層流體識別指標的大小，識別該儲層深度下的流體性質(zhì)，以對所述儲層的 流體性質(zhì)進行評價。
[0047] 具體地，首先在步驟S11，根據(jù)巖心資料和地質(zhì)資料，得出不同儲層深度下的孔隙 度PHIE、含水飽和度Sw、沖洗帶飽和度Sxo以及厚度H。該步驟的實現(xiàn)是本領(lǐng)域技術(shù)人員公 知的，對此，本發(fā)明在此不進行詳細描述。
[0048] 在得出不同儲層深度下的孔隙度PHIE、含水飽和度Sw、沖洗帶飽和度Sxo以及厚 度Η之后，可以根據(jù)每個儲層深度下的含水飽和度Sw和沖洗帶飽和度Sxo，確定出該儲層深 度下的巖石孔隙中可動烴體積與水體積的比值GWR。該比值是本發(fā)明新構(gòu)建的一項指標，和 下文描述的巖石孔隙中可動烴的體積BVWI和可動烴體積與巖石孔隙體積的比值SGM這兩 項指標共同構(gòu)成"相對體積指標"，該組指標用于后續(xù)的儲層評價。
[0049] 可以通過以下等式（1)來確定所述巖石孔隙中可動烴體積與水體積的比值：
[0051] 其中，GW&表示第i個儲層深度下的巖石孔隙中可動烴體積與水體積的比值； SWl表示第i個儲層深度下的含水飽和度；Sxo i表示第i個儲層深度下的沖洗帶飽和度； 1 < i < N，N表示儲層的采樣點總數(shù)，其中，每個采樣點對應(yīng)一個儲層深度，第i個采樣點 也等同表示第i個儲層深度。
[0052] 之后，在確定出每個儲層深度下的巖石孔隙中可動烴體積與水體積的比值之后， 就可以結(jié)合該比值、以及每個儲層深度下的孔隙度、含水飽和度、沖洗帶飽和度和厚度，來 共同確定出每個儲層深度下的儲層流體識別指標的大小。具體地，可通過以下等式（2)來 確定所述儲層流體識別指標的大?。?br>[0053]
[0054] 其中，F(xiàn)LQL表示第i個儲層深度下的儲層流體識別指標；PHIE i表示第i個儲層 深度下的孔隙度；以及私表示第i個儲層深度下的厚度。
[0055] 儲層流體識別指標FLQI同樣是本發(fā)明新構(gòu)建的一項指標，其用于對儲層進行快 速、初步自動評價，特別是針對儲層的流體性質(zhì)進行快速、初步自動評價，如下面進一步描 述的。
[0056] 在FLQI1= 0. 00的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為干層；在FLQI 1 = 〇. 50的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為水層；在FLQI1= 1. 00的情況下，識別 第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為含水含氣層；在FLQI1= 1. 50的情況下，識別第i個儲層 深度下的流體性質(zhì)為含氣層；在FLQI1= 2. 00的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性 質(zhì)為氣水同層；在FLQI1= 2. 50的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為含水氣層； 在FLQI1= 3. 00的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為差氣層；以及在FLQI 1 = 3. 50的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為氣層。
[0057] 通過上述方式，可以快速識別出每個儲層深度下的流體性質(zhì)，通過將這些識別結(jié) 果進行組合，可以對所述儲層的流體性質(zhì)做出整體評價，分析出為干層、水層、含水含氣層、 含氣層、氣水同層、含水氣層、差氣層和氣層的各儲層段，以為日后的儲層開發(fā)、地質(zhì)研究奠 定基礎(chǔ)。
[0058] 通過本發(fā)明構(gòu)建的儲層流體識別指標來快速評價儲層的流體性質(zhì)，可以實現(xiàn)對準 致密儲層的流體性質(zhì)的自動、快速地定量評價，具有較高的準確性和可靠性，填補了現(xiàn)有技 術(shù)中缺乏對準致密儲層的有效評價方法的空白。該指標可以用于對儲層的流體性質(zhì)的預(yù)評 價，有利于快速、準確評價儲層的流體性質(zhì)。此外，該指標還可以與其他定量評價指標一起， 共同對儲層的流體性質(zhì)進行定量評價，以實現(xiàn)基于多指標的準致密儲層評價方法，進一步 提高評價的可靠性和準確性。下文將具體描述這一準致密儲層多指標評價方法。
