專利名稱：熱分析設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種熱分析設(shè)備，其能夠在熱分析過(guò)程中避免由疏忽導(dǎo)致的不可預(yù)料的失敗，并以更低的存儲(chǔ)容量從樣本采集諸如樣本圖像以及樣本譜等的電磁波數(shù)據(jù)，并且能夠使電磁波的探測(cè)結(jié)果與熱分析結(jié)果容易地相互聯(lián)系。
背景技術(shù)：
熱分析是一項(xiàng)根據(jù)預(yù)定方案改變樣本的溫度，與此同時(shí)測(cè)量樣本的作為溫度的函數(shù)的某一物理特性的技術(shù)。隨著溫度的變化，樣本發(fā)生諸如熔化、蒸發(fā)等相變，以及諸如膨脹、收縮等形變。要想對(duì)樣本的狀態(tài)變化做廣泛的、更為深入的分析，可以保存所述相變或形變前后的來(lái)自樣本的諸如樣本圖像的電磁波數(shù)據(jù)，從而連同熱分析數(shù)據(jù)對(duì)其進(jìn)行分析。
在常規(guī)熱分析設(shè)備中，將樣本圖像存儲(chǔ)在用于連續(xù)記錄的諸如視頻磁帶記錄器等的媒質(zhì)內(nèi)，而且不對(duì)存儲(chǔ)容量和熱分析結(jié)果之間的相互關(guān)聯(lián)做具體考慮(例如，參見JP-A-8-327573(第2到3頁(yè)，圖1))。

發(fā)明內(nèi)容
在熱分析過(guò)程中，通常在一小時(shí)或更長(zhǎng)的長(zhǎng)時(shí)間段內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，但是作為樣本的狀態(tài)變化分析的關(guān)鍵的相變和形變只會(huì)以離散的方式發(fā)生幾次。因此，沒有必要在熱分析測(cè)量時(shí)間的整個(gè)范圍內(nèi)連續(xù)保存電磁波數(shù)據(jù)。
在常規(guī)熱分析設(shè)備中，由于將樣本圖像等存儲(chǔ)在視頻磁帶記錄器等內(nèi)，因而是在整個(gè)測(cè)量時(shí)間范圍內(nèi)對(duì)其進(jìn)行記錄。在對(duì)這些圖像進(jìn)行數(shù)字化，從而將其與熱分析數(shù)據(jù)結(jié)合以實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單處理時(shí)，需要非常大的存儲(chǔ)容量，這將對(duì)處理樣本圖像等以及熱分析數(shù)據(jù)的計(jì)算機(jī)的資源和處理能力提出過(guò)高的要求，從而導(dǎo)致問(wèn)題。
在使樣本圖像等和熱分析數(shù)據(jù)相互結(jié)合以生成報(bào)告等的情況下，還將導(dǎo)致這樣的一個(gè)問(wèn)題，即必須結(jié)合多個(gè)商用軟件對(duì)其加以使用，并且所述工作連同大容量的樣本圖像一起需要花費(fèi)相當(dāng)長(zhǎng)的時(shí)間。另一方面，為了在存儲(chǔ)容量方面限制樣本圖像，可以采用這樣一種方法，即在測(cè)量過(guò)程中對(duì)樣本圖像進(jìn)行肉眼觀察，與此同時(shí)指示存儲(chǔ)其的必要位置，但是由于必須對(duì)樣本圖像進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的肉眼觀察，因此導(dǎo)致了給使用者造成非常大的負(fù)擔(dān)的問(wèn)題。
本發(fā)明的目的在于解決所述問(wèn)題，以及提供一種熱分析設(shè)備，其中，即使在一小時(shí)或更長(zhǎng)的長(zhǎng)時(shí)間段內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，也會(huì)使使用者在圖像采集中只承受較小的負(fù)擔(dān)，并且能夠在避免由于疏忽導(dǎo)致的失敗的情況下以較小的存儲(chǔ)容量采集樣本圖像。此外，本發(fā)明的目的還在于提供一種熱分析設(shè)備，其中，即使在測(cè)量之后將樣本圖像與熱分析數(shù)據(jù)相結(jié)合以生成報(bào)告等時(shí)，也能夠從很多樣本圖像中迅速提取所關(guān)注的與該熱分析數(shù)據(jù)點(diǎn)相關(guān)的樣本圖像，從而容易地生成報(bào)告。
而且，上述目的不限于樣本圖像，在執(zhí)行諸如波數(shù)譜和頻譜采集的熱分析以及伴隨溫度變化的電磁波分析的情況下，所述目的同樣適用，其中，所述波數(shù)譜和頻譜在熱分析過(guò)程中表征樣本的成分和結(jié)構(gòu)。
為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種熱分析設(shè)備，所述熱分析設(shè)備除了包括通常的熱分析設(shè)備所具有的構(gòu)造外，還包括采集電磁波數(shù)據(jù)的電磁波數(shù)據(jù)采集機(jī)構(gòu)，所述電磁波數(shù)據(jù)是通過(guò)探測(cè)來(lái)自樣本的電磁波并對(duì)其數(shù)字化得到的；電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)，其設(shè)置用于電磁波數(shù)據(jù)的采集的觸發(fā)器；電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)，其根據(jù)由電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)設(shè)置的觸發(fā)器控制電磁波數(shù)據(jù)的采集；以及保存所采集的電磁波數(shù)據(jù)的電磁波數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)，其中，所述的通常的熱分析設(shè)備的構(gòu)造包括對(duì)樣本加熱的加熱爐、探測(cè)樣本溫度的溫度傳感器、探測(cè)隨溫度變化而變化的樣本物理量的物理量傳感器、控制加熱爐的溫度的溫度控制器和熱分析數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)，所述熱分析數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)將每隔適當(dāng)?shù)臅r(shí)間間隔采樣的來(lái)自所述溫度傳感器和物理量傳感器的一組信號(hào)作為熱分析數(shù)據(jù)保存。
由電磁波數(shù)據(jù)采集機(jī)構(gòu)采集的那些來(lái)自樣本電磁波的波長(zhǎng)對(duì)象和電磁波數(shù)據(jù)包括其對(duì)象為可見光的樣本圖像、其對(duì)象為波長(zhǎng)比可見光的長(zhǎng)的紅外線等的樣本圖像或其對(duì)象為波長(zhǎng)比可見光的短的紫外線等的樣本圖像。而且，在某些情況下，由電磁波數(shù)據(jù)采集機(jī)構(gòu)采集的電磁波數(shù)據(jù)包括所謂的譜，其輸出各波長(zhǎng)分量或各頻率分量的強(qiáng)度。
觸發(fā)器規(guī)定采集電磁波數(shù)據(jù)的定時(shí)，并且設(shè)置捕捉電磁波數(shù)據(jù)的變化的定時(shí)，或者確認(rèn)熱分析數(shù)據(jù)的某一點(diǎn)上的電磁波數(shù)據(jù)的定時(shí)。具體而言，將下述內(nèi)容設(shè)為觸發(fā)器。
