專利名稱：光電探測器探頭結構及使用其的輻照均勻性測試儀的制作方法
技術領域：
本實用新型屬于太陽模擬器光學性能參數(shù)測量領域，主要用于太陽模擬器輻照區(qū) 域的輻照均勻性測量。
背景技術：
在太陽模擬器的光學性能參數(shù)測量中，該實用新型集掃描、測量、控溫、數(shù)據(jù)采集 于一體，相比目前使用的測量手段更加先進，自動化、集成化程度更高。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種能夠進行溫度控制的用于輻照不均勻度測量的 光電探測器探頭結構，以及使用該探頭結構的輻照度均勻性測試儀。為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型采用了如下的技術方案光電探測器探頭結構，包括硅光電池探測器、光闌、溫度傳感器、加熱片和安裝底 座。其中，硅光電池探測器上串聯(lián)有一個1 Ω的負載電阻，探測器背面粘貼在安裝底座的上 表面上，溫度傳感器粘貼在探測器附近。光闌可通過螺紋與安裝底座連接，加熱片粘貼在安 裝底座的下表面上。探測器、溫度傳感器和加熱片的導線穿過安裝底座上的導孔與外界連 接。其中，光電探測器探頭結構通過安裝底座的4個安裝孔與外界進行螺栓固定。其中，硅光電池探測器采用單晶硅光電池，其響應非線性誤差優(yōu)于士0.5%，溫度 引起的不穩(wěn)定誤差優(yōu)于士0.5%/°C。其中，光闌可以采用不同通光孔徑的多種光闌。其中，溫度傳感器采用PT100測溫鉬電阻。其中，加熱片采用薄膜加熱片，例如電阻36 Ω，額定功率36W。本實用新型的輻照度均勻性測量儀，包括上述的光電探測器探頭、掃描機構、溫控 裝置、電動控制器、數(shù)據(jù)采集儀和計算機。其中，光電探測器探頭通過螺栓與掃描機構上面 的承載臺螺接，掃描結構在電動控制器的控制下帶動光電探測器探頭按規(guī)定的掃描軌跡進 行掃描。溫控裝置通過導線與光電探測器探頭上面的溫度探測器和加熱片連接，硅光電池 探測器所接收的信號通過導線由數(shù)據(jù)采集儀進行采集，通過計算機進行記錄。其中，電動控制器采用軟件控制，可以通過編程輸入特定軌跡，實現(xiàn)自動控制功 能。本實用新型可以按照事先編制的掃描軌跡進行輻照度均勻性測量，具有全自動、 集成化、快速、便捷、高精度的優(yōu)點。

圖1是光電探測器探頭結構圖。其中，1為硅光電池探測器；2為光闌；3為溫度傳感器；4為加熱片；5為安裝底座。[0016]圖2是輻照均勻性測試儀組成原理圖。
具體實施方式
參照圖1，本實用新型的光電探測器探頭，包括硅光電池探測器1、光闌2、溫度傳 感器3、加熱片4和安裝底座5。其中，硅光電池探測器上串聯(lián)有一個1 Ω的負載電阻，探測 器背面粘貼在安裝底座的上表面上，溫度傳感器粘貼在探測器附近。光闌可通過螺紋與安 裝底座連接，加熱片4粘貼在安裝底座的下表面上。硅光電池探測器1、溫度傳感器3和加 熱片4的導線穿過安裝底座5上的導孔與外界連接。整個探頭結構通過安裝底座的4個安 裝孔與外界采取螺栓固定。其中，硅光電池探測器采用單晶硅光電池，其響應非線性誤差優(yōu) 于士0. 5%，溫度引起的不穩(wěn)定誤差優(yōu)于士0. 5% /°C。優(yōu)選地，光闌2可以采用不同通光孔 徑的多種光闌。其中，溫度傳感器采用PT100測溫鉬電阻。加熱片優(yōu)選為薄膜加熱片，例如 電阻36 Ω，額定功率36W的薄膜加熱片。