專利名稱：電連接器失效率的加速驗(yàn)證試驗(yàn)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種快速評定電連接器的失效率等級的定時(shí)截尾加速驗(yàn)證試驗(yàn)方法。
背景技術(shù)：
電連接器是航天系統(tǒng)的重要配套元件，大量地配套于航天的各種型號中，要求能在各種惡劣的環(huán)境和苛刻的條件下可靠地溝通電路、傳遞信息，任何一套電連接器的失效都將導(dǎo)致系統(tǒng)產(chǎn)生故障。由于批量、周期等方面的原因，往往不能提供電連接器貯存期、可靠性等級等相關(guān)的信息，并且目前尚未有對電連接器的貯存壽命以及在貯存期內(nèi)的可靠性進(jìn)行驗(yàn)證的試驗(yàn)方法。為了能對電連接器的可靠性水平作出評價(jià)，采取以失效率為驗(yàn)證指標(biāo)的定時(shí)截尾驗(yàn)證試驗(yàn)方法。
以下說明采取以失效率為驗(yàn)證指標(biāo)的定時(shí)截尾驗(yàn)證試驗(yàn)方法來評定電連接器的可靠性水平。
首先建立可靠性抽樣函數(shù)。某產(chǎn)品批待檢，p為其不合格率。假設(shè)此待檢的產(chǎn)品批所含的產(chǎn)品數(shù)量N極大(理論上為無窮大)，驗(yàn)證試驗(yàn)中樣本的抽取方式為無放回的抽取方式，在樣本數(shù)量N無窮大的假定下，第二次抽取時(shí)，母體中雖然少了一個(gè)個(gè)體，但由于母體中的個(gè)體數(shù)量無窮多，所以少一個(gè)個(gè)體其影響微不足道，不影響其概率分布，因此第二次、第三次乃至以后抽取時(shí)，如同在原母體中隨機(jī)抽取一樣，可以近似地看作是在同一母體中抽取的，某一個(gè)個(gè)體被抽到的概率不變。
記抽到的樣品為不合格品這一事件為事件A，則第一次抽取時(shí)，有P(A)＝p，P(A‾)=1-p]]>。在以后抽取時(shí)，可以認(rèn)為事件A發(fā)生的概率保持不變，仍有P(A)＝p，P(A‾)=1-p]]>，于是容量為n的樣本中不合格品量為r的概率相當(dāng)于n次貝努利試驗(yàn)中事件A恰好發(fā)生r次的概率，也就是不合格品數(shù)量r服從參數(shù)為n和p的二項(xiàng)分布。
按二項(xiàng)分布模型，樣本量為n的樣本中含有r個(gè)不合格品的概率為f(r)=Cnrpr(1-p)n-r=n!r!(n-r)!pr(1-p)n-r]]>
那么，接收的概率，即“OC”函數(shù)為P(r≤c)=Σr=0cn!r!(n-r)!pr(1-p)n-r]]>其中c為驗(yàn)證試驗(yàn)中規(guī)定的允許失效數(shù)。計(jì)算不同的p對應(yīng)的接收概率P，即得驗(yàn)證方案的“OC”函數(shù)曲線。
在上面建立“OC”函數(shù)的過程中，假設(shè)樣本是從所含樣本量為無窮大的產(chǎn)品批中抽取出來的，在這種情況下，二項(xiàng)分布是計(jì)算批接收概率的精確分布。按二項(xiàng)分布模型得到的“OC”函數(shù)稱為類型B-“OC”函數(shù)。
當(dāng)待檢產(chǎn)品批所含產(chǎn)品量N不夠充分大時(shí)，第一次抽取有P(A)＝p，P(A‾)=1-p,]]>而第二次抽取時(shí)，不能認(rèn)為P(A)仍然等于p，即母體數(shù)量的改變對某個(gè)體被抽取到的概率的影響不能被忽略。此時(shí)樣本量為n的樣本中不合格品數(shù)r的精確分布為超二項(xiàng)幾何分布f(r)=CNpr×CN(1-p)(n-r)CNn(Np)!r!(Np-r)!·[N(1-p)]!(n-r)![N(1-p)-(n-r)]!/N!n!(N-n)!]]>同樣可得接收概率，即“OC”函數(shù)為P(r≤c)=Σr=0cCNpr×C(n-r)N(1-p)CNn]]>所得的“OC’函數(shù)稱為類型A-“OC”函數(shù)。
