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      一種柱面整形雙探測(cè)器互補(bǔ)式異物檢測(cè)裝置的制作方法

      文檔序號(hào):5852280閱讀:230來(lái)源:國(guó)知局
      專(zhuān)利名稱(chēng):一種柱面整形雙探測(cè)器互補(bǔ)式異物檢測(cè)裝置的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實(shí)用新型屬于光學(xué)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,涉及 -種柱面整形雙探測(cè)器互 補(bǔ)式異物檢測(cè)裝置。 技術(shù)背景
      異物檢測(cè)裝置通常是指在醫(yī)藥、飲料等生產(chǎn)和質(zhì)檢過(guò)程中,對(duì)透明 或半透明藥品、輸液瓶、口服液等液體產(chǎn)品進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)的裝置。隨著 人們對(duì)藥品和食品質(zhì)量的日漸重視,以及國(guó)家對(duì)藥品和食品質(zhì)量檢査制 度、標(biāo)準(zhǔn)和流程的完善,醫(yī)藥、飲料等液體產(chǎn)品中的異物檢測(cè)日漸成為 必不可少的檢測(cè)流程。目前,生產(chǎn)和質(zhì)檢實(shí)際過(guò)程中通常采用人工燈檢 測(cè)方法,即在一定燈照條件下,檢測(cè)人員用人眼直接觀測(cè)瓶裝液體產(chǎn)品, 檢查液體產(chǎn)品中是否含有異物,以及含有異物大小、數(shù)量等。此方法人 力和物力投入量大,監(jiān)測(cè)效率和自動(dòng)化程度低,并且檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)難以控制 調(diào)整。為克服人工檢測(cè)的不足,自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)及裝置被研究和設(shè)計(jì),在 先技術(shù)中存在一種雙信號(hào)接收的自動(dòng)異物檢査機(jī)(參見(jiàn)實(shí)用新型專(zhuān)利"雙
      信號(hào)接收的自動(dòng)異物檢査機(jī)",實(shí)用新型專(zhuān)利號(hào)ZL200720074851.6), 此裝置中光路上依次設(shè)置有發(fā)光管組件、光發(fā)射集光鏡、光接收集光鏡、 成像鏡、分光鏡,以及兩個(gè)分光光路上設(shè)置的光闌和光接收傳感器陣列, 利用光路中光闌提高系統(tǒng)得信噪比和靈敏度,此裝置具有一定的優(yōu)點(diǎn), 但是仍存在不足利用光闌提高系統(tǒng)得信噪比和靈敏度,信噪比和靈敏度提高程度有限;兩個(gè)分光光路上的光接收傳感器陣列前方均設(shè)置光闌,
      光闌不一致性會(huì)對(duì)檢測(cè)性能產(chǎn)生影響,光能利用率低;光學(xué)系統(tǒng)構(gòu)成復(fù)
      雜,同時(shí),機(jī)械定位要求程度高。 發(fā)明內(nèi)容
      本實(shí)用新型的目的在于克服了上述在先技術(shù)的不足,提供一種柱面 整形雙探測(cè)器互補(bǔ)式異物檢測(cè)裝置。
      本實(shí)用新型包括光源組件、光束會(huì)聚器件、柱面整形器、成像物鏡 組件、分光鏡、第一光電探測(cè)器陣列、第二光電探測(cè)器陣列;光束會(huì)聚 器件、柱面整形器、成像物鏡組件、分光鏡、第一光電探測(cè)器陣列依次 設(shè)置在光源組件出射光束光路上,被檢測(cè)瓶裝液休產(chǎn)品設(shè)置在光束會(huì)聚 器件和成像物鏡組件之間的光路上;分光鏡的分光面與分光鏡入射光束 光軸夾角范圍為10° 170° ;第二光電探測(cè)器陣列設(shè)置在光源組件出射 光束被分光鏡反射后的反射光路上;柱面整形器的柱面光軸方向與第-光電探測(cè)器陣列的光電傳感單元排列方向的交角小于30° ;第二光電探 測(cè)器陣列的光電傳感單元相對(duì)于入射光束的相對(duì)排列方向與第一光電探 測(cè)器陣列的光電傳感單元相對(duì)于入射光束的相對(duì)排列方向的交角小于 30° ;第一光電探測(cè)器陣列相對(duì)于入射光線主光軸的設(shè)置位置與第二光 電探測(cè)器陣列相對(duì)于入射光線主光軸的設(shè)置位置存在錯(cuò)位設(shè)置。
      所述的光源組件為非相干光源組件、相干光源組件、非相干光源陣 列、相干光源陣列、光纖光源的一種。