(a)測(cè)量開始之后的具體時(shí)間，或者時(shí)間間隔。在這種情況下，可以在電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)中輸入諸如“測(cè)量開始10分鐘之后，測(cè)量開始12分鐘之后，以及測(cè)量開始后每隔5分鐘”等的觸發(fā)器，并且可以設(shè)置多個(gè)觸發(fā)器。
(b)溫度傳感器輸出的具體溫度或某一時(shí)間間隔。在這種情況下，在電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)內(nèi)輸入諸如“100℃、150℃和257℃，以及在100℃到250℃的范圍內(nèi)每隔5℃”等的觸發(fā)器，并且可以設(shè)置多個(gè)觸發(fā)器。
(c)物理量傳感器輸出的具體值或某一具體間隔。例如，在作為一種熱分析設(shè)備的熱機(jī)械分析設(shè)備中，由物理值傳感器捕捉的值為樣本長(zhǎng)度或伸長(zhǎng)率·收縮率的比率，此時(shí)，在電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)中輸入“500μm、750μm以及在800μm到1500μm的范圍內(nèi)每隔100μm”或“90％、100％、130％以及在150％到200％的范圍內(nèi)每隔10％”等作為觸發(fā)器。而且，在作為另一種熱分析設(shè)備的差示掃描量熱計(jì)中，物理值傳感器所捕捉的值為進(jìn)出樣本的熱值與進(jìn)出參考物質(zhì)的熱值之間的差，此時(shí)，在電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)中輸入“100μW、150μW以及在300μW到800μW的范圍內(nèi)每隔50μW”等作為觸發(fā)器，因而有可能設(shè)置多個(gè)觸發(fā)器。
(d)某一區(qū)域的起點(diǎn)或終點(diǎn)，在所述區(qū)域內(nèi)，物理值傳感器的輸出的微分在預(yù)定時(shí)間段或更長(zhǎng)的時(shí)間段內(nèi)穩(wěn)定于某一范圍內(nèi)。例如，在熱機(jī)械分析設(shè)備中，微分的單位為μm/s，在電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)內(nèi)輸入“處于±0.02μm/s之內(nèi)1分鐘或更長(zhǎng)”等作為微分范圍和預(yù)定時(shí)間長(zhǎng)度。在差示掃描量熱計(jì)中，微分的單位為μW/s，在電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)內(nèi)輸入“處于±0.02μW/s之內(nèi)1分鐘或更長(zhǎng)”等作為微分范圍。
此外，除了上述機(jī)構(gòu)外，還可以提供電磁波數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)機(jī)構(gòu)，其將生成觸發(fā)器時(shí)保存的電磁波數(shù)據(jù)與生成所述觸發(fā)器的熱分析數(shù)據(jù)上的位置相聯(lián)系；熱分析數(shù)據(jù)顯示機(jī)構(gòu)，其在CRT等上以曲線圖的形式顯示保存在熱分析數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)內(nèi)的熱分析數(shù)據(jù)；熱分析數(shù)據(jù)位置指示機(jī)構(gòu)，其指示顯示于熱分析數(shù)據(jù)顯示機(jī)構(gòu)上的熱分析數(shù)據(jù)曲線圖的任意點(diǎn)；電磁波數(shù)據(jù)指定機(jī)構(gòu)，其根據(jù)由熱分析數(shù)據(jù)位置指示機(jī)構(gòu)和電磁波數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)機(jī)構(gòu)指示的位置關(guān)系，從保存在電磁波數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)內(nèi)的電磁波數(shù)據(jù)當(dāng)中指定位于所述熱分析數(shù)據(jù)曲線圖上的指示位置附近的電磁波數(shù)據(jù)；以及電磁波數(shù)據(jù)成分輸出機(jī)構(gòu)，其組織所指定的作為樣本圖像、頻譜等的電磁波數(shù)據(jù)，并將其輸入到所述的熱分析數(shù)據(jù)曲線圖等的附近。
這時(shí)，電磁波數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)機(jī)構(gòu)存儲(chǔ)保存電磁波數(shù)據(jù)的時(shí)間或樣本溫度等作為與熱分析數(shù)據(jù)之間的關(guān)系的密鑰，并存儲(chǔ)電磁波數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)內(nèi)的存儲(chǔ)單元標(biāo)識(shí)符，例如，文件系統(tǒng)中的文件名和數(shù)據(jù)庫(kù)中的記錄主密鑰等，從而對(duì)應(yīng)于時(shí)間或樣本溫度確定電磁波數(shù)據(jù)。
而且，這時(shí)，熱分析數(shù)據(jù)位置指示機(jī)構(gòu)包括指示在CRT等上顯示的熱分析數(shù)據(jù)的位置的諸如鼠標(biāo)、鍵盤等的用戶接口，以及將來(lái)自所述用戶接口的輸入轉(zhuǎn)化為熱分析數(shù)據(jù)上的樣本溫度和時(shí)間的機(jī)構(gòu)。


圖1是示出了本發(fā)明的構(gòu)造的圖示。
圖2是示出了用于獲取樣本圖像的電磁波數(shù)據(jù)采集機(jī)構(gòu)的構(gòu)造的圖示。
圖3是示出了熱機(jī)械分析中的物理值的微分觸發(fā)器的圖示。
圖4是示出了差示掃描熱量分析中的物理值的微分觸發(fā)器的圖示。
圖5是示出了熱分析數(shù)據(jù)的位置指示和所指定的電磁波數(shù)據(jù)的圖示。
圖6是示出了對(duì)電磁波數(shù)據(jù)進(jìn)行組織和輸出的第一實(shí)例的圖示。
圖7是示出了對(duì)電磁波數(shù)據(jù)進(jìn)行組織和輸出的第二實(shí)例的圖示。
圖8是示出了進(jìn)一步采用了根據(jù)本發(fā)明的電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)的構(gòu)造的一部分的圖示。
圖9是示出了在圖8所示的構(gòu)造中，熱機(jī)械分析中的物理值的微分觸發(fā)器的圖示。
具體實(shí)施例方式
在按上述方式構(gòu)建的熱分析設(shè)備中，通過(guò)設(shè)定觸發(fā)器探測(cè)來(lái)自樣本的電磁波的變化，所述觸發(fā)器易于在來(lái)自樣本的電磁波內(nèi)產(chǎn)生變化。
就來(lái)自樣本的電磁波在特定溫度下發(fā)生變化的情況而言，將所述溫度之前和之后的溫度設(shè)為觸發(fā)器。
