專利名稱：電流檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電流檢測(cè)裝置，特別是指一種將霍爾組件連接于 電路基板上進(jìn)行測(cè)量電流值的電流檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
由于近年來(lái)高科技技術(shù)的突飛猛進(jìn)，尤其在微電子相關(guān)技術(shù)制程 的領(lǐng)域中更是日新月異，故電子相關(guān)產(chǎn)品已深入于每個(gè)家庭及各行各 業(yè)中，成為現(xiàn)代生活中不可或缺的一部份。當(dāng)然由于人類的需求越來(lái) 越多，相對(duì)使得電子裝置必須達(dá)到更多功能性的使用，致使電子產(chǎn)品 朝向多元化功效的目標(biāo)邁進(jìn)。且上述的電子產(chǎn)品在安全的考量下，必 須對(duì)其電路中電壓及電流的負(fù)載或供輸加以檢測(cè)，以確保該電子產(chǎn)品
對(duì)人類或外圍設(shè)備的傷害或破壞減至最小。
而針對(duì)量測(cè)直流電壓及直流電流最簡(jiǎn)單及使用最廣的方法是為 電壓及電流電阻傳感器法。請(qǐng)參閱圖1所示，為常用并聯(lián)電壓取樣電
路示意圖。常用并聯(lián)電壓取樣電路r將一負(fù)載電路ii中擷取電壓取
樣點(diǎn)a、 b，再利用分壓電路原理，取得一定比例的電壓值。而可變 電阻VK電阻值愈大，愈無(wú)負(fù)載效應(yīng)，再加以運(yùn)算放大器(0PA)12接成 電壓隨耦器，可提高輸入阻抗，使得量測(cè)輸出電壓V一約略等于取樣 電壓VA。如圖2所示，為常用提高輸入阻抗電壓取樣電路示意圖。 常用的電壓取樣電路2將提高輸入取樣電路Vin的輸入阻抗，且有放
大作用，使量測(cè)輸出電壓V。ut約略等于取樣電壓Vin。
請(qǐng)參閱圖3圖所示，為常用串聯(lián)壓降取樣電路示意圖。常用串聯(lián) 壓降取樣電路3以電流為取樣，利用電阻壓降法，取一定比例的電壓 值，Rx電阻電阻值愈小，愈無(wú)負(fù)載效應(yīng)，運(yùn)算放大器32接成高增益 電壓放大，可提高感測(cè)量。利用并聯(lián)高電阻取樣感測(cè)電壓，若必要時(shí) 可以加上倍增電阻分壓，利用串聯(lián)低電阻取樣感測(cè)電流，若必要時(shí)可 以加上分流電阻分流，再經(jīng)由歐姆定律，分壓或分流關(guān)系，得到電壓 或電流值，必要時(shí)再轉(zhuǎn)變成適當(dāng)?shù)钠渌娮有盘?hào)，傳送或處理(控制)電路。
但是上述數(shù)個(gè)取樣電路街具有相同的缺失，即無(wú)法和負(fù)載電路相 隔離，會(huì)產(chǎn)生負(fù)載效應(yīng)及線路損失，且必要時(shí)要加上放大電路，因此 如何去解決此一問(wèn)題， 一直是業(yè)者急迫于尋求解決的方案以及改進(jìn)之 處。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明主要解決的技術(shù)問(wèn)題是針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供 一種電流檢測(cè)裝置，利用霍爾組件的使用特性，達(dá)到增加測(cè)量電流值 靈敏度的功效。
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是 一種電流 檢測(cè)裝置，其包括一電路基板，該電路基板的一側(cè)面上設(shè)有預(yù)定的電 路布局；還包括
一鐵心，其上繞設(shè)有至少一主線圈，該主線圈二端分別與所述電 路基板相連接，且使該鐵心位于所述電路基板的另一側(cè)面上，而所述 鐵心的軸向方向大致上與此電路基板相垂直；
