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      射線檢驗(yàn)設(shè)備和射線檢驗(yàn)方法

      文檔序號(hào):5842454閱讀:175來源:國知局
      專利名稱:射線檢驗(yàn)設(shè)備和射線檢驗(yàn)方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及用于檢驗(yàn)藥品和食品的無損檢驗(yàn)設(shè)備或方法。更具體地說,本發(fā)明涉及適于檢驗(yàn)由于包裝材料而使其內(nèi)部無法用可見光查看的包裝對象出現(xiàn)裂縫或裂口的射線檢驗(yàn)設(shè)備和射線檢驗(yàn)方法。
      背景技術(shù)
      到目前為止,對于檢驗(yàn)包裝食品出現(xiàn)裂縫或裂口的設(shè)備而言,使用可見光或紅外光的檢驗(yàn)設(shè)備是眾所周知的。該種使用可見光或紅外光的檢驗(yàn)設(shè)備通常向包裝的待檢驗(yàn)對象發(fā)射可見光或紅外光,然后通過使用CCD攝像機(jī)接收由該對象反射或發(fā)送的光。由此,檢驗(yàn)設(shè)備獲取關(guān)于包裝內(nèi)部的圖像信息,并根據(jù)其形狀確定容納在包裝內(nèi)的對象是否出現(xiàn)比如裂縫或裂口的異常。
      另外,最近幾年,將多種不透光的鋁箔和盒子用作包裝食品和藥品的方式。該使用光的檢驗(yàn)設(shè)備對于檢驗(yàn)包裝對象所出現(xiàn)的裂縫或裂口無能為力。
      而且,使用光的檢驗(yàn)設(shè)備還存在如下缺陷,即使使用由透光材料構(gòu)成的包裝材料,檢驗(yàn)結(jié)果也顯著地受到包裝材料表面顏色的影響。
      通過使用采用諸如X射線的射線檢驗(yàn)設(shè)備,足以查看用不透光材料制成的包裝材料包裹的包裝的內(nèi)部狀態(tài)。在傳統(tǒng)的射線檢驗(yàn)設(shè)備中,透過被檢驗(yàn)對象的射線由一維或二維探測器檢測。然后,使用像素信息通過執(zhí)行圖像處理,識(shí)別包含在包裝中的對象的透視二維圖像的圖案。由此,傳統(tǒng)的設(shè)備確定容納在包裝中的對象是否出現(xiàn)比如裂縫的異常。因此,傳統(tǒng)的設(shè)備存在必須執(zhí)行大規(guī)模的圖像處理的問題,以便實(shí)現(xiàn)高速在線(inline)系統(tǒng),并且設(shè)備的硬件和軟件成本很高。

      發(fā)明內(nèi)容
      鑒于上述現(xiàn)狀完成了本發(fā)明。因此,本發(fā)明的目的是提供一種射線檢驗(yàn)設(shè)備和射線檢驗(yàn)方法,不需要傳統(tǒng)設(shè)備所需的大規(guī)模圖像處理,用于圖像處理的硬件和軟件相對簡單,并能夠以造價(jià)低廉的配置可靠地確定在不透光材料包裝的對象中是否出現(xiàn)裂縫或裂口。
      為了實(shí)現(xiàn)上述目的,提供一種根據(jù)本發(fā)明的射線檢驗(yàn)設(shè)備,包括射線生成器,用于生成射向被檢對象的射線;射線探測器,以面對射線生成器的方式設(shè)置,用于檢測透過被檢對象的射線,并輸出構(gòu)成被檢對象的圖像的每一個(gè)像素的像素?cái)?shù)據(jù);以及數(shù)據(jù)處理單元,用于通過使用從射線探測器輸出的像素?cái)?shù)據(jù),執(zhí)行數(shù)據(jù)處理。在該設(shè)備中,數(shù)據(jù)處理單元計(jì)算從射線探測器輸出的每一個(gè)像素的像素?cái)?shù)據(jù)和其周圍的每一個(gè)像素的像素?cái)?shù)據(jù)之間的差,并通過總計(jì)從相應(yīng)于每一個(gè)像素的差值處理獲得的灰度等級(jí)(gray level)數(shù)據(jù)在預(yù)定灰度等級(jí)范圍內(nèi)的像素的數(shù)量,獲得被檢對象的總周邊長度(circumference length),以及根據(jù)該對象的總周邊長度確定在該對象中是否出現(xiàn)裂縫或裂口。
