專利名稱：電子組件測試系統(tǒng)的萬用型探針裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種電子組件系統(tǒng)測試的探針裝置，且特別是有關(guān)于一種面板陣列測試的探針裝置。
背景技術(shù)：
平面顯示器的應(yīng)用擴及于文字處理器、桌上型個人計算機、掌上型電視顯示器及類似的應(yīng)用而快速擴張。特別是液晶顯示器(Liquid CrystalDisplayLCD)面板因為其制作工藝技術(shù)的成熟，所以廣泛運用于各種應(yīng)用中。隨著制造技術(shù)的進步，顯示器面板尺寸也發(fā)展出多種規(guī)格以符合不同使用需求，因為液晶顯示器面板是由許多的液晶包及其它組件所組成的，此外，較大的液晶顯示器面板具有較多的組件。液晶顯示器面板中即使只有一個組件故障，整個液晶顯示器面板就是失敗的。所以在封裝液晶顯示器面板之前，用以測試液晶顯示器面板的測試步驟是保證所制造液晶顯示器品質(zhì)的重要步驟。
傳統(tǒng)上，接觸式探針檢測模塊被使用于測試顯示面板，測試時，使用探針模塊上的探針對液晶顯示器面板上的接觸墊(pad)執(zhí)行接觸測試。但是各種不同尺寸面板上的接觸墊數(shù)目也各不相同，所以必須設(shè)計并制造出對應(yīng)各種不同尺寸的相關(guān)的探針測試模塊，以測試各種液晶顯示器面板。
然而在液晶顯示器的制造工廠中，一個測試站只能測試一種規(guī)格的液晶顯示器面板，而在測試站上用以測試的探針測試模塊是針對該尺寸的液晶顯示器所設(shè)計，如果生產(chǎn)線改生產(chǎn)其它尺寸的液晶顯示器，就必須將所使用的探針測試模塊更換掉，以配合所制造的新尺寸的液晶顯示器面板。
例如，多數(shù)傳統(tǒng)的探針測試模塊通常是制作出不同規(guī)格的探針框架，使用于不同產(chǎn)品線的測試。每一特定框架上探針數(shù)就對應(yīng)著一特定尺寸規(guī)格的面板所具有的接觸墊數(shù)目，探針框架就是將多個測試用探針整合在一體的單元，以利于批量測試。
但針對開發(fā)出來的不同尺寸面板，若以此種方式執(zhí)行測試，由于不同尺寸規(guī)格的面板具有相異數(shù)目的接觸墊，因此當一新產(chǎn)品規(guī)格被開發(fā)出來，就必須重新制作一符合新尺寸規(guī)格的探針框架。因為一種特定規(guī)格的框架通常是無法適用于其它產(chǎn)品，如此將造成額外的探針框架制作與設(shè)計費用，而且探針框架的制作乃至交期時間甚長。另外，在更換產(chǎn)品線做測試時，更換探針框架的步驟也相當耗時，種種原因造成產(chǎn)能及人力的浪費。

發(fā)明內(nèi)容
因此本發(fā)明的一目的就是提供一種電子組件系統(tǒng)測試的探針裝置，用以方便測試不同尺寸規(guī)格的面板或電子組件布局。
本發(fā)明的另一目的是提供一種電子組件系統(tǒng)測試的探針裝置，以提供測試不同尺寸規(guī)格面板或電子組件布局的解決方案。
本發(fā)明的又一目的是提供一種電子組件系統(tǒng)測試的探針裝置，節(jié)省成本、時間及人力花費。
根據(jù)本發(fā)明的上述目的，提出一種電子組件系統(tǒng)測試的探針裝置。電子組件系統(tǒng)測試的探針裝置包括一探針單元與一線路切換裝置，探針單元包括一支撐座與一第一數(shù)目的探針，探針皆設(shè)置于支撐座上，用以對一面板陣列進行測試。線路切換裝置用以使一第二數(shù)目的探針與一第三數(shù)目的測試訊號源之間呈電性連接。其中第二數(shù)目小于第一數(shù)目，第二數(shù)目不小于第三數(shù)目，且測試訊號源其中之一電性連接于至少一探針。
依照本發(fā)明一優(yōu)選實施例，測試裝置用于面板陣列的測試，線路切換裝置為一排線，包括一探針連接頭、訊號源連接頭與一傳輸線路。探針連接頭包括第一數(shù)目的探針端接腳，用以電連接于探針。訊號源連接頭包括第三數(shù)目的訊號源端接腳，用以電連接于測試訊號源。傳輸線路使探針端接腳與訊號源端接腳依據(jù)一線路配置而呈電性連接。每一訊號源端插孔電連接至少一探針端插孔。
