專利名稱：接觸器磨損老化檢測(cè)裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種接觸器磨損老化檢測(cè)裝置及方法，特別涉及低壓工業(yè)接觸器領(lǐng)域中的一種外置的基于速度傳感器的接觸器磨損老化檢測(cè)裝置及方法。
背景技術(shù)：
在接觸器的使用過程中，拉弧和閉合沖擊對(duì)其電氣觸頭造成磨損和老化的情況對(duì) 用戶來說是一個(gè)很重要的信息。目前的針對(duì)接觸器的電氣觸頭磨損和老化的情況的檢測(cè)方 法僅限于使用肉眼觀察以及大概的估算，還沒有很準(zhǔn)確地量化的檢測(cè)系統(tǒng)，并且存在著種 種不完善的缺陷。例如公開號(hào)為CN1745442A的專利申請(qǐng)公開了一種確定開關(guān)裝置剩余壽命的方法 和設(shè)備，但是該專利申請(qǐng)是離散檢測(cè)，能夠檢測(cè)接觸開關(guān)是否達(dá)到特定閾值，而檢測(cè)不到任 意狀態(tài)的磨損值。該專利申請(qǐng)是通過在原有的真空接觸器機(jī)械結(jié)構(gòu)中加入相應(yīng)的電氣回路 來采集信號(hào)。需要對(duì)現(xiàn)有的真空接觸器產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行改造。該專利申請(qǐng)?zhí)峁┑臋z測(cè)特 定閾值的方案是采用硬件，系統(tǒng)的魯棒性由硬件決定。公開號(hào)為CN1008957B的專利公開了一種帶有觸頭損耗指示器的電路斷路器。該 專利是通過檢測(cè)斷路器短路電流來間接計(jì)算斷路器觸點(diǎn)磨損狀態(tài)以決定是否更換觸頭。該 專利在檢測(cè)之后還需要進(jìn)行進(jìn)一步目測(cè)校驗(yàn)。該專利需要在負(fù)載線上采樣信號(hào)，需要三個(gè) 電流采樣變壓器，結(jié)構(gòu)復(fù)雜造價(jià)較貴。該專利需要根據(jù)特定斷路器的觸頭電流消耗曲線作 為參考來完成微機(jī)計(jì)算控制，比較復(fù)雜。公開號(hào)為CN1068955C的專利公開了一種監(jiān)視開關(guān)設(shè)備觸點(diǎn)燒毀的方法和設(shè)備， 該專利通過檢測(cè)主觸點(diǎn)的分?jǐn)嚯娀‰妷哼M(jìn)行間接判斷。該專利是在觸點(diǎn)分?jǐn)鄷r(shí)檢測(cè)。該專 利采樣的主觸點(diǎn)電弧電壓與觸點(diǎn)材料、結(jié)構(gòu)、負(fù)載電流大小、電壓大小、相位、環(huán)境以及觸點(diǎn) 大小有關(guān)，但該專利中并沒有給出觸點(diǎn)的磨損與檢測(cè)出的電弧電壓的特定關(guān)系。即使檢測(cè) 出電弧電壓的波動(dòng)量，如何采用這個(gè)波動(dòng)量來得出磨損狀態(tài)的判斷標(biāo)準(zhǔn)是沒有給出的，而 只是給出大致的估計(jì)范圍。公開號(hào)為EP0694937B1的專利是采用加入附加彈簧來檢測(cè)磨損程度。該專利中的 壽命計(jì)算公式的關(guān)鍵參數(shù)選取依賴于具體的接觸器。該專利需要兩套電路來得出檢測(cè)變 量，且會(huì)影響主電路結(jié)構(gòu)。該專利是通過計(jì)算觸點(diǎn)開關(guān)次數(shù)和每次斷開時(shí)間來確定剩余壽 命的，但在不同負(fù)載和不同環(huán)境下，每次開關(guān)磨損的程度不同。公開號(hào)為W09422153A1的專利申請(qǐng)是對(duì)開關(guān)本身機(jī)構(gòu)進(jìn)行改進(jìn)，然后利用該結(jié)構(gòu) 的特殊性采樣振動(dòng)信號(hào)來給出磨損狀態(tài)。且沒有給出具體估算原則和過程。公開號(hào)為JP4-32119A的專利申請(qǐng)是通過測(cè)量輔助觸點(diǎn)的動(dòng)作時(shí)間來檢測(cè)開關(guān)電 氣設(shè)備的主觸點(diǎn)的動(dòng)作速度，來確定開關(guān)電氣設(shè)備的異常和磨損，但沒有給出相應(yīng)的關(guān)系。對(duì)于一些需要一直保持正常工作的系統(tǒng)，用戶需要能夠被及時(shí)通知接觸器的老化 情況，以便于他們及時(shí)的更換設(shè)備。因此，需要找到一個(gè)全面的解決方法去檢測(cè)接觸器磨損 老化程度，例如簡(jiǎn)單易行、便于安裝、檢測(cè)準(zhǔn)確等等。