此外，在熱機(jī)械分析設(shè)備中，就來(lái)自樣本的電磁波隨樣本長(zhǎng)度等的變化而發(fā)生變化的情況下，在特定樣本長(zhǎng)度下或每隔一定樣品長(zhǎng)度，或者在特定伸長(zhǎng)·收縮比率下或每隔一定伸長(zhǎng)·收縮比率設(shè)定多個(gè)觸發(fā)器。
此外，在熱機(jī)械分析設(shè)備中，隨著樣品長(zhǎng)度以等速膨脹，如果膨脹速度發(fā)生變化，或在類似情況下，來(lái)自樣本的電磁波將產(chǎn)生變化，在這種情況下，將樣本長(zhǎng)度的微分在預(yù)定時(shí)間長(zhǎng)度或更長(zhǎng)的時(shí)間范圍內(nèi)穩(wěn)定于某一范圍內(nèi)的區(qū)域的起點(diǎn)或終點(diǎn)設(shè)為觸發(fā)器。樣本長(zhǎng)度的微分值穩(wěn)定在一個(gè)恒定值上，在該值處，樣本長(zhǎng)度以等速膨脹。微分值在膨脹速度發(fā)生變化的位置產(chǎn)生變化，但是在預(yù)定值處，膨脹速度變得穩(wěn)定，所述微分也變得穩(wěn)定。在將一個(gè)區(qū)域(其中，微分在膨脹速度變化之前保持穩(wěn)定)的終點(diǎn)和一個(gè)區(qū)域(其中，微分在膨脹速度變化之后變得穩(wěn)定)的起點(diǎn)設(shè)為觸發(fā)器時(shí)，有可能獲得樣本膨脹速度變化之前和之后的電磁波數(shù)據(jù)。在差示掃描量熱計(jì)中，當(dāng)來(lái)自樣本的電磁波隨著樣本的熔化而產(chǎn)生變化的情況下，將熱量差的微分在預(yù)定時(shí)間段或更長(zhǎng)的時(shí)間范圍內(nèi)穩(wěn)定于某一范圍內(nèi)的區(qū)域的起點(diǎn)或終點(diǎn)設(shè)為觸發(fā)器。在樣本開始熔化之前，熱量差保持平衡，熱量差的微分仍然穩(wěn)定于某一范圍內(nèi)。在熔化開始時(shí)，熱量差沿?zé)崃苛魅霕颖镜姆较蜃兓?，熱量差增大，因而熱量差的微分也發(fā)生變化。隨著熔化的結(jié)束，熱量差返回到平衡狀態(tài)，熱量差的微分又變?yōu)樵谀骋环秶鷥?nèi)保持穩(wěn)定。在將一個(gè)區(qū)域(其中，微分在熔化之前保持穩(wěn)定)的終點(diǎn)和一個(gè)區(qū)域(其中，微分在熔化之后變得穩(wěn)定)的起點(diǎn)設(shè)為觸發(fā)器時(shí)，有可能獲取熔化之前和之后的電磁波數(shù)據(jù)。
此外，在來(lái)自樣本的電磁波的變化無(wú)法指示樣本溫度和物理值的變化，或者不能預(yù)測(cè)來(lái)自樣本的電磁波的變化的情況下，將具有適當(dāng)間隔的時(shí)間設(shè)為觸發(fā)器。
當(dāng)在電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)內(nèi)設(shè)置對(duì)應(yīng)于來(lái)自樣本的電磁波數(shù)據(jù)的變化的觸發(fā)器時(shí)，利用電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)探測(cè)電磁波的變化，以確定在測(cè)量過(guò)程中是否確立了與觸發(fā)器保持一致的條件，在與所設(shè)置的觸發(fā)器相符的情況下，使電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)命令電磁波數(shù)據(jù)探測(cè)機(jī)構(gòu)采集電磁波數(shù)據(jù)，并將采集到的電磁波數(shù)據(jù)傳送至電磁波數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)，從而將其保存在該機(jī)構(gòu)內(nèi)。
此外，在與電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)內(nèi)設(shè)置的觸發(fā)器相符時(shí)，電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)命令電磁波數(shù)據(jù)采集機(jī)構(gòu)采集電磁波數(shù)據(jù)，并將采集到的電磁波數(shù)據(jù)傳輸至電磁波數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)機(jī)構(gòu)。接收到所述數(shù)據(jù)之后，電磁波數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)機(jī)構(gòu)將由溫度傳感器輸出的當(dāng)前時(shí)間或樣本溫度與某一文件名相聯(lián)系，所述文件名用于在存儲(chǔ)電磁波數(shù)據(jù)的電磁波數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)上對(duì)電磁波數(shù)據(jù)做出標(biāo)識(shí)。在要對(duì)熱分析數(shù)據(jù)進(jìn)行分析時(shí)，在CRT上顯示保存在熱分析數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)內(nèi)的熱分析數(shù)據(jù)。在希望確認(rèn)熱分析數(shù)據(jù)上的奇點(diǎn)，例如由差示掃描量熱計(jì)測(cè)得的指示樣本幾乎熔化的電磁波數(shù)據(jù)上的奇點(diǎn)的情況下，用戶采用熱分析數(shù)據(jù)位置指示機(jī)構(gòu)指示所述奇點(diǎn)。熱分析數(shù)據(jù)位置指示機(jī)構(gòu)將所述奇點(diǎn)轉(zhuǎn)換為樣本溫度和時(shí)間，并將其傳送至電磁波數(shù)據(jù)指定機(jī)構(gòu)。電磁波數(shù)據(jù)指定機(jī)構(gòu)將輸入的樣本溫度和時(shí)間與電磁波數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)機(jī)構(gòu)內(nèi)的樣本溫度和時(shí)間相比較，從而將電磁波數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)上的電磁波數(shù)據(jù)的標(biāo)識(shí)符傳輸至電磁波數(shù)據(jù)成分輸出機(jī)構(gòu)，其中，使所述標(biāo)識(shí)符對(duì)應(yīng)于最接近的樣本溫度和時(shí)間。接收到所述電磁波數(shù)據(jù)標(biāo)識(shí)符之后，電磁波數(shù)據(jù)成分輸出機(jī)構(gòu)顯示由所述標(biāo)識(shí)符標(biāo)識(shí)的電磁波數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)上的電磁波數(shù)據(jù)，即樣本圖像、譜等，由此顯示對(duì)應(yīng)于熱分析數(shù)據(jù)上的奇點(diǎn)的電磁波數(shù)據(jù)。
