專利名稱:橫桿式探針測試裝置的制作方法
技術領域:
本實用新型涉及一種橫桿式探針測試裝置,特別是涉及一種探針的結構改良,以擴大所能測試的區(qū)域來提高測試時的準確率。
電路板在完成焊接若干電子零件后,必須經(jīng)過測試方能得知其上的零件有無短路或焊接點位置有無錯誤,此測試步驟是為確定電路板品質(zhì)合格與否的必須步驟,故測試程序與制造程序同樣地需要兼具高效率及低成本。
目前產(chǎn)業(yè)間所采用測試電路的裝置,如
圖1所示,在一夾具1a的平板11a上設置數(shù)個獨立的探針12a,并于夾具1a上設置一待測電路板2a,且電路板2a上設有數(shù)個連接器21a,分別對應于探針12a,又如圖2a及圖2b,探針12a包括一套筒121a、一金屬桿122a及一可移動棒123a,其中,套筒121a外連接有一第一導線124a,與夾具1a相連通,而金屬桿122a的桿頭連接有一第二導線125a,并與夾具1a相連通,金屬桿122a的另一端則套設于一絕緣體126a內(nèi),而絕緣體126a是為塑料材質(zhì),金屬桿122a及絕緣體126a部分套設于套筒121a內(nèi),且金屬桿122a于套筒121a內(nèi)連接一金屬棒127a,并且金屬棒127a套設于一第一彈簧128a內(nèi),而可移動棒123a套設于套筒121a內(nèi),可在一范圍內(nèi)沿套筒121a內(nèi)自由滑動,同時,可移動棒123a在套筒121a內(nèi)連接一第二彈簧129a,其在探針12a與連接器21a發(fā)生接觸時作為緩沖裝置,且第二彈簧129a另一端連接有一金屬柱130a。
平時,金屬柱130a與金屬棒127a相互不接觸,則第一導線124a及第二導線125a間不相連通,便傳送開路的信號至夾具1a,當可移動棒123a向套筒121a內(nèi)移動時,將帶動金屬柱130a推抵第二彈簧129a向上移動,則金屬柱130a與金屬棒127a相接觸,則第一導線124a及第二導線129a之間短路,便傳送短路的信號至夾具1a。
如圖3a所示,在正常情況下,連接器21a設置的極性正確,即插設的位置正確時,各探針12a將分別對應至連接器21a的缺槽211a,當夾具1a下壓接近電路板2a時,探針12a不會接觸到連接器21a本體,持續(xù)保持開路的狀態(tài);反之,如圖3b所示,若某個連接器21a的極性相反,即插設的位置相反時,探針12a會接觸到連接器21a本體,且插入部1231a往上回縮,造成第一導線124a及第二導線125a短路的情形發(fā)生,并將此短路的情形傳送至夾具1a,因此,夾具1a便可得知連接器21a設置位置的情形。
由于探針12a的頭端面積較小,所以與連接器21a相對應位置要求的準確性較高,如圖4所示,雖然連接器21a的極性錯誤,但探針12a或連接器21a的位置稍微地偏差,探針12a便不會接觸到連接器21a,而持續(xù)保持開路的狀態(tài);另一方面,探針12a在多次使用后容易發(fā)生磨損或偏斜的現(xiàn)象,則須立即更換,較為耗費成本。
由上可知,上述公知測試電路的裝置,在實際使用上,顯然具有不便與缺陷存在,而可待加以改善。
本實用新型的主要目的,在于提供一種橫桿式探針測試裝置,將探針配合一輔助的探針,共同連接于一橫桿,則將擴大所能測試區(qū)域,提高測試的準確率,且可防止探針因長期測試易造成磨損或偏斜,造成成本的開銷,從而克服現(xiàn)有技術中所存在的上述缺陷。
本實用新型的上述目的是這樣實現(xiàn)的一種橫桿式探針測試裝置,應用于一測試夾具上檢測一待測電路板所設的連接器是否有裝設錯誤,其特征在于包括一第一探針,設于該夾具的平板上;一第二探針,設于該夾具的平板上,且分別設于該第一探針的相鄰位置,該第二探針連接有一對導線,與該夾具相連通;及一橫桿,分別連接該第一探針及第二探針,且對應于該夾具上待測電路板所設的連接器,借由該橫桿是否觸及該連接器而由該第二探針的導線的傳達,讓該夾具得知判斷出該連接器是否裝設錯誤。
所述該第一探針及第二探針最好各包括一套筒,其外連接有一第一導線,與該夾具相連通;一金屬桿,其桿頭連接有一第二導線,與該夾具相連通,另一端則套設于一絕緣體內(nèi),該金屬桿及絕緣體系部分套設于該套筒內(nèi),且該金屬桿于套筒內(nèi)連接一金屬棒,并且該金屬棒套設于一第一彈簧內(nèi);及一可移動棒,套設于該套筒內(nèi),可在一范圍內(nèi)沿該套筒內(nèi)自由滑動,另外該可移動棒在該套筒內(nèi)連接一第二彈簧,且該第二彈簧另一端連接有一金屬柱。
所述該絕緣體可以為塑料材質(zhì)。
本實用新型所公開的橫桿式探針測試裝置,在該橫桿接觸到該連接器時,由該導線傳遞一短路信號至該夾具,讓該夾具得知該連接器已裝設錯誤。