      本發(fā)明通過獲取構(gòu)成對象的圖像的每一個(gè)像素的像素?cái)?shù)據(jù)和其周圍的每一個(gè)像素的像素?cái)?shù)據(jù)之間的差,獲取其中相應(yīng)于該對象的輪廓部分的像素灰度等級(jí)不同于剩余部分的像素灰度等級(jí)的圖像。本發(fā)明通過總計(jì)其像素灰度等級(jí)在預(yù)定灰度等級(jí)范圍內(nèi)的像素的數(shù)量、然后根據(jù)相應(yīng)于輪廓部分的像素灰度等級(jí)與剩余部分的像素灰度等級(jí)不同這一事實(shí)從該類像素的總數(shù)量確定在該對象中是否出現(xiàn)裂縫或裂口,而不是通過從相應(yīng)于輪廓部分的圖像信息中識(shí)別圖案,來實(shí)現(xiàn)所期望的目的。
      也就是說,計(jì)算構(gòu)成被檢對象的射線透視圖像的每一個(gè)像素的像素?cái)?shù)據(jù)和其周圍的每一個(gè)像素的像素?cái)?shù)據(jù)之間的差,從而相應(yīng)于被檢對象的輪廓部分的每一部分具有與相應(yīng)于其它部分的灰度等級(jí)不同的像素灰度等級(jí),并通常具有比相應(yīng)于其它部分的灰度等級(jí)值更深(或更黑)的值。由此,預(yù)先設(shè)置可能包括相應(yīng)于輪廓部分的像素的灰度等級(jí)在內(nèi)的灰度等級(jí)范圍。在差值計(jì)算之后,計(jì)算其灰度等級(jí)在預(yù)定灰度等級(jí)范圍之內(nèi)的像素總數(shù)量。由此,獲得被檢對象的總周邊長度。在該對象中出現(xiàn)裂縫或裂口的情況下,該對象的總周邊長度大于在該對象中沒有裂縫或裂口的情況下的總周邊長度。所以,能夠更加簡單可靠地確定其中是否出現(xiàn)裂縫或裂口。此外,與用于對射線透視圖像執(zhí)行圖像處理的圖案識(shí)別的軟件相比,用于執(zhí)行該數(shù)據(jù)處理的軟件更加簡單。因此,該數(shù)據(jù)處理能夠使用相對低容量低速的硬件高速地執(zhí)行。


      圖1是用于說明根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的射線檢驗(yàn)設(shè)備的結(jié)構(gòu)的圖;圖2A是用于說明通過使用從一維X射線探測器3輸出的像素?cái)?shù)據(jù)獲得的被檢對象W的X射線透視圖像的圖;圖2B是用于說明在一維X射線探測器3位于預(yù)定位置情況下、從該一維探測器3輸出的每一個(gè)像素(或通道)的灰度等級(jí)的圖;圖2C是用于說明在圖2B所示的情況下差值處理之后、每一個(gè)像素的灰度等級(jí)的圖;圖2D是用于說明由差值處理所獲得的像素?cái)?shù)據(jù)代表的圖像的圖;圖3是用于說明由根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的數(shù)據(jù)處理單元5執(zhí)行的、用來確定在該對象中是否出現(xiàn)裂縫或裂口的處理過程的流程圖;圖4A是用于說明出現(xiàn)裂縫時(shí)被檢對象WA的X射線透視圖像的圖;和圖4B是用于說明在圖4A所示的情況下、由對每一個(gè)像素執(zhí)行差值處理所獲得的數(shù)據(jù)代表的圖像的圖。