[0059] 圖2示出了根據(jù)本發(fā)明的實施方式的準致密儲層多指標評價方法的流程圖。如圖 2所示，該方法可以包括：步驟S21，根據(jù)本發(fā)明提供的上述準致密儲層快速評價方法，確定 每個儲層深度下的儲層流體識別指標的大??；步驟S22,根據(jù)巖心資料和地質(zhì)資料，得出每 個儲層深度下的泥質(zhì)含量和滲透率；步驟S23,對測井資料進行環(huán)境校正，得出所述儲層的 測井曲線，其中，該測井曲線包括由每個儲層深度下的深電阻率測井值形成的深電阻率曲 線；步驟S24,根據(jù)每個儲層深度下的孔隙度、含水飽和度和沖洗帶飽和度，確定該儲層深 度下的巖石孔隙中可動烴的體積、以及可動烴體積與巖石孔隙體積的比值；步驟S25,根據(jù) 每個儲層深度下的孔隙度和深電阻率測井值，確定該儲層深度下的儲層流體性質(zhì)指標的大 小；步驟S26,根據(jù)每個儲層深度下的孔隙度、含水飽和度、沖洗帶飽和度、厚度、泥質(zhì)含量、 滲透率、巖石孔隙中可動烴的體積、可動烴體積與巖石孔隙體積的比值、巖石孔隙中可動烴 體積與水體積的比值、以及儲層流體性質(zhì)指標的大小，構(gòu)建該儲層深度下的多指標識別圖 版；以及步驟S27,根據(jù)每個儲層深度下的儲層流體識別指標的大小、以及每個儲層深度下 的多指標識別圖版，共同識別該儲層深度下的流體性質(zhì)，以對所述儲層的流體性質(zhì)進行評 價。
[0060] 具體地，首先，根據(jù)上面結(jié)合圖1所描述的準致密儲層快速評價方法，確定出每個 儲層深度下的儲層流體識別指標的大小，即FLQL。此外，除了根據(jù)巖心資料和地質(zhì)資料，得 出不同儲層深度下的孔隙度、含水飽和度、沖洗帶飽和度以及厚度之外，還要根據(jù)該巖心資 料和地質(zhì)資料，得出每個儲層深度下的泥質(zhì)含量和滲透率。該步驟的實現(xiàn)是本領(lǐng)域技術(shù)人 員公知的，對此，本發(fā)明在此不進行詳細描述。
[0061] 接下來，在步驟S23,對測井資料進行環(huán)境校正，得出所述儲層的測井曲線，其中， 該測井曲線可以包括由每個儲層深度下的深電阻率測井值形成的深電阻率曲線。對測井資 料進行環(huán)境校正，是為了排除井徑、泥漿等非地層因素對測井資料的影響。如何對測井資料 進行環(huán)境校正的具體方式是本領(lǐng)域的技術(shù)人員公知的，對此，本發(fā)明在此不做具體描述。
[0062] 接下來，在步驟S24,根據(jù)每個儲層深度下的孔隙度、含水飽和度和沖洗帶飽和度， 確定該儲層深度下的巖石孔隙中可動烴的體積、以及可動烴體積與巖石孔隙體積的比值， 即上文提到的"相對體積指標"中的另外兩項指標BVWI和SGM。可以通過以下等式（3)和 (4)來分別確定這兩項指標：
[0063] BVWI^ PHIE ^Sxo-PHIE^Sw, (3)
[0065] 其中，BVWL表示第i個儲層深度下的巖石孔隙中可動烴的體積；SGM i表示第i個 儲層深度下的可動烴體積與巖石孔隙體積的比值；PHIEi表示第i個儲層深度下的孔隙度； SWl表示第i個儲層深度下的含水飽和度；以及Sxo i表示第i個儲層深度下的沖洗帶飽和 度。如此，上述等式（1)還可以被擴展成以下等式（5):
[0067] 所述"相對體積指標"中的每個指標作為后面構(gòu)建多指標識別圖版中的三項定量 指標。通過新增這三項定量指標來進行儲層評價，可以克服準致密儲層評價定量參數(shù)誤差 大的難題。
[0068] 雖然使用了 S22、S23和S24這樣的表述，但是并不意味著這三個步驟是有先后次 序的，這三個步驟可以是同時并行的。
[0069] 接下來，在步驟S25,根據(jù)每個儲層深度下的孔隙度和深電阻率測井值，確定該儲 層深度下的儲層流體性質(zhì)指標的大小。具體地，該步驟S25可以包括如下幾個步驟：構(gòu)建所 述儲層的孔隙度-電阻率交會圖版；將每個儲層深度下的孔隙度和深電阻率測井值映射到 所述孔隙度-電阻率交會圖版中，形成每個儲層深度下的孔隙度-電阻率坐標點。圖3示 出了所述孔隙度-電阻率交會圖版的示例。在該交會圖版中，深電阻率測井值RD作為縱坐 標，孔隙度PHIE作為橫坐標。每個儲層深度下的孔隙度和深電阻率測井值被映射到該孔隙 度-電阻率交會圖版中，這樣，就形成每個儲層深度下的孔隙度-電阻率坐標點。如上所述， 總共有N個儲層深度，因此，可以形成N個孔隙度-電阻率坐標點。
