專利名稱：空間處理器單粒子試驗自動化測試系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種單粒子試驗試驗的自動化測試系統(tǒng)及其方法。
技術(shù)背景國內(nèi)外的單粒子試驗，通常采用外部監(jiān)聽或是手工操作，即在輻照環(huán)境下 在測試系統(tǒng)中外接邏輯分析儀、示波器和電流表的方式進行觀測，這種方法的缺點是觀測窗口小，無法實時記錄^L測結(jié)果，對試^r現(xiàn)場、整個測試系統(tǒng)的電 氣性能要求比較高等。采用傳統(tǒng)方法，利用示波器觀測，只能觀測到外圍接口 的邏輯，對內(nèi)部翻轉(zhuǎn)的觀測能力有限，無法有效的評估出單粒子翻轉(zhuǎn)的次數(shù)?，F(xiàn)有的針對高性能空間處理器試驗方法，上位機監(jiān)控、被測計算機運行測 試的模式，每輪次的試驗只能針對一個測試向量，需要人員監(jiān)控，手動控制被 測平臺的行為，并且無法現(xiàn)場分析數(shù)據(jù)取得數(shù)據(jù)報告。單一測試向量，無法在 一個輪次的試驗中取得比較全面的錯誤圖樣，人員監(jiān)控、手動參與則干擾正常 數(shù)據(jù)流過程，數(shù)據(jù)無法現(xiàn)場分析，無法得到下一步試驗的指導方向，使得下面 的試驗盲目性比較大。專利申請?zhí)?00710176529.9, "SPARC處理器單粒子效應4企測裝置與 檢測方法"中主要采用的是主控處理器與被測處理器之間采用雙口 RAM進行 數(shù)據(jù)存儲，并且其方法只能一次試-險針對一類測試向量進行。 發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的技術(shù)解決問題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種空間處理器單 粒子試驗自動化測試系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)及方法可以實現(xiàn)每輪次的試驗針對多 個測試向量進行，并且可以一艮據(jù)測試結(jié)果自動調(diào)節(jié)測試向量，確定最有效的測 試向量，可靠性高。本發(fā)明系統(tǒng)的技術(shù)解決方案是空間處理器單粒子試驗自動化測試系統(tǒng)，包括主控處理器、被測處理器、監(jiān)控主機，主控處理器與被測處理器之間通過PCI總線進行通信；主控處理器中配置可配置多場景測試才莫塊、數(shù)據(jù)分析才莫塊、 自適應負反饋感應模塊；處理顯示模塊配置在監(jiān)控主機中；可配置多場景測試 模塊，根據(jù)測試向量配置測試場景，將該測試場景通過PCI總線發(fā)送給被測處 理器，并通知監(jiān)控主機按照所述測試場景進行配置；被測處理器，根據(jù)接收的 測試場景進行配置并工作，并將工作結(jié)果通過PCI總線存儲到主控處理器中的 共享內(nèi)存中；數(shù)據(jù)分析模塊，對共享內(nèi)存中的結(jié)果進行分析和統(tǒng)計，并將其結(jié) 果發(fā)送給自適應負反饋感應模塊和處理顯示模塊；自適應負反饋感應模塊，對 接收到的數(shù)據(jù)處理結(jié)果進行分析，判斷是否需要重新配置測試場景，若需要對 測試場景重新進行配置，則根據(jù)處理結(jié)果確定新的測試向量，并將該向量發(fā)送 給可配置多場景測試模塊；若不需要重新配置，則保持原有測試場景，繼續(xù)運 行；處理顯示模塊，對接收到的數(shù)據(jù)分析模塊發(fā)送的結(jié)果進行處理、顯示并自 動生成測試報告。主控處理器中還配置監(jiān)控模塊，主要用于監(jiān)控被測處理器的運行狀態(tài)、被 測處理器異常；當被測處理器死機時，監(jiān)控模塊發(fā)出復位信號，復位被測處理 器；當被測處理器發(fā)生異常時，監(jiān)控^^塊處理異常，并將處理結(jié)果發(fā)送給;陂測 處理器。