按二項(xiàng)分布計(jì)算接收概率時(shí)，所得的接收概率總是比按超二項(xiàng)幾何分布計(jì)算得到的接收概率要大一些。不過，這種差別只有在樣本量n小到接近于產(chǎn)品批量N時(shí)，才變得顯著。因此，當(dāng)產(chǎn)品批量很大(n/N≤0.10)時(shí)，可以忽略產(chǎn)品批量N對接收概率的影響，用二項(xiàng)分布計(jì)算接收概率。
對于電連接器來講，雖然是屬于批量生產(chǎn)，但由于是根據(jù)任務(wù)來確定生產(chǎn)批次，而且批量N的一般較小，在進(jìn)行抽樣驗(yàn)證時(shí)，往往出現(xiàn)n/N＞0.10的情況，從理論上講，應(yīng)按超幾何分布計(jì)算驗(yàn)證試驗(yàn)的接收概率。但是，由于各批次的批量N大小不等，難以制定出一個(gè)簡單統(tǒng)一的抽樣驗(yàn)證試驗(yàn)方案，因此，采用按二項(xiàng)分布來計(jì)算接收概率。
其次，說明以失效率為指標(biāo)的定時(shí)截尾驗(yàn)證試驗(yàn)方法。驗(yàn)證試驗(yàn)的一般提法是在一定的置信度下，保證驗(yàn)證指標(biāo)大于規(guī)定的極限水平。以失效率為驗(yàn)證指標(biāo)時(shí)，就是在一定的置信度下保證失效率λ(t)小于規(guī)定的極限失效率λ1(t)。由于電連接器的壽命t服從兩參數(shù)的Weibull分布，其失效概率密度函數(shù)為
f(t)=mη(t/η)m-1exp[-(tη)m]=mtm-1/ηm,(t>0,m>0,η>0)]]>其中，m為形狀參數(shù)，η為尺度參數(shù)或特征壽命。
因此，可得相應(yīng)的失效率函數(shù)λ(t)的第(1)數(shù)式及相應(yīng)的可靠度函數(shù)的第(2)數(shù)式λ(t)=mη(t/η)m=mtm-1/ηm,(t>0)]]>R(t)＝exp[-(t/η)m] (t＞0)改變第(1)數(shù)式的形式，可得第(3)數(shù)式ηm＝mtm-1/λ(t)由第(2)數(shù)式得產(chǎn)品在截尾時(shí)間τ時(shí)的可靠度為第(4)數(shù)式R(τ)＝exp[-(τ/η)m] (τ＞0)第(4)數(shù)式代入第(3)數(shù)式得到第(5)數(shù)式R(τ)=exp[-(τ/η)m]=exp[-τmλ(t)mtm-1],(τ>0)]]>在n/N≤0.1的情況下，從同一批產(chǎn)品中隨機(jī)抽取的n個(gè)產(chǎn)品在截尾時(shí)間τ之前最多有c個(gè)產(chǎn)品失效的概率為第(6)數(shù)式P(r≤c)=Σr=0cCnr{1-exp[-τmλ(t)mtm-1]}r{exp[-τmλ(t)mtm-1]}n-r]]>式中的λ(t)就是待驗(yàn)證的可靠性指標(biāo)，t為產(chǎn)品的貯存壽命，τ為試驗(yàn)的截尾時(shí)間。對于給定的貯存壽命t，在確定了生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)a、使用方風(fēng)險(xiǎn)β、產(chǎn)品的極限質(zhì)量水平λ1(t)和合格質(zhì)量水平λ0(t)后，就可通過使用以下第(7)數(shù)式及第(8)數(shù)式P(λ0(t))=Σr=0cCnr{1-exp[-τmλ0(t)mtm-1]}r{exp[-τmλ0(t)mtm-1]}n-r=1-α]]>P(λ1(t))=Σr=0cCnr{1-exp[-τmλ1(t)mtm-1]}r{exp[-τmλ1(t)mtm-1]}n-r=β]]>建立以失效率λ(t)為指標(biāo)的標(biāo)準(zhǔn)抽樣驗(yàn)證試驗(yàn)方案。