[0070] 可以根據(jù)先驗數(shù)據(jù)或經(jīng)驗，在該交會圖版中預(yù)先劃分出若干區(qū)域。在圖3所示的 交會圖版中，通過5條線將交會圖版劃分為6個非線性區(qū)域，分別為區(qū)域I、區(qū)域II、區(qū)域 III、區(qū)域IV、區(qū)域V以及區(qū)域VI。每個區(qū)域代表一個儲層流體性質(zhì)指標IGAS的值。這樣， 就可以根據(jù)每個儲層深度下的孔隙度-電阻率坐標點在所述孔隙度-電阻率交會圖版中的 位置（即，落到哪個區(qū)域），來確定該儲層深度下的儲層流體性質(zhì)指標的大小。
[0071] 例如，針對第i個儲層深度，如果其孔隙度-電阻率坐標點落在區(qū)域I，則確定該第 i個儲層深度下，IGAS1= 4. 5 ;如果其孔隙度-電阻率坐標點落在區(qū)域II，則確定該第i個 儲層深度下，IGAS1= 3. 5 ;如果其孔隙度-電阻率坐標點落在區(qū)域III，則確定該第i個儲 層深度下，IGAS1= 2. 5 ;如果其孔隙度-電阻率坐標點落在區(qū)域IV，則確定該第i個儲層深 度下，IGAS1= 1. 5 ;以及如果其孔隙度-電阻率坐標點落在區(qū)域V或區(qū)域VI，則確定該第i 個儲層深度下，IGASi= 0.5。通過這種方式，可以確定出每個儲層深度下的儲層流體性質(zhì) 指標的大小。該儲層流體性質(zhì)指標也作為后面構(gòu)建多指標識別圖版中的一項定量指標。
[0072] 接下來，在步驟S26中，構(gòu)建每個儲層深度下的多指標識別圖版。具體地，在本 發(fā)明中，通過10種指標來構(gòu)建多指標識別圖版。例如，如圖4所示，這10種指標分別是： 含水飽和度（Sw);孔隙度（PHIE);孔隙度與厚度的乘積（PHIE*H);孔隙度、沖洗帶飽和度 與厚度的乘積（PHIE*Swo*H);泥質(zhì)含量（VCL);滲透率（PERM);巖石孔隙中可動烴的體積 (BVMI);可動烴體積與巖石孔隙體積的比值（SGM);巖石孔隙中可動烴體積與水體積的比 值（GWR);以及儲層流體性質(zhì)指標（IGAS)。
[0073] 在本發(fā)明中，儲層的流體性質(zhì)可以分為八種，分別是：干層、水層、含水含氣層、含 氣層、氣水同層、含水氣層、差氣層和氣層?？梢愿鶕?jù)先驗數(shù)據(jù)構(gòu)建出每種流體性質(zhì)對應(yīng)的 標準多指標識別圖版。之后，將新構(gòu)建的一儲層深度下的多指標識別圖版與這八種標準多 指標識別圖版進行匹配，確定與之最接近的標準多指標識別圖版，并最終識別出該儲層深 度下的流體性質(zhì)。
[0074] 在本發(fā)明中，可以結(jié)合使用圖1中描述的方法確定出的每個儲層深度下的儲層流 體識別指標的大小、以及每個儲層深度下的多指標識別圖版，來共同識別該儲層深度下的 流體性質(zhì)，以對所述儲層的流體性質(zhì)做出綜合評價。
[0075] 通過上述準致密儲層多指標評價方法，可以融合多種定量指標來對準致密儲層進 行綜合評價，相比于僅采用一種指標進行評價，可以有效消除準致密儲層評價的多解性，從 而可以進一步提高準致密儲層評價結(jié)果的可靠性和準確性。
[0076] 此外，在上面通過步驟S23獲得的測井曲線中，不僅可以包括所述深電阻率曲線， 還可以包括由每個儲層深度下的自然伽瑪測井值形成的自然伽瑪曲線和由每個儲層深度 下的聲波測井值形成的聲波曲線。并且，所述準致密儲層多指標評價方法還可以包括：對所 述自然伽瑪曲線和所述聲波曲線進行歸一化；判斷所述測井曲線中是否包括由每個儲層深 度下的中子測井值形成的中子曲線和由每個儲層深度下的密度測井值形成的密度曲線；在 判定所述測井曲線中未包括所述中子曲線的情況下，利用歸一化的自然伽瑪曲線和聲波曲 線，重構(gòu)歸一化的中子曲線；在判定所述測井曲線中未包括所述密度曲線的情況下，利用歸 一化的自然伽瑪曲線和聲波曲線，重構(gòu)歸一化的密度曲線；在判定所述測井曲線中包括所 述中子曲線的情況下，判斷該中子曲線是否合格，并在判定所述中子曲線不合格的情況下， 利用歸一化的自然伽瑪曲線和聲波曲線，重構(gòu)歸一化的中子曲線，以及在判定所述中子曲 線合格的情況下，對所述中子曲線進行歸一化；在判定所述測井曲線中包括所述密度曲線 的情況下，判斷該密度曲線是否合格，并在判定所述密度曲線不合格的情況下，利用歸一化 的自然伽瑪曲線和聲波曲線，重構(gòu)歸一化的密度曲線，以及在判定所述密度曲線合格的情 況下，對所述密度曲線進行歸一化。
[0077] 通常情況下，測井曲線中要包括所述中子曲線和密度曲線。中子曲線和密度曲線 可用于輔助泥質(zhì)含量、孔隙度、滲透率等參數(shù)的計算。然而，密度曲線和中子曲線數(shù)據(jù)的采 集對井況條件要求較高，有時可能采集不到密度曲線和中子曲線，或者采集到的密度曲線 和中子曲線質(zhì)量差，會影響后期的儲層評價。這就導致測井曲線中可能缺失中子曲線和/ 或密度曲線，或者雖然包括中子曲線和/或密度曲線，但是所包括的中子曲線和/或密度曲 線不合格。在這種情況下，為了不影響其他參數(shù)的計算及后續(xù)的儲層評價，可以按照上述方 法，對缺失的或不合格的中子曲線和/或密度曲線進行重構(gòu)。
