專利名稱:微量樣品光度檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本實用新型涉及一種樣品分析儀器,特別是一種樣品光度檢測裝置。
背景技術(shù):
目前,對樣品的光度分析一般采用的方法是將被檢測樣品溶液加入10mm×10mm標(biāo)準(zhǔn)比色皿,比色皿由通光材料石英制成;光源發(fā)出的光經(jīng)過分光裝置和濾色裝置后透射通過比色皿的樣品溶液,樣品溶液對于特定波長光的吸收來測定樣品的物質(zhì)組分及含量。測量一次完畢后,將檢測分析過程中與樣品溶液接觸過的分析器具清洗干凈后供下次檢測分析使用。
現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺點是1、結(jié)構(gòu)復(fù)雜;2、浪費的樣品較多,每次分析取樣的樣品溶液量大于3ml,特別是對于某些珍貴或不易采集制作的樣品進(jìn)行微量分析時會大大的提高檢測分析的成本;3、操作繁瑣,并且對分析器具的清洗比較麻煩,增加了分析的工作量,延長了檢測分析的工作時間。
實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是克服上述現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種結(jié)構(gòu)簡單、操作簡便、清洗方便,并且所需被檢測的樣品用量微小的微量樣品光度檢測裝置。
本實用新型采用的技術(shù)方案是一種微量樣品光度檢測裝置,包括有光源、單色儀和基座,該基座上開有通孔,該通孔的下方固定安裝底座,下探針插裝在該底座上;所述基座上設(shè)置有鉸鏈,該鉸鏈上以可以活動的方式安裝有活動臂,上探針固定安裝在該活動臂上,其位置與所述下探針的位置相對應(yīng);所述下探針通過光纖與所述光源或所述單色儀連接,所述上探針對應(yīng)于上述下探針通過所述光纖與上述單色儀或上述光源連接。
由于本實用新型對樣品的檢測過程是利用液體的表面張力使所需的樣品溶液呈現(xiàn)球狀,再將上、下探針與上述樣品液滴接觸后做進(jìn)一步的光度分析,所以需要的樣品溶液量不超過10ul,低于現(xiàn)有技術(shù)樣品用量的300倍以上,節(jié)約了樣品,降低了檢測分析成本;并且其操作簡單、清洗方便,減少了檢測分析的工作量,提高了工作效率,使檢測分析的工作過程可靠、快速。
圖1為本實用微量樣品光度檢測裝置第一種實施例的結(jié)構(gòu)示意圖;圖2為本實用微量樣品光度檢測裝置工作狀態(tài)局部示意圖;圖3為本實用微量樣品光度檢測裝置第二種實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖具體說明本實用新型如圖1所示,本實用新型微量樣品光度檢測裝置包括有基座2,該基座2上開有通孔10,該通孔10的下方固定安裝底座11,下探針9插裝在底座11上。在基座2上設(shè)置鉸鏈3,鉸鏈3上以可以活動的方式安裝有活動臂5,上探針4固定安裝在活動臂5上,其位置與下探針9的位置相對應(yīng)。下探針9通過光纖14與光源7相連接。上探針4通過光纖18與單色儀8相連接。由于光的可逆性,可以使上探針4與光源7連接,下探針9與單色儀8連接。
本實用新型的使用過程如下將樣品的溶液2-10ul滴放在下探針9上,轉(zhuǎn)動活動臂5,使上探針4與下探針9上的樣品溶液接觸,由于樣品液體的表面張力的作用,在上探針4與下探針9之間可形成約2mm高的液柱1,如圖2所示。光源7發(fā)出的光線經(jīng)過光纖14傳送給下探針9,穿過上述的樣品溶液形成的液柱1射入到上探針4,再經(jīng)過光纖18傳送給單色儀8,由單色儀8對接收到的光線進(jìn)行分析得出分析結(jié)果。
由于現(xiàn)有技術(shù)中光纖的探針由金屬制成,為了避免樣品溶液與探針接觸帶來的污染而造成測量精度的降低,可以在上探針4的下部安裝石英探頭25并且通孔10的上方設(shè)有石英基板6。
此外,可以在活動臂5上設(shè)有限位凸起12,使活動臂5上固定的上探針4向下移動到距離下探針9或石英基板6有一定間隙時,該限位凸12頂?shù)交?上,使活動臂5不能再向下移動,保證上探針4與下探針9或基板6之間在工作時存在一定間隙,其二者之間能夠形成被檢測樣品溶液的液柱1,避免上探針4與下探針9或基板6直接接觸而將樣品溶液擠壓流失。將上探針4以可滑動方式安裝在活動臂5上,活動臂5開有螺栓孔,螺栓孔內(nèi)安裝一個螺栓13,該螺栓13的一端頂靠上探針4;使用時,放松螺栓13可以對上探針4相對與下探針9或石英基板6的距離進(jìn)行微量調(diào)整,調(diào)整后再將螺栓13擰緊頂住上探針4,進(jìn)一步提高了本實用新型的操作性能。
另外,還可以在石英基板6上涂鍍一聚四氟乙烯薄層,使樣品溶液滴加在基板6上后易于保持球形狀態(tài),方便測量的操作。
權(quán)利要求1.一種微量樣品光度檢測裝置,包括有光源、單色儀,其特征在于該微量樣品光度檢測裝置還包括有基座,該基座上開有通孔,該通孔的下方固定安裝底座,下探針插裝在該底座上;所述基座上設(shè)置有鉸鏈,該鉸鏈上以可以活動的方式安裝有活動臂,上探針固定安裝在該活動臂上,其位置與所述下探針的位置相對應(yīng);所述下探針通過光纖與所述光源或所述單色儀連接,所述上探針對應(yīng)于上述下探針通過所述光纖與上述單色儀或上述光源連接。
2.如權(quán)利要求1所述的微量樣品光度檢測裝置,其特征在于所述上探針的下部安裝有石英探頭,所述基座的通孔上方設(shè)有石英基板。
3.如權(quán)利要求2所述的微量樣品光度檢測裝置,其特征在于所述石英基板上涂鍍有一層聚四氟乙烯層。
4.如權(quán)利要求1、2或3所述的微量樣品光度檢測裝置,其特征在于所述活動臂上設(shè)有限位凸起。
5.如權(quán)利要求1、2或3所述的微量樣品光度檢測裝置,其特征在于所述上探針以可以滑動的方式安裝在所述活動臂上,該活動臂開有螺栓孔,螺栓孔內(nèi)安裝螺栓,該螺栓的一端頂靠所述上探針。
專利摘要本實用新型公開了一種微量樣品光度檢測裝置。該微量樣品光度檢測裝置包括有光源、單色儀和基座,該基座上開有通孔,該通孔的下方固定安裝底座,下探針插裝在該底座上;所述基座上設(shè)置有鉸鏈,該鉸鏈上以可以活動的方式安裝有活動臂,上探針固定安裝在該活動臂上,其位置與所述下探針的位置相對應(yīng);所述下探針通過光纖與所述光源或所述單色儀連接,所述上探針對應(yīng)于上述下探針通過所述光纖與上述單色儀或上述光源連接。本實用新型操作簡單、清洗方便,并且所需被檢測的樣品用量微小,特別適用于對珍貴或不易采集制作的樣品進(jìn)行微量分析。
文檔編號G01N21/01GK2612944SQ03245599
公開日2004年4月21日 申請日期2003年4月22日 優(yōu)先權(quán)日2003年4月22日
發(fā)明者孫宏偉, 馬放均 申請人:北京普析通用儀器有限責(zé)任公司