專利名稱：印刷電路板測試治具改造結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及印刷電路板測試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及印刷電路板測試治具改造結(jié)構(gòu)，其具有在不改變?cè)瓬y試針間距下，可以增加測試針布設(shè)密度。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)中，印刷電路板測試治具通常都具有數(shù)片測試板，各片測試板則視實(shí)際需要以數(shù)組固定桿組結(jié)合成一體，以實(shí)現(xiàn)測針斜率，參見圖1所示，該治具(1)包括有數(shù)片測試板(10)，各片測試板(10)中具有依據(jù)待測印刷電路板測試接點(diǎn)設(shè)置的測試針(11)，各測試針(11)二端凸伸出治具(1)，其于待測電路板端(X)，做為與待測電路板(3)待測接點(diǎn)(30)接觸，而于針床端(Y)，則做為與針床(2)的彈簧針(20)接觸，各測試針(11)并依據(jù)待測電路接點(diǎn)具有適當(dāng)?shù)男甭剩挂罁?jù)待測接點(diǎn)(30)原密度布設(shè)的待測電路板端(X)測的測試針(11)，經(jīng)適當(dāng)?shù)男甭收{(diào)整，使針床端(Y)放大測試針(11)間距。現(xiàn)有技術(shù)中針床端(Y)的測試針布設(shè)為等矩陣布設(shè)，參見圖2所示，各相鄰測試針(11)的間距均為A，但對(duì)角間距則為C(且C必然大于A)。此種測試針的布設(shè)在印刷電路板電路布局越來越精密的現(xiàn)代，已漸不敷所求，越是精密的電路布局需要越是精密的測試針布設(shè)，現(xiàn)行解決的方式是縮減測試針與測試針之間的間距，來達(dá)成增加單位面積測試針的數(shù)量，如圖所示，原測試針(11)對(duì)角間設(shè)置另組測試針(11’)，但此組增設(shè)的測試針(11’)與原測試針(11)的間距為B，且B必然小於A(亦有直接在各相鄰測試針間增設(shè)一組測試針，其間距僅有A/2，須使用小型測試針方能實(shí)施)，雖然此種結(jié)構(gòu)增加了單位面積測試針的設(shè)置數(shù)量，但縮小的間距使得制作須較嚴(yán)謹(jǐn)?shù)木芏纫?，且間距越小、針型越小其制作費(fèi)用越高，間距小亦會(huì)產(chǎn)生相鄰測試針電氣接觸的缺點(diǎn)。此即為現(xiàn)有技術(shù)存有最大之缺失，此缺失乃成為該業(yè)界亟待克服的難題。

發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是提供一種印刷電路板測試治具改造結(jié)構(gòu)，以彌補(bǔ)現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足。
本實(shí)用新型是按如下的方式來實(shí)現(xiàn)的一種印刷電路板測試治具改造結(jié)構(gòu)，主要包括有數(shù)片測試板，各片測試板中具有依據(jù)待測印刷電路板測試接點(diǎn)設(shè)置日測試針，各測試針二端凸伸出治具，其于待測電路板端，做為與待測電路板待測接點(diǎn)接觸，而于針床端，則做為與針床的彈簧針接觸，各測試針并依據(jù)待測電路接點(diǎn)具有道當(dāng)?shù)男甭?，該治具針床端上測試針與測試針之間為等距布設(shè)，具有在不改變?cè)瓬y試針間距下，增加單位面積測試針布設(shè)密度。
本實(shí)用新型印刷電路板測試治具改造結(jié)構(gòu)積極效果是由于采用了本設(shè)計(jì)方案，該治具針床端(Y)上測試針(11)與測試針(11)間為等距布設(shè)，其具有在不改變?cè)瓬y試針(11)間距下，增加單位面積測試針(11)布設(shè)密度，解決了該業(yè)界亟待克服的難題，其結(jié)構(gòu)簡單，成本低廉，便于推廣和應(yīng)用。



圖1為印刷電路板測試治具組立剖面圖。
圖2為現(xiàn)有技術(shù)中治具針床端測試針布設(shè)圖。
圖3為本實(shí)用新型治具針床端測試針布設(shè)圖。
圖中，(1)治具(10)測試板(11)(11’)測試針(2)針床(20)彈簧針(3)待測電路板(30)待測接點(diǎn)(X)待測電路板端(Y)針床端(A)(B)(C)間距
以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步說明。
具體實(shí)施方式
如圖1、圖3所示，本實(shí)用新型印刷電路板測試治具改造結(jié)構(gòu)的實(shí)施例中，治具(1)包括有數(shù)片測試板(10)，各片測試板(10)中具有依據(jù)待測印刷電路板測試點(diǎn)設(shè)置的測試針(11)，各測試針(11)二端凸伸出治具(1)，其于待測電路板端(X)，作為與待測電路板(3)的待測接點(diǎn)(30)接觸，而于治具針床端(Y)，則做為與針床(2)的彈簧針(20)接觸，各測試針(11)并依據(jù)待測接點(diǎn)(30)具有適當(dāng)?shù)男甭?，使依?jù)待測接點(diǎn)(30)原密度布設(shè)的待測電路板端(X)測試針(11)，經(jīng)適當(dāng)斜率調(diào)整，而能在針床端(Y)放大測試針(11)間距。
如圖2、圖3所示，各測試針(11)間距為A，但是由于圖2中的現(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)角測試針間距為C，且C大于A，故整體單位面積在本實(shí)施例中測試針密度(圖3所示)明顯較現(xiàn)有技術(shù)中(圖2所示)測試針為大，且在相同間距布設(shè)情況下，故本實(shí)施例具有在不改變?cè)瓬y試針(11)間距下，增加單位面積測試針(11)布設(shè)密度，對(duì)于布局較精密的印刷電路板特別具有其實(shí)用性。
如此而達(dá)到本實(shí)用新型印刷電路板測試治具改造結(jié)構(gòu)的目的。
權(quán)利要求1.一種印刷電路板測試治具改造結(jié)構(gòu)，其主要包括有數(shù)片測試板，各片測試板中具有依據(jù)待測印刷電路板測試接點(diǎn)設(shè)置的測試針，各測試針二端凸伸出治具，其于待測電路板端，做為與待測電路板待測接點(diǎn)接觸，而于針床端，則做為與針床的彈簧針接觸，各測試針并依據(jù)待測接點(diǎn)具有適當(dāng)?shù)男甭剩涮卣髟谟谠撝尉哚槾捕松细飨噜彍y試針與測試針間為等距布設(shè)。
專利摘要本實(shí)用新型涉及的一種印刷電路板測試治具改造結(jié)構(gòu)，其主要包括有數(shù)片測試板，各片測試板中具有依據(jù)待測印刷電路板測試接點(diǎn)設(shè)置的測試針，各測試針二端凸伸出治具。其于待測電路板端，做為與待測電路板待測接點(diǎn)接觸，而于針床端，則作為與針床的彈簧針接觸，各測試針并依據(jù)待測電路接點(diǎn)具有適當(dāng)?shù)男甭?，該針床端上測試針與測試針之間為等距布設(shè)，具有在不改變?cè)瓬y試針間距下，增加測試針布設(shè)密度。本實(shí)用新型解決了該業(yè)界亟待克服的難題，其結(jié)構(gòu)簡單，成本低廉，便于推廣和應(yīng)用。
文檔編號(hào)G01R31/28GK2735347SQ20042008489
公開日2005年10月19日 申請(qǐng)日期2004年8月9日 優(yōu)先權(quán)日2004年8月9日
發(fā)明者林東熙, 張信榮 申請(qǐng)人:自然興電通科技股份有限公司