發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)于以上對(duì)接觸器磨損老化檢測(cè)存在的問題，我們提出了一種新穎的解決方 案。該方案可以在不改變接觸器內(nèi)部主要電氣及機(jī)械結(jié)構(gòu)的情況下，只需在外部增加一個(gè) 電氣附件，通過檢測(cè)接觸器外部與觸頭聯(lián)動(dòng)部件的速度，較為精確地檢測(cè)出接觸器磨損老 化情況，以便于提醒客戶及時(shí)的更換。根據(jù)本發(fā)明，提供一種用于檢測(cè)接觸器的磨損老化的裝置，其 中所述接觸器包括 相對(duì)設(shè)置的電氣動(dòng)觸頭和電氣靜觸頭，以及相對(duì)設(shè)置的可動(dòng)鐵芯和固定鐵芯；所述可動(dòng)鐵 芯與所述電氣動(dòng)觸頭機(jī)械相連，所述固定鐵芯在其中容納著控制線圈，通過一開關(guān)晶體管 對(duì)控制線圈進(jìn)行通/斷電使得固定鐵芯對(duì)可動(dòng)鐵芯產(chǎn)生/消除電磁吸引力，帶動(dòng)電氣動(dòng)、靜 觸頭閉合或斷開，用于檢測(cè)接觸器的磨損老化的裝置包括通斷電檢測(cè)器，用于檢測(cè)接觸器 的通電/斷電動(dòng)作，在檢測(cè)到接觸器觸頭將進(jìn)行閉合動(dòng)作的通電情況后，給出閉合動(dòng)作指 示信號(hào)；微處理器系統(tǒng)，在接收到通斷電檢測(cè)器的閉合動(dòng)作指示信號(hào)后，輸出一組占空比可 調(diào)的PWM信號(hào)來控制開關(guān)晶體管的導(dǎo)通和截止；速度傳感器，用于從外部檢測(cè)所述電氣觸 頭閉合過程中的速度信號(hào)；A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換器，用于將所述速度傳感器檢測(cè)的速度信號(hào)轉(zhuǎn)換 成數(shù)字信號(hào)，然后輸出到微處理器控制系統(tǒng)；其中微處理器控制系統(tǒng)通過將數(shù)字化的速度 信號(hào)針對(duì)時(shí)間進(jìn)行積分，得到動(dòng)觸頭的從閉合動(dòng)作開始到實(shí)際電氣接觸為止的過程中的實(shí) 際的位移量，并基于動(dòng)觸頭的實(shí)際的位移量，判斷接觸器的磨損老化程度。其中所述速度傳感器通過從外部檢測(cè)與電氣觸頭聯(lián)動(dòng)的部件的速度來檢測(cè)所述 電氣觸頭閉合過程中的速度信號(hào)。所述的用于檢測(cè)接觸器的磨損老化的裝置還包括直流控制電源產(chǎn)生器，根據(jù)輸入 電壓產(chǎn)生適合的用于接觸器磨損老化檢測(cè)所需的直流電源。其中直流控制電源產(chǎn)生器的輸入為交流電壓。其中所述用于檢測(cè)接觸器的磨損老化的裝置位于接觸器主體機(jī)械結(jié)構(gòu)的外部。其中在即將發(fā)生電氣接觸時(shí)，微處理器系統(tǒng)會(huì)調(diào)整PWM信號(hào)的占空比，使接觸器 觸頭發(fā)生電氣接觸時(shí)觸頭速度發(fā)生明顯的速度下降，微處理器系統(tǒng)判斷觸頭速度出現(xiàn)明顯 驟減的時(shí)刻為觸頭電氣接觸的時(shí)刻。其中微處理器系統(tǒng)通過比較實(shí)際的位移量與接觸器的標(biāo)稱的位移量，得到量化的 觸頭老化的情況，并判斷是否需要更換接觸器。