面板陣列測試裝置還包括一訊號源裝置，具有一訊號源連接器。訊號源連接器具有第四數(shù)目的訊號源連接器接腳，每一號源連接器接腳作為一種測試訊號源，用以對應(yīng)地插置并電性連接于線路切換裝置的訊號源端接腳，以供應(yīng)測試訊號于探針單元。其中第四數(shù)目大于等于第三數(shù)目。
線路切換裝置亦可為一可插拔式軟性電路板，一端電連接于探針，另一端電連接于測試訊號源。
當測試一特定尺寸規(guī)格的面板時，可先利用已設(shè)計好而相對應(yīng)的線路切換裝置分別與探針單元以及訊號源插置連接，再將探針單元上探針對準測試用的面板放置平臺，使面板的接觸墊與一部分的探針相接觸，而其它探針則不與任何接觸墊接觸，如同一空腳位。借由線路切換裝置的線路配置，使得訊號源傳送至特定位置的探針上以執(zhí)行測試。
更換不同的規(guī)格面板時，只須將線路切換裝置拔除，換上另一個具有不同線路配置設(shè)計的線路切換裝置，即可進行測試。
由于預(yù)先設(shè)計多數(shù)探針于探針模塊上，使探針單元涵蓋一個以上尺寸規(guī)格的面板測試范圍，僅須更換線路切換裝置即可切換不同產(chǎn)品線的測試，而線路切換裝置相較于探針單元整體在設(shè)計制造上相當簡單快速，耗費成本也低，并且在更換步驟上也較快速，對于產(chǎn)線生產(chǎn)時間的利用也有相當大的助益。


為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征、優(yōu)點與實施例能更明顯易懂，附圖的詳細說明如下圖1a是依照本發(fā)明電子組件系統(tǒng)測試的探針裝置一優(yōu)選實施例的示意圖。
圖1b是依照本發(fā)明一優(yōu)選實施例中探針與接觸墊接觸的示意圖。
圖2是依照本發(fā)明一優(yōu)選實施例中探針的配置圖。
圖3是依照本發(fā)明一優(yōu)選實施例中線路切換裝內(nèi)部的線路配置示意圖。
主要組件符號說明100訊號源裝置102訊號源連接器102a訊號源連接器接腳 104測試訊號源110探針單元 112框架114探針 116軟性電路板118探針連接器118a探針連接器接腳120線路切換裝置 122傳輸線路124探針連接頭124a探針端接腳126訊號源連接頭 126a訊號源端接腳160待測面板 162接觸墊
202探針位置312探針連接器接腳310探針連接器 322a～322e訊號源連接器接腳320訊號源連接器330線路配置具體實施方式
本發(fā)明公開一種電子組件系統(tǒng)測試的探針裝置，提供一共享的探針單元給不同尺寸規(guī)格的顯示面板執(zhí)行測試步驟，更換產(chǎn)品線作測試時僅須更換線路切換裝置，免除傳統(tǒng)須另外設(shè)計、制作、并更換探針框架的不方便以及大量的成本耗費。為了使本發(fā)明的敘述更加詳盡與完備，可參照下列描述并配合圖1a與圖1b的圖標。
參照圖1a，其示出依照本發(fā)明電子組件系統(tǒng)測試的探針裝置一優(yōu)選實施例的示意圖。本發(fā)明的電子組件系統(tǒng)測試的探針裝置包括一探針單元110(繪示于圖1b)以及一線路切換裝置120。探針單元110包括一支撐座，如框架112，以及第一數(shù)目的探針114(繪示于圖1b)，所有探針114綿密、小間距地設(shè)置于支撐座上，用以對電子組件系統(tǒng)如面板陣列進行測試。
線路切換裝置120用以使一部份探針114，即第二數(shù)目的探針114，與第三數(shù)目的測試訊號源104(繪示于圖1b)之間呈電性連接。上述的第二數(shù)目小于第一數(shù)目，而第二數(shù)目不小于第三數(shù)目。實際使用探針裝置進行測試時，測試訊號源104其中之一電性連接于至少一探針114。第二數(shù)目例如為第三數(shù)目的一整數(shù)倍數(shù)。
具體而言，線路切換裝置120具有第二數(shù)目的探針端接腳124a以及第三數(shù)目的訊號源端接腳126a，探針端接腳124a用以電性連接于探針單元110的探針114，訊號源端接腳126a用以電性連接于測試訊號源104。且上述接腳與探針以及測試訊號源間的電性連接為可抽拔分離。