一線圈架體，其與所述鐵心的一端相連接，其上繞設(shè)有軸向方向 大致上與所述鐵心的軸向方向相平行的多數(shù)個(gè)副線圈；以及
一霍爾組件，其連接所述電路布局上，且位于該鐵心的軸向方向 以及該副線圈的軸向方向上。
如此，該電流檢測(cè)裝置，透過(guò)霍爾組件的使用特性(磁通密度與 流過(guò)電流成正比)，而進(jìn)行測(cè)量電流值，達(dá)到增加測(cè)量電流值靈敏度 的功效；達(dá)到低壓降電阻且能確實(shí)測(cè)量電流值的功效；提供與主線圈 相對(duì)應(yīng)的多數(shù)個(gè)副線圈，利用調(diào)整副線圈數(shù)量，達(dá)到擴(kuò)大電流控制范 圍的功效；利用不必與測(cè)量電路直接接觸，即可達(dá)到防止電流檢測(cè)裝 置因壓降產(chǎn)生過(guò)熱的功效。
為便于對(duì)本發(fā)明的電流檢測(cè)裝置其它特點(diǎn)及結(jié)構(gòu)能有更深入的 了解，茲藉一實(shí)施例詳述于后


圖1為常用并聯(lián)電壓取樣電路示意圖。圖2為常用提高輸入阻抗電壓取樣電路示意圖。圖3為常用串聯(lián)壓降取樣電路示意圖。圖4為常用霍爾組件結(jié)構(gòu)及作動(dòng)電路示意圖。圖5為本發(fā)明電流檢測(cè)裝置較佳實(shí)施例立體結(jié)構(gòu)示意圖。圖6為本發(fā)明電流檢測(cè)裝置較佳實(shí)施例另一視角立體結(jié)構(gòu)示意圖。圖7為本發(fā)明電流檢測(cè)裝置較佳實(shí)施例側(cè)視結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
請(qǐng)參閱圖4所示，為常用霍爾組件結(jié)構(gòu)及作動(dòng)電路示意圖。所述 霍爾組件4具有一感應(yīng)器41，此感應(yīng)器41為呈X方向及Y方向延伸 而建構(gòu)出的一薄片結(jié)構(gòu)。當(dāng)施加一作動(dòng)電壓V"時(shí)，可進(jìn)行作動(dòng)該感 應(yīng)器41以感應(yīng)出流過(guò)電流的磁通密度(沿Z方向)，且以該感應(yīng)器41 反應(yīng)出一輸出電壓V。ut。由于磁通密度與流過(guò)電流成正比關(guān)系，進(jìn)行 測(cè)量電流值時(shí)，此霍爾組件4不必跟電路接觸(串接)。請(qǐng)參閱圖5圖至圖7所示，為本發(fā)明電流檢測(cè)裝置較佳實(shí)施例立 體結(jié)構(gòu)及側(cè)視結(jié)構(gòu)示意圖。本發(fā)明的電流檢測(cè)裝置5，其包括有一 電路基板51、 一鐵心52、 一線圈架體53以及一霍爾組件54。所述 電路基板51具有相互平行的一第一側(cè)面511以及一第二側(cè)面512， 此第一側(cè)面上511印制設(shè)有預(yù)定的一電路布局513，提供電流的傳遞 導(dǎo)通。所述鐵心52其為一圓柱體，其上繞設(shè)有至少一主線圈55，此主 線圈55為銅及其合金所制成，而此主線圈55 二端分別與所述電路基 板51相連接，且使所述鐵心52位于此電路基板51的第二側(cè)面512 上，而此鐵心52的軸向方向91大體上與所述電路基板51相垂直。 此線圈架體53與所述鐵心52的一端相連接，且位于所述鐵心52鄰 近此第一側(cè)面上511的一端上。所述線圈架體53其上繞設(shè)有軸向方 向大致上與所述鐵心52的軸向方向91相平行的多數(shù)個(gè)副線圈56， 此副線圈56為銅及其合金所制成。所述霍爾組件54是連接此電路布 局513上，且位于所述鐵心52的軸向方向91以及此副線圈56的軸向方向92上。