根據(jù)本發(fā)明，提供一種用于檢測(cè)接觸器的磨損老化的方法，包括步驟檢測(cè)接觸器 的通電/斷電動(dòng)作；在通電動(dòng)作過程中，檢測(cè)接觸器的電氣動(dòng)觸頭閉合過程的實(shí)時(shí)速度；將 速度檢測(cè)步驟得到的實(shí)時(shí)速度針對(duì)時(shí)間進(jìn)行積分，得到動(dòng)觸頭的從閉合動(dòng)作開始到實(shí)際電 氣接觸為止的過程中的實(shí)際的位移量，并基于動(dòng)觸頭的實(shí)際的位移量，判斷接觸器的磨損 老化程度。其中通過比較接觸器的實(shí)際的位移量與接觸器的標(biāo)稱的位移量，得到量化的觸頭 老化的情況，并判斷是否需要更換接觸器。本發(fā)明的接觸器磨損老化檢測(cè)裝置和方法簡(jiǎn)單易行，結(jié)構(gòu)緊湊，具有良好的實(shí)用 前景。


通過下面結(jié)合附圖對(duì)示例實(shí)施例的詳細(xì)描述，將更好地理解本發(fā)明。應(yīng)當(dāng)清楚地理解，所描述的示例實(shí)施例僅僅是作為說明和示例，而本發(fā)明不限于此。本發(fā)明的精神和范 圍僅僅由所附權(quán)利要求書的具體內(nèi)容限定。下面描述附圖的簡(jiǎn)要說明，其中圖1示出一種常見的接觸器，其中左側(cè)的照片示出接觸器的實(shí)際產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié) 構(gòu)，右側(cè)的是對(duì)應(yīng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的接觸器磨損老化檢測(cè)裝置的電路圖；圖3示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的接觸器磨損老化檢測(cè)方法的流程圖；圖4示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的接觸器磨損老化檢測(cè)裝置的實(shí)際使用時(shí)的圖片。
具體實(shí)施例方式圖1示出了一種常見的接觸器，其中左側(cè)的照片示出接觸器的實(shí)際產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié) 構(gòu)，右側(cè)的是對(duì)應(yīng)的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示的接觸器包括殼體(未示出)、容納在殼體中 的觸頭和鐵芯。所述觸頭包括相對(duì)設(shè)置的電氣動(dòng)觸頭1和電氣靜觸頭2，所述鐵芯包括相對(duì) 設(shè)置的可動(dòng)鐵芯3和固定鐵芯4。所述可動(dòng)鐵芯3與所述電氣動(dòng)觸頭1機(jī)械相連，所述固定 鐵芯4在其中容納著控制線圈5。通過對(duì)控制線圈5通電，對(duì)所述可動(dòng)鐵芯3產(chǎn)生吸力拉 動(dòng)其向下，同時(shí)帶動(dòng)所述電氣動(dòng)觸頭1向下和所述電氣靜觸頭2閉合，當(dāng)它們接觸時(shí)實(shí)現(xiàn)電 氣接觸。當(dāng)兩個(gè)觸頭接觸后，所述可動(dòng)鐵芯3還會(huì)再向下運(yùn)動(dòng)一段距離，直到兩個(gè)鐵芯閉合 上，以保證電氣觸頭可靠的接觸。在本發(fā)明中，為了達(dá)到測(cè)量觸頭損耗的目的，可以通過在發(fā)生閉合動(dòng)作時(shí)，檢測(cè)接 觸器觸頭從動(dòng)作開始到發(fā)生電氣接觸的位移量的變化去判斷其損耗的情況。而上面說的位移量X在電氣觸頭磨損后會(huì)比磨損前增大。本發(fā)明就通過檢測(cè)位移 量X的增大量，來判斷觸頭的磨損情況。為了實(shí)現(xiàn)檢測(cè)X變化的目的，需要下列信息動(dòng)觸頭1每時(shí)每刻的位移量；動(dòng)觸頭 1發(fā)生電氣接觸的位置。