專利名稱：一種電路板調(diào)試裝置及進(jìn)行電路板調(diào)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電路板調(diào)試裝置，尤其涉及一種使用雙列直插封裝芯片的電路板的調(diào)試裝置以及進(jìn)行電路板調(diào)試方法。
背景技術(shù)：
目前，各種電子設(shè)備和裝置中存在著很多電路板，完成各種功能和任務(wù)，而電路板上起決定作用的就是各種集成電路芯片。集成電路芯片有多種封裝形式，例如，雙列直插式封裝(DIP)，塑料方型扁平式封裝(PQFP)，插針網(wǎng)格陣列封裝(PGA)，球柵陣列封裝(BGA)等等。其中，絕大多數(shù)中小規(guī)模集成電路(IC)均采用雙列直插式封裝(DIP)形式，如Intel系列CPU中的8088和RAM，F(xiàn)IFO等器件。
在進(jìn)行整塊電路板調(diào)試的時(shí)候，可以通過示波器和邏輯分析儀對(duì)電路板上的電路走線和元器件的管腳進(jìn)行測(cè)量和分析。如果發(fā)現(xiàn)印刷電路板上的某些走線電平不正確，則很難判斷錯(cuò)誤出現(xiàn)在哪里。因?yàn)橛∷㈦娐钒迳系淖呔€把各個(gè)相關(guān)的器件都連接在一起，所以驅(qū)動(dòng)器件、走線和接收器件都具有相同的電平。因此錯(cuò)誤的電平可能是由某個(gè)驅(qū)動(dòng)源產(chǎn)生的，從而導(dǎo)致其驅(qū)動(dòng)的所有器件和走線都呈現(xiàn)出錯(cuò)誤的電平；但也可能是由某個(gè)接收端器件導(dǎo)致的，它拉低或者拉高了原本正確的有驅(qū)動(dòng)源輸出的電平，例如，接收端不正確的鉗位電路就會(huì)造成這樣的后果；還有一種可能是印刷電路板走線本身存在問題。對(duì)于上述情況，工程師們只能用刻刀將印刷電路板上的走線割斷，然后把驅(qū)動(dòng)器件和接收器件分開進(jìn)行測(cè)量，來確認(rèn)發(fā)生錯(cuò)誤的位置。這樣的操作雖然可以排查故障，但是該方法有很大的缺陷和副作用。首先在確認(rèn)錯(cuò)誤和排除故障之后，如果不是PCB走線的問題，仍然需要進(jìn)行通過飛線把割斷的正確走線連接起來。其次，無論是割線還是飛線操作，對(duì)于印刷電路板上分布密集、間距窄小的電路走線來說，操作起來都非常困難，而且極易造成不希望的、難以發(fā)現(xiàn)的短路和斷路，帶來不可忽視的副作用；再者，對(duì)于內(nèi)層走線的多層PCB板而言，割線和飛線的操作根本無法實(shí)施。還有，這樣的操作不可能多次重復(fù)。另外，割線和飛線還大大增加印刷電路板的不可靠性，所以調(diào)試之后仍然需要重新制板。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于；克服現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷；為了提高對(duì)印刷電路板調(diào)試的操作可靠性、故障定位的準(zhǔn)確性及印刷電路板的完整性；從而提供一種適用于雙列直插封裝芯片的、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的電路板調(diào)試裝置，以及提供一種方便快速的進(jìn)行雙列直插封裝芯片的電路板調(diào)試的方法。
為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種電路板調(diào)試裝置，包括固定插針插座，其特征在于，還包括插針和活動(dòng)插針插座；所述固定插針插座為通用的雙列直插插座，所述活動(dòng)插針插座有可拔出的插針，所述固定插針插座的插針上有供雙列直插封裝的集成電路芯片插入的插孔。使用時(shí)固定插針插座位于裝置的底層，焊接到印刷電路板上；活動(dòng)插針插座插接到固定插針插座之上。
在上述方案中，所述的活動(dòng)插針插座為通用的雙列直插插座，將其插針拔出形成插孔，單根插針備用；或者利用不帶插針的雙列直插插座和單個(gè)插針組合，將單個(gè)插針根據(jù)調(diào)試需要選擇性地插在普通插座上。
在上述方案中，所述的固定插針插座和活動(dòng)插針插座的管腳數(shù)量，與所調(diào)試的雙列直插封裝的集成電路芯片的封裝形式對(duì)應(yīng)。