還包括遠程監(jiān)控主機，遠程監(jiān)控主機通過網(wǎng)絡與監(jiān)控主機連接，實現(xiàn)遠程 監(jiān)控。本發(fā)明方法的技術(shù)解決方案是空間處理器單粒子試驗自動化測試方法， 包括下列步驟(1) 初始化測試系統(tǒng)，配置測試場景；(2) 主控處理器發(fā)送開始信號給被測處理器，被測處理器在規(guī)定的時間開 始工作，并將工作結(jié)果發(fā)送給主控處理器；(3) 主控處理器對所述結(jié)果進行處理，根據(jù)處理后的結(jié)果判斷是否需要重 新配置測試場景，若需要對測試場景重新進行配置，則根據(jù)處理結(jié)果確定新的測試向量，進行新一輪的測試；若不需要重新配置，則保持原有測試場景，繼 續(xù)運行；并將測試結(jié)果發(fā)送給監(jiān)控主機；
(4)監(jiān)控主機對測試結(jié)果進行規(guī)范化處理、顯示并自動生成測試4艮告。 本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比有益效果為
(1 )本發(fā)明通過自適應負反饋感應模塊和可配置多場景測試模塊可以實現(xiàn) 針對多個測試向量進行試驗，并且根據(jù)測試結(jié)果可以自動調(diào)節(jié)測試向量，確定 最有效的測試向量，提高了試驗場景的靈活性和可配置能力，面對復雜的試驗 環(huán)境，可以更有效的配置當前的試驗場景，取得可靠、有效的試驗數(shù)據(jù)，提高 試驗數(shù)據(jù)的可靠性和置信度。
(2) 本發(fā)明自適應負反饋感應模塊，通過對試驗數(shù)據(jù)的分析，在進行試驗 時均化試驗數(shù)據(jù)的分布，最小化試驗數(shù)據(jù)對試驗產(chǎn)生傾向性的結(jié)果，可以有效 的接收數(shù)據(jù)和分析結(jié)果給出正確的反饋控制。
(3) 本發(fā)明可以采用網(wǎng)絡方式對監(jiān)控主才幾進行遠程登陸，實現(xiàn)對主處理器 的控制，對測試系統(tǒng)的狀態(tài)進行實時的監(jiān)控，實時處理測試系統(tǒng)發(fā)送來得數(shù)據(jù)， 并給出圖形化和規(guī)范化的試驗報告，對測試系統(tǒng)的異常進行錯誤修正或是復位； 并可以有效保障試驗人員的安全。
(4) 本發(fā)明采用自動化的測試方法，最大化的排除人為干擾引起的誤差， 并能在試驗期間針對現(xiàn)場的數(shù)據(jù)結(jié)果，指導下一步試驗。
(5) 本發(fā)明監(jiān)控主機可以自動生成圖形化和規(guī)范化的試驗報告，便于試驗 人員獲得下一步試驗的指導方向，減少試驗的盲目性。
(6) 本試驗采用雙處理器結(jié)構(gòu)，主從處理器通過PCI總線橋接，實現(xiàn)無 縫通信，主從結(jié)構(gòu)保證試驗的高可靠性和靈活性，從處理器的所有狀態(tài)都在主 處理器的監(jiān)控之下。PCI總線的高可靠性保證了主從處理器通信通道提供可靠 的通信能力。


圖1為本發(fā)明測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖；圖2為本發(fā)明方法流程圖。
具體實施例方式
如圖1所示，本發(fā)明系統(tǒng)包括主控處理器、被測處理器、監(jiān)控主機，主控 處理器與被測處理器之間通過PCI總線進行通信；主控處理器中配置可配置多 場景測試模塊、數(shù)據(jù)分析模塊、自適應負反饋感應模塊；處理顯示模塊配置在 監(jiān)控主機中；
可配置多場景測試模塊，根據(jù)測試向量配置測試場景，將該測試場景通過 PCI總線發(fā)送給被測處理器，并通知監(jiān)控主機按照所述測試場景進行配置；可 配置多場景測試模塊的測試對象包括cache、 regfile、 PCI總線、IU和FPU; 每個測試對象配置多個測試用例，針對不同的測試向量，選擇至少一個測試對 象及測試對象所涵蓋的至少一個測試用例，并根據(jù)選擇的對象及用例配置PCI 總線，工作過程中針對不同的測試用例獨立統(tǒng)計測試時間，完成測試場景配置。