將參考附圖描述本發(fā)明的實(shí)施例。圖1是示出了根據(jù)本發(fā)明的熱分析設(shè)備的構(gòu)造的圖示。用戶將樣本4放到加熱爐2中，并采用溫度控制器8控制加熱爐2的溫度，從而使樣本4產(chǎn)生預(yù)期的溫度變化。通過(guò)溫度傳感器5探測(cè)樣本4的溫度，并通過(guò)物理量傳感器3探測(cè)伴隨溫度變化而產(chǎn)生的物理值的變化。所探測(cè)的物理量隨每種熱分析技術(shù)的不同而變化，在熱機(jī)械分析設(shè)備中所探測(cè)的物理量為樣本長(zhǎng)度，在差示掃視熱量分析中所探測(cè)的物理量為進(jìn)出樣本的熱值與進(jìn)出參考物質(zhì)的熱值之間的差值。此外，在采用多項(xiàng)熱分析技術(shù)同時(shí)測(cè)量的情況下，提供多個(gè)物理量傳感器3，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)多個(gè)物理值的同時(shí)測(cè)量。在熱分析數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)9中，在用戶指定的時(shí)間間隔處，或者在由系統(tǒng)判斷的適當(dāng)?shù)臅r(shí)間間隔處對(duì)來(lái)自溫度傳感器5和物理量傳感器3的信號(hào)輸出進(jìn)行采樣，并將其作為熱分析數(shù)據(jù)予以保存，在系統(tǒng)或溫度系統(tǒng)中，或者在文件系統(tǒng)或數(shù)據(jù)系統(tǒng)中，將所述熱分析數(shù)據(jù)作為一組樣本溫度和物理量排列。
電磁波數(shù)據(jù)采集機(jī)構(gòu)1探測(cè)溫度發(fā)生變化時(shí)由樣本發(fā)射的電磁波以及由所激發(fā)的電磁波的輻射產(chǎn)生的電磁波，以采集所述電磁波的波長(zhǎng)、強(qiáng)度等數(shù)據(jù)。所探測(cè)的電磁波根據(jù)伴隨溫度的變化在樣本中探測(cè)到了何種變化而不同。在探測(cè)外觀變化的情況下，向樣本上照射可見光并探測(cè)由樣本反射的可見光，由此獲得樣本圖像。此外，在探測(cè)分子結(jié)構(gòu)和成分變化的情況下，向樣本上照射紅外光，并采集由反射或透射的紅外線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度表示的紅外光譜。圖2示出了在采集可見光樣本圖像作為電磁波數(shù)據(jù)的情況下電磁波數(shù)據(jù)采集機(jī)構(gòu)的構(gòu)造的實(shí)例。照明21向樣本23上照射可見光，照相機(jī)20探測(cè)由樣本23反射的可見光，并將其傳輸至俘獲裝置22。俘獲裝置22根據(jù)來(lái)自電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)的指令將來(lái)自照相機(jī)20的輸入轉(zhuǎn)化為數(shù)字化樣本圖像數(shù)據(jù)，從而將樣本圖像數(shù)據(jù)輸出至電磁波數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)。
電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)7允許用戶設(shè)定捕捉電磁波數(shù)據(jù)的定時(shí)，以及確認(rèn)熱分析數(shù)據(jù)的某一點(diǎn)處的電磁波數(shù)據(jù)的定時(shí)。當(dāng)熱分析數(shù)據(jù)的值滿足某一條件時(shí)，所輸入的觸發(fā)器表示電磁波數(shù)據(jù)的采集，并將該條件用于熱分析數(shù)據(jù)的變化，所述變化預(yù)示電磁波數(shù)據(jù)的變化。
在有待檢驗(yàn)電磁波數(shù)據(jù)和樣本溫度之間的關(guān)系的情況下，或者發(fā)現(xiàn)電磁波數(shù)據(jù)在某一特定溫度下發(fā)生變化的情況下，采用樣本溫度作為觸發(fā)器。在這種情況下，通過(guò)對(duì)特定溫度進(jìn)行枚舉的方式給出指示，例如“100℃、150℃和257℃下的采集”，并且可以指示間隔，例如“在100℃到250℃的范圍內(nèi)每隔5℃的采集”。
在有待檢驗(yàn)電磁波數(shù)據(jù)與物理量之間的關(guān)系的情況下，或者發(fā)現(xiàn)電磁波數(shù)據(jù)在某一特定物理量下發(fā)生變化時(shí)，則采用物理量作為觸發(fā)器。例如，在熱機(jī)械分析中，相關(guān)樣本在150％的伸長(zhǎng)率處具有屈服點(diǎn)，通過(guò)采集樣本圖像粗略確認(rèn)所述屈服點(diǎn)之前的樣本形狀，精確確認(rèn)所述屈服點(diǎn)之后的樣本形狀，在這種情況下，輸入諸如“在小于等于140％時(shí)每隔25％的采集，在大于140％時(shí)每隔5％的采集”的設(shè)置。
在有待檢驗(yàn)電磁波數(shù)據(jù)的變化與物理量隨溫度或時(shí)間的變化之間的關(guān)系的情況下，或者發(fā)現(xiàn)電磁波數(shù)據(jù)的變化與物理量隨溫度或時(shí)間的變化相關(guān)時(shí)，則利用某一區(qū)域的起點(diǎn)或終點(diǎn)，在所述區(qū)域中，作為觸發(fā)器的物理量的微分在預(yù)定時(shí)間段或更長(zhǎng)的時(shí)間段內(nèi)穩(wěn)定于某一范圍內(nèi)。例如，圖3示出了熱機(jī)械分析過(guò)程中玻璃轉(zhuǎn)變點(diǎn)之前和之后的熱分析數(shù)據(jù)，我們認(rèn)為，在玻璃轉(zhuǎn)變點(diǎn)之前和之后電磁波數(shù)據(jù)出現(xiàn)了變化，其中，在溫度升高的過(guò)程中，高聚物在所述轉(zhuǎn)變點(diǎn)處從玻璃態(tài)變?yōu)橄鹉z態(tài)。在圖3中，在溫度升高時(shí)，如樣本溫度D3所示，在熱機(jī)械分析過(guò)程中從物理量傳感器輸出的樣本長(zhǎng)度D2的變化在玻璃轉(zhuǎn)變點(diǎn)P3之前和之后發(fā)生變化。這時(shí)，樣本長(zhǎng)度D2的微分D1逐步發(fā)生變化。當(dāng)微分D1在預(yù)定時(shí)間段A2或更長(zhǎng)時(shí)間段內(nèi)處于微分范圍L1內(nèi)的情況下，其中，微分范圍L1的中心位于微分D1的某一區(qū)帶內(nèi)的平均值上，此時(shí)確定微分保持穩(wěn)定的區(qū)域，如玻璃轉(zhuǎn)變前微分穩(wěn)定區(qū)域A1和玻璃轉(zhuǎn)變后微分穩(wěn)定區(qū)域A2。在將微分變?yōu)榉€(wěn)定的區(qū)域的起點(diǎn)或終點(diǎn)指定為觸發(fā)器時(shí)，在P2和P5處采集電磁波數(shù)據(jù)，其中，P2較玻璃轉(zhuǎn)變前微分穩(wěn)定區(qū)域的終止點(diǎn)P1推后預(yù)定時(shí)間段A2，P5較玻璃轉(zhuǎn)變后微分穩(wěn)定區(qū)域的起始點(diǎn)P4推后預(yù)定時(shí)間段A2。由于需要預(yù)定時(shí)間段A2來(lái)判斷微分是否穩(wěn)定，因此，產(chǎn)生了P1和P2之間以及P4和P5之間的移位(shift)。