專利名稱：一種微電信處理架構(gòu)的聯(lián)合測試行動小組測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及聯(lián)合測試行動小組(JTAG, JOINT TEST ACTION GROUP )測 試技術(shù)，尤其涉及一種孩i電信處理架構(gòu)(MicroTCA, Micro Telecommunication Computing Architecture )的JTAG測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
JTAG協(xié)議是一種國際標準測試協(xié)議，主要用于芯片內(nèi)部測試。PCI工業(yè)計 算機制造組織(PICMG， PCI Industrial Computer Manufacturers Group )制定了 一套MicroTCA規(guī)范，目的是能讓先進子卡(AMC， Advanced Mezzanine Card) 可以直接插在背板上。MicroTCA因其尺寸小、擴展性和靈活性好、以及成本 因素等特點適合無線基站側(cè)設(shè)備等的使用。測試是MicroTCA的一個較為重要的部分，MicroTCA的測試可以用JTAG 接口來實現(xiàn)。圖1為現(xiàn)有MicroTCA的JTAG測試系統(tǒng)的組成結(jié)構(gòu)圖。如圖1 所示，現(xiàn)有MicroTCA的JTAG測試系統(tǒng)包括外部測試單元111;兩塊MicroTCA 的主控板(MCH， MicroTCA Carrier Hub),分別標記為第一 MCH211、第二 MCH212; JTAG交換模塊(JSM, JTAG Switch Module ) 311;十二塊AMC, 分別標記為第一 AMC411 ~第十二 AMC422。并且圖l中，外部測試單元111涉及的接口信號包括數(shù)據(jù)輸入信號，以 TDIe表示；數(shù)據(jù)輸出信號，以TDOe表示；測試時鐘信號，以TCKe表示；測 試模式選擇信號，以TMSe表示；測試復(fù)位信號，以TRST#e表示；主用請求 信號，以TMREQ弁e表示；JSM配置模式選擇信號，以JSMCONFIG#e表示。第一MCH211涉及的接口信號包括測試數(shù)據(jù)輸入信號，以TDIl表示； 測試數(shù)據(jù)輸出信號，以TDOl表示；測試時鐘信號，以TCK1表示；測試模式選擇信號，以TMS1表示；測試復(fù)位信號，以TRST1表示；主用請求信號，以 TMREQ弁1表示；第一MCH接口方向控制信號，以MCDIR#1表示。第二MCH212 涉及的接口信號包括測試數(shù)據(jù)輸入信號，以TDI2表示；測試數(shù)據(jù)輸出信號， 以TD02表示；測試時鐘信號，以TCK2表示；測試模式選擇信號，以TMS2 表示；測試復(fù)位信號，以TRST2表示；主用請求信號，以TMREQ弁2表示；第 一 MCH接口方向控制信號，以MCDIR#2表示。十二塊AMC涉及接口信號的表示方式類型，以第一AMC411為例來說， 第一 AMC411涉及的接口信號包括測試數(shù)據(jù)輸出信號，以STDOl表示；測 試數(shù)據(jù)輸入信號，以STDI1表示；測試模式選擇信號，以STMS1表示；測試 時鐘信號STCK1表示；測試復(fù)位信號，以STRST#1表示。綜上所述，需要指出的是，上述涉及同類信號表示方式的區(qū)別僅在于最末 位的標識不同，該最末位的標識用于區(qū)別對應(yīng)圖1系統(tǒng)的不同組成部分。比如， 以外部測試單元111涉及的測試時鐘信號以TCKe表示，第一MCH211涉及的 測試時鐘信號以TCK1表示。其中TCK代表測試時鐘信號。目前，現(xiàn)有MicroTCA的JTAG測試系統(tǒng)一般采用在MicroTCA機箱的背 板上實現(xiàn)JSM,或在MicroTCA機箱內(nèi)單獨增加一個額外的單板實現(xiàn)JSM。并 且MicroTCA系統(tǒng)的各單板比如MCH和AMC和外部測試單元都通過JTAG接 口連在JSM上。