專(zhuān)利名稱(chēng)：Led測(cè)試組的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及LED包裝機(jī)，尤其涉及LED包裝機(jī)中的LED測(cè)試組。
背景技術(shù)：
SMD (surface mount device,表面貼裝零件的封裝設(shè)備)LED包裝機(jī) 利用探針測(cè)試LED的電性能參數(shù)(正向反向電壓、漏電等)，該LED包 裝機(jī)的LED測(cè)試組的結(jié)構(gòu)和安裝方式如圖l所示，該LED測(cè)試組包括4笨 針1、探針2和探針座3,探針座3上有供探針1、 2插入的探針孔31、 32。如圖2所示，其測(cè)試方式為將LED置于探針1和探針2上方，施以 下壓的力量F使LED緊密接觸探針1、 2并通以一定的電流電壓來(lái)測(cè)試 LED的電性參數(shù)。上述LED測(cè)試組的缺點(diǎn)為，當(dāng)LED置于探針1、 2上 方時(shí)，施以下壓的力量F時(shí)，因?yàn)樘结槺旧淼拈g隙關(guān)系會(huì)使探針左右晃 動(dòng)，如此會(huì)照成測(cè)試的接觸點(diǎn)不穩(wěn)定，另外，因?yàn)樘结樀幕蝿?dòng)而反施于 被測(cè)試材料的作用力使被測(cè)試材料位置歪斜而影響測(cè)試效果的準(zhǔn)確性。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是提供測(cè)試準(zhǔn)確、安全的LED測(cè)試組。 為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案 LED測(cè)試組，包括
一對(duì)探針，探針的下方通過(guò)導(dǎo)線(xiàn)連接測(cè)試機(jī)，每個(gè)探針的上部為探 針頭，探針頭接觸位于探針頭上方的LED;
探針座，其上有分別供所述一對(duì)探針插入的兩個(gè)探針孔；
另外，還包括探針限位塊，其上有限制所述一對(duì)探針沿探針徑向擺動(dòng)的兩個(gè)限位 孔，所述探針限位塊位于所述探針座上方。
上述LED測(cè)試組增設(shè)了探針限位塊，該探針限位塊可以有效防止探 針的左右擺動(dòng)， 一方面使被測(cè)試材料與探針頭的接觸穩(wěn)定、安全、測(cè)試 準(zhǔn)確；另一方面也避免了探針帶動(dòng)被測(cè)試材料的擺動(dòng)。


圖1是現(xiàn)有技術(shù)LED測(cè)試組的爆炸圖2是現(xiàn)有技術(shù)LED測(cè)試組的裝配圖3是本實(shí)用新型LED測(cè)試組的爆炸圖4是本實(shí)用新型LED測(cè)試組的裝配圖。
以下結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明。
具體實(shí)施方式
參見(jiàn)圖3和圖4, LED測(cè)試組包括探針1、探針2,探針1、 2的下 方通過(guò)導(dǎo)線(xiàn)連接測(cè)試機(jī)(圖未示)，探針1、 2的上部分別為探針頭11、 21,探針頭11、 21接觸位于探針頭11、 21上方的LED。探針座3上有 分別供^:針1、 2插入的兩個(gè)揮:針孔31、 32。左限位塊41和右限位塊42 構(gòu)成探針限位塊。左限位塊上有兩個(gè)半圓形的限位孔41a、 41b,右限位 塊上有兩個(gè)半圓形的限位孔42a、 42b。左、右限位塊41、 42上別有定位 孔411、 412和定位孔421、 422,相應(yīng)的，在4笨針座3上有定位孔33-36，使用四個(gè)螺釘或者銷(xiāo)等分別插入定位孔411和定位孔33、定位孔 412和定位孔34、定位孔421和定位孔35、定位孔422盒定位孔36,將 左、右限位塊41、 42固定到探針座3上方。探針1和探針2分別位于限 位孔41a、 42a和限位孔41b、 42b之間。限位孔41a、 42a和41b、 42b的 最上端夾持所述探針頭11、 21。
上述LED測(cè)試組增加了左、右兩個(gè)限位塊41、 42，當(dāng)LED下壓做 測(cè)試工作而施以探針l、 2力量F時(shí)，因?yàn)樘结橆^ll、 21被左、右限位塊41、 42限制，使探針1、 2只能做上下運(yùn)動(dòng)，從而減少因?yàn)樘结槺旧黹g隙 引起的左右晃動(dòng)造成測(cè)試面的不穩(wěn)定而使測(cè)試誤判。
上述LED測(cè)試組也可避免因?yàn)樘结樆蝿?dòng)的反作用力造成被測(cè)試材料 位置歪斜，以致于被測(cè)試材料移至下一個(gè)工作站時(shí)無(wú)法定位工作。
當(dāng)然，本實(shí)用新型LED測(cè)試組還可有其它變形。例如，所述探針限 位塊也可以為一體式機(jī)構(gòu)?？傊鶕?jù)上述實(shí)例的提示而做顯而易見(jiàn)的 變動(dòng)，以及，其它凡是不脫離本實(shí)用新型實(shí)質(zhì)的改動(dòng)，均應(yīng)包括在權(quán)利 要求所述的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1、LED測(cè)試組，包括一對(duì)探針，探針的下方通過(guò)導(dǎo)線(xiàn)連接測(cè)試機(jī)，每個(gè)探針的上部為探針頭，探針頭接觸位于探針頭上方的LED；探針座，其上有分別供所述一對(duì)探針插入的兩個(gè)探針孔；其特征在于，還包括探針限位塊，其上有限制所述一對(duì)探針沿探針徑向擺動(dòng)的兩個(gè)限位孔，所述探針限位塊位于所述探針座上方。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED測(cè)試組， 其特征在于所述探針限位塊固定在所述探針座的上方。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED測(cè)試組， 其特征在于所述揮:針P艮位塊分為左限位塊和右限位塊，左、右限位塊上各有兩個(gè) 半圓形的限位孔。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1-3中任意一項(xiàng)所述的LED測(cè)試組， 其特征在于所述限位孔的最上端夾持所述探針頭。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型涉及LED包裝機(jī)，尤其涉及LED包裝機(jī)中的LED測(cè)試組。LED測(cè)試組，包括一對(duì)探針，探針的下方通過(guò)導(dǎo)線(xiàn)連接測(cè)試機(jī)，每個(gè)探針的上部為探針頭，探針頭接觸位于探針頭上方的LED；探針座，其上有分別供所述一對(duì)探針插入的兩個(gè)探針孔；另外，還包括探針限位塊，其上有限制所述一對(duì)探針沿探針徑向擺動(dòng)的兩個(gè)限位孔，所述探針限位塊位于所述探針座上方。上述LED測(cè)試組增設(shè)了探針限位塊，該探針限位塊可以有效防止探針的左右擺動(dòng)，一方面使被測(cè)試材料與探針頭的接觸穩(wěn)定、安全、測(cè)試準(zhǔn)確；另一方面也避免了探針帶動(dòng)被測(cè)試材料的擺動(dòng)。
文檔編號(hào)G01R31/00GK201311466SQ200820202380
公開(kāi)日2009年9月16日 申請(qǐng)日期2008年10月24日 優(yōu)先權(quán)日2008年10月24日
發(fā)明者張衛(wèi)東, 李紹楷 申請(qǐng)人:珠海華冠光電技術(shù)有限公司