被測處理器，根據(jù)接收的測試場景進行配置并工作，并將工作結(jié)果通過PCI 總線存儲到主控處理器中的共享內(nèi)存中；
數(shù)據(jù)分析模塊，對共享內(nèi)存中的結(jié)果進行分析和統(tǒng)計，并將其結(jié)果發(fā)送給 自適應負反饋感應模塊和處理顯示模塊；
自適應負反饋感應模塊，對接收到的數(shù)據(jù)處理結(jié)果進行分析，判斷是否需 要重新配置測試場景，若需要對測試場景重新進行配置，則根據(jù)處理結(jié)果確定 新的測試向量，并將該向量發(fā)送給可配置多場景測試才莫塊；若不需要重新配置， 則保持原有測試場景，繼續(xù)運行；其工作過程為
(1) 對接收到的數(shù)據(jù)處理結(jié)果進行分析得到單粒子翻轉(zhuǎn)或閂鎖的覆蓋率；
(2) 將所述的覆蓋率與規(guī)定的閾值進行比較，若高于閾值，則測試用例有 效，進行注量累積測試；否則，更換新的測試用例，重新測試后從步驟(1)開 始執(zhí)行，直至覆蓋率滿足閾值要求。
處理顯示模塊，對接收到的數(shù)據(jù)分析模塊發(fā)送的結(jié)果進行處理、顯示并自 動生成測試^^艮告。主控處理器中還配置監(jiān)控模塊，主要用于監(jiān)控被測處理器的運行狀態(tài)、被
測處理器異常；主控處理器通過監(jiān)控被測處理器的WATCHDOG信號，判斷被 測處理器的運行狀態(tài)，當WATCHDOG信號置高時，表明被測處理器運行異常， 主控處理器采用超時重發(fā)技術(shù)，當被測處理器三次無應答時，表明被測處理器 死機，監(jiān)控模塊發(fā)出復位信號，復位被測處理器。
本發(fā)明可以采用網(wǎng)絡方式對監(jiān)控主機進行遠程登陸，將遠程監(jiān)控主機通過 網(wǎng)絡與監(jiān)控主機連接，實現(xiàn)對主處理器的控制，對測試系統(tǒng)的狀態(tài)進行實時的 監(jiān)控，實時處理測試系統(tǒng)發(fā)送來得數(shù)據(jù)，并給出圖形化和規(guī)范化的試驗報告， 對測試系統(tǒng)的異常進行錯誤修正或是復位；并可以有效保障試驗人員的安全。
圖2為本發(fā)明方法流程圖，具體實現(xiàn)過程如下
(1 )初始化測試系統(tǒng)，配置測試場景；
(2) 主控處理器發(fā)送開始信號給被測處理器，被測處理器在規(guī)定的時間開 始工作，并將工作結(jié)果發(fā)送給主控處理器；
(3) 主控處理器對所述結(jié)果進行處理，根據(jù)處理后的結(jié)果判斷是否需要重 新配置測試場景，若需要對測試場景重新進行配置，則根據(jù)處理結(jié)果確定新的 測試向量，進行新一輪的測試；若不需要重新配置，則保持原有測試場景，繼 續(xù)運行；并將測試結(jié)果發(fā)送給監(jiān)控主機；
(4)監(jiān)控主機對測試結(jié)果進行規(guī)范化處理、顯示并自動生成測試^^告。
在整個測試過程中主控處理器還可以對凈皮測處理器實時進行監(jiān)控，主要監(jiān) 控被測處理器的運行狀態(tài)、被測處理器異常；當被測處理器死機時，主控處理 器發(fā)出復位信號，復位被測處理器；當被測處理器發(fā)生異常時，主控處理器處 理異常，并將處理結(jié)果發(fā)送給^t測處理器。
下面具體介紹上述測試對象的基本測試方法。
實施例1
測試向量在輻射環(huán)境下尋找cache發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)的數(shù)目(記錄包括一 次翻轉(zhuǎn)和多次翻轉(zhuǎn)錯誤數(shù)，定位錯誤發(fā)生的地址)，本測試模塊用于監(jiān)控cache才莫塊的翻轉(zhuǎn)，屬于function block測試和SEU測試。
測試對象指令cache(16K+8)、 數(shù)據(jù)cache(32K*8)、校驗位(81<*8)、指 令tag(4K頭8)、數(shù)據(jù)tag(4tC8)、校驗位(8K女8)