在一優(yōu)選實施例中，電子組件系統(tǒng)測試的探針裝置包括一訊號源裝置100、一線路切換裝置120以及一探針單元110。訊號源裝置100用以供應(yīng)測試訊號，包括一訊號源連接器102。訊號源連接器102具有第四數(shù)目的訊號源連接器接腳102a在其上，每一訊號源連接器接腳102a代表一種測試訊號源，提供一特定的測試訊號，但實際使用時并不一定傳輸所有第四數(shù)目的訊號，可視測試需求而只利用一部份的測試訊號。故第四數(shù)目大于等于第三數(shù)目。本例中訊號源裝置100更為一平臺結(jié)構(gòu)，作為待測面板160放置的平臺。
探針單元110包括一框架112、一探針連接器118以及一第一數(shù)目的探針114，所有探針114設(shè)置于框架112上，用以對面板160陣列進行測試。本例中框架112為一四邊形框架，例如一方框，探針114設(shè)置于框架112的框邊上。本發(fā)明的探針裝置中，支撐座并不限于上述實施例所示的框架，例如亦可為一橫桿結(jié)構(gòu)。
探針連接器118具有與探針114相對應(yīng)而相同數(shù)目的探針連接器接腳118a，即第一數(shù)目個接腳118a，每一接腳118a分別對應(yīng)地電性連接于個別的探針114。本例中，所有探針114與探針連接器接腳118a是借由一軟性電路板116而對應(yīng)地電性連接，探針連接器118則固設(shè)在框架112上。
線路切換裝置120為一排線，包括一探針連接頭124、一訊號源連接頭126以及一傳輸線路122。線路切換裝置120一端為探針連接頭124，具有第二數(shù)目的探針端接腳124a，用以插置而連接于探針單元110的探針連接器118。借由探針連接器接腳118a與探針端接腳124a之間的接觸，使線路切換裝置120與探針114之間呈電性連接。
線路切換裝置120另一端為訊號源連接頭126，具有第三數(shù)目的訊號源端接腳126a，用以插置而連接于訊號源裝置120的訊號源連接器102。借由訊號源連接器接腳102a與訊號源端接腳126a之間的接觸，使線路切換裝置120與測試訊號源104之間呈電性連接。
第三數(shù)目的訊號源端接腳126a透過傳輸線路122，與第二數(shù)目的探針端接腳124a呈電性連接，將測試訊號源104發(fā)出的訊號自訊號源端接腳126a傳送到第二數(shù)目的探針端接腳124a。由于傳輸線路122為一特定的線路配置，也因此線路切換裝置120成為探針114與測試訊號源104間的傳導(dǎo)途徑，而且所提供的傳導(dǎo)途徑是針對不同規(guī)格尺寸的面板產(chǎn)品有不同的線路配線設(shè)計。
上述中線路切換裝置的型態(tài)并不限于包括連接頭的一排線，亦可以例如為一可插拔的電路板或軟性電路板設(shè)計，其具有用以電連接于探針以及測試訊號源的探針端接腳以及訊號源端接腳，亦可于本發(fā)明中發(fā)揮相同功能。另外，實施例中線路切換裝置為具有插孔的連接器，即一母插頭，但頁可以是一公插頭，此種公插頭與母插頭的簡單互換設(shè)計是屬于業(yè)內(nèi)人士可輕易思及的變換，只要線路切換裝置為可自探針單元以及訊號源裝置插拔抽換者，皆包括在本發(fā)明的精神與范圍內(nèi)。
以下將以一例說明本發(fā)明的電子組件系統(tǒng)測試的探針裝置的運作過程。如圖1b所示，當待測面板160已放置于定位，如訊號源裝置100的平臺上，將框架112對準正確方位放下，使探針114與待測面板160上的接觸墊162接觸。開始測試時，激活訊號源裝置100使測試訊號源104發(fā)出測試訊號，經(jīng)過線路切換裝置120的連接線路將訊號正確地傳至探針114、進而傳至接觸墊162上。更換產(chǎn)品線執(zhí)行測試時，只須將前次使用的線路切換裝置120拔除，更換另一種規(guī)格的線路切換裝置，便完成更換測試規(guī)格的步驟，相較于傳統(tǒng)須將框架112整體更換的方式，本發(fā)明的探針單元通用式設(shè)計取代以相當簡便的更換步驟。