在熱機(jī)械分析中，在采用樣本長(zhǎng)度的微分在預(yù)定時(shí)間段或更長(zhǎng)的時(shí)間段內(nèi)穩(wěn)定于某一范圍內(nèi)的區(qū)域的起點(diǎn)或終點(diǎn)作為觸發(fā)器的情況下，電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)7設(shè)定諸如“處于±0.02μm/s之內(nèi)1分鐘或更長(zhǎng)的時(shí)間段的起始點(diǎn)或終止點(diǎn)”的設(shè)置。圖4示出了差示掃描熱量分析中熔化之前和之后的熱分析數(shù)據(jù)，在熔化過(guò)程中，高聚物隨著溫度的升高而從固相變?yōu)橐合啵覀冋J(rèn)為在熔化之前和之后，電磁波數(shù)據(jù)出現(xiàn)了某些變化。具體而言，探測(cè)到了樣本圖像的變化，例如粒狀體變?yōu)橐后w的變化。在圖4中，在溫度升高時(shí)，如樣本溫度D22所示，在熔化區(qū)域A23內(nèi)，熱量差D23中出現(xiàn)了表示熱量流入樣本的吸熱峰，其中，熱量差D23是由差示掃描熱量分析中采用的物理量傳感器輸出的。這時(shí)，熱量差D23的微分D21從穩(wěn)定區(qū)下降，之后增大，并再次進(jìn)入穩(wěn)定區(qū)。當(dāng)微分D21在預(yù)定時(shí)間段A22或更長(zhǎng)時(shí)間段內(nèi)處于微分范圍L21內(nèi)的情況下，其中，微分范圍L21的中心位于微分D21的某一區(qū)帶內(nèi)的平均值上，此時(shí)確定微分保持穩(wěn)定的區(qū)域，如玻璃熔化前微分穩(wěn)定區(qū)域A21和玻璃熔化后微分穩(wěn)定區(qū)域A2。在將微分變?yōu)榉€(wěn)定的區(qū)域的起點(diǎn)或終點(diǎn)指定為觸發(fā)器時(shí)，在P22和P24處采集電磁波數(shù)據(jù)，其中，P22較玻璃熔化前微分穩(wěn)定區(qū)域的終止點(diǎn)P21推后預(yù)定時(shí)間段A22，P24較玻璃熔化后微分穩(wěn)定區(qū)域的起始點(diǎn)P23推后預(yù)定時(shí)間段A22。在差示掃描熱量分析中，在采用熱量差的微分在預(yù)定時(shí)間段或更長(zhǎng)的時(shí)間段內(nèi)穩(wěn)定于某一范圍內(nèi)的區(qū)域的起點(diǎn)或終點(diǎn)作為觸發(fā)器的情況下，電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)7設(shè)定諸如“處于±0.02μW/s之內(nèi)1分鐘或更長(zhǎng)的時(shí)間段的起始點(diǎn)或終止點(diǎn)”的設(shè)置。
在無(wú)法知道電磁波數(shù)據(jù)與樣本溫度和物理量或物理量的微分之間的關(guān)系的情況下，采用時(shí)間作為觸發(fā)器。在這種情況下，通過(guò)對(duì)具體時(shí)間進(jìn)行枚舉的方式給出指示，例如“在測(cè)量開始10分鐘后的采集，以及在測(cè)量開始12分鐘后的采集”，并且可以指示間隔，例如“自開始測(cè)量后每隔5分鐘的采集”。
電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)6在測(cè)量過(guò)程中將來(lái)自溫度傳感器5和物理量傳感器3的輸出與由電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)7設(shè)置的觸發(fā)器相比較，以確定是否滿足由當(dāng)前觸發(fā)器設(shè)定的條件。如果相符，電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)6將命令電磁波數(shù)據(jù)采集機(jī)構(gòu)1采集電磁波數(shù)據(jù)，并將所采集的電磁波數(shù)據(jù)、此時(shí)的樣本溫度和自測(cè)量開始后所經(jīng)過(guò)的時(shí)間傳送至電磁波數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)機(jī)構(gòu)10。
電磁波0數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)11保存由電磁波數(shù)據(jù)采集機(jī)構(gòu)1傳送的隨時(shí)采集的電磁波數(shù)據(jù)。在保存的目的地為文件系統(tǒng)的情況下，將隨時(shí)采集的電磁波數(shù)據(jù)保存在一個(gè)文件當(dāng)中，在保存的目的地為數(shù)據(jù)庫(kù)系統(tǒng)的情況下，將隨時(shí)采集的電磁波數(shù)據(jù)保存在一個(gè)記錄當(dāng)中。通常，由于在一次熱分析測(cè)量中需要保存多個(gè)，甚至幾十個(gè)電磁波數(shù)據(jù)，因而有可能提供表示同一熱分析測(cè)量中的電磁波數(shù)據(jù)的約定。例如，在保存的目的地為文件系統(tǒng)的情況下，有可能提供下述約定。
(a)向正在保存到熱分析數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)9中的熱分析數(shù)據(jù)文件添加熱分析測(cè)量過(guò)程中的電磁波數(shù)據(jù)的采集時(shí)間的編號(hào)，從而將其用作電磁波數(shù)據(jù)的文件名。
(b)將正在向熱分析數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)9中保存的熱分析數(shù)據(jù)的文件名用作保存電磁波數(shù)據(jù)的目的地的目錄名。
電磁波數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)機(jī)構(gòu)10建立并存儲(chǔ)相關(guān)數(shù)據(jù)，從而使由電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)6發(fā)送的采集電磁波數(shù)據(jù)時(shí)的樣本溫度、自測(cè)量開始后經(jīng)過(guò)的時(shí)間以及電磁波數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)11內(nèi)的存儲(chǔ)單元標(biāo)識(shí)符形成一個(gè)組，之后可以由熱分析數(shù)據(jù)上的樣本溫度或時(shí)間聯(lián)系電磁波數(shù)據(jù)。當(dāng)電磁波數(shù)據(jù)的保存目的地為文件名時(shí)，存儲(chǔ)單元標(biāo)識(shí)符為文件名，當(dāng)所述目的地為數(shù)據(jù)庫(kù)時(shí)，存儲(chǔ)單元標(biāo)識(shí)符為記錄的主密鑰。例如，就文件系統(tǒng)而言，以“100℃10分鐘電磁波數(shù)據(jù)的文件名”等形式在電磁波數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)機(jī)構(gòu)10中建立相關(guān)數(shù)據(jù)。此外，將此類相關(guān)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在隨后的位置(site)，因而可以由熱分析數(shù)據(jù)溯及所述相關(guān)數(shù)據(jù)。