那么，在MicroTCA的JTAG測試系統(tǒng)中，外部測試單元作為 發(fā)起測試的主裝置master能通過JTAG接口測試系統(tǒng)的MCH和AMC。 MCH 既能作為master來測試系統(tǒng)的AMC和系統(tǒng)中的其他MCH,又能作為從裝置 slave ^皮其它的master測試。AMC只能作為slave #皮master測試。這里，JSM 的作用主要有兩點 一是對外部測試單元而言，系統(tǒng)的MCH中，將哪個MCH 作為master的選4奪；二是把選定的master和設(shè)定的slave相連，逐步對slave進 行測試。綜上所述，現(xiàn)有^支術(shù)需要實現(xiàn)JSM，并通過JSM的作用，選定master后， 將選定的master和設(shè)定的slave相連，逐步對slave進行測試。那么，如果采用 在背板上實現(xiàn)JSM，則將增加背板的復(fù)雜度，加工的時候會增加一道貼片工序。如果采用增加一個額外的單;tl實現(xiàn)JSM的話，則勢必會增加MicroTCA的JTAG 測試系統(tǒng)的制造成本。發(fā)明內(nèi)容有鑒于此，本發(fā)明的主要目的在于提供一種MicroTCA的JTAG測試系統(tǒng)， 無需實現(xiàn)JSM,并且能實現(xiàn)將選定的master和設(shè)定的slave相連，逐步完成對 slave的觀'H式。為達到上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的一種MicroTCA的JTAG測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括外部測試單元、MCH和 AMC;其中，外部測試單元，與所述MCH和所述AMC的JTAG接口采用總線方式連在 一起，用于作為master,對所述MCH和所述AMC進4亍測試；MCH，用于作為master,測試所述AMC;或者作為slave被所述外部測試 單元測試；AMC,用于4乍為slave #皮當(dāng)前master觀'J i式。其中，所述外部測試單元與所述MCH和所述AMC的信號連接方式為 TDI連接到所述MCH和所述AMC的TDO,所述外部測試單元的TDO連接到 所述MCH和所述AMC的TDI。其中，所述MCH還包括判決模塊，則MCH進一步根據(jù)所述判決模塊預(yù)設(shè) 的判決方式判定所述系統(tǒng)中的當(dāng)前master，對所述系統(tǒng)中的當(dāng)前slave進行測試。其中，當(dāng)所述MCH為第一MCH時，所述判決^^莫塊中預(yù)設(shè)的判決方式為判斷TMREQ^e信號是否有效，如有效，則判定所述外部測試單元為master, 所述第一 MCH作為slave;當(dāng)TMREQ#e信號無效，判斷TMREQ#1信號是否 有效，有效則第一 MCH作為master,其它條件下都默i人為slave。其中，當(dāng)所述MCH為第一 MCH和第二 MCH,并且當(dāng)前MCH為第二 MCH 時，所述判決模塊中預(yù)設(shè)的判決方式為判斷TMREQ#e信號是否有效，如有效，則所述外部測試單元為master,所述第二 MCH作為slave;當(dāng)TMREQ#e信號無效，須判斷TMREQ#1信號是 否有效，有效則所述第一MCH為master,所述第二MCH作為slave;當(dāng)TMREQ#e 和TMREQ#1信號都無效時，判斷TMREQ#2信號，有效則第二 MCH作為 master,其它條件下都默認為slave。其中，所述外部測試單元與所述MCH的信號連接方式進一步為 將TMREQ弁e信號連接到所述第一MCH和所述第二MCH上；并且，將第 一 MCH的TMREQ#1連接到第二 MCH上；將第二 MCH的TMREQ#2連到第 一 MCH上。本發(fā)明的系統(tǒng)包括外部測試單元、MCH和AMC。以系統(tǒng)中包括兩塊MCH 舉例來說，針對背板實現(xiàn)部分而言，本發(fā)明無需實現(xiàn)JSM,只需把各MCH和 各AMC以及外部測試單元的JTAG接口采用總線方式連在一起。并且，需要 指出的是，外部測試單元的TDI連到各MCH和各AMC的TDO;外部測試單 元的TDO和各MCH和各AMC的TDI連在一起。