專利名稱：Ito薄膜表面磨擦裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及表面檢測裝置，特別涉及一種用于檢測ITO薄膜表面抗 磨性能的表面磨擦裝置。
背景技術(shù)：
ITO-film (ITO薄膜，ITO:納米銦錫金屬氧化物)是觸摸屏最主要的原 材料之一，用于觸摸屏的表面。由于其特殊的用途，所以其對其表面的特性 尤其是其抗磨擦性能的要求特別高。目前的測試方法為操作人員手持一砝碼 直接在待測材料上滑動檢測，其缺點是砝碼來回運動不順暢，運動中對ITO 薄膜的施力不均勻并且砝碼來回運動時無法保證始終在同一運動軌跡上，因 此無法達到良好且準確的測試效果。

實用新型內(nèi)容
本實用新型要解決的技術(shù)問題是為了克服現(xiàn)有技術(shù)測試效果不準確的
缺陷，提供一種ITO薄膜表面磨擦裝置。
本實用新型是通過下述技術(shù)方案來解決上述技術(shù)問題的 一種ITO薄膜表面磨擦裝置，其包括一支撐架， 一載物平臺， 一點劃線
支架，以及一驅(qū)動馬達，其特征在于，該ITO薄膜表面磨擦裝置還包括一
與該點劃線支架固接的磨擦測試頭，其底部設(shè)有一凸起。 其中，該凸起與待測材料的接觸面積為0.5cm2 1.0cm2。 較佳的，該點劃線支架底部設(shè)有一外螺紋，該磨擦測試頭頂部設(shè)有一與
該外螺紋配合的內(nèi)螺紋，該點劃線支架和磨擦測試頭為螺紋連接。 較佳的，該點劃線支架和磨擦測試頭為插入式卡扣連接。本實用新型的積極進步效果在于本實用新型的ITO薄膜表面磨擦裝置 能更準確的對待檢測的ITO薄膜材料進行檢測。確保了每次檢測都在同一軌 道并且施力均勻，而可替換的砝碼則滿足不同的測試要求，以便于變化施力 的大小。


圖1為本實用新型一實施例的組裝結(jié)構(gòu)剖視圖。
圖2為圖1中本實用新型的砝碼與點劃線支架一連接方式的剖視圖。
具體實施方式

下面舉個較佳實施例，并結(jié)合附圖來更清楚完整地說明本實用新型。
如圖1所示，本實用新型是一種用于檢測ITO薄膜表面防刮花性的ITO 薄膜表面磨擦裝置，其包括一載物平臺1，用于放置待測材料7; —支撐架2，
其前端設(shè)有安裝孔6; —驅(qū)動該支撐架往復(fù)運動的驅(qū)動馬達(圖中未示)，該 驅(qū)動馬達采用皮帶傳動(圖中未示)與該支撐架2連接； 一點劃線支架3，
該點劃線支架3設(shè)置于該安裝孔6中，并與砝碼4固接。該砝碼4可以為--個或一系列重量明確，由硬質(zhì)材料制成的可更換的砝碼。其與待測材料7接 觸的底部有一凸起5，該凸起5進行打磨和倒角處理，倒角半徑為0.2mm 0.8mm，與材料的接觸面積為0.5cm2 1.0Cm2。使用時根據(jù)測試的要求選擇 所需重量的砝碼4，測試前計算砝碼4和點劃線支架3的總重量，其中該點 劃線支架3的重量為已知，將該點劃線支架4的螺紋向下插入支撐架2的安 裝孔6，然后在其下方安裝砝碼4直至該砝碼4與點劃線支架3相互緊固后， 使該砝碼4和點劃線支架3自然下垂，直立在待測材料7表面預(yù)先放置的鋼 絲棉上(圖中未示)。此時ITO薄膜表面磨擦裝置對待測材料7的施力大小 即為砝碼5與點劃線支架4的重量總和， 一般總重量在300g 800g，本實施 例中為500g。安裝完畢后設(shè)定來回次數(shù)、頻率、長度進行刮花測試。使用時，本實用新型裝置ITO薄膜表面來回運動，然后通過照明觀察ITO薄膜表面是 否有刮花的現(xiàn)象發(fā)生，從而可以判定ITO薄膜的質(zhì)量的好壞。
特別的，該砝碼4和點劃線支撐架3可以采用多種連接方式。如圖2所 示的螺紋連接，該點劃線支架3的底部設(shè)有一外螺紋，其為現(xiàn)有技術(shù)在此不 再贅述。該砝碼4的頂部設(shè)置一配合該外螺紋的內(nèi)螺紋8，該內(nèi)螺紋8的深 度為14mm 18mm。將點劃線支架3安裝到上述支撐架2的安裝孔7后， 在該點劃線支架3的底部安裝砝碼5。其連接方式也可以采用插入式卡扣連 接等代替。
雖然以上描述了本實用新型的具體實施方式
，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng) 當理解，這些僅是舉例說明，在不背離本實用新型的原理和實質(zhì)的前提下， 可以對這些實施方式做出多種變更或修改。因此，本實用新型的保護范圍由 所附權(quán)利要求書限定。
權(quán)利要求1、一種ITO薄膜表面磨擦裝置，其包括一支撐架，一載物平臺，一點劃線支架，以及一驅(qū)動馬達，其特征在于，該ITO薄膜表面磨擦裝置還包括一與該點劃線支架固接的磨擦測試頭，其底部設(shè)有一凸起。
2、 如權(quán)利要求l所述的ITO薄膜表面磨擦裝置，其特征在于，該凸起 與待測材料的接觸面積為0.5cm2 1.0cm2。
3、 如權(quán)利要求1所述的ITO薄膜表面磨擦裝置，其特征在于，該點劃 線支架底部設(shè)有一外螺紋，該磨擦測試頭頂部設(shè)有一與該外螺紋配合的內(nèi)螺 紋，該點劃線支架和磨擦測試頭為螺紋連接。
4、 如權(quán)利要求l所述的ITO薄膜表面磨擦裝置，其特征在于，該點劃 線支架和磨擦測試頭為插入式卡扣連接。
專利摘要本實用新型公開了一種ITO薄膜表面磨擦裝置，其包括一支撐架，一載物平臺，一點劃線支架，以及一驅(qū)動馬達，該ITO薄膜表面磨擦裝置還包括一與該點劃線支架固接的磨擦測試頭，其底部設(shè)有一凸起。本實用新型的ITO薄膜表面磨擦裝置能更準確的對待檢測的ITO薄膜材料進行檢測，確保了每次檢測都在同一軌道并且施力均勻，而可替換的砝碼則滿足不同的測試要求，以便于變化施力的大小。
文檔編號G01N3/56GK201331473SQ200820208480
公開日2009年10月21日 申請日期2008年12月30日 優(yōu)先權(quán)日2008年12月30日
發(fā)明者立 王 申請人:上海晨興電子科技有限公司