專利名稱：：電路群組及其測試方法與測試機臺的制作方法
技術領域：
：本發(fā)明是有關于一種電路群組的測試技術，且特別是有關于多個電路的邊限電壓的測試技術。
背景技術：
：對于大多數(shù)的集成電路(IntegratedCircuit,簡稱IC)來說，通常會在其內(nèi)部配置直流電壓產(chǎn)生器。若直流電壓產(chǎn)生器提供不適當?shù)碾妷航oIC使用，可能會導致IC無法正常工作。因此，當IC制造完成后，通常會對各IC進行測試，用以確保IC的良品率。以下配合圖式對已知的電路測試技術作詳細的說明。圖1是己知的一種內(nèi)含利用熔絲技術調(diào)整直流電壓產(chǎn)生器的電壓的電路示意圖。請參照圖l，電路11包括了直流電壓產(chǎn)生器101與測試模式調(diào)整單元(TestModeTrimUnit)102。直流電壓產(chǎn)生器101用以提供直流電壓VI。測試模式調(diào)整單元102可將直流電壓VI調(diào)整為多種不同的測試電壓Vout，用以測試電路11是否可正常運作。首先，假設電路11的最佳工作電壓為2,5V，且其邊限電壓(MarginVoltage)為2.3V2.7V。此外，假設測試模式調(diào)整單元102具有8種測試模式'如下列表一。表一測試模式調(diào)整單元102的各種測試模式<table>tableseeoriginaldocumentpage5</column></row><table><table>tableseeoriginaldocumentpage6</column></row><table>一般來說，測試電路可分為兩階段，第一階段會提供最接近最佳工作電壓的測試電壓給電路11使用，用以測試電路11是否可正常工作。第二階段則會提供邊限電壓給電路11使用，并測試電路11是否可正常工作，用以確保電路ll的品質(zhì)。假設直流電壓產(chǎn)生器101所產(chǎn)生的直流電壓VI為2.65V。在測試電路的第一階段中，為了模擬電路ll在最佳工作電壓的情況下是否可正常工作。首先可將測試模式調(diào)整單元102的測試模式設定為"0、1、0"，用以使直流電壓V1產(chǎn)生-0.1V的電壓偏移，進而輸出2.55V的測試電壓給電路11使用。接著，可檢測電路11在邊限電壓的情況下是否可正常工作。若電路U可正常工作，代表電路11是可以通過熔絲(Fuse)技術進行電路修復。若電路11無法正常工作，代表電路ll具有瑕疵而無法出貨，用以避免客戶端買到無法正常工作的電路。'承上述，在測試電路的第二階段，為了模擬電路ll在邊限電壓的情況下是否可正常工作。首先，可將測試模式調(diào)整單元102的測試模式更改為"1、0、0"，用以使直流電壓V1產(chǎn)生+0.05V的電壓偏移，進而輸出2.7V的測試電壓Vout給電路ll使用。如此一來，可利用2.7V的測試電壓Vout，模擬電路11在邊限電壓2.7V的情況下是否可正常工作。承上述，接著可再將測試模式調(diào)整單元102的測試模式更改為"O、1、1",用以使直流電壓VI產(chǎn)生-0.2V的電壓偏移，進而輸出2.45V的測試電壓給電路11使用。如此一來，可利用2.45V的測試電壓Vout，模擬電路U在邊限電壓2.3￥的情況下是否可正常工作。值得注意的是，由于測試模式調(diào)整單元102的限制，因此測試模式調(diào)整單元102并無法提供2.3V的測試電壓，用以模擬電路11在邊限電壓2.3V的情況下是否可正常工作。換言之，上述做法并無法確保電路11在2.3V2.45V的情況下仍可正常工作。不僅如此，假設有一百個電路11要進行電路測試?；诟鱾€電路11的直流電壓產(chǎn)生器101所產(chǎn)生的直流電壓VI皆略有不同，因此當進行電路測試時，必須逐一對上述一百個電路ll的測試模式調(diào)整單元102進行設定，用以產(chǎn)生適:當?shù)臏yi式電壓。