本發(fā)明采用圖2的接觸器磨損老化檢測(cè)裝置來獲得上述信息。圖2示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的接觸器磨損老化檢測(cè)裝置的電路圖。如圖2所示，根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的接觸器磨損老化檢測(cè)裝置6位于接觸器本體之 夕卜，并包括微處理器系統(tǒng)61、速度傳感器62、A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換器63、直流控制電源產(chǎn)生器64、 通斷電檢測(cè)器65。直流控制電源產(chǎn)生器64根據(jù)輸入的交流或指直流電壓產(chǎn)生適合的用于接觸器磨 損老化檢測(cè)所需的直流電源，優(yōu)選地，輸入為交流電壓。通斷電檢測(cè)器65檢測(cè)接觸器的供電情況。在檢測(cè)到接觸器觸頭將進(jìn)行閉合動(dòng)作 的接通情況后，通斷電檢測(cè)器65給出閉合動(dòng)作指示信號(hào)通知微處理器控制系統(tǒng)61以執(zhí)行 接觸器磨損老化檢測(cè)。在接收到通斷電檢測(cè)器65的閉合動(dòng)作指示信號(hào)后，微處理器系統(tǒng)61會(huì)輸出一組 占空比可調(diào)的PWM信號(hào)通過驅(qū)動(dòng)器7控制開關(guān)晶體管Q的導(dǎo)通和截止，從而控制通過控制 線圈5的電流。其中，如果微處理器控制系統(tǒng)61輸出的占空比可調(diào)的PWM控制信號(hào)的驅(qū)動(dòng) 能力足夠，也可以在交流接觸器中省略驅(qū)動(dòng)器7。速度傳感器62通過從外部檢測(cè)與電氣觸頭聯(lián)動(dòng)的部件的速度來檢測(cè)所述電氣觸頭閉合過程中的速度信號(hào)，該速度信號(hào)通過A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換器63轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后被輸入到 微處理器控制系統(tǒng)61，微處理器控制系統(tǒng)61通過將該速度信號(hào)針對(duì)時(shí)間進(jìn)行積分，得到實(shí) 時(shí)的位移量χ。同時(shí)在根據(jù)實(shí)時(shí)的位移量χ判斷接觸器即將發(fā)生電氣接觸時(shí)，微處理器系統(tǒng)61會(huì) 調(diào)整PWM信號(hào)的占空比，使接觸器觸頭發(fā)生電氣接觸時(shí)觸頭速度發(fā)生明顯的速度下降，與 觸頭有機(jī)械連接的速度傳感器會(huì)實(shí)時(shí)檢測(cè)到這個(gè)速度下降，從而微處理器系統(tǒng)61判斷觸 頭速度出現(xiàn)明顯驟減的時(shí)刻為觸頭電氣接觸的時(shí)刻。當(dāng)通過檢測(cè)該速度驟減微處理器系統(tǒng) 61判斷已經(jīng)發(fā)生了電氣接觸時(shí)，微處理器系統(tǒng)61停止該速度信號(hào)針對(duì)時(shí)間的積分計(jì)算，得 到實(shí)際的位移量X。微處理器系統(tǒng)61通過比較實(shí)際的位移量X與接觸器的標(biāo)稱的位移量 &，得到量化的觸頭老化的情況，并判斷是否需要更換接觸器，即當(dāng)實(shí)際的位移量X與標(biāo)稱 的位移量&的差超過一預(yù)定的閾值時(shí)，微處理器系統(tǒng)61給出更換接觸器的指示信號(hào)。因此，本發(fā)明的接觸器磨損老化檢測(cè)裝置6可以通過速度傳感器62檢測(cè)接觸器閉 合動(dòng)作過程中與電氣觸頭聯(lián)動(dòng)部件的速度，從而在接觸器外部實(shí)現(xiàn)了老化檢測(cè)，無需對(duì)接 觸器內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行變更。