      具體實(shí)施例方式
      下面將結(jié)合附圖描述本發(fā)明的實(shí)施例。
      圖1是用于說明根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的射線檢驗(yàn)設(shè)備的結(jié)構(gòu)的圖,同時(shí)示出表示該實(shí)施例的主要部分的機(jī)械結(jié)構(gòu)的示意圖、以及表示該實(shí)施例的主要部分的系統(tǒng)控制流水線的方框圖。
      被檢對象W放置在傳送系統(tǒng)1的循環(huán)帶11上,并以恒定速度被傳送。在傳送系統(tǒng)1上面,X射線管2布置在其中X射線光軸垂直向下的位置上。此外,一維X射線探測器3以面對X射線管2的方式垂直地布置在X射線管2的下面,其中傳送系統(tǒng)1的循環(huán)帶11插在X射線管2和一維X射線探測器3之間。
      傳送系統(tǒng)1包括循環(huán)帶11、以及循環(huán)帶11在其上循環(huán)的主動(dòng)輥12和多個(gè)從動(dòng)輥13。適于響應(yīng)通過操作配置在操作單元4上的開關(guān)從傳送驅(qū)動(dòng)單元14供給的驅(qū)動(dòng)信號(hào)而旋轉(zhuǎn)和驅(qū)動(dòng)的馬達(dá)(未示出)向主動(dòng)輥12提供旋轉(zhuǎn)。該主動(dòng)輥12的旋轉(zhuǎn)使循環(huán)帶11在每一個(gè)輥?zhàn)拥囊龑?dǎo)下移動(dòng),并在該圖中的箭頭方向上以恒定速度傳送被檢對象W。
      由X射線控制器21控制的高壓生成器22將一高電壓施加到X射線管2的陽極2a和陰極2b之間,以便X射線管2產(chǎn)生X射線。鉛縫部件23配置在X射線管2和傳送系統(tǒng)1之間。鉛縫部件23具有在其中形成的狹縫23a,在垂直于其中傳送系統(tǒng)1傳送被檢對象W的傳送方向上延伸。從X射線管2輸出的X射線通過狹縫23a,從而產(chǎn)生每一個(gè)在傳送系統(tǒng)1的寬度方向上發(fā)散的扇形X射線束。
      一維X射線探測器3包括閃爍器(scintillator)和MOS圖像傳感器,在其上成行地排列多個(gè)器件。入射的X射線由閃爍器轉(zhuǎn)換成可見光,由每一個(gè)MOS圖像傳感器器件每隔非常短的恒定時(shí)間間隔檢測一次。每一個(gè)器件每隔一段時(shí)間輸出一個(gè)其電平相應(yīng)于入射的X射線輻射量的檢測信號(hào)。
      從一維X射線探測器3的每一個(gè)器件輸出的檢測信號(hào)被數(shù)據(jù)處理單元5接受。數(shù)據(jù)處理單元5在監(jiān)視器51的屏幕上顯示其像素灰度等級(jí)信息由來自每一個(gè)器件的檢測信號(hào)代表的X射線透視圖像。此外,數(shù)據(jù)處理單元5使用每隔一段時(shí)間從一維X射線探測器3的每一個(gè)器件輸出的數(shù)據(jù),通過執(zhí)行一例程(將在下面描述)確定在被檢對象中是否出現(xiàn)裂縫或裂口。另外,根據(jù)確定的結(jié)果,當(dāng)確定出現(xiàn)裂縫或裂口時(shí),生成指示該決定的數(shù)據(jù)。此外,如后面將敘述的,報(bào)警蜂鳴器54發(fā)出聲音?;蛘呖商娲?,驅(qū)動(dòng)排除單元55。另外,代表該決定的數(shù)據(jù)輸出到數(shù)據(jù)打印機(jī)52,并將代表該圖像的數(shù)據(jù)輸出給視頻打印機(jī)53。