指令cache為16K，數(shù)據(jù)cache為32K，數(shù)據(jù)tag為4K、指令tag為4K,
校驗位分別為8K、 8K,其中tag的低四位為有效位，第5位到第15位無效， 第16位到第32位為tag的數(shù)據(jù)位數(shù)據(jù)。 測試環(huán)境重粒子環(huán)境
測試方案通過主控處理器讀取被測處理器cache的數(shù)據(jù)并分析數(shù)據(jù)正確 性，以此觀察被測處理器cache的運行狀態(tài)。 測試方案流程
(1) 整個系統(tǒng)初始化包括IU寄存器初始化、外設(shè)初始化、cache初始 化。Cache初始化就是把指令cache、 數(shù)據(jù)cache、指令tag 、數(shù)據(jù)tag所 有單元關(guān)閉，然后全部寫入Oxffffffff。
(2) 開始輻射，主控處理器發(fā)一個中斷給被測處理器，然后等待被測處理 器應答，被測處理器開始采集一遍數(shù)據(jù)，寫入到PCI共享空間中；
(3) 主控計算機從PCI共享空間中拿到數(shù)據(jù)比較是否有數(shù)據(jù)翻轉(zhuǎn)，如果 有數(shù)據(jù)翻轉(zhuǎn)，啟動數(shù)據(jù)分析模塊，結(jié)合自適應負反饋感應模塊，分析翻轉(zhuǎn)的位 數(shù)量、位置等信息，自適應負反饋感應模塊給出反饋控制，主控處理器的可配 置多場景測試;^莫塊重新配置測試場景，并則通知^f皮控處理器^4居新的測試場景 生成測試數(shù)據(jù)，刷新cache。程序運行時要注意輻射對中斷控制寄存器的影響。
實施例2 Regfile包括
a) 136個內(nèi)部寄存器(％g0—%g7, %o0—%o7, %I0—%I7)
b) 浮點寄存器
c) 浮點通用寄存器(％f0—%f31) 共168個寄存器。錯誤定義
Regfile測試程序監(jiān)控兩種錯誤
1. 錯誤為可修改錯誤(即錯了一位，edac會停止流水，改正錯誤并寫回寄 存器)，
2. 錯誤為不可修改錯誤(即錯了兩位，edac會產(chǎn)生trap從而進入陷阱)。 試驗向量在輻射環(huán)境下尋找Regfile發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)的數(shù)目(包括一次
翻轉(zhuǎn)和多次翻轉(zhuǎn)， 一次翻轉(zhuǎn)計一次錯誤數(shù)，多次翻轉(zhuǎn)計多次錯誤數(shù))。 測試環(huán)境重粒子環(huán)境 測試方案
(1 )程序初始化把所有寄存器都設(shè)定初值，空閑寄存器都設(shè)為Oxffffffff;
(2) 開始輻射，主控處理器發(fā)一個中斷給被測處理器，然后等待-故測處理 器應答，被測處理器一定時間間隔內(nèi)把所有寄存器都讀出，每次讀出一組寄存 器之后要統(tǒng)計一個錯誤計數(shù)，把錯誤計數(shù)值寫入到PCI共享空間中；
(3) 主控計算機從PCI共享空間中拿到數(shù)據(jù)比較是否有數(shù)據(jù)翻轉(zhuǎn)，如果 有數(shù)據(jù)翻轉(zhuǎn)，啟動數(shù)據(jù)分析模塊，結(jié)合自適應負反饋感應模塊，分析翻轉(zhuǎn)的位 數(shù)量、位置等信息，自適應負反饋感應模塊給出反饋控制，主控處理器的可配 置多場景測試^t塊重新配置測試場景，并則通知#皮控處理器#4居新的測試場景 生成測試數(shù)據(jù)，刷新Regfile。
如果出現(xiàn)多位錯誤，則進入異常處理，把錯誤計數(shù)值保存并發(fā)送給主控處 理器，然后保存"出現(xiàn)不可糾正錯誤數(shù)"，并給主控處理器發(fā)送不可糾正錯誤數(shù)， 重新執(zhí)行regfile測試；否則，繼續(xù)運行。
實施例3
ALLTEST(IU—FPU)觀寸試