本發(fā)明的接觸器磨損老化檢測(cè)裝置6通過微處理器系統(tǒng)61調(diào)整PWM信號(hào)的占空 比，使接觸器觸頭在電氣接觸時(shí)出現(xiàn)一個(gè)明顯的速度下降現(xiàn)象，與觸頭有機(jī)械連接的速度 傳感器會(huì)實(shí)時(shí)檢測(cè)到這個(gè)速度下降，從而微處理器系統(tǒng)61判斷觸頭電氣接觸的時(shí)刻。本發(fā)明的接觸器磨損老化檢測(cè)裝置6通過微處理器系統(tǒng)61對(duì)速度傳感器62的信 號(hào)進(jìn)行時(shí)間積分計(jì)算，得到實(shí)時(shí)的位移量，來檢測(cè)判斷接觸器的觸頭位置，省略了傳統(tǒng)觸頭 位置檢測(cè)中所使用的體積較大的位移傳感器。本發(fā)明的接觸器磨損老化檢測(cè)裝置6的微處理器系統(tǒng)61中的具體參數(shù)的設(shè)置、 PWM控制算法可以根據(jù)具體的產(chǎn)品參數(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)。這對(duì)本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說，是完全可 以實(shí)現(xiàn)的，在此，省略對(duì)上述具體設(shè)計(jì)的詳細(xì)描述。圖3示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的接觸器磨損老化檢測(cè)方法的流程圖。如圖3所示，在步驟S1，檢測(cè)接觸器觸頭是進(jìn)行通電操作還是進(jìn)行斷電操作，也就 是檢測(cè)觸頭是進(jìn)行斷開動(dòng)作還是進(jìn)行閉合動(dòng)作。若進(jìn)行通電操作，則進(jìn)行步驟S2，通過速度傳感器采樣觸頭運(yùn)動(dòng)速度Vi。然后在步 驟S3計(jì)算觸頭的實(shí)時(shí)位移χ = Σ ViX Δ t，其中χ是觸頭的實(shí)時(shí)位移，Vi是觸頭的實(shí)時(shí)采樣 速度，At是采樣間隔。然后進(jìn)行步驟S4，在步驟S4判斷觸頭是否已經(jīng)電氣接觸，若是，則 確定觸頭的實(shí)際位移X等于此時(shí)的實(shí)時(shí)位移X，并進(jìn)行到步驟S6。若觸頭還沒有電氣接觸， 返回步驟S2，繼續(xù)采樣觸頭運(yùn)動(dòng)速度。在步驟S6，判斷觸頭的實(shí)際位移X與觸頭的標(biāo)稱位移&之間的差是否超過一預(yù) 定的閾值時(shí)，若超過預(yù)定閾值，則在步驟S7提示更換接觸器，然后結(jié)束。若沒有超過預(yù)定閾 值，則在步驟S8，輸出損耗程度信息，然后結(jié)束。若進(jìn)行斷電操作，則結(jié)束操作。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的接觸器磨損老化檢測(cè)裝置的實(shí)際使用時(shí)的圖片。如圖4所 示，根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的接觸器磨損老化檢測(cè)裝置位于右側(cè)的接觸器的外部，位于左側(cè)透 明外殼內(nèi)。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的接觸器磨損老化檢測(cè)裝置便于安裝的，只需在接觸器外部加一個(gè)磨損老化檢測(cè)裝置附件即可實(shí)現(xiàn)磨損檢測(cè)的功能，無需打開接觸器；并且可量化檢測(cè)， 通過根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的接觸器磨損老化檢測(cè)裝置和方法可以給出接觸器損耗的量化參 數(shù)，比如說已經(jīng)損耗了 1/2、3/4等等，用戶可根據(jù)實(shí)際情況實(shí)時(shí)更換。