[0078] 具體地，可以通過以下等式（6)來重構(gòu)歸一化的中子曲線，以及通過以下等式（7) 來重構(gòu)歸一化的密度曲線：
[0079] NCNLri= 0· 5707*NAC，0· 4114*吣民-0· 001 (6)
[0080] NDENri= 0. 1092-0. 6922*NAC ,+0. 1254^6? (7)
[0081] 其中，NAQ表示歸一化的聲波曲線中第i個儲層深度下的聲波測井值；NGR i表示 歸一化的自然伽瑪曲線中第i個儲層深度下的自然伽瑪測井值；NCNL"表示重構(gòu)的歸一化 的中子曲線中第i個儲層深度下的中子測井值；以及NDEN"表示重構(gòu)的歸一化的密度曲線 中第i個儲層深度下的密度測井值。
[0082] 由于采用歸一化的自然伽瑪曲線和歸一化的聲波曲線來進行重構(gòu)，因此，通過上 面等式（6)和（7)重構(gòu)出的中子曲線和密度曲線也是歸一化的中子曲線和歸一化的密度曲 線。
[0083] 如上所述，中子曲線和密度曲線可用于其他定量指標的計算。因此，在重構(gòu)出歸一 化的中子曲線和/或歸一化的密度曲線之后，還可以利用所重構(gòu)的歸一化的中子曲線重構(gòu) 中子曲線；和/或利用所重構(gòu)的歸一化的密度曲線重構(gòu)密度曲線。
[0084] 具體地，可通過以下等式（8)重構(gòu)所述中子曲線，以及通過等式（9)重構(gòu)所述密度 曲線：
[0085] CNLri= 0· 1566+0. 0639*NCNLri (8)
[0086] DENri= 2· 4929+0. 1305*NDENri (9)
[0087] 其中，CNL"表示重構(gòu)的中子曲線中第i個儲層深度下的中子測井值；以及DEN"表 示重構(gòu)的密度曲線中第i個儲層深度下的密度測井值。
[0088] 這樣，就可以在無法采集中子曲線和密度曲線、或者采集到的中子曲線和密度曲 線質(zhì)量不合格的情況下，重構(gòu)出中子曲線和密度曲線。由此，可以滿足大斜度、水平井以及 多井綜合評價的資料需求。
[0089] 如何判斷中子曲線和密度曲線是否合格的方法是本領(lǐng)域的技術(shù)人員公知的，例 如，通過確定密度曲線、中子曲線分別與自然伽瑪曲線、深電阻率曲線、聲波曲線等之間的 相關(guān)性差，來判斷密度曲線、中子曲線是否合格（相關(guān)性差過大，判斷曲線不合格）。因此， 對于曲線是否合格的判斷方法本發(fā)明不做具體描述。
[0090] 另外，在所述中子曲線和密度曲線未缺失、并且合格的情況下，對所述中子曲線和 密度曲線進行歸一化。對自然伽瑪曲線、聲波曲線、中子曲線和密度曲線進行歸一化的方法 有很多，并且均是本領(lǐng)域的技術(shù)人員公知的。在本發(fā)明的一個示例實施方式中，可以采用以 下等式（10)來進行歸一化：
[0092] 其中，logi表示曲線上第i個測井值；Nlog ;表示該第i個測井值的歸一化值；Αν log表示曲線上所有測井值的平均值；以及Std log表示標準差。
[0093] 上述示例歸一化方法不用于限制本發(fā)明，本領(lǐng)域的技術(shù)人員也可以采用其他歸一 化方法來對自然伽瑪曲線、聲波曲線、中子曲線和密度曲線進行歸一化，對此，本發(fā)明在此 不--具體闡述。
[0094] 在本發(fā)明的另一實施方式中，所述測井曲線還可以包括由每個儲層深度下的淺電 阻率測井值形成的淺電阻率曲線；以及所述準致密儲層多指標評價方法還可以包括：對所 述深電阻率曲線和所述淺電阻率曲線進行歸一化；根據(jù)歸一化的自然伽瑪曲線、歸一化的 聲波曲線、歸一化的深電阻率曲線、以及每個儲層深度下的泥質(zhì)含量，確定該儲層深度下的 高角度縫指標的大小；根據(jù)歸一化的深電阻率曲線、歸一化的淺電阻率曲線、未經(jīng)歸一化的 深電阻率曲線、未經(jīng)歸一化的淺電阻率曲線、以及每個儲層深度下的泥質(zhì)含量，確定該儲層 深度下的低角度縫指標的大小；以及根據(jù)每個儲層深度下的高角度縫指標的大小和低角度 縫指標的大小，對該儲層深度下的裂縫發(fā)育情況進行評價，以對所述儲層的裂縫發(fā)育情況 進行評價。
[0095] 在對準致密儲層進行評價時，儲層的裂縫發(fā)育情況也是一項評價指標。在本發(fā)明 中，通過構(gòu)造高角度縫指標和低角度縫指標，可以快速且準確地定性分析出儲層的裂縫發(fā) 育情況。