更詳細地說，依據(jù)上述已知的做法，假設各個電路11在電路測試的第一階段與第二階段所花費的測試時間分別為Tl與T2。如此一來，一百個電路11進行電路測試所花費的總時間則為100X(Tl+T2)。故已知做法相當耗費時間，而且浪費成本。請再參照圖1，繼續(xù)假設有一百個電路11要進行電路測試。為了縮短電路測試所花費的總時間?，F(xiàn)有技術提出了另一種測試方式。說明如下，在電路測試的第一階段時，首先利用測試機臺(未繪示)同時提供2.5V的測試電壓VI給一百個電路11，用以平行檢測一百個電路11是否可正常工作。承上述，在電路測試的第二階段時，首先利用測試機臺同時提供2.3V的測試電壓VI給一百個電路ll，用以平行檢測一百個電路11是否可正常工作。接著，再利用測試機臺同時提供2.7V的測試電壓VI給一百個電路11，用以平行檢測一百個電路11是否可正常工作。此做法雖可縮短電路測試所花費的總時間。然而，此做法并無法確保一百個電路ll的直流電壓產(chǎn)生器101皆可正常工作。換言之，若電路ll的直流電壓產(chǎn)生器101具有瑕疵，仍會導致電路11無法正常工作。但已知做法卻無法檢測出直流電壓產(chǎn)生器101的瑕疵。不僅如此，由于測試機臺所提供的測試電壓VI相當穩(wěn)定而且具有強大的驅動能力，因此若電路11發(fā)生漏電流等情形，亦不會導致測試電壓V1發(fā)生偏移。換言之，若電路11具有漏電流等瑕疵，即便電路11的直流電壓產(chǎn)生器101可提供2.5V的工作電壓給電路11使用。但因為電路11有漏電流等瑕疵，因此會造成直流電壓產(chǎn)生器101所提供的工作電壓產(chǎn)生偏移，例如偏移成2.0V，如此一來電路11則可能無法正常工作。已知做法亦無法檢測出此類瑕疵。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明提供一種電路群組，可提升電路的測試良品率。所述電路群組包括一第一電路以及一第二電路，所述第一電路包括一第一電壓調(diào)整模塊，依據(jù)一第一調(diào)整信號，將所述第一電路的一第一電壓調(diào)整為一第二電壓，其中所述第二電壓較所述第一電壓接近一標準電壓；以及一第二電壓調(diào)整模塊，耦接所述第一電壓調(diào)整模塊，依據(jù)一邊限調(diào)整信號調(diào)整所述第二電壓的邊限范圍；所述第二電路包括一第三電壓調(diào)整模塊，依據(jù)一第二調(diào)整信號，將所述第二電路的一第三電壓調(diào)整為一第四電壓，其中所述第四電壓較所述第三電壓接近所述標準電壓；以及一第四電壓調(diào)整模塊，耦接所述第三電壓調(diào)整模塊，依據(jù)所述邊限調(diào)整信號調(diào)整所述第四電壓的邊限范圍。本發(fā)明提供一種電路群組的測試方法，可平行測試多個電路，用以節(jié)省測試成本。本發(fā)明提供一種測試機臺，可平行測試電路群組的多個電路，用以縮短測試時間，降低成本。所述測試機臺包括一第一控制單元，耦接所述第一電路與所述第二電路，依據(jù)所述第一電路的一第一電壓產(chǎn)生一第一調(diào)整信號，其中所述第一電路依據(jù)所述第一調(diào)整信號將所述第一電壓調(diào)整為一第二電壓，所述第二電壓較所述第一電壓接近一標準電壓，此外，所述第一控制單元并依據(jù)所述第二電路的一第三電壓產(chǎn)生一第二調(diào)整信號，其中所述第二電路依據(jù)所述第二調(diào)整信號將所述第三電壓調(diào)整為一第四電壓，所述第四電壓較所述第三電壓接近所述標準電壓；以及一第二控制單元，耦接所述第一電路與所述第二電路，產(chǎn)生一邊限調(diào)整信號一并調(diào)整所述第二電壓與所述第四電壓的邊限范圍。從另一觀點來看，本發(fā)明提供一種電路群組的測試方法。