計(jì)算時(shí)，可事先給定樣本量n和允許失效數(shù)c的大小，然后代入求出相對應(yīng)的試驗(yàn)截尾時(shí)間τ，把計(jì)算結(jié)果n、c和τ編制成一張驗(yàn)證試驗(yàn)抽樣表，這樣就建立了以失效率λ(t)為指標(biāo)的標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)證試驗(yàn)方案。在得到了樣本量n和允許失效數(shù)c的大小及試驗(yàn)截尾時(shí)間τ后，就可以對電連接器進(jìn)行可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)，得出電連接器的可靠性水平。
例如，為驗(yàn)證Y11X電連接器(壽命分布的參數(shù)估計(jì)值為m^=3.8587]]>)在風(fēng)險(xiǎn)水平a＝1.0％，β＝1.0％下，貯存壽命t＝14年時(shí)的失效率水平，對于極限失效率λ1(t)＝1.0×10-51/h，合格失效率λ0(t)＝1.0×10-61/h的驗(yàn)證指標(biāo)，取樣本量n＝6，允許失效數(shù)c＝5，按照數(shù)式(7)和數(shù)式(8)對Y11X電連接器在25℃貯存溫度下進(jìn)行可靠性試驗(yàn)，得到需要的試驗(yàn)時(shí)間為τ＝266277小時(shí)＝30.40年。按照該試驗(yàn)方案對電連接器進(jìn)行試驗(yàn)。在試驗(yàn)中，將出現(xiàn)的失效數(shù)r與允許的失效數(shù)c進(jìn)行比較，若r≤c，則判定Y11X電連接器質(zhì)量合格，得到Y(jié)11X電連接器在貯存溫度水平T0下，在風(fēng)險(xiǎn)水平a＝1.0％，β＝1.0％時(shí)貯存14年后失效率等級為五級；否則，則判定Y11X電連接器質(zhì)量不合格。
從上例可知，在正常應(yīng)力水平下對產(chǎn)品的可靠性進(jìn)行試驗(yàn)驗(yàn)證，往往要耗費(fèi)很長的試驗(yàn)時(shí)間，這在工程實(shí)際當(dāng)中是無法實(shí)施的。因此，必須對試驗(yàn)進(jìn)行加速，以期在盡可能短的、工程實(shí)際能夠允許的時(shí)間內(nèi)得到驗(yàn)證試驗(yàn)的結(jié)果。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于試驗(yàn)時(shí)間過長，在工程實(shí)際中無法實(shí)施，本發(fā)明的目的提供一種以溫度為加速因子、以失效率為驗(yàn)證指標(biāo)的電連接器失效率的加速驗(yàn)證試驗(yàn)方法，使得在短時(shí)間內(nèi)可以評定電連接器的貯存可靠性。
為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下該方法的步驟如下1)在高于貯存溫度水平下進(jìn)行驗(yàn)證試驗(yàn)，一般電連接器的貯存溫度水平為T0＝25℃；為了制定出高于貯存溫度水平T0的加速驗(yàn)證試驗(yàn)方案，在貯存壽命t不變的條件下，首先必須把貯存溫度水平T0下的失效率λ(t)轉(zhuǎn)化為試驗(yàn)溫度水平Ti下的失效率λ′(t)；由于電連接器的壽命服從兩參數(shù)的Weibull分布，因此，可得電連接器在試驗(yàn)溫度水平Ti下的失效率函數(shù)為λ′(t)＝mtm-1/(η′)m式中，m為電連接器的形狀參數(shù)，η′為電連接器在試驗(yàn)溫度水平Ti下的特征壽命參數(shù)；由電連接器貯存溫度水平T0下的失效率函數(shù)及上述試驗(yàn)溫度水平Ti下的失效率函數(shù)可得第(1)數(shù)式