針對MCH實現(xiàn)部分而言， 需要把外部測試單元的TMRE(^e信號連到兩塊MCH比如MCH1和MCH2上。 其中，將MCH1的TMREQ# 1連接到MCH2上，MCH2的TMREQ#2連到MCH1, JTAG接口和背板總線連在一起。針對AMC實現(xiàn)部分而言，只需將JTAG接口 和背板總線連在一起即可。綜上所述，本發(fā)明無需額外增加JSM，同樣能完成對MicroTCA的測試操 作，即能實現(xiàn)將選定的master和設(shè)定的slave相連，逐步完成對slave的測試。 從而降低了 MicroTCA的JTAG測試系統(tǒng)的制造成本。


圖1為現(xiàn)有MicroTCA的JTAG測試系統(tǒng)的組成結(jié)構(gòu)圖；圖2為本發(fā)明MicroTCA的JTAG測試系統(tǒng)一實施例的組成結(jié)構(gòu)圖；圖3為本發(fā)明系統(tǒng)中MCH—實施例的組成結(jié)構(gòu)圖；圖4為本發(fā)明系統(tǒng)中AMC—實施例的組成結(jié)構(gòu)圖。
具體實施方式
本發(fā)明的核心思想是本發(fā)明無需額外增加JSM,具體通過背板實現(xiàn)部分、 MCH實現(xiàn)部分和AMC實現(xiàn)部分接口信號的連接，同樣能完成對MicroTCA的 測試操作，即能實現(xiàn)將選定的master和設(shè)定的slave相連，逐步完成對slave的 測試。下面結(jié)合附圖對技術(shù)方案的實施作進一步的詳細描述。一種MicroTCA的JTAG測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括外部測試單元、MCH和 AMC。并且MCH/AMC可以為一塊，也可以為多塊。該系統(tǒng)具體通過背板實 現(xiàn)部分、MCH實現(xiàn)部分和AMC實現(xiàn)部分接口信號的連接，來完成對MicroTCA 的測試操作。其中，當(dāng)系統(tǒng)中包括多塊MCH/AMC時，外部測試單元與系統(tǒng)中各MCH 和各AMC的JTAG接口采用總線方式連在一起。外部測試單元用于作為master, 對各MCH和各AMC進行測試。MCH既能作為master,測試系統(tǒng)的AMC和 系統(tǒng)中的其他MCH;又能作為slave,被其它master測試。各AMC只能作為 slave被master觀'J試。這里，當(dāng)外部測試工具、各MCH同時申請作為master的時候，需設(shè)置它 們作為master的優(yōu)先級。這里，所述MCH還包括判決模塊，則MCH進一步根據(jù)所述判決模塊預(yù)設(shè) 的判決方式判定所述系統(tǒng)中的當(dāng)前master,對所述系統(tǒng)中的當(dāng)前slave進行測試。圖2所示的系統(tǒng)實施例一中，包括外部測試單元111;兩塊MCH，分別為 第一 MCH211和第二 MCH212;十二塊AMC，分別為第一 AMC411 第十二 AMC422。以下對系統(tǒng)具體通過背板實現(xiàn)部分、MCH實現(xiàn)部分和AMC實現(xiàn)部分接口 信號的連接，來完成對MicroTCA的測試操作進行闡述。如圖2所示，針對背板實現(xiàn)部分而言，將第一MCH211、第二MCH212、 第一 AMC411 第十二 AMC422、以及外部測試單元111的JTAG接口采用總線方式連在一起。并且，將外部測試單元111的TDI連接到第一MCH211和第二 MCH212的TDO;將外部測試單元111的TDI連接到第一 AMC411 第十二 AMC422的TDO。將外部測試單元111的TDO連接到第一 MCH211和第二 MCH212的TDI;將外部測試單元111的TDO連接到第一 AMC411 第十二 AMC422的TDI。這里，圖2中點劃線以下代表背板所在位置。針對MCH實現(xiàn)部分而言，需要把外部測試單元111的TMREQ#e信號連 到兩塊MCH即第一MCH211和第二MCH212上，如圖2中的粗實線所示。其 中，將第一 MCH211的TMREQ#1連接到第二 MCH212上，將第二 MCH212 的TMREQ#2連到第一 MCH211上，如圖2中的中實線所示。