      所述的成像物鏡組件為消色差物鏡、復(fù)消色差物鏡、平場(chǎng)成像物鏡、 偏振光成像物鏡、相稱(chēng)成像物鏡的一種。
      所述的光電探測(cè)器陣列為光敏管陣列、光電二極管陣列、電荷耦合 器件、互補(bǔ)型金屬氧物半導(dǎo)體晶體管、光學(xué)微通道板的一種。
      本實(shí)用新型有益效果是,與現(xiàn)有技術(shù)相比,由于采用了柱面整形器對(duì)光源組件出射光束進(jìn)行非對(duì)稱(chēng)光束整形,整形后光束形狀與光電探測(cè) 器陣列的光電傳感單元排列方向相符,提高了異物檢測(cè)的靈敏度和信噪 比,簡(jiǎn)化了系統(tǒng)結(jié)構(gòu),降低了實(shí)現(xiàn)所需費(fèi)用以及機(jī)械定位要求。


      圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
      具體實(shí)施方式
      下面結(jié)合實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明。
      如圖l,一種柱面整形雙探測(cè)器互補(bǔ)式異物檢測(cè)裝置包括光源組件1、
      光束會(huì)聚器件2、柱面整形器3、成像物鏡組件5、分光鏡6、第一光電 探測(cè)器陣列7、第二光電探測(cè)器陣列8;光束會(huì)聚器件2、柱面整形器3、 成像物鏡組件5、分光鏡6、第一光電探測(cè)器陣列7依次設(shè)置在光源組件 1出射光束光路上,被檢測(cè)瓶裝液體產(chǎn)品4設(shè)置在光束會(huì)聚器件2和成像 物鏡組件5之間的光路上;分光鏡6的分光面與分光鏡6入射光束光軸 夾角范圍為10° 170° ;第二光電探測(cè)器陣列8設(shè)置在光源組件1出射 光束被分光鏡6反射后的反射光路上;柱面整形器3的柱面光軸方向與 第一光電探測(cè)器陣列7的光電傳感單元排列方向的交角范圍小于30° ; 第二光電探測(cè)器陣列8的光電傳感單元相對(duì)于入射光束的相對(duì)排列方向 與第一光電探測(cè)器陣列7的光電傳感單元相對(duì)于入射光束的相對(duì)排列方 向的交角范圍小于30。;第一光電探測(cè)器陣列7相對(duì)于入射光線主光軸 的設(shè)置位置與第二光電探測(cè)器陣列8相對(duì)于入射光線主光軸的設(shè)置位置 存在錯(cuò)位設(shè)置。
      光源組件1采用非相干光源陣列,光束會(huì)聚器件2為光束準(zhǔn)直整形 器,成像物鏡組件5采用平場(chǎng)成像物鏡,第一光電探測(cè)器陣列7和第二 光電探測(cè)器陣列8均采用光電二極管陣列;分光鏡6的分光面與分光鏡6 入射光束光軸夾角為30。;本實(shí)施例中被檢測(cè)的瓶裝液體產(chǎn)品4為注射用透明藥品,被檢測(cè)的瓶裝液體產(chǎn)品4設(shè)置在柱面整形器3和成像物鏡組件5之間的光路上。
      本實(shí)用新型工作過(guò)程為光源組件1出射光束經(jīng)過(guò)光束會(huì)聚器件2進(jìn)行會(huì)聚整形后,射向柱面整形器3,柱面整形器3對(duì)光束進(jìn)行非對(duì)稱(chēng)整形,形成片狀光束;被檢測(cè)的瓶裝液體產(chǎn)品4設(shè)置在柱面整形器3和成像物鏡組件5之間的光路上,經(jīng)過(guò)柱面整形器3整形的光束經(jīng)過(guò)被檢測(cè)的瓶裝液體產(chǎn)品4后射向分光鏡6;經(jīng)過(guò)分光鏡6透射光路上設(shè)置有第一光電探測(cè)器陣列7,經(jīng)過(guò)分光鏡6反射光路上設(shè)置有第二光電探測(cè)器陣列8,第二光電探測(cè)器陣列8的光電傳感單元相對(duì)于入射光束的相對(duì)排列方向與第一光電探測(cè)器陣列7的光電傳感單元相對(duì)于入射光束的相對(duì)排列方向的交角為0。,相互平行;柱面整形器3的柱面光軸方向與第一光電探測(cè)器陣列7的光電傳感單元排列方向相互平行,對(duì)光朿整形在垂良于柱面整形器3的柱面光軸方向進(jìn)行壓縮;第一光電探測(cè)器陣列7相對(duì)于入射光線主光軸的設(shè)置位置與第二光電探測(cè)器陣列8相對(duì)于入射光線主光軸的設(shè)置位置存在錯(cuò)位設(shè)置,錯(cuò)位距離為光電傳感單元尺寸的二分之-;第一光電探測(cè)器陣列7和第二光電探測(cè)器陣列8均采集到片狀光束經(jīng)過(guò)被檢測(cè)的瓶裝液體產(chǎn)品4后的光信息,由于存在光電傳感單元尺寸的二分之一錯(cuò)開(kāi)位置消除了光電探測(cè)器探測(cè)盲區(qū)對(duì)測(cè)量的影響;對(duì)第一光電探測(cè)器陣列7和第二光電探測(cè)器陣列8探測(cè)到的信息進(jìn)行分析,便得到了被檢測(cè)的瓶裝液體產(chǎn)品4含有異物的情況。