λ′(t)/λ(t)＝(η/η′)m(1)式中，η為電連接器在試驗(yàn)溫度水平T0下的特征壽命參數(shù)；由于η/η′=aTi~T0]]>其中，aTi-T0為不同的試驗(yàn)溫度Ti相對于貯存溫度T0的加速系數(shù)值，通過aTi～T0，第(1)數(shù)式可轉(zhuǎn)化為λ′(t)=λ(t)·(aTi~T0)m]]>從而λ0′(t)/λ0(t)=λ1′(t)/λ1(t)=aTi~T0m]]>其中，λ0′(t)和λ1′(t)分別為試驗(yàn)溫度水平Ti下的合格失效率和極限失效率。
2)這樣，在某一試驗(yàn)溫度水平Ti下，失效率的鑒別比d′=λ0′(t)/λ1′t=λ0(t)/λ1(t)=d]]>也保持不變，因此可利用貯存溫度水平T0下的失效率驗(yàn)證試驗(yàn)方案作為其加速驗(yàn)證的試驗(yàn)方案，只不過此時(shí)的驗(yàn)證指標(biāo)是λ′(t)而不是λ(t)，其抽樣特性函數(shù)為P(r≤c)=Σr=0cCnr{1-exp[-(τ′)mλ′(t)mtm-1]}r{exp[-(τ′)mλ′(t)mtm-1]}n-r---(2)]]>式中，τ′為試驗(yàn)溫度水平Ti下的驗(yàn)證試驗(yàn)截尾時(shí)間。
3)在風(fēng)險(xiǎn)水平a和β，樣本量n和允許失效數(shù)c保持不變的條件下，若壽命t也保持不變，那么，由P(r≤c)=Σr=0cCnr{1-exp[-τmλ(t)mtm-1]}r{exp[-τmλ(t)mtm-1]}n-r]]>及第(2)數(shù)式可得τmλ(t)/mtm-1＝(τ′)mλ′(t)/mtm-1(3)由第(3)數(shù)式和第(1)數(shù)式得τ′=τ·(λ(t)/λ′(t))1/m=τ·(η′/η)=τ/aTi~T0]]>
由此可見，對于以失效率為驗(yàn)證的加速驗(yàn)證試驗(yàn)方案，在其他參數(shù)均保持不變的條件下，只要在貯存溫度水平T0下的驗(yàn)證試驗(yàn)方案中把試驗(yàn)截尾時(shí)間τ除以相應(yīng)加速系數(shù)aTi～T0即可。
本發(fā)明具有的有益效果是，對電連接器實(shí)行以失效率為驗(yàn)證指標(biāo)、以溫度為加速因子的定時(shí)截尾加速驗(yàn)證試驗(yàn)?zāi)茉诙虝r(shí)間內(nèi)可以評定Y11X電連接器的貯存可靠性。
具體實(shí)施例方式
在加速條件下快速評定電連接器的失效率水平的加速試驗(yàn)中，有必要事先確定電連接器的加速系數(shù)aTi～T0。因?yàn)楸景l(fā)明是以定時(shí)截尾驗(yàn)證試驗(yàn)方案為基礎(chǔ)，將試驗(yàn)的截尾時(shí)間τ除以加速系數(shù)aTi～T0來得到失效率的定時(shí)截尾加速驗(yàn)證試驗(yàn)方案。所以，在確定試驗(yàn)方案時(shí)，，首先必須選定電連接器的加速試驗(yàn)溫度水平Ti，并且加速試驗(yàn)溫度水平Ti選定后，在加速驗(yàn)證試驗(yàn)中不得改變。
其次，選定生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)a和使用方風(fēng)險(xiǎn)β后，確定抽樣的樣本量n和最大允許失效數(shù)c，然后根據(jù)數(shù)式P(λ0(t))=Σr=0cCnr{1-exp[-τmλ0(t)mtm-1]}r{exp[-τmλ0(t)mtm-1]}n-r=1-αP(λ1(t))=Σr=0cCnr{1-exp[-τmλ1(t)mtm-1]}r{exp[-τmλ1(t)mtm-1]}n-r=β]]>求出在貯存溫度水平T0下與樣本量n和最大允許失效數(shù)c對應(yīng)的試驗(yàn)截尾時(shí)間τ。
然后，根據(jù)選定的加速試驗(yàn)溫度水平Ti，確定試驗(yàn)溫度Ti相對于貯存溫度T0的加速系數(shù)值aTi～T0。根據(jù)數(shù)式τ′=τ·(λ(t)/λ′(t))1/m=τ·(η′/η)=τ/aTi~T0]]>求出在加速試驗(yàn)溫度水平Ti下對應(yīng)該樣本量n和最大允許失效數(shù)c的截尾時(shí)間τ。