具有上述特征的本發(fā)明的接觸器磨損老化檢測(cè)裝置和方法具有以下特點(diǎn)檢測(cè)方 式是連續(xù)檢測(cè)，即，能夠檢測(cè)到接觸器在任意穩(wěn)定工作狀態(tài)的觸點(diǎn)的磨損值；所采用的速度 傳感器的采集方式是作為一個(gè)附件接在接觸器上而不會(huì)改變現(xiàn)有的接觸器產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu) 和實(shí)際工作；通過采集的接觸器閉合過程的原始速度信號(hào)由微處理器系統(tǒng)來處理，自動(dòng)給 出檢測(cè)結(jié)果提示，并且檢測(cè)受接觸器系統(tǒng)工作的干擾較小，不依賴于接觸器歷史檢測(cè)數(shù)據(jù)， 受實(shí)際操作的電氣參數(shù)和環(huán)境參數(shù)影響較小，魯棒性較強(qiáng)。
本發(fā)明的接觸器磨損老化檢測(cè)裝置和方法簡(jiǎn)單易行，結(jié)構(gòu)緊湊，具有良好的實(shí)用 前景。本領(lǐng)域技術(shù)人員可清楚地得知，可對(duì)根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的接觸器磨損老化檢測(cè)裝 置及方法進(jìn)行各種改進(jìn)和變化。本領(lǐng)域技術(shù)人員通過考慮說明書和接觸器磨損老化檢測(cè)裝 置及方法的實(shí)效將清楚地得知其它實(shí)施例。應(yīng)該知道，說明書和實(shí)例僅僅是作為實(shí)例考慮， 本發(fā)明的范圍由權(quán)利要求和它們的等同內(nèi)容限定。
權(quán)利要求
一種用于檢測(cè)接觸器的磨損老化的裝置(6)，其中所述接觸器包括相對(duì)設(shè)置的電氣動(dòng)觸頭(1)和電氣靜觸頭(2)，以及相對(duì)設(shè)置的可動(dòng)鐵芯(3)和固定鐵芯(4)；所述可動(dòng)鐵芯(3)與所述電氣動(dòng)觸頭(1)機(jī)械相連，所述固定鐵芯(4)在其中容納著控制線圈(5)，通過一開關(guān)晶體管(Q)對(duì)控制線圈(5)進(jìn)行通/斷電使得固定鐵芯(4)對(duì)可動(dòng)鐵芯(3)產(chǎn)生/消除電磁吸引力，帶動(dòng)電氣動(dòng)、靜觸頭閉合或斷開，用于檢測(cè)接觸器的磨損老化的裝置(6)的特征在于包括通斷電檢測(cè)器(65)，用于檢測(cè)接觸器的通電/斷電動(dòng)作，在檢測(cè)到接觸器觸頭將進(jìn)行閉合動(dòng)作的通電情況后，給出閉合動(dòng)作指示信號(hào)；微處理器系統(tǒng)(61)，在接收到通斷電檢測(cè)器(65)的閉合動(dòng)作指示信號(hào)后，輸出一組占空比可調(diào)的PWM信號(hào)來控制開關(guān)晶體管(Q)的導(dǎo)通和截止；速度傳感器(62)，用于從外部檢測(cè)所述電氣觸頭閉合過程中的速度信號(hào)；A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換器(63)，用于將所述速度傳感器(62)檢測(cè)的速度信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)，然后輸出到微處理器控制系統(tǒng)(61)；其中微處理器控制系統(tǒng)(61)通過將數(shù)字化的速度信號(hào)針對(duì)時(shí)間進(jìn)行積分，得到動(dòng)觸頭的從閉合動(dòng)作開始到實(shí)際電氣接觸為止的過程中的實(shí)際的位移量，并基于動(dòng)觸頭的實(shí)際的位移量，判斷接觸器的磨損老化程度。
2.如權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)接觸器的磨損老化的裝置(6)，其中所述速度傳感器 (62)通過從外部檢測(cè)與電氣觸頭聯(lián)動(dòng)的部件的速度來檢測(cè)所述電氣觸頭閉合過程中的速 度信號(hào)。