[0096] 具體地，可通過以下等式（11)確定所述高角度縫指標的大?。?br>[0097]
[0098] 其中，VFRL表示第i個儲層深度下的高角度縫指標；VCL i表示第i個儲層深度下 的泥質(zhì)含量；DMaXl表示第i個儲層深度下，歸一化的自然伽瑪曲線的一階導數(shù)、歸一化的 聲波曲線的一階導數(shù)、歸一化的深電阻率曲線的一階導數(shù)中的最大值；DMi ni表示第i個儲 層深度下，歸一化的自然伽瑪曲線的一階導數(shù)、歸一化的聲波曲線的一階導數(shù)、以及歸一化 的深電阻率曲線的一階導數(shù)中導數(shù)間差值的最小值。
[0099] 此外，可通過以下等式（12)確定所述低角度縫指標的大小：
[0101] 其中，HFRL表示第i個儲層深度下的低角度縫指標；NRD 1表示歸一化的深電阻率 曲線中第i個儲層深度下的深電阻率測井值；NRSi表示歸一化的淺電阻率曲線中第i個儲 層深度下的淺電阻率測井值；AvLRDi表示未經(jīng)歸一化的深電阻率曲線中所有深電阻率測井 值的對數(shù)均值；以及AvLRSi表示未經(jīng)歸一化的淺電阻率曲線中所有淺電阻率測井值的對數(shù) 均值。
[0102] 之后，就可以根據(jù)所得到的高角度縫指標的大小和低角度縫指標的大小，對每個 儲層深度下的裂縫發(fā)育情況進行定性分析。例如，在VFRI 1= 1. 0和/或HFRI 1. 0的情 況下，可以定性分析出該第i個儲層深度下的裂縫發(fā)育；而在VFRI1= 0. 1且HFRI 0. 1 的情況下，可以定性分析出該第i個儲層深度下的裂縫未發(fā)育。由此，可以分析出整個準致 密儲層的裂縫發(fā)育情況，以為日后的儲層開發(fā)、地質(zhì)研究奠定基礎(chǔ)。
[0103] 在本發(fā)明的另一實施方式中，所述準致密儲層多指標評價方法還可以包括：根據(jù) 歸一化的聲波曲線、歸一化的中子曲線和每個儲層深度下的泥質(zhì)含量，確定該儲層深度下 的天然氣挖掘效應(yīng)指標的大??；以及根據(jù)每個儲層深度下的天然氣挖掘效應(yīng)指標的大小， 對該儲層深度下的流體性質(zhì)進行定性識別，以對所述儲層的流體性質(zhì)進行評價。
[0104] 具體地，可通過以下等式（13)確定所述天然氣挖掘效應(yīng)指標的大?。?br>[0105]
[0106] 其中，CAVL表示第i個儲層深度下的天然氣挖掘效應(yīng)指標；VCL i表示第i個儲層 深度下的泥質(zhì)含量；NAQ表示歸一化的聲波曲線中第i個儲層深度下的聲波測井值；以及 NCNQ表示歸一化的中子曲線中第i個儲層深度下的中子測井值。
[0107] 如果是經(jīng)重構(gòu)得出的歸一化的中子曲線，則NCNQ等同于NCNL"。如果不是經(jīng)重構(gòu) 得出的歸一化的中子曲線，那么NCNQ則代表對測井曲線中包括的原本中子曲線進行歸一 化后的結(jié)果。
[0108] 區(qū)別于上面通過儲層流體識別指標FLQI以及多指標識別圖版來對儲層的流體性 質(zhì)進行定量識別，在此種實施方式中，通過每個儲層深度下的天然氣挖掘效應(yīng)指標CAVI的 大小，可以實現(xiàn)對每個儲層深度下的流體性質(zhì)的定性識別。在儲層評價體系中，不僅需要定 量識別，也需要定性識別。通過本發(fā)明構(gòu)造出的天然氣挖掘效應(yīng)指標，可以提高儲層流體性 質(zhì)的定性識別的可靠性。例如，在CAVI 1= 1. 0的情況下，可以定性識別出該第i個儲層深 度下含氣；而在CAVI1= 0. 1的情況下，可以定性識別出該第i個儲層深度下不含氣。
[0109] 圖5和圖6分別示出了利用本發(fā)明提供的準致密儲層多指標評價方法對四川盆地 某井區(qū)進行實際評價所得的結(jié)果。經(jīng)過與實際測試結(jié)果進行比較，通過本發(fā)明提供的準致 密儲層快速評價方法及準致密儲層多指標評價方法，能夠?qū)崿F(xiàn)對準致密儲層的準確評價。 [0110] 綜上所述，在本發(fā)明提供的準致密儲層快速評價方法及準致密儲層多指標評價方 法中，通過構(gòu)建儲層流體識別指標，并基于該儲層流體識別指標的大小來定量評價儲層的 流體性質(zhì)，能夠?qū)崿F(xiàn)對準致密儲層的快速評價，并且能夠提高準致密儲層評價的可靠性和 精度。此外，還可以通過構(gòu)建的多種指標來構(gòu)建多指標識別圖版，并基于所述儲層流體識別 指標的大小和所述多指標識別圖版，來對所述儲層的流體性質(zhì)進行綜合定量評價，這樣，可 以排除準致密儲層評價中的多解性，進一步提高準致密儲層評價的可靠性和精度。通過實 例驗證，本發(fā)明提供的儲層評價方法所得到的評價準確度能夠達到90%~95%。由此，本 發(fā)明提供的準致密儲層評價方法能夠滿足準致密儲層測井評價可靠性和精度的要求，有利 于儲層評價水平的提高和發(fā)展，保證該類儲層的有效開發(fā)，并且能夠為后續(xù)地質(zhì)、地球物理 綜合研究奠定堅實基礎(chǔ)。