這樣，在確定了樣本量n、最大允許失效數(shù)c、截尾時(shí)間τ′以及加速試驗(yàn)溫度水平Ti后，就可以對電連接器進(jìn)行可靠性定時(shí)截尾加速驗(yàn)證試驗(yàn)，將電連接器置于加速試驗(yàn)溫度水平Ti下，連續(xù)保持τ′小時(shí)。將在試驗(yàn)中出現(xiàn)的失效數(shù)r與允許的失效數(shù)c進(jìn)行比較，若r≤c，則判定電連接器質(zhì)量合格，得到電連接器在相應(yīng)的貯存溫度水平T0下，在一定的風(fēng)險(xiǎn)水平時(shí)，貯存壽命t后失效率等級；若r＞c，則判定電連接器質(zhì)量不合格，即達(dá)不到相應(yīng)的失效率等級。這樣即能在截尾時(shí)間τ′內(nèi)即可得到驗(yàn)證試驗(yàn)的結(jié)果，從而可以快速評定電連接器的可靠性水平。
以下，舉出具體的例子說明本實(shí)施方式的加速驗(yàn)證試驗(yàn)方法。
以Y11X電連接器為驗(yàn)證試驗(yàn)的對象，在加速條件下快速評價(jià)Y11X電連接器在貯存溫度水平T0＝25℃下的可靠性水平的加速試驗(yàn)中，有必要事先確定為評價(jià)可靠性水平必要的加速系數(shù)aTi～T0。所以，為了確定加速系數(shù)，必須首先確定Y11X電連接器的加速試驗(yàn)溫度水平Ti。在此選取加速試驗(yàn)溫度水平Ti＝125℃。
其次，選定生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)a＝1％和使用方風(fēng)險(xiǎn)β＝1％，可靠壽命t＝14年，給定抽樣的樣本量n＝7和最大允許失效數(shù)c＝4，然后根據(jù)P(λ0(t))=Σr=0cCnr{1-exp[-τmλ0(t)mtm-1]}r{exp[-τmλ0(t)mtm-1]}n-r=1-αP(λ1(t))=Σr=0cCnr{1-exp[-τmλ1(t)mtm-1]}r{exp[-τmλ1(t)mtm-1]}n-r=β]]>求得在貯存溫度水平T0下對應(yīng)于不同的失效率等級的截尾時(shí)間如表二所示。
然后，根據(jù)選定的加速試驗(yàn)溫度水平Ti＝125℃，由表一查出不同試驗(yàn)溫度Ti相對于貯存溫度T0的加速系數(shù)值aTi～T0為8292.59。根據(jù)數(shù)式τ′=τ·(λ(t)λ′(t))1/m=τ·(η′/η)=τ/aTi~T0]]>可得在加速溫度水平Ti＝125℃下對應(yīng)于不同失效率等級的截尾時(shí)間τ′，見表二。
表一不同試驗(yàn)溫度Ti相對于貯存溫度T0的加速系數(shù)值

表二加速溫度水平Ti＝125℃下對應(yīng)于不同失效率等級的截尾時(shí)間τ′

最后，在125℃下對7套Y11X電連接器進(jìn)行加速壽命試驗(yàn)，到截尾時(shí)間287.6h時(shí)全部失效，試樣在各截尾時(shí)間的失效數(shù)如表三所示，表三

從表三可以看出，Y11X電連接器在截尾時(shí)間153.5小時(shí)失效數(shù)r＝4≤c，因此可以在截尾時(shí)間153.5小時(shí)內(nèi)評定Y11X電連接器在貯存溫度為25℃、風(fēng)險(xiǎn)水平a＝1.0％，β＝1.0％時(shí)貯存14年后失效率為八級，而不必花1272912.6小時(shí)甚至2384948.884小時(shí)去評定Y11X電連接器的可靠性水平。
本發(fā)明的電連接器的以失效率為指標(biāo)、以溫度為加速因子的定時(shí)截尾加速驗(yàn)證試驗(yàn)方法中根據(jù)P(λ0(t))=Σr=0cCnr{1-exp[-τmλ0(t)mtm-1]}r{exp[-τmλ0(t)mtm-1]}n-r=1-αP(λ1(t))=Σr=0cCnr{1-exp[-τmλ1(t)mtm-1]}r{exp[-τmλ1(t)mtm-1]}n-r=β]]>τ′=τ·(λ(t)/λ′(t))1/m=τ·(η′/η)=τ/aTi~T0]]>可算出在加速溫度水平下的截尾時(shí)間τ。從而大幅度縮短了加速驗(yàn)證試驗(yàn)的時(shí)間。其結(jié)果，可在短時(shí)間內(nèi)快速評定電連接器的可靠性水平。