(a)將相關(guān)數(shù)據(jù)發(fā)送至熱分析數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)9，從而將其作為一部分熱分析數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。
(b)形成并存儲(chǔ)用于由熱分析數(shù)據(jù)溯及所保存的相關(guān)數(shù)據(jù)的約定。例如，在預(yù)定目錄中建立具有熱分析數(shù)據(jù)的文件名的目錄，將其作為相關(guān)數(shù)據(jù)的保存目的地，并將相關(guān)數(shù)據(jù)保存在其內(nèi)。
熱分析數(shù)據(jù)顯示機(jī)構(gòu)12在諸如CRT等的顯示裝置上以二維曲線圖的形式顯示熱分析數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)9中保存的熱分析數(shù)據(jù)，在所述曲線圖中，以樣本溫度或時(shí)間為橫坐標(biāo)軸，以物理量為縱坐標(biāo)軸。
熱分析數(shù)據(jù)位置指示機(jī)構(gòu)13包括諸如鼠標(biāo)、鍵盤等的用戶接口，其指示在熱分析數(shù)據(jù)顯示機(jī)構(gòu)12上顯示的熱分析數(shù)據(jù)，并將由用戶接口輸入的位置信息轉(zhuǎn)化為熱分析數(shù)據(jù)上的樣本溫度和時(shí)間，從而將樣本溫度和時(shí)間發(fā)送至電磁波數(shù)據(jù)指定機(jī)構(gòu)14。所指示的位置可以包括多個(gè)位置。
電磁波數(shù)據(jù)指定機(jī)構(gòu)14將由熱分析數(shù)據(jù)位置指示機(jī)構(gòu)13指示的多個(gè)樣本溫度和時(shí)間與由所顯示的熱分析數(shù)據(jù)確定的存儲(chǔ)在多個(gè)電磁波數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)機(jī)構(gòu)10內(nèi)的相關(guān)數(shù)據(jù)上的樣本溫度和時(shí)間相比較，并確定由相關(guān)數(shù)據(jù)指示的電磁波數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)11內(nèi)的電磁波數(shù)據(jù)的標(biāo)識(shí)符，所述相關(guān)數(shù)據(jù)接近所指示的樣本溫度和時(shí)間。例如，在圖5所示的熱分析數(shù)據(jù)的兩點(diǎn)P31和P32處采集電磁波數(shù)據(jù)的情況下，當(dāng)熱分析數(shù)據(jù)位置指示機(jī)構(gòu)13指示范圍A31時(shí)，指定在P31處采集的電磁波數(shù)據(jù)，當(dāng)熱分析數(shù)據(jù)位置指示機(jī)構(gòu)13指示范圍A32時(shí)，指定在P32處采集的電磁波數(shù)據(jù)。
電磁波數(shù)據(jù)成分輸出機(jī)構(gòu)15組織(compose)由電磁波數(shù)據(jù)指定機(jī)構(gòu)14指定的多個(gè)電磁波數(shù)據(jù)和熱分析數(shù)據(jù)，從而將其顯示在諸如CRT、打印機(jī)等的顯示裝置以及輸出裝置上，并將其按照下述形式輸出。
(a)如圖6的示范性圖示所示，組織電磁波數(shù)據(jù)(D41和D42)并將其輸出到位于采集電磁波數(shù)數(shù)據(jù)的那些熱分析數(shù)據(jù)的位置(P41和P42)附近的熱分析數(shù)據(jù)當(dāng)中。
(b)如圖7的示范性圖示所示，組織指示與電磁波數(shù)據(jù)的關(guān)系的排出數(shù)據(jù)(blowouts)(I51和I52)，并將其輸出到位于那些采集電磁波數(shù)據(jù)的熱分析數(shù)據(jù)位置(P51和P52)的附近的熱分析數(shù)據(jù)之外。
接下來(lái)，將對(duì)用于實(shí)現(xiàn)兩點(diǎn)之間的移位的改善的設(shè)計(jì)予以說(shuō)明，所述兩點(diǎn)為實(shí)際微分保持穩(wěn)定的區(qū)域的終止點(diǎn)和采集電磁波數(shù)據(jù)的點(diǎn)，在采用物理量的微分在預(yù)定時(shí)間段或更長(zhǎng)的時(shí)間段內(nèi)保持穩(wěn)定的區(qū)域的起點(diǎn)或終點(diǎn)作為觸發(fā)器時(shí)，在圖3中的P和P2之間以及P4和P5之間產(chǎn)生了移位。
作為這樣的移位的應(yīng)對(duì)措施，首先在預(yù)定周期處采集電磁波數(shù)據(jù)，接著將所采集的電磁波數(shù)據(jù)保存到臨時(shí)緩沖器內(nèi)。由于在預(yù)定時(shí)間段之后探測(cè)微分保持穩(wěn)定的區(qū)域的起點(diǎn)或終點(diǎn)，因而將該時(shí)間段之外的電磁波數(shù)據(jù)立即存儲(chǔ)到緩沖器內(nèi)，在探測(cè)到所述起點(diǎn)或終點(diǎn)之后，將必要的電磁波數(shù)據(jù)從緩沖器內(nèi)取出，在經(jīng)過(guò)預(yù)定時(shí)間段后，刪除未取出的電磁波數(shù)據(jù)。
下面將對(duì)如下情況，例如，在電磁波數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)11內(nèi)提供此類緩沖器的情況予以說(shuō)明。
為了在電磁波數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)11內(nèi)提供緩沖器，通過(guò)設(shè)計(jì)將電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)6變?yōu)殡姶挪〝?shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)31。圖8示出了這樣的構(gòu)造。除了將電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)31連接至電磁波數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)11外，保持電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)7、電磁波數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)機(jī)構(gòu)10和電磁波數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)11的功能、其他功能以及連接關(guān)系不變。