同時參考圖3，其示出線路切換裝置內(nèi)部的線路配置。如圖中所示，訊號源連接器320上的訊號源連接器接腳322a～322e數(shù)目為五個，表示有五種測試訊號被提供出來作為測試之用。訊號自訊號源連接器接腳322a～322e處，經(jīng)過線路切換裝置的線路配置330而傳送至探針連接器310上的探針連接器接腳312。圖例中可明顯看出，探針連接器接腳312分置上下二列，每一種訊號經(jīng)由線路配置330而傳送到四個探針連接器接腳312，亦即會有四支探針使用同一種測試訊號。
探針連接器310上其余探針連接器接腳則因為線路配置330的關(guān)系，并未與訊號源連接器接腳322a～322e電性連接，成為使用測試裝置時的空腳位。也就是說探針插座接腳312雖已全部對應(yīng)地插置在探針連接頭的探針端插孔中，但并未因此而全部與測試訊號源電性連接，還須視線路配置330而定，針對不同面板尺寸設(shè)計會有不同的導(dǎo)通狀態(tài)。
當測試一特定規(guī)格面板時，空腳位處代表不會有電訊號供應(yīng)給對應(yīng)該處的探針，因為依據(jù)面板的接觸墊設(shè)計結(jié)果，該處探針不會有相對應(yīng)接觸的接觸墊，因此不須要測試訊號?？偠灾?，空腳位的配置是由線路切換裝置的設(shè)計所決定。
參考圖2，其示出依照本發(fā)明一優(yōu)選實施例中探針的配置圖。若針對現(xiàn)有14英寸、15英寸、17英寸、19英寸的面板，每一種尺寸規(guī)格的接觸墊數(shù)都不相同。面板上的接觸墊配置是依據(jù)探針單元上所有探針位置202而設(shè)計，也就是不論哪一種規(guī)格面板，其所有接觸墊皆設(shè)計位在探針單元中多數(shù)探針的位置202上的其中一部份位置，以提供一正確的探針對應(yīng)接觸。
因此，探針數(shù)目的設(shè)計考量為選取一適當數(shù)目，使其涵蓋將來可能發(fā)展出的面板寸規(guī)格所對應(yīng)的接觸墊數(shù)目。探針數(shù)目設(shè)計得越多越密，則可涵蓋的不同產(chǎn)品數(shù)也相對較多。本例中探針的數(shù)目設(shè)計為四邊形框架上，一側(cè)具有100支探針，探針間距則為10mm。然而探針保持等間距的設(shè)計為探針與面板設(shè)計方便的考慮，并非一定要符合等間距，非等間距設(shè)計亦屬本發(fā)明的精神范圍內(nèi)，此乃業(yè)內(nèi)人士可輕易思及的變化。
探針裝置可配合多個基板使用，如面板基板，每一基板上具有多個接觸墊，每一接觸墊皆可對應(yīng)至一探針位置。
同時參考圖1a與圖2，以具有側(cè)邊長1000mm的一母玻璃片為例說明。若設(shè)計探針間距為10mm，且第一與最末探針位置各與母玻璃片的邊緣相距一距離如5mm。于框架112的一側(cè)設(shè)計有100支探針114平均分配于上，而對應(yīng)的探針連接器接腳118a亦具有100個。
若此母玻璃片是供制造成2×4塊面板160，如圖中所示，左右二側(cè)分置四塊面板160。并于框架112的兩側(cè)設(shè)計兩組探針連接器接腳，左側(cè)的探針連接器接腳用以控制位于圖式左側(cè)的四塊面板，而右側(cè)的探針連接器接腳118a則用以控制位于圖式右側(cè)的另四塊面板。
若每塊面板160需各自接收五種測試訊號，左側(cè)與右側(cè)的線路切換裝置120的訊號源端接腳126a數(shù)量為第三數(shù)目，此例中皆為五，分別接收來自訊號源裝置100的五種測試訊號。
因此，左側(cè)的探針端接腳為5×4個與同數(shù)目探針114呈電性連接的接腳。同理，右側(cè)的線路切換裝置120的訊號源端接腳也同樣數(shù)量為五，接收來自訊號源裝置100的五種測試訊號，并各自傳送到右側(cè)的4塊面板160上。
而右側(cè)的探針端接腳124a亦同樣為5×4個，與5×4個探針呈電性連接的接腳。若是母玻璃片是要制造成例如2×6塊面板，而每塊面板160要接收七種測試訊號，如此，各側(cè)的訊號源端接腳126a數(shù)量為七個，而各側(cè)的探針端接腳124a為7×6個與同數(shù)目探針114呈電性連接的接腳。