此電路群組至少包括第一電路與第二電路。此測試方法包括依據(jù)第一調(diào)整信號將第一電路的第一電壓調(diào)整為第二電壓，其中第二電壓較第一電壓接近標準電壓。此外，依據(jù)第二調(diào)整信號將第二電路的第三電壓調(diào)整為第四電壓，其中第四電壓較第三電壓接近標準電壓。另外，依據(jù)邊限調(diào)整信號一并調(diào)整第二電壓與第四電壓的邊限范圍。在電路測試的第二階段(邊限電壓測試)，利用平行測試技術可大幅節(jié)省電路的測試時間，用以節(jié)省成本。利用電路中的直流電壓產(chǎn)生器進行測試，可確實檢測出直流電壓產(chǎn)生器的瑕疵，并可忠實模擬電路實際的工作情形，用以提升電路的良品率與測試品質(zhì)。在電壓調(diào)整模塊中配置熔絲單元。如此一來即可利用熔絲技術修復直流電壓產(chǎn)生器所產(chǎn)生的電壓誤差，用以提高電路的良品率。圖1是己知的一種利用熔絲技術調(diào)整直流電壓產(chǎn)生器的電壓的電路示意圖。圖2是依照本發(fā)明的實施例的一種電路群組及其測試機臺的示意圖。圖3是依照本發(fā)明的實施例的一種電路群組的測試方法的流程圖。圖4為圖2的電壓調(diào)整模塊的一種電路圖。圖5為圖2的電壓調(diào)整模塊的另一種電路圖。附圖標號-11、2124:電路25:測試機臺41:放大器42:晶體管43:可調(diào)式分壓模塊101、201:直流電壓產(chǎn)生器102:測試模式調(diào)整單元202、203:電壓調(diào)整模塊211、212:控制單元40406:開關單元與熔絲單元4U414;電阻421426:開關單元VI、Vout、Vw、VinlVin4、VreflVref4、Vrefl±△VVref4土△V、VCC、GND:龜壓S1S4、Sma:調(diào)整信號S301S303:電路群組的測試方法的各步驟具體實施例方式為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉幾個實施例，并配合所附圖式，作詳細說明如下。圖2是依照本發(fā)明的實施例的一種電路群組及其測試機臺的示意圖。請參照圖2,在本實施例中，電路群組包括了電路2124。另一方面，測試機臺25包括了控制單元211、212。在本實施例中，電路2124分別包括了直流電壓產(chǎn)生器201與電壓調(diào)整模塊202、203。在電路21中，直流電壓產(chǎn)生器201可接收工作電壓Vw，用以產(chǎn)生電壓Vinl。電路21的電壓調(diào)整模塊202可依據(jù)控制單元211所提供的調(diào)整信號Sl將電壓Vinl調(diào)整為接近標準電壓的電壓Vrefl。另外，電路21的電壓調(diào)整模塊203可依據(jù)控制單元212所提供的邊限調(diào)整信號Sma調(diào)整電壓Vrefl的邊限范圍。更具體地說，電路21的電壓調(diào)整模塊203可依據(jù)邊限調(diào)整信號Sma將電壓Vrefl調(diào)整成電壓Vrefl±△V。同理，在電路22中，直流電壓產(chǎn)生器201可接收工作電壓Vw，用以產(chǎn)生電壓Vin2。電路22的電壓調(diào)整模塊202可依據(jù)控制單元211所提供的調(diào)整信號S2將電壓Vin2調(diào)整為接近標準電壓的電壓Vref2。另外，電路22的電壓調(diào)整模塊203可依據(jù)控制單元212所提供的邊限調(diào)整信號Sma調(diào)整電壓Vref2的邊限范圍。更具體地說，電路22的電壓調(diào)整模塊203可依據(jù)邊限調(diào)整信號Sma將電壓Vref2調(diào)整成電壓Vref2士AV。以此類推電路23、24，在此不再贅述。