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      面板缺陷定位機構的制作方法

      文檔序號:5837944閱讀:242來源:國知局
      專利名稱:面板缺陷定位機構的制作方法
      技術領域
      本發(fā)明涉及一種面板缺陷定位機構,涉及一種具有光源發(fā)射部的面 板缺陷定位機構。
      背景技術
      如圖1及圖2所示,現(xiàn)有手動式面板定位檢測結構90(例如中國臺灣 新型專利第M313786號的手動式面板定址檢測結構,且組件名稱與編號 概依本案)的基板91與檢測裝置92間的滑動是以一皮帶輪系80來作傳 動,但一般皮帶81產品很容易隨著使用時間的增加而產生松動或損壞, 進而造成移動刻度上的誤差,無法達到精確定位的效果。
      另外,現(xiàn)有技術的手動式面板定位檢測結構90雖有一紫外線定位器 93,但該紫外線定位器93僅可作初步定位,若要達到精確的定位,仍需 以手動調整,且由于紫外線為不可見光(不易看見),故,其調整過程較 為困難且耗費時間。
      因此,有必要研發(fā)新產品,以解決上述缺點及問題。

      發(fā)明內容
      本發(fā)明所要解決的主要技術問題在于,克服現(xiàn)有技術存在的上述缺 陷,而提供一種面板缺陷定位機構,其具有移動容易、準確性佳的功效, 達到可自'動定位的操作方便性。
      本發(fā)明解決其技術問題所采用的技術方案是
      一種面板缺陷定位機構,其特征在于,其包括 一對第一座體,該 每一第一座體具有一第一滑軌、 一第一軸向微調部及一第一位置定位模 塊; 一第二座體,具有一對第一滑動部及一連結于該對第一滑動部間的 第二滑軌;該對第一滑動部可滑動的設于該對第一滑軌上,使該第二座 體可沿一第一軸向移動,且利用該第一軸向微調部作細微調整; 一檢測 裝置,具有一第二滑動部、 一檢也鏡頭、 一第二軸向微調部、 一第二位 置定位模塊及一光源發(fā)射部;該第二滑動部可滑動的設于該第二滑軌上,使該檢測裝置可沿一第二軸向移動,且利用該第二軸向微調部作細微調 整;該第一位置定位模塊及該第二位置定位模塊可精確定位出該檢視鏡 頭所對應的檢視位置座標;而該光源發(fā)射部可產生一高對比度可見光。
      前述的面板缺陷定位機構,其中第一位置定位模塊及該第二位置定 位模塊是連結至一座標設定模塊。
      前述的面板缺陷定位機構,其中第一位置定位模塊及該第二位置定 位模塊為編碼器。
      前述的面板缺陷定位機構,其中第一位置定位模塊及該第二位置定 位模塊為光學尺。
      本發(fā)明的有益效果是,其具有移動容易、準確性佳的功效,達到可 自動定位的操作方便性。