當(dāng)直流電源I通過(guò)此主線圈55時(shí)，由于所述鐵心52具有高導(dǎo)磁 率，因此更使得此直流電源I沿所述鐵心52的軸向方向91(即垂直 于所述電路基板51方向)匯集形成相對(duì)應(yīng)的一第一磁通密度Bl，再 以所述霍爾組件54接收此主線圈55所形成的第一磁通密度Bl后， 可計(jì)算出此直流電源I的電流值。再通過(guò)另一電流II沿此副線圈56 的軸向方向92形成相對(duì)應(yīng)的一第二磁通密度B2，而第二磁通密度B2 是與第一磁通密度Bl為相反方向，因此可利用調(diào)整通過(guò)另一電流II 的大小，達(dá)成擴(kuò)大控制電流范圍的大小。由此得知本發(fā)明的電流檢測(cè)裝置，確實(shí)是克服常用技術(shù)的缺失， 滿足產(chǎn)業(yè)界的需求并提高產(chǎn)業(yè)競(jìng)爭(zhēng)力。本發(fā)明的目的及功效上均深富 實(shí)施的進(jìn)步性，極具產(chǎn)業(yè)上的利用價(jià)值，且為目前市面上前所未見(jiàn)的 新創(chuàng)作，完全符合專利新穎性與進(jìn)步性的要件，依法提出申請(qǐng)。
權(quán)利要求
1.一種電流檢測(cè)裝置，其包括一電路基板，該電路基板的一側(cè)面上設(shè)有預(yù)定的電路布局；其特征在于還包括一鐵心，其上繞設(shè)有至少一主線圈，該主線圈二端分別與所述電路基板相連接，且使該鐵心位于所述電路基板的另一側(cè)面上，而所述鐵心的軸向方向大致上與此電路基板相垂直；一線圈架體，其與所述鐵心的一端相連接，其上繞設(shè)有軸向方向大致上與所述鐵心的軸向方向相平行的多數(shù)個(gè)副線圈；以及一霍爾組件，其連接所述電路布局上，且位于該鐵心的軸向方向以及該副線圈的軸向方向上。
2. 如權(quán)利要求第1所述的電流檢測(cè)裝置，其征在于所述線圈架 體其結(jié)合在所述鐵心鄰近該側(cè)面的一端上。
3. 如權(quán)利要求1所述的電流檢測(cè)裝置，其特征在于所述主線圈 通過(guò)一電流時(shí)，會(huì)沿此鐵心的軸向方向形成一第一磁通密度。
4. 如權(quán)利要求1所述的電流檢測(cè)裝置，其特征在于多數(shù)個(gè)副線 圈通過(guò)一電流時(shí)，會(huì)沿此副線圈的軸向方向形成一第二磁通密度。
5. 如權(quán)利要求1所述的電流檢測(cè)裝置，其特征在于所述鐵心具 有高導(dǎo)磁率。
6. 如權(quán)利要求1所述的電流檢測(cè)裝置，其特征在于所述主線圈 由銅及其合金所制成。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種電流檢測(cè)裝置，包括有一電路基板、一鐵心、一線圈架體、以及一霍爾組件。所述電路基板一側(cè)面上設(shè)有預(yù)定的電路布局。所述鐵心上繞設(shè)有至少一主線圈，該主線圈二端分別與所述電路基板相連接，且使此鐵心位于所述電路基板的另一側(cè)面上，而所述鐵心的軸向方向大體上與所述電路基板相垂直。所述線圈架體與鐵心的一端相連接，其上繞設(shè)有軸向方向及與所述鐵心的軸向方向大致相平行的多數(shù)個(gè)副線圈。該霍爾組件連接該電路布局上，且位于所述鐵心的軸向方向以及此副線圈的軸向方向上，透過(guò)所述霍爾組件的使用特性(磁通密度與流過(guò)電流成正比)，而進(jìn)行測(cè)量電流值。
文檔編號(hào)G01R15/14GK101320056SQ200710110609
公開(kāi)日2008年12月10日 申請(qǐng)日期2007年6月7日 優(yōu)先權(quán)日2007年6月7日
發(fā)明者潘正友 申請(qǐng)人:昱京科技股份有限公司