值得注意的是，由于在目前的技術中，直流電壓產(chǎn)生器201并無法產(chǎn)生精準的電壓，因此電路2124的直流電壓產(chǎn)生器201所產(chǎn)生的電壓VinlVin4會略有不同，進而導致電壓VreflVref4與電壓Vref1土△VVref4土AV也會略有差異。再從另一角度來看，測試機臺25中的控制單元211分別耦接電路2124的電壓調(diào)整模塊202?？刂茊卧?11可分別依據(jù)電路2124的電壓VinlVin4分別產(chǎn)生調(diào)整信號S1S4，用以分別控制電路2124的電壓調(diào)節(jié)模塊202。另外測試單元25中的控制單元212分別耦接電路2124的電壓調(diào)節(jié)模塊203。控制單元212產(chǎn)生邊限調(diào)整信號Sma—并控制電路2124的電壓調(diào)節(jié)模塊203。圖3是依照本發(fā)明的實施例的一種電路群組的測試方法的流程圖。請合并參照圖2與圖3，在本實施例中，假設電路2124的最佳工作電壓為2.5V,且其邊限電壓為2.3V2.7V。此外，假設電壓調(diào)整模塊202具有8種調(diào)整模式，如下列表二。另外，假設電壓調(diào)整模塊203亦具有8種調(diào)整模式，如下列表三。表二電壓調(diào)整模塊202的各調(diào)整模式及其電壓調(diào)整量調(diào)整模式電壓的調(diào)整量011-0.2V010-0,1V001-0.05V000ov100+0.05V.101+0.1V110+0.15V<table>tableseeoriginaldocumentpage12</column></row><table>在本實施例中，測試電路群組的電路2124可分為兩階段。第一階段會模擬電路2124在最佳工作電壓的情況下是否可正常工作。第二階段則會模擬電路2124在邊限電壓的情況下是否可正常工作。以下先針對第一階段進行說明。第一階段首先可由測試機臺25提供工作電壓Vw給電路2124的直流電壓產(chǎn)生器201，用以使電路2124的直流電壓產(chǎn)生器201分別產(chǎn)生電壓VinlVin4。在本實施例中，電壓VinlVin4分別以2.65V、2.53V、2.33V與2.15V為例進行說明，但本發(fā)明并不限于此。接著，測試機臺25的控制單元211會依據(jù)電壓VinlVin4分別產(chǎn)生調(diào)整信號S1S4，用以分別控制電路2124的電壓調(diào)節(jié)模塊202。承接上述，接著再從電路群組的角度來看，電路21的電壓調(diào)整模塊202可依據(jù)調(diào)整信號Sl將電壓Vinl調(diào)整為接近標準電壓的電壓Vrefl(步驟S301)。在本實施例中標準電壓以最佳工作電壓2.5V為例進行說明，但本發(fā)明并不以此為限。在其他實施例中，標準電壓亦可以是其他電壓值。更具體地說，在步驟S301中，電路21的電壓調(diào)整模塊202可依據(jù)調(diào)整信號S1將其調(diào)整模式設定為"0、1、0"，進而將2.65V的電壓Vinl調(diào)整為2.55V的電壓Vref1。同理，電路2224的電壓調(diào)整模塊202可分別依據(jù)調(diào)整信號S2S4將電壓Vin2Vin4調(diào)整為接近標準電壓的電壓Vref2Vref4(步驟S302)。更具體地說，在步驟S302中，電路22的電壓調(diào)整模塊202可依據(jù)調(diào)整信號S2將其調(diào)整模式設定為"0、0、0"，進而將2.53V的電壓Vin2維持成2.53V的電壓Vref2。此外，電路23的電壓調(diào)整模塊202可依據(jù)調(diào)整信號S3將其調(diào)整模式設定為"1、1、0"，進而將2.33V的電壓Vin3調(diào)整為2.48V的電壓Vref3。