并且MCH實現(xiàn) 部分的JTAG接口和背板實現(xiàn)部分采用總線方式連接在一起。針對AMC實現(xiàn) 部分而言，將AMC實現(xiàn)部分的JTAG接口和背板實現(xiàn)部分總線采用總線方式 連接在一起。如圖3所示為系統(tǒng)中MCH的實現(xiàn)方法。該MCH包括CPU511,第一 JTAG 器件61 ~第n JTAG器件6n,邏輯器件711,第一邏輯器件811和第二邏輯器 件812，連接到背板的連接器911。這里，第一 JTAG器件~第n JTAG器件還 可以為n個JTAG鏈，分別為第一 JTAG鏈 第nJTAG鏈，第一邏輯器件和第 二邏輯器件還可以為兩個JTAG橋片，分別為第一 JTAG橋片和第二 JTAG橋片。 這里需要指出的是，圖3中的粗實線代表控制器讀寫總線。圖3中涉及的接口 信號參見上述對圖1中所涉及MCH的描述。對于整個系統(tǒng)來說，可以根據(jù)預(yù)先的設(shè)定，如插入槽位的判別，確定該 MCH為第一MCH還是第二MCH。并且，當(dāng)外部測試單元、第一MCH、第二 MCH同時申請作為master的時候，需設(shè)置它們作為master的優(yōu)先級?？梢栽O(shè) 置外部測試單元的優(yōu)先級最高，第一MCH次之，第二MCH最低。這里，MCH進一步根據(jù)判決模塊預(yù)設(shè)的判決方式判定圖2所示系統(tǒng)中的當(dāng) 前master,對該系統(tǒng)中的當(dāng)前slave進行測試。那么，判決模塊中預(yù)設(shè)的判決方式為當(dāng)系統(tǒng)中只包括一塊MCH，并且為第一MCH時，首先判斷TMREQ弁e信號是否有效，如有效，則判定外部測試單元為master,第一 MCH作為slave; 當(dāng)TMREQ#e信號無效，判斷TMREQ#1信號是否有效，有效則第一 MCH作 為master,其它條件下都默認為slave。當(dāng)系統(tǒng)中包括兩塊MCH,并且當(dāng)前MCH為第二 MCH時，首先須判斷 TMRE(^e信號是否有效，如有效，則外部測試單元為master,第二MCH作為 slave;當(dāng)TMREQ#e信號無效，須判斷TMREQ#1信號是否有效，有效則第一 MCH為master,第二 MCH作為slave;當(dāng)TMREQ#e和TMREQ#1信號都無效 的時候，判斷TMRE(^2信號，有效則第二MCH作為master,其它條件下都 默認為slave 。這里，如圖3所示，當(dāng)MCH即第一 MCH/第二 MCH作為master的時候， CPU511下測試指令，通過第一邏輯器件811把CPU511的控制接口轉(zhuǎn)變?yōu)镴TAG 接口 ，連接到背板，/人而對整個系統(tǒng)進行測試。當(dāng)MCH即第一 MCH/第二 MCH 作為slave的時候，設(shè)置圖3中第一邏輯器件811的JTAG接口為三態(tài)，從背板 來的JTAG接口信號通過圖3中的第二邏輯器件812分發(fā)到該MCH上的各器 件，從而被其它的master測試。并且圖3中第一邏輯器件811和第二邏輯器件 812都可以選用專門的器件實現(xiàn)或者采用自己用可編程器件實現(xiàn)。如圖4所示為系統(tǒng)中AMC的實現(xiàn)方法。該AMC包括第一 JTAG器件61 ~ 第nJTAG器件6n ，第三邏輯器件813和連接到背板的連接器911。從圖4中 可直觀獲知，只需要把背板來的JTAG信號分發(fā)到該AMC上的各芯片即可。 這里，第一 JTAG器件~第n JTAG器件還可以為n個JTAG鏈，分別為第一 JTAG 鏈 第nJTAG鏈，第三邏輯器件還可以為JTAG橋片。這里需要指出的是，圖 4中涉及的接口信號參見上述對圖1中所涉及AMC的描述。以上所述，僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并非用于限定本發(fā)明的保護范圍。
權(quán)利要求