在上述方案中，所述的插針形狀，與各種雙列直插封裝的芯片的管腳形狀對(duì)應(yīng)。
在上述方案中，插針形狀為圓柱插針。
在上述方案中，插針形狀為扁平插針。
在上述方案中，所述的插針為金屬材質(zhì)，所述的固定插針插座和活動(dòng)插針插座的支撐結(jié)構(gòu)為絕緣材料制作的。
本發(fā)明還提供的一種使用電路板調(diào)試裝置的進(jìn)行電路板調(diào)試方法，包括以下步驟a)在調(diào)試電路板的時(shí)，把電路板調(diào)試裝置的固定插針插座直接焊接到電路板上，不使用該裝置的活動(dòng)插針插座，雙列直插封裝的集成電路芯片直接插入固定插針插座，進(jìn)行電路板的測(cè)量和調(diào)試；b)當(dāng)發(fā)現(xiàn)與該芯片的管腳有關(guān)的電路走線呈現(xiàn)不正常的電平時(shí)，拔出芯片，將電路板調(diào)試裝置的活動(dòng)插針插座插入固定插針插座，并拔出其中對(duì)應(yīng)于錯(cuò)誤電平的插針，拔去所述活動(dòng)插針插座中的插針后，插入所述電路板調(diào)試裝置的芯片有對(duì)應(yīng)拔出插針的管腳懸空，懸空的所述管腳不與固定插針插座接觸；最后將雙列直插的集成電路芯片插入電路板調(diào)試裝置的活動(dòng)插針插座，然后分開進(jìn)行測(cè)量和分析。
c)當(dāng)問題排除以后，再次拔出活動(dòng)插針插座，把雙列直插的集成電路芯片直接插入本發(fā)明所述的固定插針插座。
由上可知，本發(fā)明的一種電路板調(diào)試裝置，采用固定插針插座和活動(dòng)插針插座兩層，活動(dòng)插針插座具有可拔出的插針，測(cè)量時(shí)，拔出的插針的管腳懸空，且不與固定插座接觸，電路阻斷，所以應(yīng)用該裝置，無論是對(duì)集成電路芯片還是印刷電路板都沒有破壞，從而提高了電路板的調(diào)試效果，避免了由于調(diào)試引入的對(duì)芯片或電路板的破壞，減少了多次制板的費(fèi)用；并可以準(zhǔn)確定位故障發(fā)生的位置；此外，懸空的芯片管腳易于示波器和邏輯分析儀的探頭固定，利于測(cè)量。


圖1a為本發(fā)明所提供的電路板調(diào)試裝置的固定插針插座俯視圖；圖1b為本發(fā)明所提供的電路板調(diào)試裝置的固定插針插座左視圖；圖1c為本發(fā)明所提供的電路板調(diào)試裝置的固定插針插座側(cè)視圖；圖1d為本發(fā)明所提供的電路板調(diào)試裝置的固定插針插座立體圖；圖2a為本發(fā)明所提供的電路板調(diào)試裝置的頂層插座俯視圖；圖2b為本發(fā)明所提供的電路板調(diào)試裝置的頂層插座左視圖；圖2c為本發(fā)明所提供的電路板調(diào)試裝置的頂層插座側(cè)視圖；圖2d為本發(fā)明所提供的電路板調(diào)試裝置的頂層插座立體圖，圖中還有一根活動(dòng)插針插入插座的示意；圖3為本發(fā)明所提供的電路板調(diào)試裝置的整體組裝圖；圖4為使用本發(fā)明的電路板調(diào)試裝置進(jìn)行調(diào)試時(shí)拔出某個(gè)插針的示意；圖5為使用本發(fā)明的電路板調(diào)試裝置對(duì)某一電路進(jìn)行調(diào)試過程中的3個(gè)檢測(cè)步驟示意圖。
圖面說明1-活動(dòng)插針插座；10＝活動(dòng)插針，即活動(dòng)插針插座的活動(dòng)插針；2-固定插針插座；20-固定插針，即固定插針插座的固定插針。
具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)地說明參考圖1-4，制作一對(duì)雙列直插封裝芯片的電路板進(jìn)行調(diào)試的電路板調(diào)試裝置，包括一以絕緣材料為支撐結(jié)構(gòu)的固定插針插座2和活動(dòng)插針插座1，均為商場(chǎng)上購買的通用的雙列直插插座，活動(dòng)插針插座1的插孔中有可拔出的活動(dòng)插針10，固定插針插座2位于裝置的底層，有金屬固定插針20，焊接到印刷電路板上；活動(dòng)插針插座1插接到固定插針插座2之上，所述插針上的插孔供雙列直插封裝的集成電路芯片插入。
本發(fā)明所提到的電路板調(diào)試裝置，是以普通的雙列直插封裝芯片插座為基礎(chǔ)而制作的。本發(fā)明所提到的活動(dòng)插針插座的制作方法有兩種(1)采用普通的雙列直插封裝芯片插座，但該插座上的插針是固定的，不能活動(dòng)，所以只要手工將插針拔出，根據(jù)調(diào)試的需要選擇性的插入插座即可；或者在廠家生產(chǎn)插座的時(shí)候，使得插針是活動(dòng)、可以自由拔出和插入。