另外，電路24的電壓調(diào)整模塊202可依據(jù)調(diào)整信號S4將其調(diào)整模式設定為"1、1、1"，進而將2.15V的電壓Vin4調(diào)整為2.35V的電壓Vref4。承接上述，電路2124的電壓調(diào)整模塊203可采用預設的調(diào)整模式"0、0、0"，用以分別輸出電壓2.55V、2.53V、2.48V與2.35V。如此一來，電路21則可利用電壓2.55V，用以模擬電路21在最佳工作電壓的情況下是否可正常工作。如果電路21可正常工作，代表電路21是可以通過熔絲技術進行電路修復。若電路21無法正常工作，代表電路11具有瑕疵而無法出貨，用以避免客戶端買到無法正常工作的電路。以此類推電路22電路24，在此不再贅述。上述做法的好處在于可真實模擬電路2124在封裝后所使用的電壓，因此可忠實呈現(xiàn)電路2124在實際使用下是否可正常工作，用以提升測試品質(zhì)。為了更清楚呈現(xiàn)電路2124的電壓調(diào)整模塊202的輸出入電壓，在此將其整理于下列表四中。另外，在此并將電路2124的電壓調(diào)整模塊203的輸出入電壓整理于下列表五中。表四電路2124的電壓調(diào)整模塊202的輸出入電壓<table>tableseeoriginaldocumentpage13</column></row><table><table>tableseeoriginaldocumentpage14</column></row><table>第二階段接著，在第二階段，則模擬電路2124在邊限電壓的情況下是否可正常工作。在第二階段，電路2124的電壓調(diào)整模塊202的調(diào)整模式可維持與第一階段相同。在本實施例中，要模擬電路2124在邊限電壓的情況下是否可正常工作，僅需通過控制單元212產(chǎn)生邊限調(diào)整信號Sma，用以一并控制電路2124的電壓調(diào)節(jié)模塊203的調(diào)整模式。再從另一角度來看，電路2124可依據(jù)邊限調(diào)整信號Sma—并調(diào)整電壓VreflVref4的邊限范圍(步驟S303)。舉例來說，若要模擬電路2124在邊限電壓為2.3V是否可正常工作。首先，可由控制單元212產(chǎn)生邊限調(diào)整信號Sma—并將電路2124的電壓調(diào)節(jié)模塊203的調(diào)整模式設定為"1、0、1"，用以使電路2124的電壓調(diào)節(jié)模塊203分別輸出2.35V、2.33V、2.28V與2.15V。如此一來，電路2124則可分別利用2.35V、2.33V、2.28V與2.15V，用以模擬電路2124在邊限電壓為2.3V是否可正常工作。再舉例來說，若要模擬電路2124在邊限電壓為2.7V是否可正常工作。首先，可由控制單元212產(chǎn)生邊限調(diào)整信號Sma—并將電路2124的電壓調(diào)節(jié)模塊203的調(diào)整模式設定為"0、1、0"，用以使電路2124的電壓調(diào)節(jié)模塊203分別輸出2.75V、2.73V、2.68V與2.55V。如此一來，電路2124則可分別利用2.75V、2.73V、2.68V與2.55V，用以模擬電路2124在邊限電壓為2.7V是否可正常工作。上述做法的好處在于可大幅節(jié)省電路群組的測試時間。更具體地說，在本實施例的第二階段中，電路2124可一并平行測試，因此可大幅節(jié)省電路群組的測試時間。不僅如此，還可真實模擬電路2124在封裝后可能使用到的邊限電壓，因此可忠實呈現(xiàn)電路2124在實際使用下是否可正常工作，用以提升測試品質(zhì)。為了凸顯本實施例所能節(jié)省的測試時間，以下將本實施例的技術與現(xiàn)有技術作一比較。請再參照圖1，從現(xiàn)有技術中可知道，對利用現(xiàn)有技術對一百個電路11進行電路測試所花費的總時間為100X(Tl+T2)。