      接下來,在描述數(shù)據(jù)處理單元5確定是否出現(xiàn)裂縫或裂口的操作之前,下面先描述用于計(jì)算像素?cái)?shù)據(jù)之間的差的差值處理。差值處理本身是公知的技術(shù)。數(shù)據(jù)處理單元5計(jì)算構(gòu)成圖像的每一個(gè)像素的灰度等級(jí)數(shù)據(jù)和其周圍的每一個(gè)像素的灰度等級(jí)數(shù)據(jù)之間的差。當(dāng)從一維X射線探測器3輸出的像素?cái)?shù)據(jù)獲得的被檢對象W的X射線透視圖像表明在包裝中包含一個(gè)被檢對象WA時(shí),如圖2A所示,則每一個(gè)像素(或通道)的灰度等級(jí)數(shù)據(jù)如圖2B所示,其中一維X射線探測器3處于圖2A所示的位置狀態(tài)下。此外,當(dāng)一維X射線探測器3位于相同的位置獲得每一對每個(gè)像素(或通道)的毗鄰像素的灰度等級(jí)數(shù)據(jù)之間的差時(shí),只有被檢對象WA的邊界部分(或輪廓部分)的像素的灰度等級(jí)為高(也就是說,只有這些像素為黑),如圖2C所示。當(dāng)差值處理之后一圖像由這樣的像素?cái)?shù)據(jù)構(gòu)成時(shí),則以所示的方式獲得只有被檢對象WA的輪廓部分是黑色的圖像,如圖2D所示?;叶鹊燃?jí)輪廓(profile)的灰度等級(jí)范圍從XL到XH(將在后面描述)設(shè)置為在差值處理之后獲得的如圖2C所示的像素?cái)?shù)據(jù)之中、其中包括如圖2D所示的被檢對象WA的輪廓部分的像素的灰度等級(jí)在內(nèi)的范圍。
      圖3是用于說明由數(shù)據(jù)處理單元5執(zhí)行的、用來確定在該對象中是否出現(xiàn)裂縫或裂口的處理過程的流程圖。下面參照圖3描述在本發(fā)明的實(shí)施例中確定是否出現(xiàn)裂縫或裂口的操作。在該實(shí)例中,假定數(shù)據(jù)處理單元5在圖2A示出的X射線透視圖像的正常狀態(tài)下,確定容納在包裝內(nèi)的單個(gè)被檢對象WA中是否出現(xiàn)裂縫或裂口。
      在該流程圖中,“i”表示在非常短的恒定時(shí)間間隔導(dǎo)致的、來自一維射線探測器3的信號(hào)輸出(即,事件)的順序,換句話說,表示時(shí)間,“j”表示一維射線探測器3的每一個(gè)器件(或通道)的序號(hào)。因此,被檢對象W的X射線透視圖像的每一個(gè)像素用Rij表示。
      另外,在執(zhí)行自動(dòng)操作之前,通過操作設(shè)置在操作單元4上的數(shù)字鍵(tenkey),設(shè)置將被記數(shù)的像素的灰度等級(jí)輪廓的灰度等級(jí)范圍下限XL和上限XH(見圖2C)。此外,根據(jù)對具有該灰度等級(jí)范圍內(nèi)的灰度等級(jí)的像素的記數(shù)結(jié)果,設(shè)置用于確定該對象是否出現(xiàn)裂縫或裂口的接受范圍下限ML和上限MH。
      另外,設(shè)置測量長度iMAX。該測量長度iMAX表示從一維X射線探測器3輸出的、相應(yīng)于單個(gè)被檢對象W并由數(shù)據(jù)處理單元5接收的檢測信號(hào)的數(shù)量。也就是說,當(dāng)在傳送系統(tǒng)1上傳送的被檢對象W的前端到達(dá)X射線輻射位置的緊前面(i=1)時(shí),數(shù)據(jù)處理單元5響應(yīng)從物品檢測傳感器(未示出)輸出的外部觸發(fā)信號(hào),開始接收一維X射線探測器3的輸出。當(dāng)接收的外部觸發(fā)信號(hào)的數(shù)量達(dá)到測量長度iMAX的值時(shí),數(shù)據(jù)處理單元5不再接收一維X射線探測器3的輸出。