電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)31總是在預(yù)定周期內(nèi)命令電磁波數(shù)據(jù)采集機(jī)構(gòu)1采集電磁波數(shù)據(jù)。因而，在電磁波數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)11內(nèi)相繼保存電磁波數(shù)據(jù)。因此，在保存了電磁波數(shù)據(jù)之后經(jīng)過(guò)預(yù)定時(shí)間段后，電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)31將刪除那些未對(duì)應(yīng)于由電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)7設(shè)置的觸發(fā)器的電磁波數(shù)據(jù)。而且，在采用物理量的微分在預(yù)定時(shí)間段或更長(zhǎng)時(shí)間段內(nèi)穩(wěn)定于某一范圍內(nèi)的區(qū)域的起點(diǎn)或終點(diǎn)作為觸發(fā)器時(shí)，在時(shí)間上溯及微分保持穩(wěn)定的區(qū)域的起始點(diǎn)和終止點(diǎn)，從而使穩(wěn)定性開始終止的位置或穩(wěn)定性開始啟動(dòng)的位置成為對(duì)應(yīng)于觸發(fā)器的點(diǎn)。
將參考圖9描述熱機(jī)械分析中的玻璃轉(zhuǎn)變點(diǎn)之前和之后的電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)31的操作。電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)31總是在預(yù)定周期A55內(nèi)命令電磁波數(shù)據(jù)采集機(jī)構(gòu)1采集圖3所示的電磁波數(shù)據(jù)。當(dāng)電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)31探測(cè)到微分D52在預(yù)定時(shí)間段A52或更長(zhǎng)時(shí)間段內(nèi)脫離了微分范圍L51的點(diǎn)P52時(shí)，回溯開始脫離微分范圍L51的點(diǎn)P51，并生成玻璃轉(zhuǎn)變前微分穩(wěn)定區(qū)域終止點(diǎn)P56。此外，當(dāng)電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)31探測(cè)到微分D52在預(yù)定時(shí)間段A52或更長(zhǎng)時(shí)間段內(nèi)存在于微分范圍L51之外的點(diǎn)P55時(shí)，回溯開始存在于微分范圍L51內(nèi)的點(diǎn)P54，并生成玻璃轉(zhuǎn)變后微分穩(wěn)定區(qū)域終止點(diǎn)P57。在自當(dāng)前時(shí)間開始經(jīng)過(guò)預(yù)定時(shí)間段A52或更長(zhǎng)時(shí)間后，刪除不被觸發(fā)器識(shí)別的在預(yù)定周期A55內(nèi)采集的電磁波數(shù)據(jù)。在探測(cè)到對(duì)應(yīng)于觸發(fā)器的諸如玻璃轉(zhuǎn)變前微分穩(wěn)定區(qū)域終止點(diǎn)P56和玻璃轉(zhuǎn)變后微分穩(wěn)定區(qū)域終止點(diǎn)P57的點(diǎn)的時(shí)間點(diǎn)上將必要的信息提供至電磁波數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)機(jī)構(gòu)10。
通過(guò)這樣做，在玻璃轉(zhuǎn)變前微分穩(wěn)定區(qū)域終止點(diǎn)P56和玻璃轉(zhuǎn)變后穩(wěn)定區(qū)域終止點(diǎn)P57處采集了電磁波數(shù)據(jù)，因此圖3所示的P1和P2之間以及P4和P5之間的移位消失了。
工業(yè)實(shí)用性本發(fā)明可以獲得下述效果。
一種從樣本采集電磁波數(shù)據(jù)的熱分析設(shè)備包括電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)和電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)，由此能夠避免在熱分析測(cè)量時(shí)間的整個(gè)范圍內(nèi)保存電磁波數(shù)據(jù)，同時(shí)捕捉希望予以關(guān)注的電磁波數(shù)據(jù)的變化。
而且，當(dāng)電磁波數(shù)據(jù)包括由可見光生成的樣本圖像或由除了可見光之外的諸如紅外線等的光生成的樣本圖像時(shí)，可以避免在熱分析測(cè)量時(shí)間的整個(gè)范圍內(nèi)保存樣本圖像，同時(shí)能夠捕捉到希望予以關(guān)注的樣本圖像的變化。
而且，當(dāng)電磁波數(shù)據(jù)包括譜時(shí)，能夠避免在熱分析測(cè)量時(shí)間的整個(gè)范圍內(nèi)保存譜，同時(shí)捕捉希望予以關(guān)注的樣本譜的變化。
此外，在設(shè)置于電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)內(nèi)的觸發(fā)器包括自分析開始之后的多個(gè)時(shí)間段或時(shí)間間隔時(shí)，對(duì)于電磁波數(shù)據(jù)的變化無(wú)法推導(dǎo)樣本溫度和物理量的變化的樣本，以及無(wú)法確認(rèn)來(lái)自樣本的電磁波數(shù)據(jù)的變化以及樣本溫度和物理量的變化的樣本而言，能夠避免在熱分析測(cè)量時(shí)間的整個(gè)范圍內(nèi)保存電磁波數(shù)據(jù)，同時(shí)能夠捕捉到電磁波數(shù)據(jù)的變化。
此外，當(dāng)電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)內(nèi)設(shè)置的觸發(fā)器包括指定的樣本溫度或溫度間隔時(shí)，對(duì)于電磁波數(shù)據(jù)在指定溫度發(fā)生變化的樣本而言，能夠避免在熱分析測(cè)量時(shí)間的整個(gè)范圍內(nèi)保存電磁波數(shù)據(jù)，同時(shí)能夠捕捉到希望予以關(guān)注的電磁波數(shù)據(jù)的變化。
此外，當(dāng)電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)內(nèi)設(shè)置的觸發(fā)器包括來(lái)自物理值傳感器的信號(hào)的指定值或間隔時(shí)，對(duì)于電磁波數(shù)據(jù)在樣本的指定物理值處發(fā)生變化的樣本而言，能夠避免在熱分析測(cè)量時(shí)間的整個(gè)范圍內(nèi)保存電磁波數(shù)據(jù)，同時(shí)能夠捕捉到應(yīng)當(dāng)予以關(guān)注的電磁波數(shù)據(jù)的變化。
此外，當(dāng)電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)內(nèi)設(shè)置的觸發(fā)器包括某一區(qū)域的起點(diǎn)或終點(diǎn)時(shí)，其中，在所述區(qū)域內(nèi)，來(lái)自物理值傳感器的信號(hào)的微分在預(yù)定時(shí)間段或更長(zhǎng)的時(shí)間段內(nèi)穩(wěn)定于某一范圍內(nèi)，這時(shí)對(duì)于在樣本的物理值發(fā)生變化的同時(shí)電磁波數(shù)據(jù)發(fā)生變化的樣本而言，能夠避免在熱分析測(cè)量時(shí)間的整個(gè)范圍內(nèi)保存電磁波數(shù)據(jù)，同時(shí)捕捉應(yīng)當(dāng)予以關(guān)注的電磁波數(shù)據(jù)的變化。在這種情況下，由于在無(wú)需判斷指定的物理值的情況下采集了電磁波數(shù)據(jù)，因此一個(gè)觸發(fā)器就使采集電磁波數(shù)據(jù)成為了可能，即使在樣本的物理值發(fā)生變化的同時(shí)電磁波數(shù)據(jù)產(chǎn)生了多種變化，或者存在一個(gè)或多個(gè)未知的變化位置的情況下也如此。