[0111] 以上結(jié)合附圖詳細描述了本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，但是，本發(fā)明并不限于上述實 施方式中的具體細節(jié)，在本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思范圍內(nèi)，可以對本發(fā)明的技術(shù)方案進行多種簡 單變型，這些簡單變型均屬于本發(fā)明的保護范圍。
[0112] 另外需要說明的是，在上述【具體實施方式】中所描述的各個具體技術(shù)特征，在不矛 盾的情況下，可以通過任何合適的方式進行組合。為了避免不必要的重復，本發(fā)明對各種可 能的組合方式不再另行說明。
[0113] 此外，本發(fā)明的各種不同的實施方式之間也可以進行任意組合，只要其不違背本 發(fā)明的思想，其同樣應(yīng)當視為本發(fā)明所公開的內(nèi)容。
【主權(quán)項】
1. 一種準致密儲層快速評價方法，其特征在于，該方法包括： 根據(jù)巖屯、資料和地質(zhì)資料，得出不同儲層深度下的孔隙度、含水飽和度、沖洗帶飽和度 W及厚度； 根據(jù)每個儲層深度下的含水飽和度和沖洗帶飽和度，確定該儲層深度下的巖石孔隙中 可動控體積與水體積的比值； 根據(jù)每個儲層深度下的孔隙度、含水飽和度、沖洗帶飽和度、厚度W及巖石孔隙中可動 控體積與水體積的比值，確定該儲層深度下的儲層流體識別指標的大??；W及 根據(jù)每個儲層深度下的儲層流體識別指標的大小，識別該儲層深度下的流體性質(zhì)，W 對所述儲層的流體性質(zhì)進行評價。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于， 通過W下方式確定所述巖石孔隙中可動控體積與水體積的比值：通過W下方式確定所述儲層流體識別指標大?。罕鴅VVKi巧/J、采1 'n甩/巖休議1'的石CfLl銀T Kl A刀肛'伴中只3/]\'伴中只的&1且； SWi表示第i個儲層深度下的含水飽和度； SXOi表示第i個儲層深度下的沖洗帶飽和度； 化QIi表示第i個儲層深度下的儲層流體識別指標； PHIEi表示第i個儲層深度下的孔隙度；W及 Hi表示第i個儲層深度下的厚度。3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，根據(jù)每個儲層深度下的儲層流體識別指 標的大小，識別該儲層深度下的流體性質(zhì)的步驟包括： 在化QIi= 0. 00的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為干層； 在化QIi= 0. 50的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為水層； 在化QIi= 1. 00的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為含水含氣層； 在化QIi= 1. 50的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為含氣層； 在化QIi= 2. 00的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為氣水同層； 在化QIi= 2. 50的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為含水氣層； 在化QIi= 3. 00的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為差氣層；W及 在化QIi= 3. 50的情況下，識別第i個儲層深度下的流體性質(zhì)為氣層。4. 一種準致密儲層多指標評價方法，其特征在于，該方法包括： 根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一權(quán)利要求所述的準致密儲層快速評價方法，確定每個儲層深 度下的儲層流體識別指標的大??