      然后,發(fā)出開始自動(dòng)操作的命令。接著,被檢對象W提供到傳送系統(tǒng)1上。當(dāng)傳送系統(tǒng)1開始傳送對象W時(shí),響應(yīng)物品檢測傳感器的輸出執(zhí)行初始化,從而將變量i、j和M依次設(shè)置為i=1,j=1和M=0。這里,當(dāng)差值處理后的灰度等級(jí)數(shù)據(jù)包括在所設(shè)置的從XL到XH的灰度等級(jí)輪廓的灰度等級(jí)范圍之內(nèi)時(shí),M是按1遞增的計(jì)數(shù)器。然后,數(shù)據(jù)處理單元5接收在第一事件的情況下(即,在i=1的情況下)的每一個(gè)像素R1j的像素信息。接著,數(shù)據(jù)處理單元5為在i=1時(shí)相應(yīng)于一維X射線探測器3的器件j(對應(yīng)于“j”的值從1變化到最后一個(gè)通道的序號(hào))接收的各個(gè)像素、分別計(jì)算每一個(gè)像素的灰度等級(jí)數(shù)據(jù)和其周圍的每一個(gè)像素的灰度等級(jí)數(shù)據(jù)之間的差。然后,確定每一個(gè)差值Sij是否包括在范圍從XL到XH的灰度等級(jí)輪廓的灰度等級(jí)范圍之內(nèi)。在每一個(gè)差值Sij包括在范圍從XL到XH的灰度等級(jí)輪廓的灰度等級(jí)范圍之內(nèi)時(shí),M遞增1。
      當(dāng)相應(yīng)于所有通道的每一個(gè)通道確定其差值是否包括在灰度等級(jí)范圍之內(nèi)完成時(shí),數(shù)據(jù)處理單元5接著接收在第二事件的情況下(即,在i=2的情況下)的每一個(gè)像素R2j的像素信息。與i=1的情況類似,數(shù)據(jù)處理單元5分別計(jì)算對應(yīng)于所有通道的差值Sij。然后,在每次出現(xiàn)包括在灰度等級(jí)范圍內(nèi)的差值時(shí),M遞增1。當(dāng)變量“i”達(dá)到iMAX時(shí),判斷值M是否包括在范圍從ML到MH的預(yù)定接受范圍值之內(nèi)。由此,可以從該決定中準(zhǔn)確地知道包含在包裝WB中的被檢對象WA是否出現(xiàn)裂縫或裂口。
      也就是說,在被檢對象WA中沒有出現(xiàn)裂縫和裂口的情況下,圖像由構(gòu)成對象WA的X射線透視圖像的像素的像素?cái)?shù)據(jù)之間的差構(gòu)成,從而只有被檢對象WA的輪廓部分是黑的,如圖2D所示。包括在所設(shè)置的從XL到XH的灰度等級(jí)輪廓值的灰度等級(jí)范圍之內(nèi)的差值的總數(shù)量M,與被檢對象WA的周邊長度成正比。當(dāng)沒有裂縫或裂口出現(xiàn)時(shí)該數(shù)量M的值例如大約為100,則如下文中所述在被檢對象WA中出現(xiàn)裂縫或裂口的情況下,該數(shù)量M的值是犬于100的值?,F(xiàn)在假定被檢對象WA在包裝中裂開,如圖4A中所示的X射線透視圖像,則可以構(gòu)建由差值處理獲得的差值構(gòu)成的圖像,如圖4B所示。在這種情況下,包括在所設(shè)置的從XL到XH的灰度等級(jí)輪廓值的灰度等級(jí)范圍之內(nèi)的差值的總數(shù)量M,從沒有裂縫出現(xiàn)時(shí)被檢對象WA的周邊長度增加由于裂縫造成的額外的輪廓部分的長度。由此,總數(shù)量M例如大約為160。因此,通過將在值ML到MH之間的接受范圍設(shè)置為從90到110,能夠正確地確定在該對象中是否出現(xiàn)裂縫或裂口。