由此可見,本實用新型所提供的橫桿式探針測試裝置,是應用于測試夾具上,包括一第一探針、一第二探針及一橫桿,其中第一探針設于夾具的平板上;第二探針設于夾具的平板上,且分別設于第一探針的相鄰位置,第二探針連接有數(shù)條導線,并與夾具相連通;橫桿分別連接第一探針及第二探針,并且對應于夾具上待測電路板所設的連接器。
下面結合實施例所示附圖,對本實用新型的目的、特征與特點作進一步詳細說明,當然所示附圖僅提供參考與說明用,并非用來對本實用新型加以限制。
圖1為公知測試裝置的平面圖2a為公知探針的平面組合圖;圖2b為公知探針的平面分解圖;圖3a為公知連接器極性正確的測試狀態(tài)示意圖;圖3b為公知連接器極性相反的測試狀態(tài)示意圖;圖4a為公知探針與連接器位置偏差的示意圖;圖4b為公知探針與連接器位置偏差的示意圖;圖5為本實用新型的平面圖;圖6為本實用新型的測試狀態(tài)示意圖;圖7a為本實用新型連接器極性相反的測試狀態(tài)示意圖;圖7b為本實用新型連接器極性正確的測試狀態(tài)示意圖。
請同時參照圖5及圖6所示,本實用新型公開了一種橫桿式探針測試裝置,其應用于測試夾具1上,包括一第一探針11、一第二探針13及一橫桿15,其中,第一探針11設于夾具1的平板12上,且第二探針13也設于夾具1的平板12上,并分別設于第一探針11的相鄰位置,第二探針13分別焊接有兩條導線14,并與夾具1相連通,而橫桿15則分別連接于第一探針11及第二探針13,且對應于夾具1上待測電路板2所設的連接器21。
如圖7a所示,希望測試電路板2時,夾具1下壓接近電路板2,并由橫桿15去接觸連接器21,若連接器21的極性相反,即插設時位置相反,則橫桿15會接觸到連接器21本體,便往上回縮使第二探針13的兩條導線14間造成短路的情形,并傳遞一短路信號至夾具1,讓夾具1得知連接器21已裝設錯誤,因橫桿15的接觸面積大,因此,檢測的準確性提高,而不會發(fā)生位置偏差而接觸不到的情形;另外如圖7b所示,連接器21的極性正確,即插設的位置正確時,橫桿15將對應至連接器21的缺槽211,當夾具1下壓接近電路板2時,橫桿15不會接觸到連接器21本體,且一端落于連接器21的針腳212間,則第二探針13的兩條導線14持續(xù)保持開路的狀態(tài);另一方面,因橫桿15的設計,為平面接觸,不同于公知探針的點式接觸,在多次使用時具有較佳的承受力,不易發(fā)生磨損或偏斜的現(xiàn)象,且維修方便,可減少成本的開銷。
因此,本實用新型所提供的橫桿式探針測試裝置,具有如下特點(1)呈現(xiàn)較高的測試準確度。
(2)測試的涵蓋率高。
(3)維修方便,且減少成本的耗費。
以上所述,僅為本實用新型最佳的具體實施例的詳細說明與實施例的附圖而已,但是本實用新型的特征并不局限于此,并非用以限制本實用新型,本實用新型的保護范圍應以權利要求確定的保護范圍為準,凡符合于本實用新型權利要求的精神與其類似變化的實施例,均應包含于本實用新型的范疇中,任何熟悉本技術的人員在本實用新型的領域內(nèi),可輕易思及的變化或修飾均涵蓋在本實用新型的保護范圍。
權利要求1.一種橫桿式探針測試裝置,應用于一測試夾具上檢測一待測電路板所設的連接器是否有裝設錯誤,其特征在于包括一第一探針,設于該夾具的平板上;一第二探針,設于該夾具的平板上,且分別設于該第一探針的相鄰位置,該第二探針連接有一對導線,與該夾具相連通;及一橫桿,分別連接該第一探針及第二探針,且對應于該夾具上待測電路板所設的連接器,借由該橫桿是否觸及該連接器而由該第二探針的導線的傳達,讓該夾具得知判斷出該連接器是否裝設錯誤。
2.如權利要求1所述的橫桿式探針測試裝置,其特征在于該第一探針及第二探針各包括一套筒,其外連接有一第一導線,與該夾具相連通;一金屬桿,其桿頭連接有一第二導線,與該夾具相連通,另一端則套設于一絕緣體內(nèi),該金屬桿及絕緣體系部分套設于該套筒內(nèi),且該金屬桿于套筒內(nèi)連接一金屬棒,并且該金屬棒套設于一第一彈簧內(nèi);及一可移動棒,套設于該套筒內(nèi),可在一范圍內(nèi)沿該套筒內(nèi)自由滑動,另外該可移動棒在該套筒內(nèi)連接一第二彈簧,且該第二彈簧另一端連接有一金屬柱。
3.如權利要求1所述的橫桿式探針測試裝置,其特征在于該絕緣體為塑料材質(zhì)。
專利摘要一種橫桿式探針測試裝置,應用于測試夾具上檢測待測電路板所設的連接器是否有裝設錯誤,其包括第一探針、第二探針及一橫桿,第一及第二探針分別相鄰設置于夾具的平板上,第二探針連接有兩條導線與夾具相連通,而橫桿則分別連接第一及第二探針,且其位置分別對應于待測電路板上所設的連接器,借由橫桿是否觸及連接器進而造成第二探針的導線之間的短路或開路,此情形經(jīng)由傳達至夾具后,將使夾具得知判斷出連接器是否裝設錯誤。
文檔編號G01R1/067GK2465191SQ0120128
公開日2001年12月12日 申請日期2001年2月12日 優(yōu)先權日2001年2月12日
發(fā)明者程國隆 申請人:華碩電腦股份有限公司