； 根據(jù)巖屯、資料和地質(zhì)資料，得出每個儲層深度下的泥質(zhì)含量和滲透率； 對測井資料進行環(huán)境校正，得出所述儲層的測井曲線，其中，該測井曲線包括由每個儲 層深度下的深電阻率測井值形成的深電阻率曲線； 根據(jù)每個儲層深度下的孔隙度、含水飽和度和沖洗帶飽和度，確定該儲層深度下的巖 石孔隙中可動控的體積、W及可動控體積與巖石孔隙體積的比值； 根據(jù)每個儲層深度下的孔隙度和深電阻率測井值，確定該儲層深度下的儲層流體性質(zhì) 指標的大小； 根據(jù)每個儲層深度下的孔隙度、含水飽和度、沖洗帶飽和度、厚度、泥質(zhì)含量、滲透率、 巖石孔隙中可動控的體積、可動控體積與巖石孔隙體積的比值、巖石孔隙中可動控體積與 水體積的比值、W及儲層流體性質(zhì)指標，構(gòu)建該儲層深度下的多指標識別圖版；W及 根據(jù)每個儲層深度下的儲層流體識別指標的大小、W及每個儲層深度下的多指標識別 圖版，共同識別該儲層深度下的流體性質(zhì)，W對所述儲層的流體性質(zhì)進行評價。5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的準致密儲層多指標評價方法，其特征在于，通過W下方式確 定所述巖石孔隙中可動控的體積、W及所述可動控體積與巖石孔隙體積的比值： BVWIi= PHIE i*Sx〇i-PHIEi*SWi其中，BVWIi表示第i個儲層深度下的巖石孔隙中可動控的體積； SGMi表示第i個儲層深度下的可動控體積與巖石孔隙體積的比值； PHIEi表示第i個儲層深度下的孔隙度； SWi表示第i個儲層深度下的含水飽和度；W及 SXOi表示第i個儲層深度下的沖洗帶飽和度。6. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的準致密儲層多指標評價方法，其特征在于，根據(jù)每個儲層深 度下的孔隙度和深電阻率測井值，確定該儲層深度下的儲層流體性質(zhì)指標的大小的步驟包 括： 構(gòu)建所述儲層的孔隙度-電阻率交會圖版； 將每個儲層深度下的孔隙度和深電阻率測井值映射到所述孔隙度-電阻率交會圖版 中，形成每個儲層深度下的孔隙度-電阻率坐標點；W及 根據(jù)每個儲層深度下的孔隙度-電阻率坐標點在所述孔隙度-電阻率交會圖版中的位 置，確定該儲層深度下的儲層流體性質(zhì)指標的大小。7. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的準致密儲層多指標評價方法，其特征在于，所述測井曲線還 包括由每個儲層深度下的自然伽瑪測井值形成的自然伽瑪曲線和由每個儲層深度下的聲 波測井值形成的聲波曲線；W及所述準致密儲層多指標評價方法還包括： 對所述自然伽瑪曲線和所述聲波曲線進行歸一化； 判斷所述測井曲線中是否包括由每個儲層深度下的中子測井值形成的中子曲線和由 每個儲層深度下的密度測井值形成的密度曲線； 在判定所述測井曲線中未包括所述中子曲線的情況下，利用歸一化的自然伽瑪曲線和 聲波曲線，重構(gòu)歸一化的中子曲線； 在判定所述測井曲線中未包括所述密度曲線的情況下，利用歸一化的自然伽瑪曲線和 聲波曲線，重構(gòu)歸一化的密度曲線； 在判定所述測井曲線中包括所述中子曲線的情況下，判斷該中子曲線是否合格，并在 判定所述中子曲線不合格的情況下，利用歸一化的自然伽瑪曲線和聲波曲線，重構(gòu)歸一化 的中子曲線，W及在判定所述中子曲線合格的情況下，對所述中子曲線進行歸一化； 在判定所述測井曲線中包括所述密度曲線的情況下，判斷該密度曲線是否合格，并在 判定所述密度曲線不合格的情況下，利用歸一化的自然伽瑪曲線和聲波曲線，重構(gòu)歸一化 的密度曲線，化及在判定所述密度曲線合格的情況下，對所述密度曲線進行歸一化。8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的準致密儲層多指標評價方法，其特征在于，通過W下方式重 構(gòu)歸一化的中子曲線和歸一化的密度曲線： NCNLfi= 0. 5707*NAC 1+0. 4114*NGRi-0.0 Ol NDEN"= 0. 1092-0. 6922*NAC 1+0. 1254*NGRi 其中，NACi表示歸一化的聲波曲線中第i個儲層深度下的聲波測井值； NGI^i表示歸一化的自然伽瑪曲線中第i個儲層深度下的自然伽瑪測井值； NCNLfi表示重構(gòu)的歸一化的中子曲線中第i個儲層深度下的中子測井值；W及 NDENfi表示重構(gòu)的歸一化的密度曲線中第i個儲層深度下的密度測井值。9. 