參照圖2，本實用新型的輻照度均勻性測量儀，包括上述的光電探測器探頭、掃描 機構、溫控裝置、電動控制器、數(shù)據(jù)采集儀和計算機。其中，光電探測器探頭通過螺栓與掃描 機構上面的承載臺螺接，掃描結構在電動控制器的控制下帶動光電探測器探頭按規(guī)定的掃 描軌跡進行掃描。溫控裝置通過導線與光電探測器探頭上面的溫度傳感器和加熱片連接， 硅光電池探測器所接收的信號通過導線由數(shù)據(jù)采集儀進行采集，通過計算機進行記錄。其 中，電動控制器采用軟件控制，可以通過編程輸入特定軌跡，實現(xiàn)自動控制功能。盡管上文對本實用新型的具體實施方式
給予了詳細描述和說明，但是應該指明的 是，我們可以依據(jù)本實用新型的構想對上述實施方式進行各種等效改變和修改，其所產(chǎn)生 的功能作用仍未超出說明書及附圖所涵蓋的精神時，均應在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
權利要求一種光電探測器探頭結構，包括硅光電池探測器、光闌、溫度傳感器、加熱片和安裝底座，其特征在于，硅光電池探測器上串聯(lián)有一個1Ω的負載電阻，硅光電池探測器背面粘貼在安裝底座的上表面上，溫度傳感器粘貼在硅光電池探測器附近，光闌通過螺紋與安裝底座連接，加熱片粘貼在安裝底座的下表面上，硅光電池探測器、溫度傳感器和加熱片的導線穿過安裝底座上的導孔與外界連接。
2.如權利要求1所述的光電探測器探頭結構，其特征在于，光電探測器探頭結構通過 安裝底座的4個安裝孔與外界進行螺栓固定。
3.如權利要求1所述的光電探測器探頭結構，其特征在于，硅光電池探測器中硅光電 池為單晶硅光電池，其響應非線性誤差優(yōu)于士0.5%，溫度引起的不穩(wěn)定誤差優(yōu)于士0.5% ,C。
4.如權利要求1-3任一項所述的光電探測器探頭結構，其特征在于，光闌為不同通光 孔徑的光闌。
5.
6.如權利要求1-3任一項所述的光電探測器探頭結構，其特征在于，加熱片為薄膜加 熱片。
7.一種輻照均勻性測試儀，包括權利要求1-6任一項所述的光電探測器探頭結構、掃 描機構、溫控裝置、電動控制器、數(shù)據(jù)采集儀和計算機，其特征在于，光電探測器探頭通過螺 栓與掃描機構上面的承載臺螺接，掃描機構在電動控制器的控制下帶動光電探測器探頭按 規(guī)定的掃描軌跡進行掃描，溫控裝置通過導線與光電探測器探頭上面的溫度傳感器和加熱 片連接，硅光電池探測器所接收的信號通過導線由數(shù)據(jù)采集儀進行采集，通過計算機進行 記錄。
專利摘要本實用新型公開了一種輻照均勻性測試儀，包括光電探測器探頭、掃描機構、溫控裝置、電動控制器、數(shù)據(jù)采集儀和計算機。其中，光電探測器探頭通過螺栓與掃描機構上面的承載臺螺紋連接，掃描機構在電動控制器的控制下帶動光電探測器探頭按規(guī)定的掃描軌跡進行掃描。溫控裝置通過導線與光電探測器探頭上面的溫度傳感器和加熱片連接，硅光電池探測器所接收的信號通過導線由數(shù)據(jù)采集儀進行采集，通過計算機進行記錄。本實用新型可以按照事先編制的掃描軌跡進行輻照度均勻性測量，具有全自動、集成化、快速、便捷、高精度的優(yōu)點。
文檔編號G01J1/42GK201653545SQ200920293539
公開日2010年11月24日 申請日期2009年12月4日 優(yōu)先權日2009年12月4日
發(fā)明者于江, 楊林華, 蔣山平 申請人:北京衛(wèi)星環(huán)境工程研究所