須特別注意的是，具有第四數(shù)目的訊號源連接器接腳102a實際使用時并不一定須傳送第四數(shù)目的測試訊號，視使用需求而定，亦可提供小于第四數(shù)目的測試訊號。因此第四數(shù)目是大于或等于第三數(shù)目。于上述的實施例中，是以第四數(shù)目等于第三數(shù)目來示范說明。
視實際使用需求，訊號源數(shù)目例如為五個、七個、或其它數(shù)目。如此，只要更換適用于不同尺寸或面板組件布局的線路切換裝置，即可適用于同一個探針單元。當每塊面板上的組件布局有變化時，可以不用另行設(shè)計探針單元，只要每塊面板上要接收測試訊號的接觸墊與探針單元的探針具有對應(yīng)的位置，即可適用于各種不同的面板尺寸及組件布局。
于上述實施例中，是以支撐座兩側(cè)的探針連接器接腳來各自控制位于兩側(cè)的面板，而于實際運用上，也可以設(shè)計為只配置單一探針連接器在一側(cè)，來控制全部面板的測試，亦即將二側(cè)的探針整合設(shè)計為電性連接于單一探針連接器接腳，此時探針連接器接腳的數(shù)目為所有探針的總合。
由上述本發(fā)明優(yōu)選實施例可知，應(yīng)用本發(fā)明具有下列優(yōu)點。借由綿密的探針設(shè)計，并配合可插拔的線路切換裝置，使同一探針單元可用以對不同尺寸規(guī)格的面板進行測試。更換不同規(guī)格產(chǎn)品線執(zhí)行測試時，只須簡單地將線路切換裝置拔除更換，相較于傳統(tǒng)的更換整個框架的方式，節(jié)省相當多的更換時間與人工資源。
而且，針對不同或新開發(fā)出的產(chǎn)品規(guī)格，本發(fā)明只須借由設(shè)計或修改具有相對應(yīng)線路配置的線路切換裝置即可，在設(shè)計與裝置的設(shè)計、制作時間以及方便性，甚至在耗費成本方面，都比再制作一新規(guī)格的探針框架有明顯效益，本發(fā)明的確提供一不可忽視的商業(yè)上價值。
雖然本發(fā)明已以優(yōu)選實施例公開如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何業(yè)內(nèi)人士，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當可作各種的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍當視權(quán)利要求書所界定者為準。
權(quán)利要求
1.一種電子組件系統(tǒng)測試的探針裝置，適用于一電子組件系統(tǒng)的測試，至少包括一探針單元，包括一支撐座與一第一數(shù)目的探針，該些探針設(shè)置于該支撐座上，用以對該電子組件系統(tǒng)進行測試；以及一線路切換裝置，用以使一第二數(shù)目的該些探針與一第三數(shù)目的測試訊號源之間呈電性連接，其中該第二數(shù)目小于該第一數(shù)目，該第二數(shù)目不小于該第三數(shù)目。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針裝置，其中該第二數(shù)目為該第三數(shù)目的一整數(shù)倍數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針裝置，其中該線路切換裝置為一排線，包括一探針連接頭，包括該第二數(shù)目的探針端接腳，用以電連接于該些探針；一訊號源連接頭，包括該第三數(shù)目的訊號源端接腳，用以電連接于該些測試訊號源；以及一傳輸線路，使該些探針端接腳與該些訊號源端接腳依據(jù)一線路配置而呈電性連接，其中每一該些訊號源端接腳電連接至少一該些探針端接腳。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針裝置，其中該線路切換裝置為一軟性電路板，一端電連接于該些探針，另一端電連接于該些測試訊號源。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針裝置，其中該些探針與該些探針連接器接腳是以一軟性電路板電連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針裝置，其中該探針裝置可配合多個基板使用，每一該些基板上具有多個接觸墊，每一該些接觸墊皆可對應(yīng)至該些探針其中之一。