本實(shí)用新型實(shí)施例中柱面整形器3對(duì)光束進(jìn)行了垂直于柱面整形器3的柱面光軸方向進(jìn)行壓縮,起到光闌作用,提高了信噪比,同時(shí)光能利用率高。本實(shí)用新型提供了一種柱面整形雙探測(cè)器互補(bǔ)式異物檢測(cè)裝置,成功實(shí)現(xiàn)了液體產(chǎn)品中的異物檢測(cè),異物檢測(cè)的靈敏度和信噪比高,具有設(shè)計(jì)合理、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、實(shí)現(xiàn)所需費(fèi)用低、機(jī)械定位要求低、光能利用率高等特點(diǎn)。
      權(quán)利要求1、一種柱面整形雙探測(cè)器互補(bǔ)式異物檢測(cè)裝置,包括光源組件、光束會(huì)聚器件、柱面整形器、成像物鏡組件、分光鏡、第一光電探測(cè)器陣列、第二光電探測(cè)器陣列,其特征在于光束會(huì)聚器件、柱面整形器、成像物鏡組件、分光鏡、第一光電探測(cè)器陣列依次設(shè)置在光源組件出射光束光路上,被檢測(cè)瓶裝液體產(chǎn)品設(shè)置在光束會(huì)聚器件和成像物鏡組件之間的光路上;分光鏡的分光面與分光鏡入射光束光軸夾角范圍為10°~170°;第二光電探測(cè)器陣列設(shè)置在光源組件出射光束被分光鏡反射后的反射光路上;柱面整形器的柱面光軸方向與第一光電探測(cè)器陣列的光電傳感單元排列方向的交角小于30°;第二光電探測(cè)器陣列的光電傳感單元相對(duì)于入射光束的相對(duì)排列方向與第一光電探測(cè)器陣列的光電傳感單元相對(duì)于入射光束的相對(duì)排列方向的交角小于30°;第一光電探測(cè)器陣列相對(duì)于入射光線主光軸的設(shè)置位置與第二光電探測(cè)器陣列相對(duì)于入射光線主光軸的設(shè)置位置存在錯(cuò)位設(shè)置。
      2、 如權(quán)利要求1所述的一種柱面整形雙探測(cè)器互補(bǔ)式異物檢測(cè)裝置,其特征在于所述的光源組件為非相干光源組件、相干光源組件、非相干光源陣列、相干光源陣列、光纖光源的一種。
      3、 如權(quán)利要求1所述的一種柱面整形雙探測(cè)器互補(bǔ)式異物檢測(cè)裝置,其特征在于所述的成像物鏡組件為消色差物鏡、復(fù)消色差物鏡、 平場(chǎng)成像物鏡、偏振光成像物鏡、相稱(chēng)成像物鏡的一種。
      4、 如權(quán)利要求1所述的一種柱面整形雙探測(cè)器互補(bǔ)式異物檢測(cè)裝置,其特征在于所述的光電探測(cè)器陣列為光敏管陣列、光電二極管陣 列、電荷耦合器件、互補(bǔ)型金屬氧物半導(dǎo)體晶體管、光學(xué)微通道板的--種。
      專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型涉及一種柱面整形雙探測(cè)器互補(bǔ)式異物檢測(cè)裝置?,F(xiàn)有技術(shù)系統(tǒng)構(gòu)成復(fù)雜,機(jī)械定位要求高,光能利用率低。本實(shí)用新型中利用柱面整形技術(shù),光源組件出射光束經(jīng)過(guò)光束會(huì)聚器件后被柱面整形器整形,對(duì)光束進(jìn)行了垂直于柱面整形器的柱面光軸方向進(jìn)行壓縮,而后經(jīng)過(guò)成像物鏡組件、分光鏡,射向錯(cuò)開(kāi)設(shè)置的兩個(gè)光電探測(cè)器陣列,被檢測(cè)的瓶裝液體設(shè)置在光束會(huì)聚器件和成像物鏡組件之間的光路上。對(duì)光電探測(cè)器陣列采集到的信號(hào)進(jìn)行分析,得到被檢測(cè)瓶裝液體產(chǎn)品含有異物的信息。本實(shí)用新型具有靈敏度和信噪比高、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單合理、機(jī)械定位要求低、光能利用率低高等特點(diǎn)。
      文檔編號(hào)G01N21/90GK201364316SQ200920113568
      公開(kāi)日2009年12月16日 申請(qǐng)日期2009年2月9日 優(yōu)先權(quán)日2009年2月9日
      發(fā)明者李勁松, 詹秋芳, 高秀敏 申請(qǐng)人:詹秋芳
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