測試向量在輻射環(huán)境下尋找IU_FPU對單粒子的敏感程度，本測試模塊 監(jiān)控IU一FPU模塊的翻轉(zhuǎn)、功能中斷、異常處理、超時處理、WATCHDOG監(jiān) 控等。測試對象包含IU、 FPU功能模塊測試環(huán)境重粒子輻射環(huán)境 測試方案(1) 程序初始化，并設(shè)定寄存器初值；根據(jù)測試場景，被測處理器運行一 組整數(shù)運算測試用例，如因式分解，fft變換、矩陣乘法等(2) 被測試處理器把運算數(shù)據(jù)傳給主控處理器，和主控處理器存貯的的數(shù) 據(jù)結(jié)果進行比較。(3) 主控處理器要不斷比較傳來的數(shù)據(jù)，當數(shù)據(jù)不對時進行記錄。通過統(tǒng) 計可能發(fā)生的異常，IU流水中，寄存器，寄存器堆中都有可能發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn) 率，啟動數(shù)據(jù)分析模塊，結(jié)合自適應負反^t感應it塊，分析異常的類型并加以 區(qū)分，自適應負反饋感應模塊給出反饋控制，主控處理器的可配置多場景測試 模塊重新配置測試場景，進行新一輪的測試；若不需要重新配置，則保持原有 測試場景，繼續(xù)運行；并將測試結(jié)果發(fā)送給監(jiān)控主機。如果出現(xiàn)regfile edac多位錯誤，則進入異常處理，把錯誤計數(shù)值保存并 發(fā)送給主控處理器，然后保存"出現(xiàn)不可糾正錯誤數(shù)"，并給主控處理器發(fā)送不 可糾正錯誤數(shù)，重新執(zhí)行ALLTEST(IU—FPU)觀'J試；否則，繼續(xù)運行。本發(fā)明未詳細說明部分屬本領(lǐng)域技術(shù)人員公知常識。
權(quán)利要求
1、空間處理器單粒子試驗自動化測試系統(tǒng)，其特征在于包括主控處理器、被測處理器、監(jiān)控主機，主控處理器與被測處理器之間通過PCI總線進行通信；主控處理器中配置可配置多場景測試模塊、數(shù)據(jù)分析模塊、自適應負反饋感應模塊；處理顯示模塊配置在監(jiān)控主機中；可配置多場景測試模塊，根據(jù)測試向量配置測試場景，將該測試場景通過PCI總線發(fā)送給被測處理器，并通知監(jiān)控主機按照所述測試場景進行配置；被測處理器，根據(jù)接收的測試場景進行配置并工作，并將工作結(jié)果通過PCI總線存儲到主控處理器的共享內(nèi)存中；數(shù)據(jù)分析模塊，對共享內(nèi)存中的結(jié)果進行分析和統(tǒng)計，并將其結(jié)果發(fā)送給自適應負反饋感應模塊和處理顯示模塊；自適應負反饋感應模塊，對接收到的數(shù)據(jù)處理結(jié)果進行分析，判斷是否需要重新配置測試場景，若需要對測試場景重新進行配置，則根據(jù)處理結(jié)果確定新的測試向量，并將該向量發(fā)送給可配置多場景測試模塊；若不需要重新配置，則保持原有測試場景，繼續(xù)運行；處理顯示模塊，對接收到的數(shù)據(jù)分析模塊發(fā)送的結(jié)果進行處理、顯示并自動生成測試報告。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的空間處理器單粒子試l^自動化測試系統(tǒng)，其特征 在于主控處理器中還配置監(jiān)控模塊，主要用于監(jiān)控被測處理器的運行狀態(tài)、 被測處理器異常；當被測處理器死機時，監(jiān)控模塊發(fā)出復位信號，復位被測處 理器；當被測處理器發(fā)生異常時，監(jiān)控模塊處理異常，并將處理結(jié)果發(fā)送給被 測處理器。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的空間處理器單粒子試驗自動化測試系統(tǒng)，其 特征在于還包括遠程監(jiān)控主機，遠程監(jiān)控主機通過網(wǎng)絡與監(jiān)控主機連接，實 現(xiàn)遠程監(jiān)控。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的空間處理器單粒子試驗自動化測試系統(tǒng)，其特征在于所述的可配置多場景測試模塊的測試對象包括cache、 regfile、 PCI 總線、IU和FPU;每個測試對象配置多個測試用例，針對不同的測試向量，選 擇至少一個測試對象及測試對象所涵蓋的至少一個測試用例，并根據(jù)選擇的對 象及用例配置PCI總線，工作過程中針對不同的測試用例獨立統(tǒng)計測試時間， 完成測試場景配置。