根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的準致密儲層多指標評價方法，其特征在于，該準致密儲層 多指標評價方法還包括： 在重構(gòu)歸一化的中子曲線之后，利用所重構(gòu)的歸一化的中子曲線重構(gòu)中子曲線；和/ 或 在重構(gòu)歸一化的密度曲線之后，利用所重構(gòu)的歸一化的密度曲線重構(gòu)密度曲線。10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的準致密儲層多指標評價方法，其特征在于，通過W下方式重 構(gòu)所述中子曲線和所述密度曲線： CNLfi= 0. 1566+0. 0639蝴CNL。 DENfi= 2. 4929+0. 1305*NDEN。 其中，CNLfi表示重構(gòu)的中子曲線中第i個儲層深度下的中子測井值； DENfi表示重構(gòu)的密度曲線中第i個儲層深度下的密度測井值； NCNLfi表示重構(gòu)的歸一化的中子曲線中第i個儲層深度下的中子測井值；W及 NDENfi表示重構(gòu)的歸一化的密度曲線中第i個儲層深度下的密度測井值。11. 根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的準致密儲層多指標評價方法，其特征在于，所述測井曲 線還包括由每個儲層深度下的淺電阻率測井值形成的淺電阻率曲線；W及所述準致密儲層 多指標評價方法還包括： 對所述深電阻率曲線和所述淺電阻率曲線進行歸一化； 根據(jù)歸一化的自然伽瑪曲線、歸一化的聲波曲線、歸一化的深電阻率曲線、W及每個儲 層深度下的泥質(zhì)含量，確定該儲層深度下的高角度縫指標的大小； 根據(jù)歸一化的深電阻率曲線、歸一化的淺電阻率曲線、未經(jīng)歸一化的深電阻率曲線、未 經(jīng)歸一化的淺電阻率曲線、W及每個儲層深度下的泥質(zhì)含量，確定該儲層深度下的低角度 縫指標的大??；W及 根據(jù)每個儲層深度下的高角度縫指標的大小和低角度縫指標的大小，對該儲層深度下 的裂縫發(fā)育情況進行評價，W對所述儲層的裂縫發(fā)育情況進行評價。12. 根據(jù)權(quán)利要求11所述的準致密儲層多指標評價方法，其特征在于，通過W下方式 確定所述高角度縫指標的大小：通過W下方式確定所述低角度縫指標的大?。浩渲?，VFRIi表示第i個儲層深度下的高角度縫指標； V化1表示第i個儲層深度下的泥質(zhì)含量； DMaXi表示第i個儲層深度下，歸一化的自然伽瑪曲線的一階導數(shù)、歸一化的聲波曲線 的一階導數(shù)、歸一化的深電阻率曲線的一階導數(shù)中的最大值； DMini表示第i個儲層深度下，歸一化的自然伽瑪曲線的一階導數(shù)、歸一化的聲波曲線 的一階導數(shù)、W及歸一化的深電阻率曲線的一階導數(shù)中導數(shù)間差值的最小值； HFRIi表示第i個儲層深度下的低角度縫指標； NRDi表示歸一化的深電阻率曲線中第i個儲層深度下的深電阻率測井值； NRSi表示歸一化的淺電阻率曲線中第i個儲層深度下的淺電阻率測井值； A化RD康示未經(jīng)歸一化的深電阻率曲線中所有深電阻率測井值的對數(shù)均值；化及 A化RSi表示未經(jīng)歸一化的淺電阻率曲線中所有淺電阻率測井值的對數(shù)均值。13. 根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的準致密儲層多指標評價方法，其特征在于，該準致密儲 層多指標評價方法還包括： 根據(jù)歸一化的聲波曲線、歸一化的中子曲線和每個儲層深度下的泥質(zhì)含量，確定該儲 層深度下的天然氣挖掘效應(yīng)指標的大?。籛及 根據(jù)每個儲層深度下的天然氣挖掘效應(yīng)指標的大小，對該儲層深度下的流體性質(zhì)進行 定性識別，W對所述儲層的流體性質(zhì)進行評價。14. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的準致密儲層多指標評價方法，其特征在于，通過W下方式 確定所述天然氣挖掘效應(yīng)指標的大小：其中，CAVIi表示第i個儲層深度下的天然氣挖掘效應(yīng)指標； V化1表示第i個儲層深度下的泥質(zhì)含量； NACi表示歸一化的聲波曲線中第i個儲層深度下的聲波測井值；W及 NCNLi表示歸一化的中子曲線中第i個儲層深度下的中子測井值。
【文檔編號】E21B49/00GK105986813SQ201510079776
【公開日】2016年10月5日
【申請日】2015年2月13日
【發(fā)明人】胡華偉, 程洪亮, 李定軍, 周維娜, 顏曉, 楊杰, 黎靜容, 李濤, 陳俊, 李強, 肖維德, 姜鐳
【申請人】中國石油化工股份有限公司, 中國石油化工股份有限公司西南油氣分公司