      此外,在從X射線透視圖像中包裝的邊緣部分的差值中獲得的灰度等級(jí)包括在灰度等級(jí)輪廓的灰度等級(jí)范圍從XL到XH中時(shí),預(yù)先估計(jì)在該部分中差值的近似數(shù)量。由此,將該估計(jì)的數(shù)量從總數(shù)量M中減去而獲得的數(shù)量與接受范圍值ML和MH之間的值進(jìn)行比較足以滿足要求?;蛘呖商娲兀梢酝ㄟ^將該估計(jì)的數(shù)量考慮進(jìn)去來設(shè)置接受范圍值ML到MH。
      當(dāng)數(shù)量M在從ML到MH的接受范圍內(nèi)時(shí),執(zhí)行接受判定處理。相反,當(dāng)數(shù)量M不在從值ML到MH的接受范圍內(nèi)時(shí),執(zhí)行異常判定處理,比如報(bào)警蜂鳴器發(fā)聲或?qū)⒃撐锲放懦=又?,檢驗(yàn)設(shè)備確定下一個(gè)被檢對象W中是否出現(xiàn)裂縫或裂口。
      前述實(shí)施例的特別值得關(guān)注的地方在于,被檢對象WA中裂縫或裂口的存在/不存在是通過對像素?cái)?shù)據(jù)執(zhí)行差值處理、接著總計(jì)在通過差值處理獲得的灰度等級(jí)數(shù)據(jù)中具有包括在預(yù)定灰度等級(jí)范圍內(nèi)的灰度等級(jí)數(shù)據(jù)的像素的數(shù)量、然后判定該總計(jì)的結(jié)果是否在接受范圍之內(nèi)來確定的,而不是通過執(zhí)行使用從一維X射線探測器3輸出的像素?cái)?shù)據(jù)的圖像處理以便識(shí)別被檢對象WA的圖案、來確定在被檢對象WA中裂縫或裂口的存在/不存在。與用于根據(jù)圖案識(shí)別進(jìn)行確定的軟件情況相比,根據(jù)本發(fā)明的用于確定的軟件采用上述的數(shù)據(jù)處理,非常簡單。由此,本發(fā)明的檢驗(yàn)設(shè)備能夠使用相對簡單的硬件執(zhí)行該軟件。
      如上所述,根據(jù)本發(fā)明,射線照射到被檢對象上。由此,獲得對象的透視圖像。此外,計(jì)算構(gòu)成透視圖像的每一個(gè)像素的像素?cái)?shù)據(jù)和其周圍的每一個(gè)像素的像素?cái)?shù)據(jù)之間的差。在計(jì)算該差之后,計(jì)算差值處理之后其灰度等級(jí)數(shù)據(jù)在預(yù)定的灰度等級(jí)范圍之內(nèi)的像素的總數(shù)量。從該類像素的總數(shù)量的計(jì)算結(jié)果中獲取相應(yīng)于包含在包裝中的被檢對象的總周邊長度的值。根據(jù)所獲得的相應(yīng)于被檢對象的總周邊長度的值是否在預(yù)定的范圍之內(nèi),確定該對象中是否出現(xiàn)裂縫或裂口。由此,根據(jù)本發(fā)明的檢驗(yàn)設(shè)備能夠用于檢驗(yàn)包含在用不透光材料、比如鋁箔制成的包裝容器內(nèi)的對象。此外,與通過識(shí)別射線透視圖像的圖案來檢驗(yàn)對象的情況、如使用射線的傳統(tǒng)的外來對象檢驗(yàn)設(shè)備相比,在本發(fā)明的檢驗(yàn)設(shè)備的情況下,數(shù)據(jù)處理容易執(zhí)行。因此,軟件和硬件都可以低造價(jià)地實(shí)現(xiàn)。使用該低造價(jià)結(jié)構(gòu),本發(fā)明的檢驗(yàn)設(shè)備能夠可靠地確定在用不透光材料包裹的對象中是否出現(xiàn)裂縫或裂口。
      權(quán)利要求