(2)還有一種辦法是，不對(duì)插座本身的結(jié)構(gòu)進(jìn)行任何的改動(dòng)和破壞，只要準(zhǔn)備足夠多的單個(gè)插針，根據(jù)調(diào)試需要選擇性地插在雙列直插封裝芯片插座(某些管腳的插針不插入)，芯片插在這些活動(dòng)的單個(gè)插針上，進(jìn)行調(diào)試即可。
本發(fā)明所述的裝置，與每一種雙列直插封裝的集成電路芯片相對(duì)應(yīng)。由于管腳數(shù)量的不同，雙列直插封裝有多種形式，如DIP-8，DIP-16，DIP-28等等，本發(fā)明的電路板調(diào)試裝置與各種雙列直插的封裝形式對(duì)應(yīng)，也有DIP-8，DIP-16，DIP-28等等。
使用本實(shí)施例的電路板調(diào)試裝置進(jìn)行檢測(cè)調(diào)試的方法，包括以下步驟a)在調(diào)試電路板的時(shí)，把電路板調(diào)試裝置的固定插針插座直接焊接到電路板上，不使用該裝置的活動(dòng)插針插座，雙列直插封裝的集成電路芯片直接插入固定插針插座，進(jìn)行電路板的測(cè)量和調(diào)試；b)當(dāng)發(fā)現(xiàn)與該芯片的管腳有關(guān)的電路走線呈現(xiàn)不正常的電平時(shí)，拔出芯片，將電路板調(diào)試裝置的活動(dòng)插針插座插入固定插針插座，并拔出其中對(duì)應(yīng)于錯(cuò)誤電平的插針，最后將雙列直插的集成電路芯片插入電路板調(diào)試裝置的活動(dòng)插針插座，然后分開進(jìn)行測(cè)量和分析。這樣集成電路芯片的管腳與出現(xiàn)問題的走線斷路，達(dá)到了割線的效果；c)當(dāng)問題排除以后，再次拔出活動(dòng)插針插座，把雙列直插的集成電路芯片直接插入本發(fā)明所述的固定插針插座。
參考圖5，圖5a-c所示的電路檢測(cè)過程示意圖(某塊電路板的局部)，使用本實(shí)施例的電路板調(diào)試裝置進(jìn)行檢測(cè)調(diào)試的方法的具體步驟其中被調(diào)試的電路板是一個(gè)雙列直插封裝的FIFO(先入先出存儲(chǔ)器)IDT7203。
(1)首先，該器件直接插在本發(fā)明所述裝置的固定插針插座上進(jìn)行測(cè)量；假設(shè)在調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn)該電路中與FIFO的Q4管腳相連接的走線電平異常，這時(shí)候很難判斷是FIFO本身有問題，還是走線的問題，還是接收FIFO輸出的器件的問題。
(2)拔出FIFO芯片，插入本發(fā)明所述裝置的頂層插座，并拔出與Q4管腳對(duì)應(yīng)的插針，再插入FIFO芯片；此時(shí)，F(xiàn)IFO的Q4管腳懸空，與印刷電路板上的走線斷開；這時(shí)進(jìn)行測(cè)量，可以定位走線電平異常的根源。
(3)在排除故障后，拔出頂層插座，將FIFO器件直接插入固定插針插座。
以上的操作可以多次重復(fù)。
綜上所述，本發(fā)明的一種電路板調(diào)試裝置采用固定插針插座和活動(dòng)插針插座兩層，活動(dòng)插針插座具有可拔出的插針，測(cè)量時(shí)，拔出的插針的管腳懸空，且不與固定插座接觸，電路阻斷，所以應(yīng)用該裝置，無論是對(duì)集成電路芯片還是印刷電路板都沒有破壞，從而提高了電路板的調(diào)試效果，避免了由于調(diào)試引入的對(duì)芯片或電路板的破壞，減少了多次制板的費(fèi)用；并可以方便可靠的對(duì)使用雙列直插封裝芯片的印刷電路板進(jìn)行調(diào)試，定位故障發(fā)生的位置；同時(shí)保證印刷電路板的完整性和可靠性。此外，懸空的芯片管腳易于示波器和邏輯分析儀的探頭固定，利于測(cè)量。
最后應(yīng)說明的是以上實(shí)施例僅用以說明而非限制本發(fā)明的技術(shù)方案，盡管參照上述實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解依然可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本發(fā)明的精神和范圍的任何修改或局部替換，其均應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。