7.一種電子組件系統(tǒng)測試的探針裝置，適用于一電子組件系統(tǒng)的測試，至少包括一探針單元，包括一支撐座、一探針連接器以及一第一數(shù)目的探針，該些探針設(shè)置于該支撐座上，用以對該電子組件系統(tǒng)進行測試，該探針連接器包括該第一數(shù)目的探針連接器接腳，該些探針連接器接腳對應(yīng)地電性連接于該些探針；以及一線路切換裝置，用以使該些探針與一第三數(shù)目的測試訊號源電性連接，包括一探針連接頭，具有一第二數(shù)目的探針端接腳，用以對應(yīng)地電連接于該些探針連接器接腳；以及一訊號源連接頭，具有該第三數(shù)目的訊號源端接腳，用以電連接于該第三數(shù)目的該些測試訊號源，且該些訊號源端接腳與該第二數(shù)目的該些探針端接腳呈電性連接，其中該第二數(shù)目小于該第一數(shù)目，該第二數(shù)目不小于該第三數(shù)目。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的探針裝置，其中該線路切換裝置為一排線。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的探針裝置，其中該些探針與該些探針連接器接腳是以一軟性電路板電連接。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的探針裝置，其中該探針裝置可配合多個基板使用，每一該些基板上具有多個接觸墊，每一該些接觸墊皆可對應(yīng)至該些探針其中之一。
11.一種電子組件系統(tǒng)測試的探針裝置，適用于一電子組件系統(tǒng)的測試，至少包括一探針單元，包括一支撐座、一探針連接器以及一第一數(shù)目的探針，該些探針設(shè)置于該支撐座上，用以對該面板陣列進行測試，該探針連接器包括該第一數(shù)目的探針連接器接腳，該些探針連接器接腳對應(yīng)地電性連接于該些探針；一線路切換裝置，包括一探針連接頭，具有該第一數(shù)目的探針端接腳，用以對應(yīng)地插置于該些探針連接器接腳；以及一訊號源連接頭，具有一第三數(shù)目的訊號源端接腳，該些訊號源端接腳與一第二數(shù)目的該些探針端接腳呈電性連接，其中該第二數(shù)目小于該第一數(shù)目，該第二數(shù)目不小于該第三數(shù)目；以及一訊號源裝置，包括一訊號源連接器，該訊號源連接器包括該第四數(shù)目的訊號源連接器接腳，用以對應(yīng)地插置并電性連接于該些訊號源端接腳，以供應(yīng)測試訊號，其中該第四數(shù)目大于或等于該第三數(shù)目。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的探針裝置，其中該線路切換裝置為一排線。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的探針裝置，其中該第二數(shù)目為該第三數(shù)目的一整數(shù)倍數(shù)。
14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的探針裝置，其中該些探針與該些探針連接器接腳是以一軟性電路板電連接。
全文摘要
一種使用在電子組件測試系統(tǒng)的探針裝置，“萬用型”表示此探針裝置可適用于各種不同的面板尺寸及組件布局。此探針裝置包括一探針單元與一線路切換裝置。探針單元包括支撐座與多探針，探針設(shè)置于支撐座上，用以對電子組件系統(tǒng)進行測試。線路切換裝置用以使對應(yīng)不同面板所需的探針與測試訊號源之間呈電性連接。
文檔編號G01R31/00GK1821790SQ20061000441
公開日2006年8月23日 申請日期2006年2月10日 優(yōu)先權(quán)日2006年2月10日
發(fā)明者張欽亮 申請人:友達光電股份有限公司