      下面結合附圖和實施例對本發(fā)明進一步說明。
      圖1是現(xiàn)有技術的手動式面板定位檢測結構的示意圖
      圖2是現(xiàn)有技術的手動式面板定位檢測結構的皮帶輪系的示意圖
      圖3是本發(fā)明的面板缺陷定位機構的示意圖
      圖4是圖3所示A部位的面板缺陷定位機構的檢測裝置的示意圖
      圖5是本發(fā)明的面板缺陷定位機構的實際應用的示意圖
      圖中標號說明
      IO第一座體 ll第一滑軌
      12第一軸向微調部 13第一位置定位模塊
      20第二座體 21第一滑動部
      22第二滑軌 30檢測裝置
      31第二滑動部 32檢視鏡頭
      33第二軸向微調部 34第二位置定位模塊
      35光源發(fā)射部 351明顯光點
      40待測物件 41缺陷位置
      50座標設定模塊 80皮帶輪系
      81皮帶 90手動式面板定位檢測結構
      91基板 92檢測裝置93紫外線定位器 X第二軸向 Y第一軸向
      具體實施例方式
      如圖3及圖4所示,本發(fā)明為一種面板缺陷定位機構,其包括
      一對第一座體10,該每一第一座體10具有一第一滑軌11、 一第一
      軸向微調部12及一第一位置定位模塊13;
      一第二座體20,具有一對第一滑動部21及一連接于該對第一滑動部 21間的第二滑軌22;該對第一滑動部21可滑動的設于該對第一滑軌11 上,使該第二座體20可沿一第一軸向Y移動,且利用該第一軸向微調部 12來達到細微的調整;
      一檢測裝置30,具有一第二滑動部31、 一檢視鏡頭32、 一第二軸向 微調部33、 一第二位置定位模塊34及一光源發(fā)射部35;該第二滑動部 31可滑動的設于該第二滑軌22上,使該檢測裝置30可沿一第二軸向X 移動,且利用該第二軸向微調部33來達到細微調整;該第一位置定位模 塊13及該第二位置定位模塊34可供操作人員精確得知該檢視鏡頭32所 對應的檢視位置座標;而該光源發(fā)射部35可產生高對比度可見光(如紅 外線、激光等)。
      參閱圖5,關于該光源發(fā)射部35所產生的高對比度可見光,其是與 該檢視鏡頭32的中心軸線重疊,且可于一待測物件40上產生一明顯光 點351,也就是說,該明顯光點351即為該檢測鏡頭32的中心所對應的 位置;因此,不論該檢測裝置30如何移動,操作人員都能輕易的得知該 檢視鏡頭32中心的對應位置(如圖5所示,利用該待測物件40上的明顯 光點351,_可輕易的將該檢視鏡頭32的中心移動至一缺陷位置41)。
      參閱圖3,該第一位置定位模塊13及該第二位置定位模塊34可與一 座標設定模塊50配合,并利用該座標設定模塊50的設定,使該檢測裝 置30可依設定的座標來達到自動定位。
      另外,該第一定位模塊13及該第二定位模塊34可為光學尺、編碼 器或其它座標定位裝置。
      綜上所述,本發(fā)明的優(yōu)點及功效可歸納為移動容易。本發(fā)明的光源發(fā)射部發(fā)出的高對比度可見光可于待測物件上產生明顯光點,利用明顯光點使操作人員可輕易得知該檢視鏡 頭中心對應于待測物件上的位置,在移動上相當容易。精確性佳。本發(fā)明利用該光源發(fā)射部發(fā)出的高對比度可見光于 待測物件上產生的明顯光點,可精確得知檢視鏡頭的中心所對應的位置, 提升該檢視鏡頭于定位上的精確性,故,本發(fā)明具有精確性佳的優(yōu)點??勺詣佣ㄎ弧1景l(fā)明的第一位置定位模塊及第二位置定位模塊 是連結一座標設定模塊,并利用該座標設定模塊的設定,使該檢測裝置 可依設定的座標達到座標定位的目的,故,具有自動定位的功能。
      以上所述,僅是本發(fā)明的較佳實施例而己,并非對本發(fā)明作任何形 式上的限制,凡是依據(jù)本發(fā)明的技術實質對以上實施例所作的任何簡單 修改、等同變化與修飾,均仍屬于本發(fā)明技術方案的范圍內。
      權利要求
      1.一種面板缺陷定位機構,其特征在于,其包括一對第一座體,該每一第一座體具有一第一滑軌、一第一軸向微調部及一第一位置定位模塊;一第二座體,具有一對第一滑動部及一連結于該對第一滑動部間的第二滑軌;該對第一滑動部可滑動的設于該對第一滑軌上,使該第二座體可沿一第一軸向移動,且利用該第一軸向微調部作細微調整;一檢測裝置,具有一第二滑動部、一檢視鏡頭、一第二軸向微調部、一第二位置定位模塊及一光源發(fā)射部;該第二滑動部可滑動的設于該第二滑軌上,使該檢測裝置可沿一第二軸向移動,且利用該第二軸向微調部作細微調整;該第一位置定位模塊及該第二位置定位模塊可精確定位出該檢視鏡頭所對應的檢視位置座標;而該光源發(fā)射部可產生一高對比度可見光。
      2. 根據(jù)權利要求l所述的面板缺陷定位機構,其特征在于所述 第一位置定位模塊及該第二位置定位模塊是連結至一座標設定模塊。
      3. 根據(jù)權利要求l所述的面板缺陷定位機構,其特征在于所述 第一位置定位模塊及該第二位置定位模塊為編碼器。
      4. 根據(jù)權利要求l所述的面板缺陷定位機構,其特征在于所述 第一位置定位模塊及該第二位置定位模塊為光學尺。
      全文摘要
      一種面板缺陷定位機構,其包括一對第一座體,每一第一座體具有一第一滑軌、一第一軸向微調部及一第一位置定位模塊;一第二座體有一對第一滑動部及一連結于對第一滑動部間的第二滑軌;對第一滑動部可滑動的設于該對第一滑軌上,使第二座體可沿一第一軸向移動,且利用第一軸向微調部作細微調整;一檢測裝置有一第二滑動部、一檢視鏡頭、一第二軸向微調部、一第二位置定位模塊及一光源發(fā)射部;第二滑動部可滑動的設于第二滑軌上,使檢測裝置可沿一第二軸向移動,且利用第二軸向微調部作細微調整;第一及第二位置定位模塊可精確定位出檢視鏡頭所對應的檢視位置坐標;而光源發(fā)射部可產生一高對比度可見光。本發(fā)明移動容易、準確性佳,操作方便。
      文檔編號G01B11/00GK101561247SQ20081009363
      公開日2009年10月21日 申請日期2008年4月18日 優(yōu)先權日2008年4月18日
      發(fā)明者葉公旭, 林祈廷 申請人:東捷科技股份有限公司
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