權(quán)利要求
1.一種電路板調(diào)試裝置，包括固定插針插座，其特征在于，還包括插針和活動(dòng)插針插座；所述固定插針插座為通用的雙列直插插座，所述活動(dòng)插針插座有可拔出的插針，所述固定插針插座的插針上有供雙列直插封裝的集成電路芯片插入的插孔。
2.如權(quán)利要求1所述的電路板調(diào)試裝置，其特征在于，所述的活動(dòng)插針插座為通用的雙列直插插座，將其插針拔出形成插孔，單根插針備用。
3.如權(quán)利要求1所述的電路板調(diào)試裝置，其特征在于，所述的活動(dòng)插針插座為利用不帶插針的雙列直插插座和單個(gè)插針組合，將單個(gè)插針根據(jù)調(diào)試需要選擇性地插在普通插座上。
4.如權(quán)利要求1所述的電路板調(diào)試裝置，其特征在于，所述固定插針插座和活動(dòng)插針插座的管腳數(shù)量，與每一種雙列直插封裝的集成電路芯片的封裝形式對(duì)應(yīng)。
5.如權(quán)利要求1所述的電路板調(diào)試裝置，其特征在于，所述固定插針插座和活動(dòng)插針插座的的插針形狀，與各種雙列直插封裝的芯片的管腳形狀對(duì)應(yīng)。
6.如權(quán)利要求5所述的電路板調(diào)試裝置，其特征在于，插針形狀為圓柱插針。
7.如權(quán)利要求5所述的電路板調(diào)試裝置，其特征在于，插針形狀為扁平插針。
8.如權(quán)利要求1所述的電路板調(diào)試裝置，其特征在于，所述電路板調(diào)試裝置的插針為金屬材質(zhì)，所述的電路板調(diào)試裝置插座的支撐結(jié)構(gòu)為絕緣材料。
9.一種使用權(quán)利要求1所述的電路板調(diào)試裝置進(jìn)行電路板調(diào)試方法，包括以下步驟a)在調(diào)試電路板時(shí)，把電路板調(diào)試裝置的固定插針插座直接焊接到電路板上，不使用該裝置的活動(dòng)插針插座，雙列直插封裝的集成電路芯片直接插入固定插針插座，進(jìn)行電路板的測(cè)量和調(diào)試；b)當(dāng)發(fā)現(xiàn)與該芯片的管腳有關(guān)的電路走線呈現(xiàn)不正常的電平時(shí)，拔出芯片，將電路板調(diào)試裝置的活動(dòng)插針插座插入固定插針插座，并拔出其中對(duì)應(yīng)于錯(cuò)誤電平的插針，拔去所述活動(dòng)插針插座中的插針后，插入所述電路板調(diào)試裝置的芯片有對(duì)應(yīng)拔出插針的管腳懸空，懸空的所述管腳不與固定插針插座接觸，最后將雙列直插的集成電路芯片插入電路板調(diào)試裝置的活動(dòng)插針插座，然后分開進(jìn)行測(cè)量和分析；c)當(dāng)問題排除以后，再次拔出活動(dòng)插針插座，把雙列直插的集成電路芯片直接插入本發(fā)明所述的固定插針插座。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種電路板調(diào)試裝置及進(jìn)行電路板調(diào)試的方法，包括固定插針插座和活動(dòng)插針插座兩層，固定插針插座位于裝置的底層，焊接到印刷電路板上；活動(dòng)插針插座插接到固定插針插座之上，所述活動(dòng)插針插座有可拔出的插針，所述插針上的插孔供雙列直插封裝的集成電路芯片插入。測(cè)量時(shí)，拔出的插針的管腳懸空，且不與固定插座接觸，電路阻斷，所以應(yīng)用該裝置，無論是對(duì)集成電路芯片還是印刷電路板都沒有破壞，從而提高了電路板的調(diào)試效果，避免了由于調(diào)試引入的對(duì)芯片或電路板的破壞，減少了多次制板的費(fèi)用；并可以準(zhǔn)確定位故障發(fā)生的位置；此外，懸空的芯片管腳易于示波器和邏輯分析儀的探頭固定，利于測(cè)量。
文檔編號(hào)G01R31/00GK1797002SQ20041010354
公開日2006年7月5日 申請(qǐng)日期2004年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2004年12月29日
發(fā)明者曹松, 陳斌, 沈衛(wèi)華, 陳小敏, 孫輝先 申請(qǐng)人:中國科學(xué)院空間科學(xué)與應(yīng)用研究中心