1、一種微電信處理架構(gòu)的聯(lián)合測試行動小組測試系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)包括外部測試單元、微電信處理架構(gòu)的主控板MCH和先進子卡AMC；其中，外部測試單元，與所述MCH和所述AMC的聯(lián)合測試行動小組JTAG接口采用總線方式連在一起，用于作為主裝置master，對所述MCH和所述AMC進行測試；MCH，用于作為master，測試所述AMC；或者作為從裝置slave被所述外部測試單元測試；AMC，用于作為slave被當(dāng)前master測試。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述外部測試單元與所述 MCH和所述AMC的信號連接方式為數(shù)據(jù)輸入信號TDI連接到所述MCH和 所述AMC的數(shù)據(jù)輸出信號TDO,所述外部測試單元的TDO連接到所述MCH 和所述AMC的TDI。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述MCH還包括判決 模塊，則MCH進一步根據(jù)所述判決模塊預(yù)設(shè)的判決方式判定所述系統(tǒng)中的當(dāng) 前master ，對所述系統(tǒng)中的當(dāng)前slave進行測試。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其特征在于，當(dāng)所述MCH為第一MCH 時，所述判決it塊中預(yù)設(shè)的判決方式為判斷TMREQ弁e信號是否有效，如有效，則判定所述外部測試單元為master, 所述第一 MCH作為slave;當(dāng)TMREQ#e信號無效，判斷TMREQ#1信號是否 有效，有效則第一 MCH作為master,其它條件下都默認為slave。
5 、根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其特征在于，當(dāng)所述MCH為第一 MCH 和第二MCH,并且當(dāng)前MCH為第二MCH時，所述判決it塊中預(yù)設(shè)的判決方 式為判斷TMREQ^e信號是否有效，如有效，則所述外部測試單元為master, 所述第二 MCH作為slave;當(dāng)TMREQ#e信號無效，須判斷TMREQ#1信號是否有效，有效則所述第一MCH為master,所述第二MCH作為slave;當(dāng)TMREQ#e 和TMREQ#1信號都無效時，判斷TMREQ#2信號，有效則第二 MCH作為 master,其它條件下都默^人為slave。
6、根據(jù)權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述外部測試單元與所述 MCH的信號連接方式進一步為將TMREQ弁e信號連接到所述第一MCH和所述第二MCH上；并且，將第 一 MCH的TMREQ#1連接到第二 MCH上；將第二 MCH的TMREQ#2連到第 一 MCH上。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種微電信處理架構(gòu)的聯(lián)合測試行動小組測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括外部測試單元、微電信處理架構(gòu)的主控板(MCH)和先進子卡(AMC)；其中，外部測試單元，與MCH和AMC的聯(lián)合測試行動小組(JTAG)接口采用總線方式連在一起，用于作為主裝置master，對MCH和AMC進行測試；MCH，用于作為master，測試所述AMC；或者作為從裝置slave被所述外部測試單元測試；AMC，用于作為slave被當(dāng)前master測試。采用本發(fā)明，無需實現(xiàn)JTAG交換模塊(JSM)，并且能實現(xiàn)將選定的master和設(shè)定的slave相連，逐步完成對slave的測試。
文檔編號G01R31/28GK101216529SQ20081005637
公開日2008年7月9日 申請日期2008年1月17日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月17日
發(fā)明者強 王, 浩 胡 申請人:中興通訊股份有限公司