3.如權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)接觸器的磨損老化的裝置(6)，還包括直流控制電源產(chǎn)生器(64)，根據(jù)輸入電壓產(chǎn)生適合的用于接觸器磨損老化檢測(cè)所需的 直流電源。
4.如權(quán)利要求3所述的用于檢測(cè)接觸器的磨損老化的裝置(6)，其中直流控制電源產(chǎn) 生器(64)的輸入為交流電壓。
5.如權(quán)利要求3所述的用于檢測(cè)接觸器的磨損老化的裝置(6)，其中用于檢測(cè)接觸器 的磨損老化的裝置(6)位于接觸器主體機(jī)械結(jié)構(gòu)的外部。
6.如權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)接觸器的磨損老化的裝置(6)，其中在即將發(fā)生電氣 接觸時(shí)，微處理器系統(tǒng)(61)會(huì)調(diào)整PWM信號(hào)的占空比，使接觸器觸頭發(fā)生電氣接觸時(shí)觸頭 速度發(fā)生明顯的速度下降，微處理器系統(tǒng)(61)判斷觸頭速度出現(xiàn)明顯驟減的時(shí)刻為觸頭 電氣接觸的時(shí)刻。
7.如權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)接觸器的磨損老化的裝置(6)，其中微處理器系統(tǒng) (61)通過比較實(shí)際的位移量與接觸器的標(biāo)稱的位移量，得到量化的觸頭老化的情況，并判 斷是否需要更換接觸器。
8.一種用于檢測(cè)接觸器的磨損老化的方法，包括步驟檢測(cè)接觸器的通電/斷電動(dòng)作；在通電動(dòng)作過程中，檢測(cè)接觸器的電氣動(dòng)觸頭閉合過程的實(shí)時(shí)速度；將速度檢測(cè)步驟得到的實(shí)時(shí)速度針對(duì)時(shí)間進(jìn)行積分，得到動(dòng)觸頭的從閉合動(dòng)作開始到 實(shí)際電氣接觸為止的過程中的實(shí)際的位移量，并基于動(dòng)觸頭的實(shí)際的位移量，判斷接觸器 的磨損老化程度。
9.如權(quán)利要求8所述的用于檢測(cè)接觸器的磨損老化的方法，其中通過比較接觸器的實(shí) 際的位移量與接觸器的標(biāo)稱的位移量，得到量化的觸頭老化的情況，并判斷是否需要更換 接觸器。
全文摘要
提供一種用于檢測(cè)接觸器的磨損老化的裝置及方法。該裝置包括通斷電檢測(cè)器，檢測(cè)接觸器的通電/斷電動(dòng)作，在檢測(cè)到接觸器觸頭將進(jìn)行閉合動(dòng)作的通電情況后，給出閉合動(dòng)作指示信號(hào)；微處理器系統(tǒng)，在接收到閉合動(dòng)作指示信號(hào)后，輸出占空比可調(diào)的PWM信號(hào)來控制接觸器中的開關(guān)晶體管的導(dǎo)通和截止；速度傳感器，從外部檢測(cè)所述電氣觸頭閉合過程中的速度信號(hào)；A/D轉(zhuǎn)換器，將速度傳感器檢測(cè)的速度信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)，輸出到微處理器控制系統(tǒng)；微處理器控制系統(tǒng)通過將數(shù)字化的速度信號(hào)針對(duì)時(shí)間進(jìn)行積分，得到動(dòng)觸頭的從閉合動(dòng)作開始到實(shí)際電氣接觸為止的過程中的實(shí)際的位移量，并基于動(dòng)觸頭的實(shí)際的位移量，判斷接觸器的磨損老化程度。
文檔編號(hào)G01R31/327GK101813750SQ20091000921
公開日2010年8月25日 申請(qǐng)日期2009年2月24日 優(yōu)先權(quán)日2009年2月24日
發(fā)明者王峰, 王英 申請(qǐng)人:施耐德電器工業(yè)公司