但是，若將本實施例所提出的技術應用在上述例子中，對一百個電路11進行電路測試所花費的總時間為(100XT1)+T2。由此可明顯看出本實施例確實能夠大幅縮短電路測試所花費的總時間，而且還可維持測試品質(zhì)，例如可檢測出直流電壓產(chǎn)生器101的瑕疵。由此可明顯看出本實施例所提供的技術確實可解決現(xiàn)有技術長期存在的問題。請再參照圖2，上述實施例中，電路群組雖僅以電路2124進行說明，但本發(fā)明并不以此為限。在其他實施例中電路群組亦可以由其他數(shù)量的電路所組成。值得一提的是，雖然上述實施例中已經(jīng)對電路群組及其測試方法與測試機臺描繪出了一個可能的型態(tài)，但所屬
技術領域：
技術人員應當知道，各廠商對于電路群組及其測試方法與測試機臺設計都不一樣，因此本發(fā)明的應用當不限制于此種可能的型態(tài)。換言之，只要是依據(jù)第一調(diào)整信號將第一電路的第一電壓調(diào)整為第二電壓，并依據(jù)第二調(diào)整信號將第二電路的第三電壓調(diào)整為第四電壓，另外還依據(jù)邊限調(diào)整信號一并調(diào)整第二電壓與第四電壓的邊限范圍，就已經(jīng)是符合了本發(fā)明的精神所在。以下再提供電壓調(diào)整模塊的幾個實施方式，以供本領域技術人員參詳。以下提供圖2的電壓調(diào)整模塊202的一種實施方式，以供本領域技術人員參詳。圖4為圖2的電壓調(diào)整模塊的一種電路圖。請合并參照圖2與圖4，在本實施例中，由于電路2124的電壓調(diào)整模塊202相類似，因此在此僅針對電路21的電壓調(diào)整模塊202進行說明，本領域技術人員應可據(jù)以推知電路2224的電壓調(diào)整模塊202的實施方式。為了便于說明，在此僅列舉電壓調(diào)整模塊202的3種調(diào)整模式的實施方式。本領域技術技術人員可據(jù)以推知電壓調(diào)整模塊數(shù)202不同數(shù)量的調(diào)整模式的實施方式。電路21的電壓調(diào)整模塊202可包括放大器41、晶體管42與可調(diào)式分壓模塊43。可調(diào)式分壓模塊43包括開關單元與熔絲單元401406以及電阻411414?？烧{(diào)式分壓模塊43可依據(jù)調(diào)整信號Sl分別決定開關單元與熔絲單元401406導通與否，用以改變可調(diào)式分壓模塊43內(nèi)部線路的耦接關系。此做法的用意在于，調(diào)整可調(diào)式分壓模塊43各端點之間的阻值比例，用以使可調(diào)式分壓模塊43的第三端輸出電壓Vrefl。舉例來說，當開關單元與熔絲單元401、405、406導通且開關單元與熔絲單元402404截止時，可調(diào)式分壓模塊43則設定為第一調(diào)整模式。當開關單元與熔絲單元401、404、406導通且開關單元與熔絲單元402、403、405截止時，可調(diào)式分壓模塊43則設定為第二調(diào)整模式。當開關單元與熔絲單元402、403導通且開關單元與熔絲單元401、404406截止時，可調(diào)式分壓模塊43則設定為第三調(diào)整模式。如此一來可使電壓Vrefl具有三種電壓變化。另外本領域技術人員亦可依其需求改變電阻411414的阻值，用以產(chǎn)生各種電壓值的電壓Vrefl。另一方面，由于開關單元與熔絲單元401406分別包括了開關(未繪示)與熔絲(未繪示)。因此開關單元與熔絲單元401406不但可依據(jù)調(diào)整信號Sl決定是否導通，以作為測試之用。另外，當電路21測試完畢之后，利用激光技術亦可燒斷開關單元與熔絲單元401406的熔絲，用以固定電壓Vrefl，用以減少直流電壓產(chǎn)生器201產(chǎn)生的電壓誤差。