權(quán)利要求
1.電連接器失效率的加速驗(yàn)證試驗(yàn)方法，其特征在于該方法的步驟如下1)在高于貯存溫度水平下進(jìn)行驗(yàn)證試驗(yàn)，一般電連接器的貯存溫度水平為T0＝25℃；為了制定出高于貯存溫度水平T0的加速驗(yàn)證試驗(yàn)方案，在貯存壽命t不變的條件下，首先必須把貯存溫度水平T0下的失效率λ(t)轉(zhuǎn)化為試驗(yàn)溫度水平Ti下的失效率λ′(t)；由于電連接器的壽命服從兩參數(shù)的Weibull分布，因此，可得電連接器在試驗(yàn)溫度水平Ti下的失效率函數(shù)為λ′(t)＝mtm-1/(η′)m式中，m為電連接器的形狀參數(shù)，η′為電連接器在試驗(yàn)溫度水平Ti下的特征壽命參數(shù)；由電連接器貯存溫度水平T0下的失效率函數(shù)及上述試驗(yàn)溫度水平Ti下的失效率函數(shù)可得第(1)數(shù)式λ′(t)/λ(t)＝(η/η′)m(1)式中，η為電連接器在試驗(yàn)溫度水平T0下的特征壽命參數(shù)；由于η/η′=aTi-T0]]>其中，aTi～T0為不同的試驗(yàn)溫度Ti相對于貯存溫度T0的加速系數(shù)值，通過aTi～T0，第(1)數(shù)式可轉(zhuǎn)化為λ′(t)=λ(t)·(aTi-T0)m]]>從而λ0′(t)/λ0(t)=λ1′(t)/λ1(t)=aTi-T0m]]>其中，λ0′(t)和λ1′(t)分別為試驗(yàn)溫度水平Ti下的合格失效率和極限失效率。2)這樣，在某一試驗(yàn)溫度水平Ti下，失效率的鑒別比d′＝λ0′(t)/λ1′(t)＝λ0(t)/λ1(t)＝d也保持不變，因此可利用貯存溫度水平T0下的失效率驗(yàn)證試驗(yàn)方案作為其加速驗(yàn)證的試驗(yàn)方案，只不過此時(shí)的驗(yàn)證指標(biāo)是λ′(t)而不是λ(t)，其抽樣特性函數(shù)為P(r≤c)=Σr=0cCnr{1-exp[-(τ′)mλ′(t)mtm-1]}r{exp[-(τ′)mλ′(t)mtm-1]}n-r---(2)]]>式中，τ′為試驗(yàn)溫度水平Ti下的驗(yàn)證試驗(yàn)截尾時(shí)間。3)在風(fēng)險(xiǎn)水平α和β，樣本量n和允許失效數(shù)c保持不變的條件下，若壽命t也保持不變，那么，由P(r≤c)=Σr=0cCnr{1-exp[-τmλ(t)mtm-1]}r{exp[-τmλ(t)mtm-1]}n-r]]>及第(2)數(shù)式可得τmλ(t)/mtm-1＝(τ′)mλ′(t)/mtm-1(3)由第(3)數(shù)式和第(1)數(shù)式得τ′=τ·(λ(t)/λ′(t))1/m=τ·(η′/η)=τ/aTi-T0]]>由此可見，對于以失效率為驗(yàn)證的加速驗(yàn)證試驗(yàn)方案，在其他參數(shù)均保持不變的條件下，只要在貯存溫度水平T0下的驗(yàn)證試驗(yàn)方案中把試驗(yàn)截尾時(shí)間τ除以相應(yīng)加速系數(shù)aTi～T0即可。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種電連接器失效率的加速驗(yàn)證試驗(yàn)方法。首先把貯存溫度水平T
文檔編號G01R31/00GK101017189SQ20071006718
公開日2007年8月15日 申請日期2007年2月6日 優(yōu)先權(quán)日2007年2月6日
發(fā)明者陳文華, 錢萍, 崔杰, 盧獻(xiàn)彪, 周升俊 申請人:浙江大學(xué)