5、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的空間處理器單粒子試驗自動化測試系統(tǒng)，其特征 在于所述的可配置多場景測試^i塊的測試對象包括cache、 regfile、 PCI總線、 IU和FPU;每個測試對象配置多個測試用例，針對不同的測試向量，選擇至少 一個測試對象及測試對象所涵蓋的至少一個測試用例，并才艮據(jù)選擇的對象及用 例配置PCI總線，工作過程中針對不同的測試用例獨立統(tǒng)計測試時間，完成測 試場景配置。
6、 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的空間處理器單粒子試驗自動化測試系統(tǒng)，其 特征在于所述的自適應負反饋感應模塊工作過程為(1 )對接收到的數(shù)據(jù)處理結(jié)果進行分析得到單粒子翻轉(zhuǎn)或閂鎖的覆蓋率； (2)將所述的覆蓋率與規(guī)定的閾值進行比較，若高于閾值，則測試用例有效，進行注量累積測試；否則，更換新的測試用例，重新測試后從步驟(1)開始執(zhí)行，直至覆蓋率滿足閾值要求。
7、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的空間處理器單粒子試驗自動化測試系統(tǒng)，其特征 在于所述的自適應負反饋感應模塊工作過程為(1 )對接收到的數(shù)據(jù)處理結(jié)果進行分析得到單粒子翻轉(zhuǎn)或閂鎖的覆蓋率； (2)將所述的覆蓋率與規(guī)定的閾值進行比較，若高于閾值，則測試用例有效，進行注量累積測試；否則，更換新的測試用例，重新測試后從步驟(1)開始執(zhí)行，直至覆蓋率滿足閾值要求。
8、 空間處理器單粒子試驗自動化測試方法，其特征在于包括下列步驟 (1 )初始化測試系統(tǒng)，配置測試場景；(2)主控處理器發(fā)送開始信號給被測處理器，被測處理器在規(guī)定的時間開始工作，并將工作結(jié)果發(fā)送給主控處理器；(3)主控處理器對所述結(jié)果進行處理，根據(jù)處理后的結(jié)果判斷是否需要重 新配置測試場景，若需要對測試場景重新進行配置，則根據(jù)處理結(jié)果確定新的 測試向量，進行新一輪的測試；若不需要重新配置，則保持原有測試場景，繼 續(xù)運行；并將測試結(jié)果發(fā)送給監(jiān)控主機；(4)監(jiān)控主機對測試結(jié)果進行^見范化處理、顯示并自動生成測試"J艮告。
9、根據(jù)權(quán)利要求8所述的空間處理器單粒子試驗自動化測試方法，其特征 在于在整個測試過程中主控處理器還可以對被測處理器實時進行監(jiān)控，主要 監(jiān)控被測處理器的運行狀態(tài)、被測處理器異常；當被測處理器死機時，主控處 理器發(fā)出復位信號，復位被測處理器；當被測處理器發(fā)生異常時，主控處理器 處理異常，并將處理結(jié)果發(fā)送給被測處理器。
全文摘要
空間處理器單粒子試驗自動化測試系統(tǒng)及方法，包括主控處理器、被測處理器、監(jiān)控主機，主控處理器與被測處理器之間通過PCI總線進行通信；主控處理器中配置可配置多場景測試模塊、數(shù)據(jù)分析模塊、自適應負反饋感應模塊；處理顯示模塊配置在監(jiān)控主機中；該系統(tǒng)及方法可以實現(xiàn)每輪次的試驗針對多個測試向量進行，并且可以根據(jù)測試結(jié)果自動調(diào)節(jié)測試向量，確定最有效的測試向量，可靠性高。
文檔編號G01R31/28GK101286126SQ20081011487
公開日2008年10月15日 申請日期2008年6月13日 優(yōu)先權(quán)日2008年6月13日
發(fā)明者于立新, 蘭利東, 劉立全, 祝長民, 隆 范, 潔 顏 申請人:北京時代民芯科技有限公司;中國航天時代電子公司第七七二研究所