本領域技術人員亦可依其需求改變電壓調(diào)整模塊202的實施方式。例如可將圖4中的可調(diào)式分壓模塊43的開關單元與熔絲單元401406以開關單元取代。圖5為圖2的電壓調(diào)整模塊的另一種電路圖。請合并參照圖2、圖4與圖5，圖5的可調(diào)整分壓模塊44與圖4的可調(diào)整分壓模塊43相類似。不同之處在于，圖5的可調(diào)整分壓模塊44包括了開關單元421426與電阻411414。另外，圖2中的電壓調(diào)整模塊203與電壓調(diào)整模塊202相類似，因此電路2124的電壓調(diào)整模塊203亦可參照圖4或圖5的實施方式，在此則不再贅述。綜上所述，本發(fā)明依據(jù)第一調(diào)整信號將第一電路的第一電壓調(diào)整為第二電壓，其中第二電壓較第一電壓接近標準電壓。此外，依據(jù)第二調(diào)整信號將第二電路的第三電壓調(diào)整為第四電壓，其中第四電壓較第三電壓接近標準電壓。另外，依據(jù)邊限調(diào)整信號一并調(diào)整第二電壓與第四電壓的邊限范圍。因此可縮短第一電路與第二電路的測試時間，用以節(jié)省成本。另外本發(fā)明的實施例至少包括下列優(yōu)點在電路測試的第二階段(邊限電壓測試)，利用平行測試技術可大幅節(jié)省電路的測試時間，用以節(jié)省成本。利用電路中的直流電壓產(chǎn)生器進行測試，可確實檢測出直流電壓產(chǎn)生器的瑕疵，并可忠實模擬電路實際的工作情形，用以提升電路的良品率與測試品質(zhì)。.在電壓調(diào)整模塊中配置熔絲單元。如此一來即可利用熔絲技術修復直流電壓產(chǎn)生器所產(chǎn)生的電壓誤差，用以提高電路的良品率。雖然本發(fā)明已以幾個實施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本領域技術人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當可作些許的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍當以權利要求的界定為準。權利要求1.一種電路群組，其特征在于，所述電路群組包括一第一電路，包括一第一電壓調(diào)整模塊，依據(jù)一第一調(diào)整信號，將所述第一電路的一第一電壓調(diào)整為一第二電壓，其中所述第二電壓較所述第一電壓接近一標準電壓；以及一第二電壓調(diào)整模塊，耦接所述第一電壓調(diào)整模塊，依據(jù)一邊限調(diào)整信號調(diào)整所述第二電壓的邊限范圍；以及一第二電路，包括一第三電壓調(diào)整模塊，依據(jù)一第二調(diào)整信號，將所述第二電路的一第三電壓調(diào)整為一第四電壓，其中所述第四電壓較所述第三電壓接近所述標準電壓；以及一第四電壓調(diào)整模塊，耦接所述第三電壓調(diào)整模塊，依據(jù)所述邊限調(diào)整信號調(diào)整所述第四電壓的邊限范圍。2.如權利要求1所述的電路群組，其特征在于，所述電路群組還包括.-一第三電路，包括一第五電壓調(diào)整模塊，依據(jù)一第三調(diào)整信號，將所述第三電路的一第五電壓調(diào)整為一第六電壓，其中所述第六電壓較所述第五電壓接近所述標準電壓；以及一第六電壓調(diào)整模塊，耦接所述第五電壓調(diào)整模塊，依據(jù)所述邊限調(diào)整信號調(diào)整所述第六電壓的邊限范圍。3.如權利要求1所述的電路群組,其特征在于，所述第一電壓調(diào)整模塊包括-一放大器，其第一輸入端接收所述第一電壓；一可調(diào)式分壓模塊，其第一端與第二端分別耦接所述放大器的第二輸入端與一參考電壓，所述可調(diào)式分壓模塊依據(jù)所述第一調(diào)整信號調(diào)整所述可調(diào)式分壓模塊的第一端至第三端與第二端至第三端的阻值比例，用以使所述可調(diào)式分壓模塊的第三端輸出所述第二電壓；以及一晶體管，其柵極端、第一端分別耦接所述放大器的輸出端與一外電壓，而所述晶體管的第二端耦接所述可調(diào)式分壓模塊的第四端。