      1.一種射線檢驗(yàn)設(shè)備,包括射線生成器,用于生成射向被檢對象的射線;射線探測器,以面對所述射線生成器的方式設(shè)置,用于檢測透過被檢對象的射線,并輸出構(gòu)成被檢對象的圖像的每一個(gè)像素的像素?cái)?shù)據(jù);以及數(shù)據(jù)處理單元,用于使用從所述射線探測器輸出的像素?cái)?shù)據(jù),執(zhí)行數(shù)據(jù)處理,其中所述數(shù)據(jù)處理單元計(jì)算從所述射線探測器輸出的每一個(gè)像素的像素?cái)?shù)據(jù)和其周圍的每一個(gè)像素的像素?cái)?shù)據(jù)之間的差,并通過總計(jì)從相應(yīng)于每一個(gè)像素的差值處理獲得的灰度等級(jí)數(shù)據(jù)在預(yù)定灰度等級(jí)范圍內(nèi)的像素的數(shù)量、獲得被檢對象的總周邊長度,以及根據(jù)該對象的總周邊長度確定在該對象中是否出現(xiàn)裂縫或裂口。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射線檢驗(yàn)設(shè)備,還包括傳送單元,用于在所述射線生成器和所述射線探測器之間傳送被檢對象。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射線檢驗(yàn)設(shè)備,其中當(dāng)該對象的總周邊長度超出接受范圍時(shí),所述數(shù)據(jù)處理單元確定在該對象中出現(xiàn)裂縫或裂口。
      4.一種射線檢驗(yàn)方法,包括生成射向被檢對象的射線;檢測透過被檢對象的射線,以根據(jù)所檢測到的射線獲得構(gòu)成被檢對象的圖像的每一個(gè)像素的像素?cái)?shù)據(jù);計(jì)算所述每一個(gè)像素的像素?cái)?shù)據(jù)和其周圍的每一個(gè)像素的像素?cái)?shù)據(jù)之間的差;通過總計(jì)從相應(yīng)于每一個(gè)像素的差值處理獲得的灰度等級(jí)數(shù)據(jù)在預(yù)定灰度等級(jí)范圍內(nèi)的像素的數(shù)量,獲得被檢對象的總周邊長度;以及根據(jù)該對象的總周邊長度確定在該對象中是否出現(xiàn)裂縫或裂口。
      5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的射線檢驗(yàn)方法,其中當(dāng)該對象的總周邊長度超出接受范圍時(shí),確定在該對象中出現(xiàn)裂縫或裂口。
      全文摘要
      一種射線檢驗(yàn)設(shè)備計(jì)算從射線探測器(3)輸出的每一個(gè)像素的像素?cái)?shù)據(jù)和其周圍的每一個(gè)像素的像素?cái)?shù)據(jù)之間的差。然后,該設(shè)備通過總計(jì)從相應(yīng)于每一個(gè)像素的差值處理獲得的灰度等級(jí)數(shù)據(jù)在灰度等級(jí)輪廓的預(yù)定灰度等級(jí)范圍從XL到XH內(nèi)的像素的數(shù)量、獲得被檢對象WA的總周邊長度。由此,該設(shè)備根據(jù)該對象的總周邊長度的值確定在該對象中是否出現(xiàn)裂縫或裂口。
      文檔編號(hào)G01B15/00GK1381717SQ0210567
      公開日2002年11月27日 申請日期2002年4月17日 優(yōu)先權(quán)日2001年4月17日
      發(fā)明者澤田良一 申請人:株式會(huì)社島津制作所
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