此外，提供電磁波數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)機(jī)構(gòu)、熱分析數(shù)據(jù)顯示機(jī)構(gòu)、熱分析數(shù)據(jù)位置指示機(jī)構(gòu)、電磁波數(shù)據(jù)指定機(jī)構(gòu)和電磁波數(shù)據(jù)成分輸出機(jī)構(gòu)，由此能夠從很多樣本圖像中快速提取出與所關(guān)注的熱分析數(shù)據(jù)上的點(diǎn)相關(guān)的樣本圖像，從而實(shí)現(xiàn)容易地生成報(bào)告，即使在測(cè)量之后將樣本圖像與熱分析數(shù)據(jù)結(jié)合起來(lái)，以生成報(bào)告等的情況下亦如此。
權(quán)利要求
1.一種熱分析設(shè)備，包括對(duì)樣本加熱的加熱爐，控制所述加熱爐的溫度的溫度控制器，探測(cè)所述樣本的溫度的溫度傳感器，熱分析數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)，其將來(lái)自所述溫度傳感器和物理量傳感器的信號(hào)作為熱分析數(shù)據(jù)保存，電磁波數(shù)據(jù)采集機(jī)構(gòu)，其采集電磁波數(shù)據(jù)，所述電磁波數(shù)據(jù)是通過(guò)探測(cè)來(lái)自所述樣本的電磁波以將其數(shù)字化而得到的，電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)，其設(shè)置用于所述電磁波數(shù)據(jù)的采集的觸發(fā)器，電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)，其根據(jù)所述電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)內(nèi)的設(shè)置控制所述電磁波數(shù)據(jù)的采集，以及電磁波數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)，其保存所述電磁波數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的熱分析設(shè)備，其中，由所述電磁波數(shù)據(jù)采集機(jī)構(gòu)采集的所述電磁波數(shù)據(jù)包括由可見光生成的樣本圖像，或者由除可見光之外的諸如紅外線等的光生成的樣本圖像。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的熱分析設(shè)備，其中，通過(guò)所述電磁波數(shù)據(jù)采集機(jī)構(gòu)采集的所述電磁波數(shù)據(jù)包括譜。
4.根據(jù)權(quán)利要求1到3中的任何一項(xiàng)所述的熱分析設(shè)備，其中，所述觸發(fā)器包括自分析開始之后的多個(gè)時(shí)間或時(shí)間間隔。
5.根據(jù)權(quán)利要求1到3中的任何一項(xiàng)所述的熱分析設(shè)備，其中，所述觸發(fā)器包括作為所述溫度傳感器的輸出的樣本溫度中的多個(gè)指定溫度或溫度間隔。
6.根據(jù)權(quán)利要求1到3中的任何一項(xiàng)所述的熱分析設(shè)備，其中，所述觸發(fā)器包括所述物理值傳感器的信號(hào)中的多個(gè)指定值或間隔。
7.根據(jù)權(quán)利要求1到3中的任何一項(xiàng)所述的熱分析設(shè)備，其中，所述觸發(fā)器包括某一區(qū)域的起點(diǎn)或終點(diǎn)，在所述區(qū)域內(nèi)，所述物理值傳感器的信號(hào)的微分在預(yù)定時(shí)間段或更長(zhǎng)的時(shí)間段內(nèi)穩(wěn)定于某一范圍內(nèi)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1到7中的任何一項(xiàng)所述的熱分析設(shè)備，還包括電磁波數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)機(jī)構(gòu)，其將生成所述觸發(fā)器時(shí)保存的所述電磁波數(shù)據(jù)與生成所述觸發(fā)器的熱分析數(shù)據(jù)上的位置相聯(lián)系，熱分析數(shù)據(jù)顯示機(jī)構(gòu)，其顯示保存在所述熱分析數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)內(nèi)的所述熱分析數(shù)據(jù)，熱分析數(shù)據(jù)位置指示機(jī)構(gòu)，其指示在所述熱分析數(shù)據(jù)顯示機(jī)構(gòu)上顯示的所述熱分析數(shù)據(jù)上的任意點(diǎn)，電磁波數(shù)據(jù)指定機(jī)構(gòu)，其根據(jù)由所述熱分析數(shù)據(jù)位置指示機(jī)構(gòu)和所述電磁波數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)機(jī)構(gòu)指示的位置關(guān)系，從保存在所述電磁波數(shù)據(jù)保存機(jī)構(gòu)內(nèi)的電磁波數(shù)據(jù)當(dāng)中指定位于所述熱分析數(shù)據(jù)上的指示位置附近的電磁波數(shù)據(jù)，以及電磁波數(shù)據(jù)成分輸出機(jī)構(gòu)，其對(duì)所述的指定的電磁波數(shù)據(jù)進(jìn)行組織，并將其輸出到所述熱分析數(shù)據(jù)顯示機(jī)構(gòu)當(dāng)中。
全文摘要
電磁波數(shù)據(jù)采集控制機(jī)構(gòu)(6)判斷電磁波數(shù)據(jù)是否與電磁波數(shù)據(jù)采集觸發(fā)器設(shè)置機(jī)構(gòu)(7)設(shè)置的觸發(fā)器條件匹配，如果匹配則采集電磁波。電磁波數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)機(jī)構(gòu)(10)將熱分析數(shù)據(jù)上生成觸發(fā)器的位置與電磁波數(shù)據(jù)相聯(lián)系。利用所獲得的結(jié)果，電磁波數(shù)據(jù)識(shí)別機(jī)構(gòu)(14)識(shí)別對(duì)應(yīng)于所指定的熱分析數(shù)據(jù)上的位置的電磁波數(shù)據(jù)，并將所述電磁波數(shù)據(jù)輸出到所述熱分析數(shù)據(jù)的附近。
文檔編號(hào)G01N25/20GK101048654SQ20058003631
公開日2007年10月3日 申請(qǐng)日期2005年8月26日 優(yōu)先權(quán)日2004年9月3日
發(fā)明者中谷林太郎 申請(qǐng)人:精工電子納米科技有限公司