4.如權利要求1所述的電路群組,其特征在于,所述第二電壓調(diào)整模塊包括-一放大器，其第一輸入端接收所述第二電壓；一可調(diào)式分壓模塊，其第一端與第二端分別耦接所述放太器的第二輸入端與一參考電壓，所述可調(diào)式分壓模塊依據(jù)所述邊限調(diào)整信號調(diào)整所述可調(diào)式分壓模塊的第一端至第三端與第二端至第三端的阻值比例，用以調(diào)整所述第二電壓的邊限范圍；以及一晶體管，其柵極端與第一端分別耦接所述放大器的輸出端與一外電壓，而所述晶體管的第二端耦接所述可調(diào)式分壓模塊的第四端。5.如權利要求1所述的電路群組，其特征在于，所述第一電路還包括-一第一直流電壓產(chǎn)生器，耦接所述第一電壓調(diào)整模塊，接收一工作電壓用以產(chǎn)生所述第一電壓。6.如權利要求5所述的電路群組，其特征在于，所述第二電路還包括.-一第二直流電壓產(chǎn)生器，耦接所述第三電壓調(diào)整模塊，接收所述工作電壓用以產(chǎn)生所述第三電壓。7.如權利要求1所述的電路群組，其特征在于，所述第一電壓調(diào)整模塊還包括一熔絲單元，用以將所述第一電壓固定為所述第二電壓。8.如權利要求1所述的電路群組，其特征在于，所述第一電路與所述第二電路具有相同構件。9.一種電路群組的測試方法，其特征在于，所述電路群組至少包括一第一電路與一第二電路，所述測試方法包括依據(jù)一第一調(diào)整信號將所述第一電路的一第一電壓調(diào)整為一第二電壓，其中所述第二電壓較所述第一電壓接近一標準電壓；依據(jù)一第二調(diào)整信號將所述第二電路的一第三電壓調(diào)整為一第四電壓，其中所述第四電壓較所述第三電壓接近所述標準電壓；以及依據(jù)一邊限調(diào)整信號一并調(diào)整所述第二電壓與所述第四電壓的邊限范圍。10.—種測試機臺，用以測試一電路群組，其特征在于，所述電路群組至少包括一第一電路與一第二電路，所述測試機臺包括一第一控制單元，耦接所述第一電路與所述第二電路，依據(jù)所述第一電路的一第一電壓產(chǎn)生一第一調(diào)整信號，其中所述第一電路依據(jù)所述第一調(diào)整信號將所述第一電壓調(diào)整為一第二電壓，所述第二電壓較所述第一電壓接近一標準電壓，此外，所述第一控制單元并依據(jù)所述第二電路的一第三電壓產(chǎn)生一第二調(diào)整信號，其中所述第二電路依據(jù)所述第二調(diào)整信號將所述第三電壓調(diào)整為一第四電壓，所述第四電壓較所述第三電壓接近所述標準電壓；以及一第二控制單元，耦接所述第一電路與所述第二電路，產(chǎn)生一邊限調(diào)整信號一并調(diào)整所述第二電壓與所述第四電壓的邊限范圍。全文摘要本發(fā)明提供一種電路群組及其測試方法與測試機臺。此測試方法包括依據(jù)第一調(diào)整信號將第一電路的第一電壓調(diào)整為第二電壓，其中第二電壓較第一電壓接近標準電壓。此外，依據(jù)第二調(diào)整信號將第二電路的第三電壓調(diào)整為第四電壓，其中第四電壓較第三電壓接近標準電壓。另外，依據(jù)邊限調(diào)整信號一并調(diào)整第二電壓與第四電壓的邊限范圍。如此一來可縮短第一電路與第二電路的測試時間，用以節(jié)省成本。文檔編號G01R31/02GK101592703SQ20081010841公開日2009年12月2日申請日期2008年5月27日優(yōu)先權日2008年5月27日發(fā)明者楊正光申請人:華邦電子股份有限公司